抖频参数获取方法、装置、电磁干扰抑制装置及存储介质与流程

1.本技术涉及抖频技术领域，尤其涉及一种抖频参数获取方法、装置、电磁干扰抑制装置及存储介质。


背景技术：

2.抖频技术对于抑制电磁干扰问题已经成为现有技术的一个共识，但是目前抖频技术中抖频参数的制定，例如抖频模式和抖频周期等参数的制定，都是通过实际测试结果获得。这种方法获得的抖频参数不一定是最佳参数，只能获得一个相对效果比较好的参数，且实施效率不高，浪费实验资源。


技术实现要素：

3.本技术提供了一种抖频参数获取方法、装置、电磁干扰抑制装置及存储介质，以解决现有技术获取的抖频参数不是最优参数的技术问题。
4.第一方面，本技术提供了一种抖频参数获取方法，所述方法包括：
5.对于多个抖频模式，获取每个抖频模式下电磁干扰测试结果与标准曲线的最小差值以及最小差值对应的抖频参数；将每个抖频模式下的最小差值进行比较，将最小差值最小的抖频模式对应的第一抖频参数确定为最优抖频参数。
6.在一实施例中，所述获取每个抖频模式下电磁干扰测试结果与标准曲线的最小差值以及最小差值对应的抖频参数，包括：当所述抖频模式为逐频线性抖频模式时，在预设频率范围内，不断更改频率间隔；获取电磁干扰测试结果与标准曲线差值最小的频率间隔；将所述差值最小的频率间隔确定为频线性抖频模式下最小差值对应的抖频参数。
7.在一实施例中，所述获取每个抖频模式下电磁干扰测试结果与标准曲线的最小差值以及最小差值对应的抖频参数，包括：当所述抖频模式为非线性抖频模式时，在预设频率范围内，不断调整调制周期；获取电磁干扰测试结果与标准曲线差值最小的调制周期；将所述差值最小的调制周期确定为非线性抖频模式下最小差值对应的抖频参数。
8.在一实施例中，所述获取每个抖频模式下电磁干扰测试结果与标准曲线的最小差值以及最小差值对应的抖频参数，包括：当所述抖频模式为随机抖频模式时，不断调整频率范围，在不同的频率范围内进行随机抖频；获取电磁干扰测试结果与标准曲线差值最小的频率范围；将所述差值最小的频率范围确定为随机抖频模式下最小差值对应的抖频参数。
9.在一实施例中，所述获取每个抖频模式下电磁干扰测试结果与标准曲线的最小差值以及最小差值对应的抖频参数之前，所述方法还包括：获取设定的目标值，以及电磁干扰测试结果与标准曲线的差值；判断所述差值是否达到所述目标值；当所述差值没有达到所述目标值时，获取每个抖频模式下电磁干扰测试结果与标准曲线的最小差值以及最小差值对应的抖频参数。
10.在一实施例中，所述判断所述差值是否达到所述目标值之后，所述方法还包括：当所述差值达到所述目标值时，不获取每个抖频模式下电磁干扰测试结果与标准曲线的最小
差值以及最小差值对应的抖频参数。
11.在一实施例中，所述方法还包括：使用光纤转换设备获取设定的目标值，以及电磁干扰测试结果与标准曲线的差值。
12.第二方面，本技术提供了一种抖频参数获取装置，所述抖频参数获取装置包括：
13.获取模块，用于对于多个抖频模式，获取每个抖频模式下电磁干扰测试结果与标准曲线的最小差值以及最小差值对应的抖频参数；
14.确定模块，用于将每个抖频模式下的最小差值进行比较，将最小差值最小的抖频模式对应的第一抖频参数确定为最优抖频参数。
15.在一实施例中，所述获取模块，还用于当所述抖频模式为逐频线性抖频模式时，在预设频率范围内，不断更改频率间隔；获取电磁干扰测试结果与标准曲线差值最小的频率间隔；将所述差值最小的频率间隔确定为频线性抖频模式下最小差值对应的抖频参数。
16.在一实施例中，所述获取模块，还用于当所述抖频模式为非线性抖频模式时，在预设频率范围内，不断调整调制周期；获取电磁干扰测试结果与标准曲线差值最小的调制周期；将所述差值最小的调制周期确定为非线性抖频模式下最小差值对应的抖频参数。
17.在一实施例中，所述获取模块，还用于当所述抖频模式为随机抖频模式时，不断调整频率范围，在不同的频率范围内进行随机抖频，获取电磁干扰测试结果与标准曲线差值最小的频率范围；将所述差值最小的频率范围确定为随机抖频模式下最小差值对应的抖频参数。
18.在一实施例中，所述获取模块，还用于获取设定的目标值，以及电磁干扰测试结果与标准曲线的差值；判断所述差值是否达到所述目标值；当所述差值没有达到所述目标值时，获取每个抖频模式下电磁干扰测试结果与标准曲线的最小差值以及最小差值对应的抖频参数。
19.在一实施例中，所述获取模块，还用于当所述差值达到所述目标值时，不获取每个抖频模式下电磁干扰测试结果与标准曲线的最小差值以及最小差值对应的抖频参数。
20.在一实施例中，所述获取模块，还用于使用光纤转换设备获取设定的目标值，以及电磁干扰测试结果与标准曲线的差值。
21.第三方面，本技术提供了一种磁干扰抑制装置，包括：主控装置、通讯数据转换装置、装有主芯片的被测产品、以及最佳抖频参数获取程序；
22.所述主控装置，用于获取电磁干扰测试结果与标准曲线的差值；
23.所述通讯数据转换装置，用于将所述电磁干扰测试结果与标准曲线的差值传输给所述装有主芯片的被测产品；
24.所述最佳抖频参数获取程序，用于执行如第一方面任一项所述方法的步骤，获取所述装有主芯片的被测产品的最优抖频参数。
25.第四方面，本技术提供了一种存储介质，所述存储介质中存储有计算机程序，其特征在于，所述计算机程序被处理器执行时，实现如第一方面任一项实施例所述方法的步骤。
26.本技术实施例提供的上述技术方案与现有技术相比具有如下优点：
27.本技术实施例提供的该方法，能获取最佳抖频参数，更快更好地抑制电磁干扰。
附图说明
28.此处的附图被并入说明书中并构成本说明书的一部分，示出了符合本发明的实施例，并与说明书一起用于解释本发明的原理。
29.为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，对于本领域普通技术人员而言，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
30.图1为本技术实施例提供的一种抖频参数获取方法的流程示意图；
31.图2为本技术实施例最佳抖频参数获取流程示意图；
32.图3为本技术实施例电磁干扰抑制装置的结构框图；
33.图4为本技术实施例提供的一种电子设备的结构示意图。
具体实施方式
34.为使本技术实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本技术的一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动的前提下所获得的所有其他实施例，都属于本技术保护的范围。
35.图1为本技术实施例提供的一种抖频参数获取方法的流程示意图。如图1所示，该方法包括：
36.步骤101：对于多个抖频模式，获取每个抖频模式下电磁干扰测试结果与标准曲线的最小差值以及最小差值对应的抖频参数；
37.步骤102：将每个抖频模式下的最小差值进行比较，将最小差值最小的抖频模式对应的第一抖频参数确定为最优抖频参数。
38.本实施例在确定电磁干扰测试结果与标准曲线的最小差值时，可以根据电磁干扰测试结果和标准曲线在不同频率点处的差值来确定。具体地，可采用差值识别模式、图像识别方法、曲线参数提取方法等识别电磁干扰测试结果与标准曲线的差值。
39.本实施例针对不同的产品特性，能获得抖频参数的最佳值；且对于抖频方式抑制电磁干扰的问题，能够将本实施例的效果完全展现出来，比传统的抖频实施方式效率更高。
40.在一实施例中，所述获取每个抖频模式下电磁干扰测试结果与标准曲线的最小差值以及最小差值对应的抖频参数，包括：
41.当所述抖频模式为逐频线性抖频模式时，在预设频率范围内，不断更改频率间隔；
42.获取电磁干扰测试结果与标准曲线差值最小的频率间隔；
43.将所述差值最小的频率间隔确定为频线性抖频模式下最小差值对应的抖频参数。
44.这里，可根据实际情况设定预设频率范围。
45.本实施例在更改频率间隔时，可采用每次增加或减少相同数值的方式更改频率间隔。
46.在一实施例中，所述获取每个抖频模式下电磁干扰测试结果与标准曲线的最小差值以及最小差值对应的抖频参数，包括：
47.当所述抖频模式为非线性抖频模式时，在预设频率范围内，不断调整调制周期；
48.获取电磁干扰测试结果与标准曲线差值最小的调制周期；
49.将所述差值最小的调制周期确定为非线性抖频模式下最小差值对应的抖频参数。
50.这里，可根据实际情况设定预设频率范围。调整调制周期时，也可根据实际情况进行调制。
51.在一实施例中，所述获取每个抖频模式下电磁干扰测试结果与标准曲线的最小差值以及最小差值对应的抖频参数，包括：
52.当所述抖频模式为随机抖频模式时，不断调整频率范围，在不同的频率范围内进行随机抖频，
53.获取电磁干扰测试结果与标准曲线差值最小的频率范围；
54.将所述差值最小的频率范围确定为随机抖频模式下最小差值对应的抖频参数。
55.这里，可基于情况设定频率范围的最小值和最大值，根据频率范围的最小值和最大值确定频率范围。
56.在一实施例中，所述获取每个抖频模式下电磁干扰测试结果与标准曲线的最小差值以及最小差值对应的抖频参数之前，所述方法还包括：
57.获取设定的目标值，以及电磁干扰测试结果与标准曲线的差值；
58.判断所述差值是否达到所述目标值；
59.当所述差值没有达到所述目标值时，获取每个抖频模式下电磁干扰测试结果与标准曲线的最小差值以及最小差值对应的抖频参数。
60.对应地，当所述差值达到所述目标值时，不获取每个抖频模式下电磁干扰测试结果与标准曲线的最小差值以及最小差值对应的抖频参数。
61.本实施例在进行获取最优抖频参数的流程之前，可先计算电磁干扰测试结果与标准曲线的差值，与设定的目标值做计算，判断磁干扰测试结果与标准曲线的差值是否达到目标值，如果已经达到目标值，那将不进行最佳抖频模式，如果没有达到目标值，则进行抖频模式的选取。
62.在一实施例中，所述方法还包括：
63.使用光纤转换设备获取设定的目标值，以及电磁干扰测试结果与标准曲线的差值。
64.为避免由于额外增加的通讯线缆影响测试结果，可以使用光纤转换设备将参数进行传输。
65.本发明实施例通过识别电磁干扰测试结果和标准曲线在不同频率点处的差值，在线实时调整抖频参数，从而以最快的速度获取最佳抖频参数，针对不同的产品，能够更快更好地获得最佳的电磁干扰抑制效果。
66.下面，将以一个具体实施例进行说明。
67.参见图2，图2为最佳抖频参数程序流程示意图，按照流程图方式完成最佳抖频参数的获取。具体为：
68.1、主控装置由emi测试结果和差值识别两部分构成，用来获取测试结果与标准曲线的差值，并设定需要的目标差值。
69.2、通讯数据转换则将目标差值等设定的参数传输到产品的主芯片中，为了避免由于额外增加的通讯线缆影响测试结果，通过使用光纤转换设备将参数传输到主芯片中。
70.3、产品实体中的主芯片接收来自主控装置设定的emi测试差值等信息，并启动最
佳抖频参数获取程序。同时实验室的测试设备采取连续测试模式，获得最佳抖频参数后结束测试。
71.4、最佳抖频参数获取程序启动后，首先计算emi测试结果与标准曲线的差值，此时与主控装置设定的目标值做计算，是否达到目标值，如果已经达到目标值，那将不进行最佳抖频模式，如果没有达到目标值，则进行抖频模式的选取。
72.5、抖频模式分为逐频线性抖频、非线性抖频和随机抖频模式。
73.6、在进入逐频线性抖频模式时，在限定的频率范围内，不断更改频率间隔tstep，直到找到这种模式下的最小差值，并确定最佳tstep。
74.7、在进入非线性抖频模式时，在限定的频率范围内，调整调制周期tm，从而获得不同的频率变化方式，直到找到这种模式下的最小差值，并确定tm。
75.8、在进入随机抖频模式时，不断调整频率范围，在不同的频率范围内进行随机抖频，直到找到这种模式下差值最小时对应的频率范围tmin-tmax。
76.9、在以上三种抖频模式进行对比，确定差值最小的抖频模式以及对应的抖频参数，并将最终结果输出到显示模块。
77.10、针对此产品确定的最佳抖频参数，在后续产品应用中采用此参数进行抖频控制。
78.本技术实施例提供的抖频参数获取方法，对于多个抖频模式，获取每个抖频模式下电磁干扰测试结果与标准曲线的最小差值以及最小差值对应的抖频参数；将每个抖频模式下的最小差值进行比较，将最小差值最小的抖频模式对应的第一抖频参数确定为最优抖频参数。本技术实施例提供的方案能获取最佳抖频参数，更快更好地抑制电磁干扰。
79.为了实现本发明实施例的方法，本技术实施例还提供了一种抖频参数获取装置。该抖频参数获取包括：
80.获取模块，用于对于多个抖频模式，获取每个抖频模式下电磁干扰测试结果与标准曲线的最小差值以及最小差值对应的抖频参数；
81.确定模块，用于将每个抖频模式下的最小差值进行比较，将最小差值最小的抖频模式对应的第一抖频参数确定为最优抖频参数。
82.在一实施例中，所述获取模块，还用于当所述抖频模式为逐频线性抖频模式时，在预设频率范围内，不断更改频率间隔；获取电磁干扰测试结果与标准曲线差值最小的频率间隔；将所述差值最小的频率间隔确定为频线性抖频模式下最小差值对应的抖频参数。
83.在一实施例中，所述获取模块，还用于当所述抖频模式为非线性抖频模式时，在预设频率范围内，不断调整调制周期；获取电磁干扰测试结果与标准曲线差值最小的调制周期；将所述差值最小的调制周期确定为非线性抖频模式下最小差值对应的抖频参数。
84.在一实施例中，所述获取模块，还用于当所述抖频模式为随机抖频模式时，不断调整频率范围，在不同的频率范围内进行随机抖频，获取电磁干扰测试结果与标准曲线差值最小的频率范围；将所述差值最小的频率范围确定为随机抖频模式下最小差值对应的抖频参数。
85.在一实施例中，所述获取模块，还用于获取设定的目标值，以及电磁干扰测试结果与标准曲线的差值；判断所述差值是否达到所述目标值；当所述差值没有达到所述目标值时，获取每个抖频模式下电磁干扰测试结果与标准曲线的最小差值以及最小差值对应的抖
频参数。
86.在一实施例中，所述获取模块，还用于当所述差值达到所述目标值时，不获取每个抖频模式下电磁干扰测试结果与标准曲线的最小差值以及最小差值对应的抖频参数。
87.在一实施例中，所述获取模块，还用于使用光纤转换设备获取设定的目标值，以及电磁干扰测试结果与标准曲线的差值。
88.需要说明的是：上述实施例提供的上述装置与上述方法实施例属于同一构思，其具体实现过程详见方法实施例，这里不再赘述。
89.为了实现本发明实施例的方法，本技术实施例还提供了一种电磁干扰抑制装置，包括：主控装置、通讯数据转换装置、装有主芯片的被测产品、以及最佳抖频参数获取程序；
90.所述主控装置，用于获取电磁干扰测试结果与标准曲线的差值；
91.所述通讯数据转换装置，用于将所述电磁干扰测试结果与标准曲线的差值传输给所述装有主芯片的被测产品；
92.所述最佳抖频参数获取程序，用于执行上述任一项所述方法的步骤，获取所述装有主芯片的被测产品的最优抖频参数。
93.具体地，参见图3，图3为本专利emi干扰抑制装置的结构框图，包括主控装置、通讯数据转换，产品实体以及实验室几个部分，其中：
94.主控装置由emi测试结果和差值识别两部分构成，用来获取测试结果与标准曲线的差值，并设定需要的目标差值；
95.通讯数据转换则将目标差值等设定的参数传输到产品的主芯片中，为了避免由于额外增加的通讯线缆影响测试结果，通过使用光纤转换设备将参数传输到主芯片中；
96.产品实体中的主芯片接收来自主控装置设定的emi测试差值等信息，并启动最佳抖频参数获取程序；
97.实验室的测试设备采取连续测试模式，获得最佳抖频参数后结束测试。
98.基于上述程序模块的硬件实现，且为了实现本发明实施例，本发明实施例还提供了一种电子设备(计算机设备)，包括处理器111、通信接口112、存储器113和通信总线114，其中，处理器111，通信接口112，存储器113通过通信总线114完成相互间的通信，
99.存储器113，用于存放计算机程序；
100.在本技术一个实施例中，处理器111，用于执行存储器113上所存放的程序时，实现前述任意一个方法实施例提供的方法的步骤。
101.本领域技术人员可以理解，图4中示出的结构，仅仅是与本技术方案相关的部分结构的框图，并不构成对本技术方案所应用于其上的计算机设备的限定，具体的计算机设备可以包括比图中所示更多或更少的部件，或者组合某些部件，或者具有不同的部件布置。
102.本发明实施例提供的设备，设备包括处理器、存储器及存储在存储器上并可在处理器上运行的程序，处理器执行程序时实现上述任意一项实施例的方法。
103.本领域内的技术人员应明白，本技术的实施例可提供为方法、系统、或计算机程序物体。因此，本技术可采用完全硬件实施例、完全软件实施例、或结合软件和硬件方面的实施例的形式。而且，本技术可采用在一个或多个其中包含有计算机可用程序代码的计算机可用存储介质(包括但不限于磁盘存储器、cd-rom、光学存储器等)上实施的计算机程序物体的形式。
104.本技术是参照根据本技术实施例的方法、设备(系统)、和计算机程序物体的流程图和/或方框图来描述的。应理解可由计算机程序指令实现流程图和/或方框图中的每一流程和/或方框、以及流程图和/或方框图中的流程和/或方框的结合。可提供这些计算机程序指令到通用计算机、专用计算机、嵌入式处理机或其他可编程数据处理设备的处理器以产生一个机器，使得通过计算机或其他可编程数据处理设备的处理器执行的指令产生用于实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能的装置。
105.这些计算机程序指令也可存储在能引导计算机或其他可编程数据处理设备以特定方式工作的计算机可读存储器中，使得存储在该计算机可读存储器中的指令产生包括指令装置的制造品，该指令装置实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能。
106.这些计算机程序指令也可装载到计算机或其他可编程数据处理设备上，使得在计算机或其他可编程设备上执行一系列操作步骤以产生计算机实现的处理，从而在计算机或其他可编程设备上执行的指令提供用于实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能的步骤。
107.在一个典型的配置中，计算设备包括一个或多个处理器(cpu)、输入/输出接口、网络接口和内存。
108.本技术实施例还提供了一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现如前述任意一个方法实施例提供的方法的步骤。
109.存储器可能包括计算机可读介质中的非永久性存储器，随机存取存储器(ram)和/或非易失性内存等形式，如只读存储器(rom)或闪存(flashram)。存储器是计算机可读介质的示例。
110.计算机可读介质包括永久性和非永久性、可移动和非可移动媒体可以由任何方法或技术来实现信息存储。信息可以是计算机可读指令、数据结构、程序的模块或其他数据。计算机的存储介质的例子包括，但不限于相变内存(pram)、静态随机存取存储器(sram)、动态随机存取存储器(dram)、其他类型的随机存取存储器(ram)、只读存储器(rom)、电可擦除可编程只读存储器(eeprom)、快闪记忆体或其他内存技术、只读光盘只读存储器(cd-rom)、数字多功能光盘(dvd)或其他光学存储、磁盒式磁带，磁带磁磁盘存储或其他磁性存储设备或任何其他非传输介质，可用于存储可以被计算设备访问的信息。按照本文中的界定，计算机可读介质不包括暂存电脑可读媒体(transitorymedia)，如调制的数据信号和载波。
111.可以理解，本发明实施例的存储器可以是易失性存储器或者非易失性存储器，也可包括易失性和非易失性存储器两者。其中，非易失性存储器可以是只读存储器(rom，read only memory)、可编程只读存储器(prom，programmable read-only memory)、可擦除可编程只读存储器(eprom，erasable programmable read-only memory)、电可擦除可编程只读存储器(eeprom，electrically erasable programmable read-only memory)、磁性随机存取存储器(fram，ferromagnetic randomaccess memory)、快闪存储器(flash memory)、磁表面存储器、光盘、或只读光盘(cd-rom，compact disc read-only memory)；磁表面存储器可以是磁盘存储器或磁带存储器。易失性存储器可以是随机存取存储器(ram，random access memory)，其用作外部高速缓存。通过示例性但不是限制性说明，许多形式的ram可用，例如静态随机存取存储器(sram，static randomaccess memory)、同步静态随机存取存
储器(ssram，synchronous static random access memory)、动态随机存取存储器(dram，dynamic random access memory)、同步动态随机存取存储器(sdram，synchronous dynamic random access memory)、双倍数据速率同步动态随机存取存储器(ddrsdram，double data rate synchronous dynamic random access memory)、增强型同步动态随机存取存储器(esdram，enhanced synchronous dynamic random access memory)、同步连接动态随机存取存储器(sldram，synclink dynamic random access memory)、直接内存总线随机存取存储器(drram，direct rambus random access memory)。本发明实施例描述的存储器旨在包括但不限于这些和任意其它适合类型的存储器。
112.需要说明的是，在本文中，诸如“第一”和“第二”等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来，而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。而且，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者设备不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者设备所固有的要素。在没有更多限制的情况下，由语句“包括一个
……”
限定的要素，并不排除在包括所述要素的过程、方法、物品或者设备中还存在另外的相同要素。
113.以上所述仅是本发明的具体实施方式，使本领域技术人员能够理解或实现本发明。对这些实施例的多种修改对本领域的技术人员来说将是显而易见的，本文中所定义的一般原理可以在不脱离本发明的精神或范围的情况下，在其它实施例中实现。因此，本发明将不会被限制于本文所示的这些实施例，而是要符合与本文所申请的原理和新颖特点相一致的最宽的范围。