一种集成电路测试设备的制作方法

1.本发明涉及集成电路测试技术领域，更具体地说，尤其是涉及到一种集成电路测试设备。


背景技术：

2.集成电路测试是对集成电路或模块进行检测，通过测量对于集成电路的输出响应和预期输出比较，以确定或评估继承电路元器件功能和性能的过程中，将测试输入应用于被测器件，并分析其输出的正确性，但是由于在对集成电路进行测试的过程中，首先得将集成电路板放置在测试设备上，而测试设备对与集成电路板的四角固定效果较差，在进行测试的过程中，集成电路板容易在测试设备内部发生倾斜角度的偏移，从而导致测试头难以准确的对准集成电路板上的测试点，并且测试头在集成电路板上进行下降抵触检测的过程中，容易对集成电路板上的测试点施加过大的抵触力，容易导致集成电路板上的测试点损坏。


技术实现要素：

3.本发明实现技术目的所采用的技术方案是：该一种集成电路测试设备，其结构包括操作台、箱门、护板、测试主机，所述操作台前端面安装有箱门，并且操作台上端面外侧焊接有护板，所述测试主机设在操作台上端面中部，所述测试主机包括电控台、卡板机构、下降机构、推移板、支撑板、气缸，所述电控台底部固定安装在操作台上端面中部，并且卡板机构嵌固安装在电控台上端面，所述下降机构下端固定安装在电控台上端面，所述下降机构中端与推移板外侧端内部相固定，所述推移板位于支撑板正上方，所述支撑板上端面设有气缸，并且气缸输出端与推移板上端面中部相固定，所述下降机构顶部与支撑板底面外侧相固定。
4.作为本发明的进一步改进，所述卡板机构包括放置槽、卡角板、挤压杆、弹簧管套、导气孔、边护机构，所述放置槽嵌固安装在操作台上端面中部，所述卡角板位于放置槽内侧四角，所述卡角板外侧中端与挤压杆一端相固定，并且挤压杆另一端采用间隙配合安装在弹簧管套内部，所述弹簧管套末端内部与导气孔相贯通，并且导气孔与边护机构内部相贯通，所述边护机构嵌固安装在放置槽内侧表面，所述卡角板呈直角折角板结构，并且设有四个，分别设在放置槽内侧的四角处。
5.作为本发明的进一步改进，所述边护机构包括气压管、分压口、推板、抵触片，所述气压管嵌固安装在放置槽内部，所述气压管左侧嵌固安装有分压口并且相贯通，所述推板滑动安装在分压口左端内部，所述推板左侧端与抵触片右侧端相固定，并且抵触片设在分压口左端开口处，所述分压口和抵触片均设有三个，等距分布在气压管左侧，并且抵触片呈弧形结构，采用橡胶材质，具有一定的回弹性。
6.作为本发明的进一步改进，所述下降机构包括测试机构、褶皱板、数据线、缓冲机构，所述测试机构顶部固定安装有褶皱板，并且褶皱板上端与推移板底部相固定，所述数据
线与测试机构内部电连接，所述缓冲机构设在测试机构外侧端，所述缓冲机构底部与电控台上端面外侧相固定，所述褶皱板采用橡胶材质，具有一定的回弹性。
7.作为本发明的进一步改进，所述测试机构包括检测头、导通板、管套、导电片、导电杆、接触头，所述检测头顶部固定安装有褶皱板，并且导通板嵌固安装在检测头内部，所述管套设在导通板底面，所述管套内部安装有导电片，并且导电片底部与导电杆顶部相抵触，所述导电杆下端焊接有接触头，并且接触头采用间隙配合安装在检测头下端内部，所述检测头外侧端与缓冲机构相固定，所述导电片呈薄型型结构，并且采用铍铜合金材质，具有较好的导电性同时具有一定的弹性。
8.作为本发明的进一步改进，所述缓冲机构包括导向套管、导向杆、调节杆，所述导向杆采用间隙配合贯穿于导向套管内部，并且调节杆外侧端采用间隙配合安装在导向套管内部，所述调节杆内侧端与述检测头外侧端相固定，所述导向套管、导向杆和调节杆均设有四个，并且调节杆与导向套管内部连接处还设有弹簧杆。
9.本发明的有益效果在于：
10.1.通过弹簧管套内部弹簧施加的回弹力，使得卡角板对集成电路板的四角进行牢固的卡合，避免集成电路板放置在放置槽内部后发生角度偏移，气压均匀的排到分压口内部，抵触片在对集成电路板外侧四周进行弹性抵触，能够对不同大小的集成电路板四周进行固定的同时起到保护集成电路板的作用，避免集成电路板在进行测试的过程中发生损坏。
11.2.通过导向套管在导向杆上进行导向下降，而调节杆在导向套管内部进行弹性缓冲，确保调节杆带动检测头进行平稳的下降还起到一定的弹性缓冲，通过接触头对集成电路板上的测试点进行抵触，导电片在管套内部进行弹性形变，导电片在弹性形变的过程中保持导电性，从而避免接触头对集成电路板上的测试点施加过大的挤压力，防止集成电路板上的测试点受损。
附图说明
12.图1为本发明一种集成电路测试设备的结构示意图。
13.图2为本发明一种测试主机的结构示意图。
14.图3为本发明一种卡板机构的俯视以及局部放大结构示意图。
15.图4为本发明一种边护机构的内部以及局部放大结构示意图。
16.图5为本发明一种下降机构的结构示意图。
17.图6为本发明一种测试机构的内部以及局部放大结构示意图。
18.图7为本发明一种缓冲机构的俯视结构示意图。
19.图中：操作台
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1、箱门
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2、护板
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3、测试主机
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4、电控台
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41、卡板机构
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42、下降机构
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43、推移板
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44、支撑板
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45、气缸
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46、放置槽
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421、卡角板
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422、挤压杆
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423、弹簧管套
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424、导气孔
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425、边护机构
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426、气压管
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46a、分压口
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46b、推板
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46c、抵触片
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46d、测试机构
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431、褶皱板
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432、数据线
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433、缓冲机构
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434、检测头
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31a、导通板
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31b、管套
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31c、导电片
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31d、导电杆
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31e、接触头
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31f、导向套管
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34a、导向杆
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34b、调节杆
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34c。
具体实施方式
20.以下结合附图对本发明做进一步描述：
21.实施例1：
22.如附图1至附图4所示：
23.本发明一种集成电路测试设备，其结构包括操作台1、箱门2、护板3、测试主机4，所述操作台1前端面安装有箱门2，并且操作台1上端面外侧焊接有护板3，所述测试主机4设在操作台1上端面中部，所述测试主机4包括电控台41、卡板机构42、下降机构43、推移板44、支撑板45、气缸46，所述电控台41底部固定安装在操作台1上端面中部，并且卡板机构42嵌固安装在电控台41上端面，所述下降机构43下端固定安装在电控台41上端面，所述下降机构43中端与推移板44外侧端内部相固定，所述推移板44位于支撑板45正上方，所述支撑板45上端面设有气缸46，并且气缸46输出端与推移板44上端面中部相固定，所述下降机构43顶部与支撑板45底面外侧相固定。
24.其中，所述卡板机构42包括放置槽421、卡角板422、挤压杆423、弹簧管套424、导气孔425、边护机构426，所述放置槽421嵌固安装在操作台1上端面中部，所述卡角板422位于放置槽421内侧四角，所述卡角板422外侧中端与挤压杆423一端相固定，并且挤压杆423另一端采用间隙配合安装在弹簧管套424内部，所述弹簧管套424末端内部与导气孔425相贯通，并且导气孔425与边护机构426内部相贯通，所述边护机构426嵌固安装在放置槽421内侧表面，所述卡角板422呈直角折角板结构，并且设有四个，分别设在放置槽421内侧的四角处，确保能够对集成电路板的四角进行牢牢固定，避免集成电路板放置在放置槽421内部后发生角度偏移。
25.其中，所述边护机构426包括气压管46a、分压口46b、推板46c、抵触片46d，所述气压管46a嵌固安装在放置槽421内部，所述气压管46a左侧嵌固安装有分压口46b并且相贯通，所述推板46c滑动安装在分压口46b左端内部，所述推板46c左侧端与抵触片46d右侧端相固定，并且抵触片46d设在分压口46b左端开口处，所述分压口46b和抵触片46d均设有三个，等距分布在气压管46a左侧，并且抵触片46d呈弧形结构，采用橡胶材质，具有一定的回弹性，提高抵触片46d对集成电路板外侧进行弹性抵触，从而对不同大小的集成电路板四周进行固定的同时起到保护集成电路板的作用，避免集成电路板在进行测试的过程中发生损坏。
26.本实施例的具体使用方式与作用：
27.本发明中，将集成电路板放置在放置槽421内部，通过集成电路板的四角与卡角板422进行卡位，通过集成电路板四角的挤压，从而使得卡角板422对挤压杆423施加挤压力，这时挤压杆423在弹簧管套424内部进行弹性挤压，同时通过弹簧管套424内部弹簧施加的回弹力，使得卡角板422对集成电路板的四角进行牢固的卡合，避免集成电路板放置在放置槽421内部后发生角度偏移，挤压杆423在弹簧管套424内部进行挤压的过程中，使得弹簧管套424内部的气压发生改变，气压通过导气孔425进入到气压管46a内部，再通过分压口46b进行分压，将气压均匀的排到分压口46b内部，这时推板46c推动抵触片46d在分压口46b开口处外移，从而对集成电路板外侧四周进行弹性抵触，能够对不同大小的集成电路板四周进行固定的同时起到保护集成电路板的作用，避免集成电路板在进行测试的过程中发生损坏。
28.实施例2：
29.如附图5至附图7所示：
30.其中，所述下降机构43包括测试机构431、褶皱板432、数据线433、缓冲机构434，所述测试机构431顶部固定安装有褶皱板432，并且褶皱板432上端与推移板44底部相固定，所述数据线433与测试机构431内部电连接，所述缓冲机构434设在测试机构431外侧端，所述缓冲机构434底部与电控台41上端面外侧相固定，所述褶皱板432采用橡胶材质，具有一定的回弹性，利于推移板44对测试机构431施加下压力时起到缓冲作用。
31.其中，所述测试机构431包括检测头31a、导通板31b、管套31c、导电片31d、导电杆31e、接触头31f，所述检测头31a顶部固定安装有褶皱板432，并且导通板31b嵌固安装在检测头31a内部，所述管套31c设在导通板31b底面，所述管套31c内部安装有导电片31d，并且导电片31d底部与导电杆31e顶部相抵触，所述导电杆31e下端焊接有接触头31f，并且接触头31f采用间隙配合安装在检测头31a下端内部，所述检测头31a外侧端与缓冲机构434相固定，所述导电片31d呈薄型x型结构，并且采用铍铜合金材质，具有较好的导电性同时具有一定的弹性，利于导电片31d进行弹性形变导电，确保导电杆31e带动接触头31f进行收缩，避免接触头31f对集成电路板上的测试点施加过大的挤压力，防止集成电路板上的测试点受损。
32.其中，所述缓冲机构434包括导向套管34a、导向杆34b、调节杆34c，所述导向杆34b采用间隙配合贯穿于导向套管34a内部，并且调节杆34c外侧端采用间隙配合安装在导向套管34a内部，所述调节杆34c内侧端与述检测头31a外侧端相固定，所述导向套管34a、导向杆34b和调节杆34c均设有四个，并且调节杆34c与导向套管34a内部连接处还设有弹簧杆，通过弹簧杆使得调节杆34c在导向套管34a内部进行弹性缓冲，从而确保调节杆34c在带动检测头31a进行平稳下降的过程中还起到一定的弹性缓冲。
33.本实施例的具体使用方式与作用：
34.本发明中，启动气缸46推动推移板44下降，推移板44在下降的过程中通过褶皱板432的褶皱变化，在推移板44与测试机构431之间产生一定的弹性缓冲，通过导向套管34a在导向杆34b上进行导向下降，而调节杆34c在导向套管34a内部进行弹性缓冲，确保调节杆34c带动检测头31a进行平稳的下降还起到一定的弹性缓冲，通过接触头31f对集成电路板上的测试点进行抵触，抵触的过程中，接触头31f对导电杆31e施加向上的挤压力，这时导电杆31e对导电片31d进行挤压，从而使得导电片31d在管套31c内部进行弹性形变，导电片31d在弹性形变的过程中保持导电性，从而避免接触头31f对集成电路板上的测试点施加过大的挤压力，防止集成电路板上的测试点受损。
35.利用本发明所述技术方案，或本领域的技术人员在本发明技术方案的启发下，设计出类似的技术方案，而达到上述技术效果的，均是落入本发明的保护范围。