确定粒度分布的至少一个特征量的方法和具有测量装置的设备与流程

技术特征：
1.用于使用至少一个微波谐振器确定运动的颗粒流中的粒度分布的至少一个特征量的方法，对于所述颗粒流，所述微波谐振器分别提供至少两个测量值，其特征在于，由所述测量值确定粒度分布的至少一个细度特征和/或分位数。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述微波谐振器的所述至少两个测量值涉及谐振频移(a)和谐振曲线展宽(b)。3.根据权利要求1或2所述的方法，其特征在于，所述至少一个微波谐振器具有两个或更多谐振模式，这些谐振模式对于所述颗粒流分别提供两个测量值。4.根据权利要求1至3中任一项所述的方法，其特征在于，附加地评估所述颗粒流的至少一个温度。5.根据权利要求1至4中任一项所述的方法，其特征在于，所述运动的颗粒流存在于流化床中。6.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，作为另外的测量变量评估以下量中的至少一个：流化床的供气量和填充量。7.根据权利要求1至6中任一项所述的方法，其特征在于，通过所评估的测量变量线性逼近所述细度特征和/或分位数。8.根据权利要求1至7中任一项所述的方法，其特征在于，所述细度特征和/或分位数涉及数目分布总和、长度分布总和、面积分布总和或体积分布总和或质量分布总和。9.根据权利要求1至8中任一项所述的方法，其特征在于，关于时间检测多个细度特征和/或分位数。10.用于产生运动的颗粒流的设备，所述设备具有用于确定所述运动的颗粒流中的粒度分布的至少一个特征量的测量装置，所述测量装置具有至少一个微波谐振器，对于所述颗粒流，所述微波谐振器分别提供至少两个测量值，其特征在于，所述测量装置设置成用于，由所述微波谐振器的所述至少两个测量值评估粒度分布的至少一个细度特征和/或分位数。11.根据权利要求10所述的设备，其特征在于，所述至少一个微波谐振器构造成用于，对于所述颗粒流，分别利用两个或更多谐振模式提供两个测量值。12.根据权利要求10或11所述的设备，其特征在于，所述测量装置设置成，附加地测量所述颗粒流的温度。13.根据权利要求10至12中任一项所述的设备，其特征在于，所述测量装置设置成，在流化床中测量特征量。14.根据权利要求13所述的设备，其特征在于，所述测量装置设置成，也评估以下量中的至少一个：流化床的供气量和填充量。15.根据权利要求13或14所述的设备，其特征在于，所述测量装置设置成，通过所评估的测量变量线性逼近所述细度特征和/或分位数。16.根据权利要求10至15中任一项所述的设备，其特征在于，所述测量装置设置成，针对数目分布总和、长度分布总和、面积分布总和或体积分布总和或质量分布总和确定所述细度特征和/或分位数。17.根据权利要求10至16中任一项所述的设备，其特征在于，所述测量装置设置成用于，关于时间检测多个细度特征和/或分位数。

技术总结
本发明涉及一种用于使用至少一个微波谐振器确定运动的颗粒流中的粒度分布的至少一个特征量的方法，对于所述颗粒流，所述微波谐振器分别提供至少两个测量值，其中，由所述测量值确定粒度分布的至少一个细度特征和/或分位数，本发明还涉及一种用于产生运动的颗粒流的设备，所述设备具有用于确定所述运动的颗粒流中的粒度分布的至少一个特征量的测量装置，所述测量装置具有至少一个微波谐振器，对于所述颗粒流，所述微波谐振器分别提供至少两个测量值，其中，所述测量装置设置成用于，由所述微波谐振器的所述至少两个测量值评估粒度分布的至少一个细度特征和/或分位数。的至少一个细度特征和/或分位数。的至少一个细度特征和/或分位数。


技术研发人员：U
受保护的技术使用者：特夫斯电子有限责任两合公司
技术研发日：2020.09.04
技术公布日：2023/2/3