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一种自动化测试编码器方法及系统与流程

2023-02-06 13:21:42 来源:中国专利 TAG:


1.本技术涉及设备测试技术领域,特别是涉及一种自动化测试编码器方法及系统。


背景技术:

2.编码器是一种测量圆周位置信息并将其转化为电信号的传感器,常用于测量电机的圆周位置,并向伺服驱动器提供反馈参考数据。编码器、电机和伺服驱动器共同组成了伺服系统,编码器性能的好坏直接影响伺服系统的速度控制的稳定性和定位精度,为此,需要利用测试装置对编码器的性能和编码器在伺服系统中的表现进行测试。
3.在目前编码器测试的过程中,伺服驱动器为编码器供电,但是,需要通过工作人员手动拔插的方式控制伺服驱动器与编码器之间的供电线路的通断电。而人工操作的方式,不仅影响了编码器测试工作的效率,而且对操作人员技术水平的有较高的要求。


技术实现要素:

4.本技术提供了一种自动化测试编码器方法及系统,能够减少测试过程中对人工的依赖程度,提高了测试编码器的效率。
5.第一方面,本技术提供了一种自动化测试编码器方法,应用于第一伺服驱动器,所述第一伺服驱动器与被测编码器连接,包括:
6.响应于上位机发送的第一测试指令,控制所述被测编码器上电,所述第一测试指令包括第一目标数据,所述第一目标数据用于指示对所述被测编码器的测试;
7.向所述上位机发送第一反馈数据,以便所述上位机基于所述第一反馈数据和第二反馈数据的对比分析获得所述被测编码器的测试结果,所述第一反馈数据表征电机达到所述第一目标数据时所述被测编码器的读数,所述第二反馈数据表征所述电机达到所述第一目标数据时基准编码器的读数,所述电机连接所述被测编码器和所述基准编码器,所述基准编码器连接第二伺服驱动器,所述第二反馈数据为所述第二伺服驱动器发送给所述上位机的数据。
8.可选地,所述第一目标数据包括掉电计数测试的指示数据,所述方法还包括:
9.基于所述第一目标数据对应的第二控制信号,控制所述被测编码器掉电;
10.响应于确定所述电机运行在第二目标位置,恢复所述被测编码器的供电,并获得所述第一反馈数据,所述第一反馈数据表征在掉电计数测试中所述电机达到所述第二目标位置时所述被测编码器的读数,所述第二目标位置用于指示对所述被测编码器的掉电计数测试的测试条件。
11.可选地,
12.若所述第一反馈数据和所述第二反馈数据不匹配,则所述测试结果指示所述被测编码器失效;
13.若所述第一反馈数据和所述第二反馈数据匹配,则所述测试结果指示所述被测编码器功能正常。
14.可选地,所述第一反馈数据和所述第二反馈数据匹配,包括:所述第一反馈数据与所述被测编码器掉电期间所述电机的圈数记录一致。
15.可选地,所述方法还包括:
16.接收上位机发送的调整指令,所述调整指令用于指示对所述第一伺服驱动器的控制参数进行修正;
17.基于所述调整指令对应的第三控制信号,控制所述第一伺服驱动器进行对应控制参数的修正,以便修正后的所述第一伺服驱动器所在的伺服系统完成相应测试。
18.可选地,所述控制参数包括转速控制参数和/或位置控制参数。
19.可选地,所述第一目标数据包括第一目标转速。
20.可选地,所述第一目标数据包括第一目标位置。
21.可选地,所述第一伺服驱动器所在的伺服系统为完成转速测试的伺服系统。
22.可选地,所述测试结果用于指示所述第一反馈数据和所述第二反馈数据的差值是否在预设范围内。
23.第二方面,本技术还提供了一种自动化测试编码器装置,应用于第一伺服驱动器,所述第一伺服驱动器与被测编码器连接,所述装置包括:
24.第一控制单元,用于响应于上位机发送的第一测试指令,控制所述被测编码器上电,所述第一测试指令包括第一目标数据,所述第一目标数据用于指示对所述被测编码器的测试;
25.发送单元,用于向所述上位机发送第一反馈数据,以便所述上位机基于所述第一反馈数据和第二反馈数据的对比分析获得所述被测编码器的测试结果,所述第一反馈数据表征电机达到所述第一目标数据时所述被测编码器的读数,所述第二反馈数据表征所述电机达到所述第一目标数据时基准编码器的读数,所述电机连接所述被测编码器和所述基准编码器,所述基准编码器连接第二伺服驱动器,所述第二反馈数据为所述第二伺服驱动器发送给所述上位机的数据。
26.可选地,所述第一目标数据包括掉电计数测试的指示数据,所述装置还包括:
27.第二控制单元,用于基于所述第一目标数据对应的第二控制信号,控制所述被测编码器掉电;
28.恢复单元,用于响应于确定所述电机运行在第二目标位置,恢复所述被测编码器的供电,并获得所述第一反馈数据,所述第一反馈数据表征在掉电计数测试中所述电机达到所述第二目标位置时所述被测编码器的读数,所述第二目标位置用于指示对所述被测编码器的掉电计数测试的测试条件。
29.可选地,
30.若所述第一反馈数据和所述第二反馈数据不匹配,则所述测试结果指示所述被测编码器失效;
31.若所述第一反馈数据和所述第二反馈数据匹配,则所述测试结果指示所述被测编码器功能正常。
32.可选地,所述第一反馈数据和所述第二反馈数据匹配,包括:所述第一反馈数据与所述被测编码器掉电期间所述电机的圈数记录一致。
33.可选地,所述装置还包括:
34.接收单元,用于接收上位机发送的调整指令,所述调整指令用于指示对所述第一伺服驱动器的控制参数进行修正;
35.第三控制单元,用于基于所述调整指令对应的第三控制信号,控制所述第一伺服驱动器进行对应控制参数的修正,以便修正后的所述第一伺服驱动器所在的伺服系统完成相应测试。
36.可选地,所述控制参数包括转速控制参数和/或位置控制参数。
37.可选地,所述第一目标数据包括第一目标转速。
38.可选地,所述第一目标数据包括第一目标位置。
39.可选地,所述第一伺服驱动器所在的伺服系统为完成转速测试的伺服系统。
40.可选地,所述测试结果用于指示所述第一反馈数据和所述第二反馈数据的差值是否在预设范围内。
41.第三方面,本技术还提供了一种自动化测试编码器系统,包括:上位机、电机、被测编码器、基准编码器、第一伺服驱动器和第二伺服驱动器,所述上位机连接所述第一伺服驱动器和所述第二伺服驱动器,所述第一伺服驱动器连接所述被测编码器,所述第二伺服驱动器连接所述基准编码器,所述被测编码器和所述基准编码器均与所述电机连接,其中:
42.所述第一伺服驱动器,用于接收所述上位机发送的第一测试指令,基于所述第一测试指令控制所述被测编码器上电,并向所述上位机发送第一反馈数据,所述第一反馈数据表征所述电机达到第一目标数据时所述被测编码器的读数,所述第一测试指令包括所述第一目标数据,所述第一目标数据用于指示对所述被测编码器的测试;
43.所述第二伺服驱动器,用于向所述上位机发送第二反馈数据,所述第二测试数据表征所述电机达到所述第一目标数据时所述基准编码器的读数;
44.所述上位机,用于对所述第一反馈数据和所述第二反馈数据的对比分析,获得测试结果。
45.可选地,所述第一伺服驱动器和所述被测编码器之间包括第一供电线路所述第二伺服驱动器和所述基准编码器之间包括第二供电线路,
46.所述上位机,还用于向所述第一伺服驱动器发送第一电源指令,向所述第二伺服驱动器发送第二电源指令;
47.所述第一伺服驱动器,还用于根据所述第一电源指令控制所述第一供电线路的接通或断开,所述第一供电线路的接通对应所述被测编码器上电,所述第一供电线路的断开对应所述被测编码器掉电;
48.所述第二伺服驱动器,还用于根据所述第二电源指令控制所述第二供电线路的接通或断开,所述第二供电线路的接通对应所述基准编码器上电,所述第二供电线路的断开对应所述基准编码器掉电。
49.第四方面,本技术还提供了一种电子设备,所述电子设备包括处理器以及存储器:
50.所述存储器用于存储计算机程序;
51.所述处理器用于根据所述计算机程序执行上述第一方面提供的所述方法。
52.第五方面,本技术还提供了一种计算机可读存储介质,所述计算机可读存储介质用于存储计算机程序,所述计算机程序用于执行上述第一方面提供的所述方法。
53.由此可见,本技术具有如下有益效果:
54.本技术提供了一种自动化测试编码器方法,应用于第一伺服驱动器,所述第一伺服驱动器与被测编码器连接,具体包括:响应于上位机发送的第一测试指令,控制所述被测编码器上电,所述第一测试指令包括第一目标数据,所述第一目标数据用于指示对所述被测编码器的测试;向所述上位机发送第一反馈数据,以便所述上位机基于对所述第一反馈数据和第二反馈数据的对比分析获得所述被测编码器的测试结果,其中,所述第一反馈数据表征电机达到所述第一目标数据时所述被测编码器的读数,所述第二反馈数据表征所述电机达到所述第一目标数据时基准编码器的读数,所述电机连接所述被测编码器和所述基准编码器,所述基准编码器连接第二伺服驱动器,所述第二反馈数据为所述第二伺服驱动器发送给所述上位机的数据。如此,上位机通过向伺服驱动器发送指令,控制伺服驱动器与编码器之间的供电线路的通断电,无需再通过人工手动拔插的方式控制通断电,减少测试过程中对人工的依赖程度,同时也提高了编码器测试工作的效率。
附图说明
55.为了更清楚地说明本技术实施例中的技术方案,下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本技术中记载的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,还可以根据这些附图获得其他的附图。
56.图1为本技术实施例中一种自动化测试编码器系统100的结构示意图;
57.图2为本技术实施例中一种自动化测试编码器方法的流程示意图;
58.图3为本技术实施例中一种自动化测试编码器方法的一实例的流程示意图;
59.图4为本技术实施例中另一种自动化测试编码器方法的一实例的流程示意图;
60.图5为本技术实施例中另一种自动化测试编码器方法的一实例的流程示意图;
61.图6为本技术实施例提供的一种自动化测试编码器装置600的结构示意图;
62.图7为本技术实施例提供的一种电子设备700的结构示意图。
具体实施方式
63.本技术实施例涉及的多个,是指大于或等于两个。需要说明的是,在本技术实施例的描述中,“第一”、“第二”等词汇,仅用于区分描述的目的,而不能理解为指示或暗示相对重要性,也不能理解为指示或暗示顺序。
64.下面将结合本技术实施例中的附图,对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述。显然,所描述的实施例仅仅是本技术一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本技术中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本技术保护的范围。
65.在目前编码器测试的过程中,伺服驱动器为编码器供电,但是,需要通过工作人员手动拔插的方式控制伺服驱动器与编码器之间的供电线路的通断电,此外,参数整定环节、位置测试、转速测试和掉电计数测试都需要人工逐步操作。而人工操作的方式,不仅在一定程度上影响了编码器测试工作的效率,而且对操作人员技术水平的有较高的要求。
66.基于此,本技术实施例提供了一种自动化测试编码器方法,该方法可以包括:响应于上位机发送的第一测试指令,控制所述被测编码器上电,所述第一测试指令包括第一目标数据,所述第一目标数据用于指示对被测编码器的测试;向所述上位机发送第一反馈数
c协议编码器经由spi串口通讯、增量式ab正交信号编码器经由gpio接口通讯,此外,被测编码器130或基准编码器150还可以是支持其他非主流通讯协议的编码器,均不影响本技术实施例的实现。上位机110可以通过canopen协议和第一伺服驱动器120、第二伺服驱动器130通讯,对波特率不限定,可以为例如为1兆比特每秒(mbit/s),第一伺服驱动器120和第二伺服驱动器130也可以通过canopen协议通讯,基准编码器160可以是高精度编码器,用于作为被测编码器140的测试基准,与被测编码器140同轴连接到电机150上。
73.需要说明的是,图1中带有箭头的直线表示各连接部件之间的信号传输,上位机110通过can总线接收第一伺服驱动器120或第二伺服驱动器130反馈的编码器数据,第一伺服驱动器120或第二伺服驱动器130通过三相动力线向电机输出动力或切断动力。伺服驱动器的供电线路上装有电力电子器件,可以根据上位机110指令控制伺服驱动器和编码器之间供电线路的通断电。
74.在一些实现方式中,根据被测编码器140的需求,第一伺服驱动器120通过电压输出接口向电机提供例如3.3v或5v的供电,根据基准编码器160的需求,第二伺服驱动器130通过电压输出接口向电机提供例如3.3v或5v的供电。
75.图2为本技术实施例提供的一种自动化测试编码器方法的流程示意图,应用于第一伺服驱动器,所述第一伺服驱动器与被测编码器连接,该方法可以应用于自动化测试编码器装置,该自动化测试编码器装置例如可以是如图6所述的自动化测试编码器装置600,或者,该自动化测试编码器装置也可以是集成于图7所示的电子设备700中的功能模块。
76.参见图2,本技术实施例中,实现自动化测试编码器方法包括如下步骤:
77.s201:响应于上位机发送的第一测试指令,控制所述被测编码器上电,所述第一测试指令包括第一目标数据,所述第一目标数据用于指示对所述被测编码器的测试。
78.本技术实施例中,每次需要对被测编码器进行测试时,上位机向第一伺服驱动器发送的测试指令可以均记作一条第一测试指令,用于触发一次对被测编码器的测试,即,执行一次该方法。
79.第一测试指令用于指示第一伺服驱动器控制所述被测编码器上电,所述第一测试指令含有测试类型的指示数据和第一目标数据。第一测试指令也用于指示被测编码器进行转速测试、位置测试或掉电计数测试。当第一测试指令中的指示数据用以指示被测编码器进行掉电计数测试时,由第二伺服驱动器向电机供电。当第一测试指令中的指示数据用以指示被测编码器进行转速测试或位置测试时,由第一伺服驱动器向电机供电。
80.需要说明的是,在转速测试过程中,基准编码器的读数经过解析被视为电机的实际转速,第一伺服控制器控制电机按照一定的目标转速旋转,电机的实际转速偏离目标转速的大小用来评价第一伺服驱动器所在伺服系统的转速稳定性。同理,在位置测试过程中,基准编码器的读数经过解析被视为电机的实际位置,第一伺服驱动器控制电机按照一定的目标位置往复运动后,电机的实际位置偏离目标位置的大小用来评价第一伺服驱动器所在伺服系统的重复定位精度。通过测试采用了被测编码器的伺服系统的性能,可以为决策者提供合适的编码器选型参考。
81.s202:向所述上位机发送第一反馈数据,以便所述上位机基于所述第一反馈数据和第二反馈数据的对比分析获得所述被测编码器的测试结果,所述第一反馈数据表征电机达到所述第一目标数据时所述被测编码器的读数,所述第二反馈数据表征所述电机达到所
述第一目标数据时基准编码器的读数,所述电机连接所述被测编码器和所述基准编码器,所述基准编码器连接第二伺服驱动器,所述第二反馈数据为所述第二伺服驱动器发送给所述上位机的数据。
82.第一伺服驱动器向上位机发送第一反馈数据,第二伺服系统向上位机发送第二反馈数据,上位机根据第一反馈数据和第二反馈数据获得测试结果。
83.在一些实现方式中,当所述第一目标数据包括掉电计数测试的指示数据时,那么,所述方法还包括:基于所述第一目标数据对应的第二控制信号,控制所述被测编码器掉电;上位机向第二伺服驱动器发送第二测试指令,所述第二测试指令包括第二目标位置,第二伺服驱动器基于所述第二目标位置对应的控制信号控制电机运行;第一伺服驱动器响应于确定所述电机运行在所述第二目标位置,恢复所述被测编码器的供电,并获得所述第一反馈数据,所述第一反馈数据表征在掉电计数测试中所述电机达到所述第二目标位置时所述被测编码器的读数,所述第二目标位置用于指示对所述被测编码器的掉电计数测试的测试条件。
84.作为一个示例,若所述第一反馈数据和所述第二反馈数据不匹配,则所述测试结果指示所述被测编码器失效;若所述第一反馈数据和所述第二反馈数据匹配,则所述测试结果指示所述被测编码器功能正常。所述第一反馈数据和所述第二反馈数据匹配,可以包括:所述第一反馈数据与所述被测编码器掉电期间所述电机的圈数记录一致。
85.需要说明的是,所述第二反馈数据表征在掉电计数测试中所述电机达到所述第二目标位置时所述基准编码器的读数。若所述第一反馈数据和所述第二反馈数据不匹配,说明被测编码器不符合测试标准,测试结果指示所述被测编码器失效;若所述第一反馈数据和所述第二反馈数据匹配,则说明所述第一反馈数据与所述被测编码器掉电期间所述电机的圈数记录一致,即被测编码器符合测试标准,测试结果指示所述被测编码器功能正常。
86.在另一些实现方式中,当第一测试指令中的指示数据用以指示被测编码器进行转速测试或位置测试时,所述方法还包括:接收上位机发送的调整指令,所述调整指令用于指示对所述第一伺服驱动器的控制参数进行修正;基于所述调整指令对应的第三控制信号,控制所述第一伺服驱动器进行对应控制参数的修正,以便修正后的所述第一伺服驱动器所在的伺服系统完成相应测试。
87.作为一个示例,上位机根据第一伺服驱动器的反馈数据逐渐调整第一伺服驱动器的比例积分(proportional integral,pi)控制参数和滤波器截止频率,直至第一伺服驱动器达到最佳控制效果。
88.需要说明的是,所述控制参数包括转速控制参数和/或位置控制参数,但需要在调整位置控制参数之前调整转速控制参数。在一些实现方式中,当所述第一目标数据包括第一目标转速时,s201~s202即一次转速测试,在进行转速测试之前,该方法还包括:接收上位机发送的调整指令,所述调整指令用于指示对所述第一伺服驱动器的转速控制参数进行修正;基于所述调整指令对应的第三控制信号,控制所述第一伺服驱动器进行转速控制参数的修正,以便修正后的所述第一伺服驱动器所在的伺服系统完成转速测试。
89.上位机向第一伺服驱动器发送切换转速模式的指令,第一伺服驱动器向电机供电并控制电机运行,上位机根据第一伺服驱动器的反馈数据下发调整指令,调整指令指示对第一伺服驱动器的转速控制参数进行修正,在具体实施过程中,上位机根据第一伺服驱动
器的反馈数据逐渐调整第一伺服驱动器的转速控制参数和滤波器截止频率,直至第一伺服驱动器达到最佳控制效果。
90.在另一些实现方式中,当所述第一目标数据包括第一目标位置时,所述第一伺服驱动器所在的伺服系统为所述完成转速测试的伺服系统,s201~s202即一次位置测试,在进行位置测试之前,该方法还包括:接收上位机发送的调整指令,所述调整指令用于指示对所述第一伺服驱动器的位置控制参数进行修正;基于所述调整指令对应的第四控制信号,控制所述第一伺服驱动器进行位置控制参数的修正,以便修正后的所述第一伺服驱动器所在的伺服系统完成位置测试。
91.上位机向第一伺服驱动器发送切换位置模式的指令,第一伺服驱动器向电机供电并控制电机运行,上位机根据第一伺服驱动器的反馈数据下发调整指令,调整指令指示对第一伺服驱动器的位置控制参数进行修正,在具体实施过程中,上位机根据第一伺服驱动器的反馈数据逐渐调整第一伺服驱动器的位置控制参数和滤波器截止频率,直至第一伺服驱动器达到最佳控制效果,进入位置测试阶段。
92.需要说明的是,当第一伺服驱动器所在的伺服系统完成转速测试或位置测试时,所述测试结果还可以用于指示所述第一反馈数据和所述第二反馈数据的差值是否在预设范围内。该转速测试和位置测试可以多次进行,但需要在定位测试之前进行转速测试。如此,上位机通过向伺服驱动器发送多次测试指令以及用于控制通断电的其他测试指令,从而控制伺服驱动器与编码器之间的供电线路的通断电,提高了对编码器测试的效率。
93.为了使得本技术实施例提供的方法更加清楚且易于理解,下面结合基准编码器为高精度编码器的具体测试场景,对该方法的一个具体实例进行说明。
94.如图3所述,本技术实施例的以掉电计数测试为例,可以包括以下步骤:
95.s301:上位机控制第二伺服驱动器向电机供电。
96.在所述步骤s301之前,还包括:第一伺服驱动器向被测编码器供电,第二伺服驱动器向高精度编码器供电。
97.s302:该上位机获取第一伺服驱动器中被测编码器的预先测试数据。
98.所述预先测试数据用于指示在步骤s304中上位机向第二伺服驱动器发送控制电机运行至特定位置指令的值。
99.s303:该上位机关闭第一伺服驱动器对被测编码器的供电。
100.s304:该上位机向第二伺服驱动器发送控制电机运行至特定位置的指令。
101.s305:该上位机恢复第一伺服驱动器对被测编码器的供电,获取被测编码的第一反馈数据。
102.s306:该上位机基于第一反馈数据和第二反馈数据获得测试结果。
103.s307:若测试结果准确,则执行步骤s308,若测试结果不准确,则被测编码器失效,结束测试。
104.若测试结果准确,则执行下一步骤,若测试结果不准确,则被测编码器失效,结束测试。
105.s308:上位机判断是否下发全部指令,若是,则被测编码器正常,结束测试,若否,则继续执行步骤s303。
106.若没有下发全部指令,则继续进行掉电计数测试。
107.根据图3所述流程图,实现了对被测编码器的掉电计数测试。
108.如图4所示,为本技术实施例提供的另一种自动化测试编码器方法的流程示意图,本技术实施例的以转速测试为例,本实施例可以包括以下步骤:
109.s401:上位机向第一伺服驱动器发送切换转速控制模式的指令,以便第一伺服驱动器切换为转速控制模式。
110.在所述步骤s401之前,还包括:控制第一伺服驱动器向被测编码器供电,控制第二伺服驱动器向高精度编码器供电。
111.在所述步骤s401之后,还包括:控制第一伺服驱动器向电机供电。
112.s402:该上位机下发特定波形的转速指令,根据获取的第一伺服驱动器反馈数据逐渐调整第一伺服驱动器的pi控制参数和滤波器截止频率。
113.s403:该上位机判断第一伺服驱动器是否达到当前最佳控制效果,若是,则进行步骤s404,若否,则返回步骤s402。
114.若第一伺服驱动器达到当前最佳控制效果,则证明可以执行接下来的转速测试,若第一伺服驱动器没达到当前最佳控制效果,返回步骤s402,上位机调整第一伺服驱动器的pi控制参数和滤波器截止频率,直至第一伺服驱动器达到最佳控制效果。
115.s404:该上位机下发转速指令。
116.所述转速指令用以指示电机的转速。
117.s405:该上位机判断电机是否在目标转速平稳运行,若是,则进行步骤s407,若否,则等待,直到电机目标转速平稳运行。
118.在目标转速平稳运行表示被测编码器的第一反馈转速值与指令转速之间的偏差小于预定的阈值,若小于预定的阈值,则可以看作被测编码器达到目标转速,可进行下一步骤,若不小于预定的阈值,则等待,直到电机目标转速平稳运行。
119.s406:该上位机获取一段时间内被测编码器的第一反馈转速值和高精度编码器的第二反馈转速值。
120.s407:该上位机判断是否已经下发全部转速指令,若是,则进行步骤s408,若否,则返回步骤s404,继续下发下一转速指令。
121.s408:该上位机记录被测编码器的第一反馈转速值和高精度编码器的第二反馈转速值,停止第一伺服驱动器向电机供电。
122.根据图4所述流程图,本技术实施例实现了转速控制参数的整定,无需人工操作,降低了对操作人员技术水平的要求。此外,第二反馈转速值经过解析被视为电机的实际转速,电机的实际转速偏离目标转速的大小用来评价第一伺服驱动器所在伺服系统的转速稳定性。
123.如图5所示,为本技术实施例提供的另一种自动化测试编码器方法的流程示意图,本技术实施例以位置测试为例,需要说明的是,被测编码器先进行转速测试,再进行位置测试。相较于转速测试,本技术实施例是由上位机下发位置测试的指令,其他流程与转速测试大致相似,可以包括:
124.s501:上位机向第一伺服驱动器发送切换位置控制模式的指令,以便第一伺服驱动器切换为位置控制模式。
125.在所述步骤s501之前,还包括:控制第一伺服驱动器向被测编码器供电,控制第二
伺服驱动器向高精度编码器供电。
126.在所述步骤s501之后,还包括:控制第一伺服驱动器向电机供电。
127.s502:该上位机下发特定波形的位置指令,根据获取的第一伺服驱动器反馈数据逐渐调整第一伺服驱动器的pi控制参数和滤波器截止频率。
128.s503:该上位机判断第一伺服驱动器是否达到当前最佳控制效果,若是,则进行步骤s504,若否,则返回步骤s502。
129.s504:该上位机下发位置指令。
130.所述位置指令用以指示电机的所要抵达的目标位置。
131.s505:该上位机判断电机是否抵达指令位置,若是,则进行步骤s506,若否,则等待,直到电机到达指令位置。
132.s506:该上位机获取被测编码器的第一反馈读数和高精度编码器的第二反馈读数。
133.在所述步骤s506之后,还包括:上位机将第一反馈读数和第二反馈读数解析为电机的位置信息并保存。
134.s507:该上位机判断是否已经下发全部位置指令,若是,则进行步骤s508,若否,则返回步骤s504,继续对被测编码器进行位置测试,直至该上位机下发全部位置指令。
135.s508:该上位机记录被测编码器的第一反馈读数和高精度编码器的第二反馈读数,停止第一伺服驱动器向电机供电。
136.根据图5所述流程图,本技术实施例还实现了位置控制参数的整定,无需人工操作,降低了对操作人员技术水平的要求。此外,第二反馈读数经过解析被视为电机的实际位置,电机的实际位置偏离目标位置的大小用来评价第一伺服驱动器所在伺服系统的重复定位精度。
137.参见图6,本技术实施例还提供一种自动化测试编码器装置600。该自动化测试编码器装置600可以包括:
138.第一控制单元601,用于响应于上位机发送的第一测试指令,控制所述被测编码器上电,所述第一测试指令包括第一目标数据,所述第一目标数据用于指示对所述被测编码器的测试;
139.发送单元602,用于向所述上位机发送第一反馈数据,以便所述上位机基于所述第一反馈数据和第二反馈数据的对比分析获得所述被测编码器的测试结果,所述第一反馈数据表征电机达到所述第一目标数据时所述被测编码器的读数,所述第二反馈数据表征所述电机达到所述第一目标数据时基准编码器的读数,所述电机连接所述被测编码器和所述基准编码器,所述基准编码器连接第二伺服驱动器,所述第二反馈数据为所述第二伺服驱动器发送给所述上位机的数据。
140.可选地,所述第一目标数据包括掉电计数测试的指示数据,所述装置600还包括:
141.第二控制单元,用于基于所述第一目标数据对应的第二控制信号,控制所述被测编码器掉电;
142.恢复单元,用于响应于确定所述电机运行在第二目标位置,恢复所述被测编码器的供电,并获得所述第一反馈数据,所述第一反馈数据表征在掉电计数测试中所述电机达到所述第二目标位置时所述被测编码器的读数,所述第二目标位置用于指示对所述被测编
码器的掉电计数测试的测试条件。
143.可选地,
144.若所述第一反馈数据和所述第二反馈数据不匹配,则所述测试结果指示所述被测编码器失效;
145.若所述第一反馈数据和所述第二反馈数据匹配,则所述测试结果指示所述被测编码器功能正常。
146.可选地,所述第一反馈数据和所述第二反馈数据匹配,包括:所述第一反馈数据与所述被测编码器掉电期间所述电机的圈数记录一致。
147.可选地,所述装置600还包括:
148.接收单元,用于接收上位机发送的调整指令,所述调整指令用于指示对所述第一伺服驱动器的控制参数进行修正;
149.第三控制单元,用于基于所述调整指令对应的第三控制信号,控制所述第一伺服驱动器进行对应控制参数的修正,以便修正后的所述第一伺服驱动器所在的伺服系统完成相应测试。
150.可选地,所述控制参数包括转速控制参数和/或位置控制参数。
151.可选地,所述第一目标数据包括第一目标转速。
152.可选地,所述第一目标数据包括第一目标位置。
153.可选地,所述第一伺服驱动器所在的伺服系统为完成转速测试的伺服系统。
154.可选地,所述测试结果用于指示所述第一反馈数据和所述第二反馈数据的差值是否在预设范围内。
155.此外,本技术实施例还提供了一种电子设备700,如图7所示,所述电子设备700包括处理器701以及存储器702:
156.所述存储器702用于存储计算机程序;
157.所述处理器701用于根据所述计算机程序执行图2提供的方法。
158.此外,本技术实施例还提供了一种计算机可读存储介质,所述计算机可读存储介质用于存储计算机程序,所述计算机程序用于执行本技术实施例提供的方法。
159.通过以上的实施方式的描述可知,本领域的技术人员可以清楚地了解到上述实施例方法中的全部或部分步骤可借助软件加通用硬件平台的方式来实现。基于这样的理解,本技术的技术方案可以以软件产品的形式体现出来,该计算机软件产品可以存储在存储介质中,如只读存储器(英文:read-only memory,rom)/ram、磁碟、光盘等,包括若干指令用以使得一台计算机设备(可以是个人计算机,服务器,或者诸如路由器等网络通信设备)执行本技术各个实施例或者实施例的某些部分所述的方法。
160.本说明书中的各个实施例均采用递进的方式描述,各个实施例之间相同相似的部分互相参见即可,每个实施例重点说明的都是与其他实施例的不同之处。尤其,对于装置实施例而言,由于其基本相似于方法实施例,所以描述得比较简单,相关之处参见方法实施例的部分说明即可。以上所描述的装置实施例仅仅是示意性的,其中作为分离部件说明的模块可以是或者也可以不是物理上分开的,作为模块显示的部件可以是或者也可以不是物理模块,即可以位于一个地方,或者也可以分布到多个网络单元上。可以根据实际的需要选择其中的部分或者全部模块来实现本实施例方案的目标。本领域普通技术人员在不付出创造
性劳动的情况下,即可以理解并实施。
161.以上所述仅是本技术的优选实施方式,并非用于限定本技术的保护范围。应当指出,对于本技术领域的普通技术人员来说,在不脱离本技术的前提下,还可以做出若干改进和润饰,这些改进和润饰也应视为本技术的保护范围。
再多了解一些

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