一种弯针装置的制作方法

本技术属于半导体，特别涉及一种弯针装置。

背景技术：

1、测试探针主要用于芯片设计验证、晶圆测试和成品测试等环节，以判断半导体产品的质量。其中，基于特殊场合的应用需求，测试探针的针头需要进行弯折处理。然而，目前弯针操作大多依赖人工手动进行，存在弯折角度不精细、弯针流程不标准和弯针流程繁琐等问题，从而存在测试探针被损坏和测试结果不可靠的风险。

技术实现思路

1、本实用新型的目的在于提供一种弯针装置，能够使弯针流程精细化、标准化和简单化，避免测试探针被损坏，提高测试结果的可靠性。

2、为解决上述技术问题，本实用新型是通过以下技术方案实现的：

3、本实用新型提供一种弯针装置，至少包括：

4、底盘；

5、刻度盘，垂直设置在所述底盘上；

6、压针结构，设置在所述刻度盘的一侧上，且所述压针结构与所述刻度盘滑动连接；以及

7、针座固定结构，与所述压针结构垂直设置在所述刻度盘的同一侧上。

8、在本实用新型一实施例中，所述刻度盘包括直线刻度盘和圆周刻度盘，所述圆周刻度盘以所述直线刻度盘的0刻度线为圆心，圆周分布在所述直线刻度盘的四周。

9、在本实用新型一实施例中，所述压针结构包括连接杆和旋转刻度部件，所述连接杆垂直于所述底盘设置，所述旋转刻度部件设置在所述连接杆远离所述底盘的一端上，且所述旋转刻度部件与所述连接杆活动连接。

10、在本实用新型一实施例中，所述压针结构还包括压杆，所述压杆设置在所述连接杆远离所述旋转刻度部件的一端上。

11、在本实用新型一实施例中，所述压杆包括第一分部和第二分部，所述第一分部由所述连接杆向垂直于所述底盘的方向上延伸设置，所述第二分部由所述第一分部向所述底盘的方向上凸起设置。

12、在本实用新型一实施例中，所述针座固定结构在所述刻度盘上正投影的延长线，与所述压针结构在所述刻度盘上正投影的延长线，相交于所述刻度盘的中心。

13、在本实用新型一实施例中，所述针座固定结构包括基板，所述基板垂直于所述刻度盘和所述压针结构设置。

14、在本实用新型一实施例中，所述针座固定结构还包括至少一个固定卡口，所述固定卡口活动设置在所述基板上。

15、在本实用新型一实施例中，所述针座固定结构还包括固定杆，所述固定杆垂直于所述压针结构设置在所述固定卡口上。

16、在本实用新型一实施例中，所述针座固定结构还包括活动杆，所述活动杆与所述固定杆远离所述固定卡口的一端活动连接，且所述活动杆垂直所述压针结构设置在所述基板上。

17、综上所述，本实用新型提供一种弯针装置，通过对弯针装置的结构进行改进，本申请意想不到的技术效果是能够精确控制测试探针的弯折角度和弯针长度，从而使弯针流程精细化、标准化和简单化，提高弯针效率，避免测试探针被损坏，提高测试结果的可靠性。而且，本实用新型提供的弯针装置，能够满足单针多角度弯针的需求，从而扩宽弯针装置的使用场景。

1.一种弯针装置，其特征在于，至少包括：

2.根据权利要求1所述的弯针装置，其特征在于，所述刻度盘包括直线刻度盘和圆周刻度盘，所述圆周刻度盘以所述直线刻度盘的0刻度线为圆心，圆周分布在所述直线刻度盘的四周。

3.根据权利要求1所述的弯针装置，其特征在于，所述压针结构包括连接杆和旋转刻度部件，所述连接杆垂直于所述底盘设置，所述旋转刻度部件设置在所述连接杆远离所述底盘的一端上，且所述旋转刻度部件与所述连接杆活动连接。

4.根据权利要求3所述的弯针装置，其特征在于，所述压针结构还包括压杆，所述压杆设置在所述连接杆远离所述旋转刻度部件的一端上。

5.根据权利要求4所述的弯针装置，其特征在于，所述压杆包括第一分部和第二分部，所述第一分部由所述连接杆向垂直于所述底盘的方向上延伸设置，所述第二分部由所述第一分部向所述底盘的方向上凸起设置。

6.根据权利要求1所述的弯针装置，其特征在于，所述针座固定结构在所述刻度盘上正投影的延长线，与所述压针结构在所述刻度盘上正投影的延长线，相交于所述刻度盘的中心。

7.根据权利要求1所述的弯针装置，其特征在于，所述针座固定结构包括基板，所述基板垂直于所述刻度盘和所述压针结构设置。

8.根据权利要求7所述的弯针装置，其特征在于，所述针座固定结构还包括至少一个固定卡口，所述固定卡口活动设置在所述基板上。

9.根据权利要求8所述的弯针装置，其特征在于，所述针座固定结构还包括固定杆，所述固定杆垂直于所述压针结构设置在所述固定卡口上。

10.根据权利要求9所述的弯针装置，其特征在于，所述针座固定结构还包括活动杆，所述活动杆与所述固定杆远离所述固定卡口的一端活动连接，且所述活动杆垂直所述压针结构设置在所述基板上。