芯片老化的检测方法、系统、设备及计算机存储介质与流程

技术特征：
1.一种芯片老化的检测方法，其特征在于，所述方法包括：在老化测试环境下对放置于夹具中的多个待检测芯片进行巡检，获取每一所述待检测芯片是否异常信息；在显示界面显示每一所述待检测芯片的图标，所述待检测芯片的图标在所述显示界面的位置对应所述待检测芯片在所述夹具中的位置，所述图标中包括所述是否异常信息。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述在老化测试环境下对放置于夹具中的多个待检测芯片进行巡检，获取每一所述待检测芯片是否异常信息的步骤之前，包括：对放置于夹具中的多个待检测芯片进行初检，获取每一所述待检测芯片的位置信息和是否异常信息；所述在老化测试环境下对放置于夹具中的多个待检测芯片进行巡检，包括：在老化测试环境下，对初检正常的所述待检测芯片进行巡检；所述在显示界面显示每一所述待检测芯片的图标，包括：根据所述位置信息在显示界面显示每一所述待检测芯片的图标。3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述对放置于夹具中的多个待检测芯片进行初检，之前包括：接收对所述夹具中夹持有多个待检测芯片的触头进行测试指令，根据所述测试指令，对每一所述待检测芯片进行初检。4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述在老化测试环境下对放置于夹具中的多个待检测芯片进行巡检，包括：若巡检过程中，所述待检测芯片异常，则不再检测异常的待检测芯片。5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：在所述显示界面显示老化起始时间、结束时间、巡检次数、巡检正常芯片数量，巡检异常芯片数量以及巡检异常芯片位置。6.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，基于所述老化起始时间、结束时间、巡检次数、巡检正常芯片数量，巡检异常芯片数量以及巡检异常芯片位置，生成所述待检测芯片的老化报告。7.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，若所述待检测芯片异常，所述图标包括红色标识，若所述待检测芯片正常，所述图标包括绿色标识。8.一种芯片老化的检测系统，其特征在于，所述系统包括检测模块和显示模块，所述检测模块，用于在老化测试环境下对放置于夹具中的多个待检测芯片进行巡检，获取每一所述待检测芯片是否异常信息；所述显示模块，用于在显示界面显示每一所述待检测芯片的图标，所述待检测芯片的图标在所述显示界面的位置对应所述待检测芯片在所述夹具中的位置，所述图标中包括是否异常信息。9.一种芯片老化的检测设备，其特征在于，所述设备包括存储器以及与所述存储器耦接的处理器；其中，所述存储器用于存储程序数据，所述处理器用于执行所述程序数据以实现如权利要求1～7任一项所述的芯片老化的检测方法。10.一种计算机存储介质，所述计算机存储介质用于存储程序数据，所述程序数据在被
处理器执行时，用以实现如权利要求1～7任一项所述的芯片老化的检测方法。

技术总结
本申请公开了一种芯片老化的检测方法、系统、设备计算机存储介质。所述方法包括：在老化测试环境下对放置于夹具中的多个待检测芯片进行巡检，获取每一待检测芯片是否异常信息；在显示界面显示每一待检测芯片的图标，待检测芯片的图标在显示界面的位置对应待检测芯片在夹具中的位置，图标中包括是否异常信息。本申请的芯片老化的检测方法提高了芯片的老化检测效率。检测效率。检测效率。


技术研发人员：周进群 李新强 苏鹏 曾泉 刘建辉
受保护的技术使用者：天芯互联科技有限公司
技术研发日：2020.05.06
技术公布日：2021/11/8