一种芯片在线式检测摆盘一体机的设备的制作方法

1.本实用新型涉及芯片检测技术领域，尤其涉及一种芯片在线式检测摆盘一体机的设备。


背景技术：

2.目前市场上能检测摆盘这种超小芯片的设备几乎没有，而且无法在摆盘的同时对芯片的外观进行检测，比如裂纹、堆金、破损等进行六面检测，导致对于摆盘芯片质量缺陷无法及时发现，造成产品存在严重的质量缺陷，而且不符合一体化设备的功能型需求，造成设备的功能性较低，工序较为繁琐。


技术实现要素：

3.针对现有技术的不足，本实用新型提供了一种芯片在线式检测摆盘一体机的设备，达到了实现对摆盘芯片性能、外观进行自动检测的目的，能够做到对最小芯片检测精度达到0.25*0.25mm，并对芯片的外观进行检测，比如裂纹、堆金、破损等进行六面检测。
4.为解决上述技术问题，本实用新型提供了如下技术方案：一种芯片在线式检测摆盘一体机的设备，包括机体，所述机体顶部中间位置的前端固定安装有产品上料组件，所述产品上料组件的右侧设置有蓝膜放置组件，所述产品上料组件的左侧设置有tray盘放置组件，所述机体上固定安装有三轴直线电机，所述三轴直线电机的自由端上安装有贴装头组件，所述蓝膜放置组件的背部设置有性能测试组件，所述tray盘放置组件的背部设置有外观检测组件。
5.进一步地，所述产品上料组件包括固定架，所述固定架固定安装在机体上，所述固定架的顶部固定安装有滑轨，所述滑轨上滑动安装有滑座。
6.进一步地，所述固定架上固定安装有驱动气缸，所述驱动气缸的自由端与滑座传动连接，所述滑座的顶部固定安装有芯片盘。
7.进一步地，所述性能测试组件包括安装架，所述安装架固定安装在机体上，所述安装架上安装有位移组件，所述位移组件包括滑轨和直线电机实现x轴向位移。
8.进一步地，所述位移组件的自由端上安装有检测组件，所述安装架上安装有工位台，所述工位台位于检测组件的前方。
9.进一步地，所述外观检测组件包括支撑架，所述支撑架固定安装在机体上，所述支撑架顶部的前侧固定安装有侧位检测相机，所述支撑架顶部的左侧固定安装有主位检测相机，所述支撑架的左侧固定安装有检测台。
10.本实用新型提供了一种芯片在线式检测摆盘一体机的设备，具备以下有益效果：
11.1、本实用新型采用多轴伺服系统、plc、人机界面等控制系统及精密机械执行部件，优化机械结构设计，采用多镜头ccd外观检测组件系统对产品的破损、缺陷进行检测，同时对锡球不良进行剔除，自动对芯片极性点进行识别调整，有序装盘，能够做到对最小芯片检测精度达到0.25*0.25mm，并对芯片的外观进行检测，比如裂纹、堆金、破损等进行六面检
测。
12.2、本实用新型解决了微小产品人工操作不便的问题，能够把产品的方向位置、整齐有序的排列在规定的托盘里，一个人同时可以管理3
‑
5台机械，大大减省了人力资源，提高了工作效率，解决了效率及品质无法保证的问题。
13.3、本实用新型采用的是双吸取工作方式，大大提高效率，性能测试完成后根据性能直属分不同的区域收集，配合tray盘放置组件和蓝膜放置组件的配合使用，也可以进行tray盘的摆放和蓝膜的摆放。
附图说明
14.图1为本实用新型的立体示意图；
15.图2为本实用新型的内部结构示意图；
16.图3为本实用新型的俯视图；
17.图4为本实用新型产品上料组件的结构示意图；
18.图5为本实用新型蓝膜放置组件的结构示意图；
19.图6为本实用新型tray盘放置组件的结构示意图；
20.图7为本实用新型三轴直线电机的结构示意图；
21.图8为本实用新型贴装头组件的结构示意图；
22.图9为本实用新型性能测试组件的结构示意图；
23.图10为本实用新型外观检测组件的结构示意图。
24.图中：1、机体；2、产品上料组件；201、固定架；202、滑轨；203、滑座；204、驱动气缸；205、芯片盘；3、蓝膜放置组件；4、tray盘放置组件；5、三轴直线电机；6、贴装头组件；7、性能测试组件；701、安装架；702、位移组件；703、检测组件；704、工位台；801、支撑架；8、外观检测组件；802、侧位检测相机；803、主位检测相机；804、检测台。
具体实施方式
25.下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。
26.请参阅图1
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10，本实用新型提供了一种技术方案：一种芯片在线式检测摆盘一体机的设备，包括机体1，机体1顶部中间位置的前端固定安装有产品上料组件2，产品上料组件2的右侧设置有蓝膜放置组件3，产品上料组件2的左侧设置有tray盘放置组件4，机体1上固定安装有三轴直线电机5，三轴直线电机5的自由端上安装有贴装头组件6，蓝膜放置组件3的背部设置有性能测试组件7，tray盘放置组件4的背部设置有外观检测组件8。
27.本实用新型采用多轴伺服系统、plc、人机界面等控制系统及精密机械执行部件，优化机械结构设计，采用多镜头ccd外观检测组件系统对产品的破损、缺陷进行检测，同时对锡球不良进行剔除，自动对芯片极性点进行识别调整，有序装盘，能够做到对最小芯片检测精度达到0.25*0.25mm，并对芯片的外观进行检测，比如裂纹、堆金、破损等进行六面检测。
28.产品上料组件2包括固定架201，固定架201固定安装在机体1上，固定架201的顶部固定安装有滑轨202，滑轨202上滑动安装有滑座203，固定架201上固定安装有驱动气缸204，驱动气缸204的自由端与滑座203传动连接，滑座203的顶部固定安装有芯片盘205，本实用新型解决了微小产品人工操作不便的问题，能够把产品的方向位置、整齐有序的排列在规定的托盘里，一个人同时可以管理3
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5台机械，大大减省了人力资源，提高了工作效率，解决了效率及品质无法保证的问题。
29.性能测试组件7包括安装架701，安装架701固定安装在机体1上，安装架701上安装有位移组件702，位移组件702包括滑轨和直线电机实现x轴向位移，位移组件702的自由端上安装有检测组件703，安装架701上安装有工位台704，工位台704位于检测组件703的前方，本实用新型采用的是双吸取工作方式，大大提高效率，性能测试完成后根据性能直属分不同的区域收集，配合tray盘放置组件和蓝膜放置组件的配合使用，也可以进行tray盘的摆放和蓝膜的摆放。
30.外观检测组件8包括支撑架801，支撑架801固定安装在机体1上，支撑架801顶部的前侧固定安装有侧位检测相机802，支撑架801顶部的左侧固定安装有主位检测相机803，支撑架801的左侧固定安装有检测台804，本实用新型采用多轴伺服系统、plc、人机界面等控制系统及精密机械执行部件，优化机械结构设计，采用多镜头ccd外观检测组件系统对产品的破损、缺陷进行检测，同时对锡球不良进行剔除，自动对芯片极性点进行识别调整，有序装盘。
31.在使用的过程中，芯片由产品上料组件2上的芯片盘205散料上料，三轴直线电机5运行带动上方视觉系统对芯片定位，并对上表面进行外观检测，良品吸取，移动到主位检测相机803和侧位检测相机802处进行精定位，并对其他五个面进行外观检测，总共对芯片的六个面进行精准检测，不良品放到不良品料盒，良品吸取到性能测试组件7进行性能测试，采用的是双吸取，大大提高效率，性能测试完成后根据性能直属分不同的区域收集，配合tray盘放置组件4和蓝膜放置组件的配合使用，也可以进行tray盘的摆放和蓝膜的摆放，tray盘摆放完成后由人工取走。
32.需要说明的是，在本文中术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者设备不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者设备所固有的要素。
33.尽管已经示出和描述了本实用新型的实施例，对于本领域的普通技术人员而言，可以理解在不脱离本实用新型的原理和精神的情况下可以对这些实施例进行多种变化、修改、替换和变型，本实用新型的范围由所附权利要求及其等同物限定。