SIM卡测试治具的制作方法

本技术涉及测试治具，特别涉及一种sim卡测试治具。

背景技术：

1、在现代社会中，sim卡测试治具可对手机的sim卡进行测试操作。但是，现有的sim卡测试治具对sim卡的限位效果较差。在测试过程中，sim卡容易从卡槽中位移或脱出。因此，现有的测试治具会导致sim卡测试的不良率较高。

2、故需要提供一种sim卡测试治具来解决上述技术问题。

技术实现思路

1、本实用新型提供一种sim卡测试治具，有效解决了现有的测试治具会导致sim卡测试的不良率较高的技术问题。

2、本实用新型提供一种sim卡测试治具，用于对sim卡进行测试操作，其包括，

3、基座；

4、多个测试结构，连接于所述基座的上端，所述测试结构包括，

5、测试台，位于所述基座的上端，通过弹簧与所述基座在竖直方向上活动连接；所述测试台包括容置槽，所述容置槽位于所述测试台的上端，所述容置槽的高度与所述sim卡的高度相同，所述容置槽的底部设置有通孔，所述sim卡设置于所述容置槽的内部，所述容置槽用于在水平方向上对所述sim卡进行限位操作；

6、磁吸盖板，位于所述基座上端的一侧，与所述基座转动连接，所述磁吸盖板包括第一磁铁，所述第一磁铁连接于所述磁吸盖板的一侧；

7、第二磁铁，设置于所述基座上端的另一侧，与所述基座连接；

8、探针，设置于所述通孔的下端，与所述基座连接，用于对所述sim卡进行测试操作；

9、当所述磁吸盖板位于第一工作位时，所述第一磁铁和所述第二磁铁连接，所述sim卡的上端与所述磁吸盖板连接，所述sim卡的下端与所述容置槽的底部连接，所述磁吸盖板与所述容置槽用于在竖直方向上对所述sim卡进行限位操作，所述弹簧处于压缩状态，所述探针凸出于所述通孔，所述探针与所述sim卡接触；

10、当所述磁吸盖板位于第二工作位时，所述第一磁铁和所述第二磁铁之间设置有间隔，所述磁吸盖板与所述sim卡之间设置有间隔，所述弹簧处于自由状态，所述探针位于所述通孔的下端，所述探针与所述sim卡之间设置有间隔。

11、进一步的，所述测试台还包括固定孔，所述固定孔位于所述容置槽的底部，所述基座上设置有固定螺孔，所述固定螺孔与所述固定孔连通，所述sim卡测试治具包括固定螺栓，所述固定螺栓设置于所述固定孔的内部，所述固定螺栓与所述固定螺孔螺纹连接，所述固定螺栓用于在水平方向上对所述测试台进行限位操作。

12、进一步的，所述容置槽还包括两个所述调节孔，两个所述调节孔分别设置于所述固定孔的两侧，所述基座上还设置有调节螺孔，所述调节螺孔与所述调节孔连通，所述sim卡测试治具还包括调节螺栓，所述调节螺栓设置于所述调节孔的内部，所述调节螺栓与所述调节螺孔螺纹连接，当磁吸盖板位于第一工作位时，所述sim卡的上端与所述磁吸盖板连接，所述sim卡的下端与所述调节螺栓、所述容置槽的底部连接，所述调节螺栓为多种不同长度的调节螺栓，通过不同长度的调节螺栓，调节测试台在竖直方向上活动距离。

13、进一步的，两个所述调节孔设置于以所述固定孔为中心形成的矩形的同一条对角线上。

14、进一步的，所述磁吸盖板上还连接有橡胶件，当磁吸盖板位于第一工作位时，所述磁吸盖板通过所述橡胶件与所述sim卡的上端连接。

15、进一步的，所述探针的顶部为蘑菇头状。

16、进一步的，所述基座还包括两个凸块，两个所述凸块连接于所述基座的上端，所述磁吸盖板设置于两个所述凸块之间，所述sim卡测试治具还包括转轴，所述磁吸盖板包括转动槽，所述转动槽设置于所述磁吸盖板远离第一磁铁的一侧，所述凸块上设置有转动孔，所述转轴穿设于所述转动槽和所述转动孔，所述磁吸盖板通过所述转轴与两个所述凸块转动连接。

17、进一步的，所述基座还包括固定块，所述固定块连接于所述基座的上端，所述固定块还包括固定槽，所述固定槽设置于所述固定块的上端，所述第二磁铁设置于所述固定槽的内部，所述第二磁铁与所述固定块连接。

18、进一步的，所述通孔的数目为6个，所述探针的数目为6个，每个所述通孔的位置与每个所述探针的位置一一对应。

19、进一步的，所述测试结构的数目为6-8个。

20、本实用新型相较于现有技术，其有益效果为：本实用新型提供一种sim卡测试治具，该sim卡测试治具托包括基座和多个测试结构，多个测试结构连接于基座的上端。测试结构包括测试台、磁吸盖板、第二磁铁和探针，测试台通过弹簧与所述基座在竖直方向上活动连接。用户将sim卡测试台的容置槽中，用户可磁吸盖板上的第一磁铁与第二磁铁磁吸连接。此时，磁吸盖板可为测试台竖直向下的压力。然而，弹簧可在压缩状态下为测试台竖直向上的弹力。随后，磁吸盖板将测试台压至预定位置，磁吸盖板可与sim卡连接。并且，磁吸盖板与容置槽可在竖直方向上对sim卡进行限位操作。由于弹簧可在压缩状态下为测试台竖直向上的弹力，从而可避免sim卡与磁吸盖板因接触压力过大而发生位移或脱落。因此，该sim卡测试治具可较好地对sim卡进行限位操作。该用户使用该sim卡测试治具可稳定地对sim卡测试操作，因而该sim卡测试治具有良好的sim卡测试效果。用户使用该sim卡测试治具对sim卡测试操作，有利于提高sim卡测试的良品率，该sim卡测试治具有效解决了现有的测试治具会导致sim卡测试的不良率较高的技术问题。而且，容置槽的高度与sim卡的高度相同，这样在操作过程中可有效避免sim卡和磁吸盖板粘合在一块，从而使得测试后sim卡的数量不会出现错误。

1.一种sim卡测试治具，用于对sim卡进行测试烧录操作，其特征在于，其包括，

2.根据权利要求1所述的sim卡测试治具，其特征在于，所述测试台还包括固定孔，所述固定孔位于所述容置槽的底部，所述基座上设置有固定螺孔，所述固定螺孔与所述固定孔连通，所述sim卡测试治具包括固定螺栓，所述固定螺栓设置于所述固定孔的内部，所述固定螺栓与所述固定螺孔螺纹连接，所述固定螺栓用于在水平方向上对所述测试台进行限位操作。

3.根据权利要求2所述的sim卡测试治具，其特征在于，所述容置槽还包括两个所述调节孔，两个所述调节孔分别设置于所述固定孔的两侧，所述基座上还设置有调节螺孔，所述调节螺孔与所述调节孔连通，所述sim卡测试治具还包括调节螺栓，所述调节螺栓设置于所述调节孔的内部，所述调节螺栓与所述调节螺孔螺纹连接，当磁吸盖板位于第一工作位时，所述sim卡的上端与所述磁吸盖板连接，所述sim卡的下端与所述调节螺栓、所述容置槽的底部连接，所述调节螺栓为多种不同长度的调节螺栓，通过不同长度的调节螺栓，调节测试台在竖直方向上活动距离。

4.根据权利要求3所述的sim卡测试治具，其特征在于，两个所述调节孔设置于以所述固定孔为中心形成的矩形的同一条对角线上。

5.根据权利要求1所述的sim卡测试治具，其特征在于，所述磁吸盖板上还连接有橡胶件，当磁吸盖板位于第一工作位时，所述磁吸盖板通过所述橡胶件与所述sim卡的上端连接。

6.根据权利要求1所述的sim卡测试治具，其特征在于，所述探针的顶部为蘑菇头状。

7.根据权利要求1所述的sim卡测试治具，其特征在于，所述基座还包括两个凸块，两个所述凸块连接于所述基座的上端，所述磁吸盖板设置于两个所述凸块之间，所述sim卡测试治具还包括转轴，所述磁吸盖板包括转动槽，所述转动槽设置于所述磁吸盖板远离第一磁铁的一侧，所述凸块上设置有转动孔，所述转轴穿设于所述转动槽和所述转动孔，所述磁吸盖板通过所述转轴与两个所述凸块转动连接。

8.根据权利要求1所述的sim卡测试治具，其特征在于，所述基座还包括固定块，所述固定块连接于所述基座的上端，所述固定块还包括固定槽，所述固定槽设置于所述固定块的上端，所述第二磁铁设置于所述固定槽的内部，所述第二磁铁与所述固定块连接。

9.根据权利要求1所述的sim卡测试治具，其特征在于，所述通孔的数目为6个，所述探针的数目为6个，每个所述通孔的位置与每个所述探针的位置一一对应。

10.根据权利要求1所述的sim卡测试治具，其特征在于，所述测试结构的数目为6-8个。