使用分子化学成像的心力衰竭量化的制作方法

技术特征：
1.一种用于检测患者中的水肿的系统，所述系统包括：光源，所述光源被配置为用光照射对象的组织；图像检测器，所述图像检测器被配置为收集来自所述对象的组织的反射的光并且产生与所述反射的光相关联的数据；以及处理装置，所述处理装置可操作地连接到所述图像检测器，并且被配置为：接收与所述反射的光相关联的所述数据；计算所述反射的光的强度；并且确定所述对象的组织是否表现出水肿的症状。2.如权利要求1所述的系统，其中所述处理装置被进一步配置为确定对于对照试样的对照测量值。3.如权利要求2所述的系统，其中所述处理装置被进一步配置为：将计算的所述反射的光的强度与所述对照测量值进行比较；并且确定所述对象的水肿评分，其中所述水肿评分表示所述对象是否有水肿以及所述对象的水肿的严重性中的至少一个。4.如权利要求1所述的系统，还包括至少一个滤光器，所述至少一个滤光器被配置为对所述反射的光进行滤光。5.如权利要求4所述的系统，其中所述至少一个滤光器是可调谐滤光器，所述可调谐滤光器被配置为对特定的波长范围的所述反射的光进行滤光。6.如权利要求4所述的系统，其中所述至少一个滤光器是以下中的至少一个：液晶可调谐滤光器(lctf)、fabry perot可调谐滤光器、多共轭晶体可调谐滤光器和共形滤光器。7.如权利要求1所述的系统，还包括多个可调谐滤光器。8.如权利要求7所述的系统，其中所述多个可调谐滤光器被配置为将所述反射的光滤光到以下中的至少一个的波长范围：可见光(vis)、近红外线(nir)、可见光
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近红外线(vis
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nir)、短波红外线(swir)、扩展短波红外线(eswir)、近红外线
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扩展短波红外线(nir
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eswir)、中波长红外线(mwir)、长波长红外线(lwir)、远红外线(fir)、红外线(ir)和太赫兹辐射。9.如权利要求1所述的系统，其中所述光源包括以下中的至少一个：白炽灯、卤素灯、发光二极管(led)、化学激光器、固态激光器、有机发光二极管(oled)、电致发光装置、荧光灯、气体释放灯、金属卤素灯、氙弧灯、感应灯、环境光源、或这些光源的任何组合。10.如权利要求1所述的系统，其中所述图像检测器包括以下中的至少一个：si cmos、si ccd、ge ccd、ge cmos、ingaas ccd、ingaas cmos、ptsi ccd、ptsi cmos、hgcdte ccd、hgcdte cmos、insb ccd、insb cmos、cqd ccd或cqd cmos。11.如权利要求1所述的系统，其中所述处理器被进一步配置为融合来自两个或更多个成像模态的强度数据。12.如权利要求11所述的系统，其中所述两个或更多个成像模态包括可见光图像、超光谱图像、短波红外线超光谱图像、中等波长红外线超光谱图像、长波长红外线超光谱图像、以及它们的组合。13.如权利要求1所述的系统，还包括至少一个显示装置，所述至少一个显示装置可操作地连接到所述处理装置，并且被配置为显示从所述处理装置接收的一个或更多个图像，
所述一个或更多个图像表示所述对象的组织。14.如权利要求1所述的系统，其中所述系统还包括用于生成非成像光谱图的光学器件。15.一种用于检测对象中的水肿的方法，所述方法包括：光源用光照射对象的组织；图像检测器收集来自所述对象的组织的反射的光；所述图像检测器产生与所述反射的光相关联的数据；可操作地连接到所述图像检测器的处理装置接收所述反射的光；所述处理装置计算所述反射的光的强度；以及所述处理装置确定所述对象的组织是否表现出水肿的症状。16.如权利要求15所述的方法，还包括所述处理装置确定对于对照试样的对照测量值。17.如权利要求16所述的方法，还包括：所述处理装置将计算的所述反射的光的强度与所述对照测量值进行比较；以及所述处理装置确定所述对象的水肿评分，其中所述水肿评分表示所述对象是否有水肿和所述对象的水肿的严重性中的至少一个。18.如权利要求15所述的方法，还包括至少一个滤光器对所述反射的光进行滤光。19.如权利要求18所述的方法，其中所述至少一个滤光器是可调谐滤光器，所述可调谐滤光器被配置为对在特定的波长范围内的所述反射的光进行滤光。20.如权利要求18所述的方法，其中所述至少一个滤光器是以下中的至少一个：多变量光学元件(moe)、液晶可调谐滤光器(lctf)、声光可调谐滤光器(aotf)、多共轭可调谐滤光器(mcf)、fabry perot角度可调谐滤光器、lyot滤光器、evans划分元件液晶可调谐滤光器、solc液晶可调谐滤光器、固定波长fabry perot可调谐滤光器、空气调谐式fabry perot可调谐滤光器、机械调谐式fabry perot可调谐滤光器和液晶fabry perot可调谐滤光器。21.如权利要求15所述的方法，还包括多个滤光器将所述反射的光滤光到以下中的至少一个的波长范围：可见光(vis)、近红外线(nir)、可见光
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近红外线(vis
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nir)、短波红外线(swir)、扩展短波红外线(eswir)、近红外线
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扩展短波红外线(nir
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eswir)、中波长红外线(mwir)、长波长红外线(lwir)、远红外线(fir)、红外线(ir)和太赫兹辐射。22.如权利要求15所述的方法，其中所述光源包括以下中的至少一个：白炽灯、卤素灯、发光二极管(led)、化学激光器、固态激光器、有机发光二极管(oled)、电致发光装置、荧光灯、气体释放灯、金属卤素灯、氙弧灯、感应灯、环境光源、以及以上的组合。23.如权利要求15所述的方法，其中所述检测器包括以下中的至少一个：si cmos、si ccd、ge ccd、ge cmos、ingaas ccd、ingaas cmos、ptsi ccd、ptsi cmos、hgcdte ccd、hgcdte cmos、insb ccd、insb cmos、cqd ccd或cqd cmos。24.如权利要求15所述的方法，还包括所述处理装置融合来自两个或更多个成像模态的强度数据。25.如权利要求24所述的方法，其中所述两个或更多个成像模态包括可见光图像、超光谱图像、短波红外线超光谱图像、中等波长红外线超光谱图像、长波长红外线超光谱图像、以及它们的组合。26.如权利要求15所述的方法，还包括可操作地连接到所述处理装置的至少一个显示
装置显示从所述处理装置接收的一个或更多个图像，所述一个或更多个图像表示所述对象的组织。27.如权利要求15所述的方法，还包括生成非成像光谱图。28.一种用于监测对象中的水肿的方法，所述方法包括：光源用光照射对象的组织；图像检测器收集来自所述对象的组织的反射的光；所述图像检测器产生与所述反射的光相关联的数据；可操作地连接到所述图像检测器的处理装置接收所述反射的光；所述处理装置计算所述反射的光的强度；所述处理装置将所述反射的光的强度与对照测量值进行比较以确定当前的水肿评分；以及基于所述当前的水肿评分和先前收集的水肿信息的比较来确定所述对象的水肿程度的变化。29.如权利要求26所述的方法，还包括所述处理装置确定所述先前收集的水肿信息。30.如权利要求26所述的方法，还包括所述处理装置确定对于对照试样的对照测量值。31.如权利要求26所述的方法，还包括可操作地连接到所述处理装置的至少一个显示装置显示从所述处理装置接收的一个或更多个图像，所述一个或更多个图像表示所述对象的组织。32.如权利要求26所述的方法，其中所述方法在以下中的至少一个中被执行：医院、疗养院、医生办公室、门诊设施、办公室、辅助生活设施、汽车、公交车、火车、飞机、轮船、工作空间、办公室、活动房屋、活动临床设施、或个人住宅。

技术总结
检测和监测对象中的水肿的系统和方法被描述。所述系统和方法包括光源、图像检测器、滤光器和处理器，所述处理器确定对象是否有水肿和严重性程度。在一些实施方案中，处理器融合来自多于一个的成像模态的数据。来自多于一个的成像模态的数据。来自多于一个的成像模态的数据。


技术研发人员：J
受保护的技术使用者：开米美景公司
技术研发日：2020.02.04
技术公布日：2021/11/9