用于高计数率的自适应重合处理的系统和方法与流程

用于高计数率的自适应重合处理的系统和方法


背景技术：

1.本文所公开的主题涉及成像系统，并且更具体地涉及正电子发射断层显像(pet)成像系统。
2.pet系统生成表示正电子发射核在患者体内的分布的图像。当正电子通过湮灭与电子相互作用时，正电子对的整个质量被转换成两个511kev的光子。光子沿响应线在相反方向上发射。湮灭光子由沿检测器环上的响应线放置的检测器检测。当这些光子到达并且同时在检测器元件处检测到时，这被称为重合。然后，基于所采集的图像数据生成包括湮灭光子检测信息的图像。
3.对pet(具体地，三维(3d))更高灵敏度的期望导致pet扫描仪沿着扫描仪的纵向轴线的轴向视场(fov)增加。这种更高的灵敏度导致在给定活动水平下高得多的重合计数率。然而，数据采集受到所实现硬件的可用带宽的限制，并且高计数率增加了对数据采集电子设备的需求。为了管理这些需求，可能会发生节流(即，当事件的数量超过事件的传输速率时随机丢弃事件)。然而，这可能会为不太理想的随机事件赋予更多的权重。


技术实现要素：

4.下文示出了本文所公开的某些实施方案的概述。应当理解，提供这些方面仅仅是为了向读者提供这些特定实施方案的简要概述，并且这些方面并非旨在限制本公开的范围。实际上，本公开可涵盖下文可能未示出的各个方面。
5.在一个实施方案中，提供了一种用于自适应重合数据处理的方法。该方法包括用正电子发射断层显像(pet)扫描仪的检测器阵列检测正电子湮灭事件，其中pet扫描仪包括沿着pet扫描仪的纵向轴线设置的多个检测器环，并且每个检测器环包括多个检测器。该方法还包括在给定时间段内动态地调整接受并传输到采集电路的正电子湮灭事件的数量，以利用沿着检测来自正电子湮灭事件的相应湮灭光子的第一检测器和第二检测器之间的纵向轴线的检测器环的数值差进行处理。
6.在另一个实施方案中，提供了一种用于自适应重合数据处理的系统。该系统包括编码处理器可执行例程的存储器。该系统还包括处理部件，该处理部件配置为访问存储器并执行处理器可执行例程，其中这些例程在由处理部件执行时，使处理部件执行动作。这些动作包括用正电子发射断层显像(pet)扫描仪的检测器阵列检测正电子湮灭事件，其中pet扫描仪包括沿着pet扫描仪的纵向轴线设置的多个检测器环，并且每个检测器环包括多个检测器。这些动作还包括在给定时间段内动态地调整接受并传输到采集电路的正电子湮灭事件的数量，以利用沿着检测来自正电子湮灭事件的相应湮灭光子的第一检测器和第二检测器之间的纵向轴线的检测器环的数值差进行处理。
7.在另一个实施方案中，一种非暂态计算机可读介质，该计算机可读介质包括处理器可执行代码，该处理器可执行代码在由处理器执行时使处理器执行动作。这些动作包括用正电子发射断层显像(pet)扫描仪的检测器阵列检测正电子湮灭事件，其中pet扫描仪包括沿着pet扫描仪的纵向轴线设置的多个检测器环，并且每个检测器环包括多个检测器。这
些动作还包括在给定时间段内动态地调整在给定时间段内接受并传输到采集电路的正电子湮灭事件的数量，以利用沿着检测来自正电子湮灭事件的相应湮灭光子的第一检测器和第二检测器之间的纵向轴线的检测器环的数值差通过比较给定正电子湮灭事件的检测器环的数值差与沿着纵向轴线的检测器环的可接受的数值差进行处理，其中检测器环的可接受的数值差对应于检测的正电子湮灭事件的轴向接受角。
附图说明
8.参考附图阅读以下详细描述时，将更好地理解本发明主题的这些和其他特征、方面和优点，附图中相同的符号在整个附图中表示相同的部分，其中：
9.图1是根据本公开的各方面的正电子发射断层显像(pet)成像系统的实施方案的图解示意图；
10.图2是根据本公开的各方面的3d pet扫描仪的实施方案的示意图；
11.图3是根据本公开的各方面的pet成像系统的响应线(lor)的示意图；
12.图4是响应线角对受试者衰减的影响的示意图；
13.图5是根据本公开的各方面的限制z跨度对检测灵敏度的影响的示意图；
14.图6是根据本公开的各方面的检测灵敏度与所接受的事件的z跨度的图形图示；
15.图7是根据本公开的各方面的用于自适应重合数据处理的方法的实施方案的流程图；
16.图8是根据本公开的各方面的用于自适应重合数据处理的方法的实施方案的流程图；并且
17.图9是用于在成像序列期间调整z跨度的示意图。
具体实施方式
18.在下面将描述一个或多个具体的实施方案。为了提供这些实施方案的简明描述，可能未在说明书中描述实际具体实施的所有特征。应当理解，在任何此类实际具体实施的开发中，如在任何工程或设计项目中，必须做出许多特定于具体实施的决策以实现开发者的具体目标，诸如遵守可能因具体实施而不同的系统相关和业务相关约束。此外，应当理解，此类开发努力可能是复杂且耗时的，但对于受益于本公开的普通技术人员来说仍然是设计、制作和制造的常规任务。
19.介绍本发明主题的各种实施方案的要素时，冠词“一个”、“一种”、“该”和“所述”旨在表示存在一个或多个(种)所述要素。术语“包括”、“包含”和“具有”旨在是包含性的，并且意指除了列出的元件之外还可存在附加元件。此外，以下讨论中的任何数值示例旨在非限制性的，并且因此附加的数值、范围和百分比在所公开的实施方案的范围内。
20.各种实施方案提供了用于自适应重合数据处理的系统和方法。具体地，所公开的实施方案使得能够在扫描期间动态调整事件的接受标准，以使得能够保存最有价值的事件(例如，垂直于被成像的主体或受试者出现的事件，从而经历较少的衰减)。具体地，可以动态地调整沿着pet扫描仪的纵向轴线的检测对应湮灭光子或正电子湮灭事件的光子的检测器之间的z跨度或z差值，以在高计数率下调节所接受的事件。这使得能够保存最有价值的事件，同时降低吞吐量要求。另外，通过与原始数据以紧凑方式交流接受信息，重建算法可
以以能够实现定量准确重建的方式考虑选择性丢弃的事件。此外，由于扫描仪将自动调整本身以使可用带宽最大化，同时保存最有价值的事件，因此不需要单独的模式(例如，高灵敏度模式与高计数率模式)，这可用于某些扫描(例如，心脏扫描)，其中初始计数率非常高，但在稍后的阶段需要最大灵敏度。
21.鉴于以上内容并现在转到附图，图1描绘了根据本公开的某些方面操作的pet系统10。图1的pet成像系统可以与双模态成像系统一起利用，诸如pet/ct成像或pet/mri成像。
22.现在转到图1，所描绘的pet系统10包括检测器阵列12。pet系统10的检测器阵列12通常包括布置在一个或多个环中的多个检测器模块或检测器通道(通常由附图标记14表示)，如图1中所描绘的。每个检测器模块可包括闪烁体块和光电倍增管(pmt)或其他光传感器(例如，硅光电倍增管)。所描绘的pet系统10还包括pet扫描仪控制器16、控制器18、操作员工作站20和图像显示工作站22(例如，用于显示图像)。在某些实施方案中，pet扫描仪控制器16、控制器18、操作员工作站20和图像显示工作站22可以组合成单个单元或装置或者更少的单元或装置。
23.耦合到检测器阵列12的pet扫描仪控制器16可以耦合到控制器18，以使控制器18能够控制pet扫描仪控制器16的操作。另选地，pet扫描仪控制器16可以耦合到控制pet扫描仪控制器16的操作的操作员工作站20。在操作中，控制器18和/或工作站20控制pet系统10的实时操作。pet扫描仪控制器16、控制器18和/或操作工作站20中的一者或多者可包括处理器24和/或存储器26。在某些实施方案中，pet系统10可包括单独的存储器28。检测器12、pet扫描仪控制器16、控制器18和/或操作工作站20可包括用于从检测器阵列12采集图像数据的检测器采集电路和用于图像处理的图像重建和处理电路。电路可包括专门编程的硬件、存储器和/或处理器。
24.处理器24可包括多个微处理器、一个或多个“通用”微处理器、一个或多个专用微处理器和/或一个或多个专用集成电路(asics)、片上系统(soc)装置或一些其他处理器配置。例如，处理器24可包括一个或多个精简指令集(risc)处理器或复杂指令集(cisc)处理器。处理器24可执行指令以实施pet系统10的操作。这些指令可以编码在存储在有形非暂态计算机可读介质(例如，光盘、固态装置、芯片、固件等)中的程序或代码中，诸如存储器26、28。在某些实施方案中，存储器26可以从控制器16、18完全或部分移除。
25.举例来说，pet成像主要用于测量组织和器官中发生的代谢活动，并且具体地，用于定位异常的代谢活动。在pet成像中，患者通常被注射含有放射性示踪剂的溶液。取决于所采用的示踪剂以及器官和组织的功能，溶液在全身被不同程度地分布和吸收。例如，肿瘤通常处理比相同类型的健康组织更多的葡萄糖。因此，含有放射性示踪剂的葡萄糖溶液可以由肿瘤不成比例地代谢，允许肿瘤被放射性发射定位和可视化。具体地，放射性示踪剂发射与互补电子相互作用并湮灭的正电子，以产生成对的湮灭光子。在每个湮灭反应中，发射在相反方向上行进的两个湮灭光子。在pet成像系统10中，通过检测器阵列12检测该对湮灭光子，该检测器阵列配置为确定在时间上充分接近地检测到的两个湮灭光子由相同的湮灭反应产生。由于湮灭反应的性质，此类一对湮灭光子的检测可以用于确定湮灭光子在撞击检测器之前沿着其行进的响应线(lor)，从而允许将湮灭事件定位到该线。通过检测此类湮灭光子对的数量并且计算这些光子对所行进的对应线，可以估计主体不同部位的放射性示踪剂的浓度，从而可以检测出肿瘤。因此，湮灭光子的准确检测和定位形成pet系统10的基
本和最重要的目标。
26.可以收集与沿着多条lor的重合事件相关联的数据，并且进一步处理以重建二维(2d)断层显像图像。大多数现代pet扫描仪可以在3d模式下操作，其中对来自沿着轴向定位的不同检测器环的重合事件进行计数以获得3d断层显像图像。例如，图2中示出了具有多个检测器环的pet扫描仪30，其中未示出pmt。如图所示，pet扫描仪30包括三个检测器环32、34和36。检测器环的数量可变化。
27.传统上，与重合事件相关联的数据基于其对应的lor以正弦图的形式存储。例如，在如图3所示的2d pet扫描仪38中，如果由两个相对的检测器40和42检测到一对重合事件，则可以将lor建立为连接两个检测器40、42的直线44。此lor可以由两个坐标(r,θ)标识，其中r是lor距检测器环300的中心轴线的径向距离，并且θ是lor与x轴之间的横轴角。所检测的重合事件可以记录在2d矩阵λ(r,θ)中。随着pet扫描仪继续沿着各种lor检测重合事件，这些事件可能会被合并并累积在矩阵λ(r,θ)中的对应元素中。结果是2d正弦图λ(r,θ)，其每个元素都包含特定lor的事件计数。在3d pet扫描仪中，lor由四个坐标(r,θ,z)限定，其中第三坐标是lor与检测器环的中心轴线(或如图2所示的z轴)之间的轴向角，并且z是lor与检测器的中心沿着z轴的距离。通常，第三和第四坐标被组合成仅一个变量v，其可限定和z坐标两者。在这种情况下，所检测的重合事件存储在3d正弦图λ(r,θ,v)中。
28.大型轴向fov扫描仪具有非常高的灵敏度，这可能会导致极端的单个事件和重合计数率。为了保存带宽，期望减少传输到采集电路以进行处理的事件的数量。如本文所提出的，在事件速率下设置节流(基于检测重合事件的检测器环之间的z跨度)，其中每毫秒(ms)n个事件被传输到采集电路，而其余事件被丢弃。如下文更详细地描述的，除了所传输的事件之外，还发送计数器以指示丢失了多少事件，以使随后的计算能够校正所丢弃的事件并维持准确的计算。
29.除了节流事件之外，期望维持最有价值的事件。例如，如图4所描绘的，假设沿着扫描仪的纵向轴线50或z轴在轴向方向48上设置的检测器块46(例如，闪烁体晶体)的数量是为nz，其中轴向方向48上的每个检测器块46是相应检测器环的一部分。完全3d采集使得环差值为
±
(n
z-1)。假设扫描仪52包括64厘米(cm)的轴向fov和75cm的孔，则检测器模块58和60之间的相应lor的最极端倾斜平面56的中心料格相对于垂直于纵向轴线50并与扫描仪52的中心检测器环对准的轴向平面62的角度54为大约40度(atan(64/75))。对于具有大约25cm的厚度t的患者或受试者64，斜角平面的额外衰减长度为约8cm。这种额外衰减长度导致约45％的对应额外衰减。相比之下，相对于纵向轴线50更垂直的lor(例如，沿着平面62)将比lor56衰减更少且更有价值。与拒绝具有更垂直的lor的事件相比，拒绝与lor 56相关联的事件将对检测的重合事件的真实速率具有相对较小的影响。实际上，当随机速率变得足够高时，拒绝此类lor(诸如lor 56)可以改善噪声等效计数率(necr)。
30.如本文所述，动态调整事件的接受标准以保存最有价值的事件。具体地，可以调整沿着检测来自正电子湮灭事件的相应湮灭光子的检测器之间的纵向轴线50的检测器环的z差值或差值z
diff
(例如，数值差)。z
diff
与检测的正电子湮灭事件的轴向接受角相关联。例如，较小的z
diff
与较小的轴向接受角相关联，而较大的z
diff
与较大的轴向接受角相关联。这使得在给定时间段内接受并传输到采集电路以进行处理的正电子事件的数量(例如，事件速率)能够被调整，同时赋予更垂直于主体并且经历更少衰减的事件更多的权重(与随机事件相
反)。在高计数率周期期间动态地调整所接受的事件的z
diff
或z跨度(其作为z节流)使得能够保存最有价值的事件，同时降低吞吐量要求。应当注意，特定lor对z轴的轴向接受角是环差值和距中心的径向距离两者的函数。
31.z节流对灵敏度/计数率的影响在图5和图6中示出。图5和图6中的数据涉及具有100个z平面的假设系统，用于检测大型轴向fov扫描仪内的事件。图5是限制z跨度对检测灵敏度的影响的示意图。图5分别包括nz×
nz个方形矩阵66、68和70。矩阵66、68、70各自包括用于检测相应的正电子湮灭事件的(z1,z2)对检测器模块的所有可能的组合。图5使得能够可视化限制z跨度对灵敏度的影响，假设对组合的可能性相同。在矩阵66中，利用沿着轴向扫描仪的轴向fov的检测器区域的整个z跨度来接受事件(即，检测器中的所有检测器都是活动的)，从而提供如由亮区72所指示的最大灵敏度。在矩阵68中，利用沿着轴向扫描仪的轴向fov的检测器区域的z跨度的大约75％来接受事件，其中利用暗区74指示以接受事件的排除组合。在矩阵70中，利用沿着轴向扫描仪的轴向fov的检测器区域的z跨度的大约50％来接受事件。如矩阵70中所描绘的，与矩阵68相比，暗区74更大而亮区72更小，指示对于所接受的事件，灵敏度随着z跨度的减小而降低。图6是检测灵敏度与所接受的事件的z跨度的图形图示。图6中的曲线图76包括表示所接受的事件的z范围的百分比的x轴78和表示相对灵敏度(作为百分比)的y轴80。如曲线图76所指示，灵敏度的损失与所接受的事件的z跨度的减小呈二次相关。
32.如上所述，在高计数率周期期间动态地调整所接受的事件的z
diff
或z跨度(其作为z节流)使得能够保存最有价值的事件，同时降低吞吐量要求。具体地，这使得能够实现自适应重合数据处理。图7是用于自适应重合数据处理的方法82的实施方案的流程图。方法82可以由图1中的pet系统10的一个或多个部件执行。方法82包括用pet扫描仪的检测器阵列检测正电子湮灭事件(框84)。pet扫描仪包括沿着pet扫描仪的纵向轴线设置的多个检测器环，并且每个检测器环包括多个检测器(例如，参见图2)。方法82还包括在给定时间段内动态地调整或调节接受并传输到采集电路的正电子湮灭事件的数量，以利用沿着检测来自正电子湮灭事件的相应湮灭光子的第一检测器和第二检测器之间的纵向轴线的检测器环的数值差(例如，z
diff
)进行处理(即，事件率)(框86)。
33.在某些实施方案中，动态地调整接受并传输的正电子湮灭事件的数量包括将给定正电子湮灭事件的检测器环的数值差与沿着纵向轴线的检测器环的可接受的数值差进行比较。如上所述，检测器环的可接受的数值差对应于检测的正电子湮灭事件的轴向接受角。当给定正电子湮灭事件的检测器环的数值差落入检测器环的可接受的数值差内时，接受并传输给定正电子湮灭事件。当给定正电子湮灭事件的检测器环的数值差超出检测器环的可接受的数值差时，给定正电子湮灭事件被丢弃。
34.在某些实施方案中，动态地调整接受并传输的正电子湮灭事件的数量包括将在给定时间段内接受并传输的正电子湮灭事件的数量与阈值(例如，表示所接受的事件的期望最大数量或事件截止数量)进行比较并且基于比较调整检测器环的可接受的数值差。例如，当给定时间段内接受并传输的正电子湮灭事件的数量大于阈值时，检测器环的数值差可能会减小。当给定时间段内接受并传输的正电子湮灭事件的数量小于阈值时，检测器环的数值差可能会增加。
35.图8是用于自适应重合数据处理的另一种方法88的实施方案的流程图。方法88可
以由图1中的pet或spect系统10的一个或多个部件执行。方法88包括利用pet扫描仪开始受试者的扫描(框90)以检测正电子湮灭事件，该pet扫描仪包括沿着pet扫描仪的纵向轴线设置的多个检测器环，并且每个检测器环包括多个检测器(例如，参见图2)。方法88包括根据检测的单个事件生成提示(框92)。每个提示都相当于检测的事件。方法88还包括针对当前最大允许z
diff
或δz检查相应的事件(框94)。如果事件发生在z
diff
(以及其对应的接受角)之外，则事件被丢弃。如果事件发生在z
diff
(以及其对应的接受角)之内，则事件被接受。方法88还包括发送所接受的事件(包括列表数据，诸如与检测有关的定时和位置数据)和/或与采集系统相关联的当前最大允许z
diff
以进行处理(框96)。在某些实施方案中，采集系统处的处理电路可以能够确定与某些事件相关联的最大允许zdiff(因为所接受的事件将全部在某一时间段或定时窗口的某个z限值或接受角内)。框92至框96可能会在给定时间段(例如，1/10秒)内发生。
36.方法88包括对最后时间段的所接受的提示(或事件)进行计数(框98)。然后可以将所接受的提示的数量与阈值(例如，计数限值)进行比较(框100)。如果所接受的提示的数量大于计数限值，则可以将最大允许z
diff
减小适当的量(例如，1)，以使下一时间段内所接受的事件的数量接近阈值(框102)。在z
diff
减小之后，方法88返回到框92。在某些实施方案中，适当的量可以是不同的(例如，2、3等)。如果所接受的提示的数量小于计数限值，则可以将最大允许z
diff
增加适当的量(例如，1)，以使下一时间段内所接受的事件的数量接近阈值(框104)。在z
diff
增加之后，方法88返回到框92。在某些实施方案中，适当的量可以是不同的(例如，2、3等)。在某些实施方案中，如果所接受的事件的数量处于或接近计数限值，则可能不会改变z
diff
。
37.如上所述，方法88包括将所接受的事件(包括列表数据，诸如与检测有关的定时和位置数据)和相关联的当前最大允许z
diff
发送到可能发生去列表和重建过程的采集系统。通过有限的带宽链路发送所接受的事件和相关联的信息(例如，列表数据、当前最大允许z
diff
等)。利用如上所述的自适应z限值使得能够管理带宽(通过降低吞吐量要求)，同时保存最有价值的事件。一旦数据被转移到采集系统，方法88就包括生成(例如，通过合并或直方图绘制)所接受的重合事件的正弦图107(框106)。每个料格的相对灵敏度反映在正弦图107中。需要调整正弦图107以考虑与可以在列表数据中发现的数据相关联的“分数实时时间”(例如，与检测相关的定时和位置数据，诸如lor的坐标(例如，径向距离、角度)、事件时间戳、入射光子能量等)。方法88包括分析用于包括的平面的增量计数器(框108)以确定归一化和死区时间校正的因子。如果存在总共n
p
个平面(其中n
p
＝nz*nz–
(nz–
1))，则只需n
p
个“实时时间”因子的阵列(即，特定检测器何时是活动的或何时允许事件被接受)即可对正弦图107执行归一化或死区时间校正。在计算上，对利用特定环差值(z
diff
)时的间隔数量进行计数应足以确定校正因子。方法88还包括应用实时时间计数(即，“实时时间”因子)对正弦图107执行归一化或死区时间校正以生成所校正和归一化的正弦图110(框112)。方法88还可以包括对正弦图107上的随机数执行校正(框114)。可以从周期性单个事件直方图估计随机数。通过处理每个时间间隔的随机数，考虑“缺失”响应线(在该特定间隔期间，因为其z差值超过当前阈值而被“禁止”)，并且然后将所有这些随机数正弦图加在一起，可以对在扫描期间被接纳的随机数的总数做出准确的估计；然后可以使用本领域已知的方法在重建期间使用此估计。方法88还包括利用所校正和归一化的正弦图110执行重建以生成所重建的定
量图像116(框118)。应当注意，在某些实施方案中，可以利用列表模式重建，其中没有生成实际的正弦图，但是需要已知每个lor的相对灵敏度(其可以从与正弦图一起创建的标准死区时间校正中导出)。
38.心脏的rb-82成像是高计数率研究的一个示例，其中自适应重合数据处理可以是有用的。对于心脏的rb-82成像，检查的诊断质量主要由两个竞争因素确定。第一个因素涉及具有非常短半衰期(例如，75秒)的示踪剂，并且示踪剂可能需要几分钟才能分布到心肌并从血池中清除。到拍摄分布图像时，与注射剂量相比，活动水平可能下降8倍至16倍。第二个因素涉及获得准确的分析，因为示踪剂需要以丸剂的形式注入，并且需要建立时间活动曲线。换句话说，当计数率极高时，需要在前30秒进行准确的重建。通过随机丢弃事件(例如，节流)来管理事件的典型方式是不可取的，因为其赋予随机事件比期望更多的权重。利用上文所公开的实施方案，将赋予更垂直于主体出现(并且经历了较少衰减)的事件更多的权重并改善定量心脏成像。
39.例如，图9是用于在成像序列期间调整z跨度的示意图。示出了具有多个检测器环122的轴向pet扫描仪120。成像序列可能会在给定时间窗口(例如，100秒)内发生。时间窗口可以划分为25秒(s)的增量(例如，增量124(0s至25s)、126(25s至50s)、128(50s至75s)和130(75s至100s))或一些其他增量。在成像序列开始时(例如，在增量124期间)，示踪剂的活性最大并且由于检测的事件的数量而导致饱和的可能性最大。在该第一增量124期间，可以利用相对于居中位于z
diff
130之间的竖直平面134具有较小的轴向接受角132(正或负)的较小z
diff
(由箭头130表示)；因此，降低轴向pet扫描仪120的整体灵敏度，同时保存相对于所成像的主体的更垂直的事件。在第一增量124期间，由z
diff
130覆盖的区域136内的检测器环122是活动的(即，所检测的事件被接受)，而区域136外部的检测器环122是死的(即，所检测的事件不被接受)。在随后的增量126、128、130中，z
diff 130和轴向接受角132可以递增地增加。z
diff
130和轴向接受角132的这种增加对应于区域136内的活动检测器环122的数量的增加(和检测器灵敏度的增加)和区域外部的死检测器环122的数量的减少。在某些实施方案中，可能期望降低检测器在成像序列上的灵敏度。在某些实施方案中，可能期望在增加和降低检测器在成像序列上的灵敏度之间交替。
40.所公开的主题的技术效果包括提供用于在高计数率研究期间动态地调整pet扫描仪的轴向fov内的所接受的事件的z跨度的系统和方法，以便保存最有价值的事件，同时降低吞吐量要求。这可以提供定量图像的更准确的重建。此外，这可能在成像序列(例如，心脏检查)的关键阶段期间保持灵敏度。此外，这可能降低采集硬件的成本和复杂性。甚至进一步地，这可以使得能够利用更小的文件大小。
41.参考本文所提出的并受权利要求书保护的技术并将其应用于具有实际性质的实物和具体示例，所述实际性质明确地改善目前的技术领域，因此，不是抽象的、无形的或纯理论的。此外，如果附加到本说明书末尾的任何权利要求含有指定为“用于[执行]...功能的装置”或“用于[执行]...功能的步骤”的一个或多个元素，则旨在将此类元素根据u.s.c.第35条第112(f)款加以解释。然而，对于含有以任何其他方式指定的元素的任何权利要求，则不旨在将此类元素根据u.s.c.第35条第112(f)款加以解释。
[0042]
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