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高正向浪涌电流能力的SiC二极管的制作方法

2021-11-25 13:43:00 来源:中国专利 TAG:

高正向浪涌电流能力的sic二极管
技术领域
1.本实用新型涉及一种sic二极管,特别是一种高正向浪涌电流能力的sic二极管。


背景技术:

2.sic二极管在光伏、汽车等高端领域对正向浪涌电流能力均具有较高的要求。传统sic二极管提高正向浪涌电流能力的方式是先在sic二极管上沉积一层sio2层,然后利用p

grid光罩依次对sio2层进行光刻、刻蚀和注入al,使sic二极管的表面形成深p

grid结构;再利用sbd光罩和metal光罩通过刻蚀工艺在sic二极管的外部形成芯片工作区。而上述工艺能够将sic二极管的正向浪涌电流能力提高至正向电流参数的8~10倍。
3.随着技术的发展和厂家对sic二极管加工工艺的不断改进,目前的sic二极管在加工时还会在现有深p

grid层的两侧形成浅p grid层,从而利用深p

grid层和两侧浅p grid层的配合使sic二极管的正向浪涌电流能力提高至正向电流参数的10~12倍。这种结构改进虽相比传统sic二极管虽能够提高其正向浪涌电流能力,但提升幅度相对有限,很难满足厂家对二极管性能的追求。
4.因此,需要一种能够进一步提高正向浪涌电流能力的sic二极管。


技术实现要素:

5.本实用新型的目的在于,提供一种高正向浪涌电流能力的sic二极管。它能够进一步提高sic二极管的正向浪涌电流能力。
6.本实用新型的技术方案:高正向浪涌电流能力的sic二极管,包括sic层,sic层上设有若干第一沟槽,第一沟槽的中部上端设有第二沟槽,第二沟槽的两侧和第一沟槽之间留有间隙,第二沟槽内填充有浅p grid层,第一沟槽和第二沟槽之间填充有深p

grid层,sic层的外部设有离子注入层。
7.前述的高正向浪涌电流能力的sic二极管中,所述第一沟槽的宽度为2.1~3.1μm,所述第二沟槽和第一沟槽之间的宽度差为0.6μm。
8.前述的高正向浪涌电流能力的sic二极管中,所述离子注入层和sic层的连接处两侧设有sio2层。
9.前述的高正向浪涌电流能力的sic二极管中,所述第一沟槽的深度为1~1.2μm,所述第二沟槽的深度为0.3~0.5μm。
10.与现有技术相比,本实用新型相比现有sic二极管将浅p grid层从深p

grid层的两侧调整至深p

grid层的中部,使得sic二极管在高温环境下能够更加快速的进行电流导通,提高其正向浪涌电流能力;在此基础上,本实用新型进一步优化了浅p grid层和深p

grid层的深度和宽度,能够进一步提高该结构的提升效果,进而使sic二极管的正向浪涌电流能力能够达到正向电流参数的14~16倍,即相比现有结构进一步提高其正向浪涌电流能力。所以,本实用新型能够进一步提高sic二极管的正向浪涌电流能力。
附图说明
11.图1是本实用新型的结构示意图;
12.图2是本实用新型的制备流程图;
13.图3是现有sic二极管的工艺流程图。
14.附图中的标记为:1

sic层,2

第一沟槽,3

第二沟槽,4

离子注入层,5

sio2层,6

lp

sio2薄膜层,7

spacer

sio2结构,501

pe

sio2层。
具体实施方式
15.下面结合附图和实施例对本实用新型作进一步的说明,但并不作为对本实用新型限制的依据。
16.实施例1。高正向浪涌电流能力的sic二极管,构成如图1所示,包括sic层1,sic层1上设有若干第一沟槽2,第一沟槽2的中部上端设有第二沟槽3,第二沟槽3的两侧和第一沟槽2之间留有间隙,第二沟槽3内填充有浅p grid层,第一沟槽2和第二沟槽3之间填充有深p

grid层,sic层1的外部设有离子注入层4。
17.所述第一沟槽2的宽度为2.1μm,所述第二沟槽3的宽度为1.5μm。
18.所述离子注入层4和sic层1的连接处两侧设有sio2层5。
19.所述第一沟槽2的深度为1~1.2μm,所述第二沟槽3的深度为0.3~0.5μm。
20.所述高正向浪涌电流能力的sic二极管的制备流程如图2所示,包括以下步骤:
21.①
先在sic层1的表面沉积sio2,使sic层1的外部形成pe

sio2层501,再通过p

grid光罩对pe

sio2层501进行光刻和刻蚀,使sic层1的表面形成深p

grid层,得a品;
22.②
通过lpcvd(低压力化学气相沉积法)在a品的表面沉积一层0.3~0.5μm厚度的lp

sio2薄膜层6,然后对lp

sio2薄膜层6进行干法刻蚀形成spacer

sio2结构7,得b品;
23.③
对b品的表面注入al离子,al离子的注入浓度为5e14~1.5e15,使深p

grid层的顶部形成浅p grid层,得c品;
24.④
通过sbd光罩和metal光罩依次对c品的表面进行刻蚀,消除深p

grid层上方的spacer

sio2结构7和pe

sio2层501,并形成离子注入层4(即芯片的工作区结构),得成品。
25.本实用新型的工作原理:本实用新型先通过先在sic层1的表面通过光刻和刻蚀形成深p

grid层,然后再通过沉积和刻蚀在深p

grid层上方的pe

sio2层501两侧形成spacer

sio2结构7;再通过注入al离子使深p

grid层的上端中部形成浅p grid层,而深p

grid层的上端两侧则在spacer

sio2结构7的作用下保持原状。从而使浅p grid层在成型后能够位于深p

grid层的中部上端,且与两侧第一沟槽2之间形成间隙。最后通过sbd光罩和metal光罩的刻蚀形成离子注入层4。当本实用新型的使用时,通过浅p grid层和深p

grid层的结构配合,使得sic二极管在高温环境下能够更加快速的进行电流导通,进而使本实用新型的正向浪涌电流能力能够达到正向电流参数的14~16倍。
26.传统sic二极管的制备工艺如图3所示,先在sic层1的表面通过光刻和刻蚀形成pe

sio2层501,然后注入al离子形成深p

grid层100,最后通过sbd光罩和metal光罩通过刻蚀工艺形成离子注入层4。
27.改进后的sic二极管的制备工艺如专利202011123353.2所示,通过在深p

grid层在两侧形成浅p grid层,从而利用两者的配合提高sic二极管的正向浪涌电流能力。
28.实施例2。高正向浪涌电流能力的sic二极管,构成如图1所示,包括sic层1,sic层1上设有若干第一沟槽2,第一沟槽2的中部上端设有第二沟槽3,第二沟槽3的两侧和第一沟槽2之间留有间隙,第二沟槽3内填充有浅p grid层,第一沟槽2和第二沟槽3之间填充有深p

grid层,sic层1的外部设有离子注入层4。
29.所述第一沟槽2的宽度为3.1μm,所述第二沟槽3的宽度为2.5μm。
30.所述离子注入层4和sic层1的连接处两侧设有sio2层5。
31.所述第一沟槽2的深度为1~1.2μm,所述第二沟槽3的深度为0.3~0.5μm。
再多了解一些

本文用于企业家、创业者技术爱好者查询,结果仅供参考。

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