一种自动化芯片测试装置及其测试方法与流程

1.本发明涉及芯片相关领域，具体为一种自动化芯片测试装置及其测试方法。


背景技术：

2.芯片是指内含集成电路的硅片，体积很小，常常是计算机或其它电子设备的一部分，芯片又称微电路、微芯片和集成电路最先进的集成电路是微处理器或多核处理器的核心，可以控制电脑到手机到数字微波炉的一切，存储器和asic是其他集成电路家族的例子，对于现代信息社会非常重要。
3.现有技术中芯片在测试的过程，都是需要机械手对芯片进行一组一组的取放，机械手需要一来一回的过程才能完成更换，比较浪费时间，降低整体测试的效率。


技术实现要素：

4.本发明的目的在于提供一种自动化芯片测试装置及其测试方法，以解决上述背景技术中提出的机械手需要一来一回的过程才能完成更换，比较浪费时间，降低整体测试的效率的问题。
5.为实现上述目的，本发明提供如下技术方案：一种自动化芯片测试装置包括自动化芯片测试机架体，所述自动化芯片测试机架体的上方设有防护罩，所述防护罩的前端设有透明观察窗口，所述防护罩的内部的两侧设有侧封板，所述防护罩的内部的顶端设有芯片检测器，所述芯片检测器的内部的下方设有测试探针，所述防护罩的下方位于自动化芯片测试机架体的内部设有导向组装座，所述导向组装座上的两侧设有链条式输送带，所述链条式输送带的两端设有密封壳，所述导向组装座的上方的一端位于测试探针的正下方的位置处设有芯片定位架，所述链条式输送带的每节链条的内部均设有芯片定位槽，且相邻的两个芯片定位槽均通过销轴旋转连接，所述防护罩的一侧设有显示屏。
6.在进一步的实施例中，所述链条式输送带的一端与密封壳通过主动齿轮盘连接，所述主动齿轮盘与电机连接，且链条式输送带的另一端与密封壳通过传动齿轮盘连接。
7.在进一步的实施例中，所述芯片定位架的横截面设为梯形结构。
8.在进一步的实施例中，所述链条式输送带与防护罩连接处的两侧设有定位条，且定位条与链条式输送带滑动连接。
9.在进一步的实施例中，所述密封壳的底部与自动化芯片测试机架体通过三角支撑板焊接连接，所述自动化芯片测试机架体的底部的两侧设有防滑脚垫，且防滑脚垫与自动化芯片测试机架体通过螺纹固定连接。
10.在进一步的实施例中，所述芯片定位槽的内部的两侧设有凹口，所述芯片定位槽的内部的底端设有多个凸块，且凸块设为球形结构。
11.一种自动化芯片测试装置的测试方法，包括以下步骤：
12.s1：将芯片搁置整齐摆放在链条式输送带的一端的芯片定位槽内
13.s2：通过电机带动主动齿轮盘旋转带动另一端的传动齿轮盘旋转，使链条式输送
带协调旋转，链条式输送带沿着导向组装座的外形向上滑动至芯片定位架的上方，使芯片定位槽位于测试探针的正下方；
14.s3：通过测试探针对芯片定位槽内的芯片进行测试；
15.s4：将测试好的芯片向一端进行输送，通过机械手将测试好的芯片进行分类放置。
16.与现有技术相比，本发明的有益效果是：
17.1、该发明中是采用链条式输送带，在链条式输送带的每节链条内都设有芯片定位槽，通过链条式输送带可以使输送带具有较好的灵活性，每节链条之间都可以随着导向组装座的外形进行变化，使其沿着导向组装座的外形滑动至芯片定位架的上方，具有一个坡度，使中间的某节链条位于最顶端，使芯片定位槽位于顶端与测试探针的位置对齐，从而对测试的芯片进行更好的定位，链条式输送带可以将芯片进行循环输送，与机械手一组一组取放相比，该输送方式更省时省力，每组芯片定位槽经过芯片定位架的位置时，就可以完成测试，测试方法简单，更易于操作，从而提高测试效率。
附图说明
18.图1为本发明的一种自动化芯片测试装置及其测试方法的结构示意图；
19.图2为本发明的一种自动化芯片测试装置及其测试方法的主视图；
20.图3为本发明的一种自动化芯片测试装置及其测试方法的侧视图；
21.图4为本发明的芯片定位槽的俯视图。
22.图中：1、防护罩；2、芯片检测器；3、测试探针；4、显示屏；5、定位条；6、链条式输送带；7、密封壳；8、传动齿轮盘；9、三角支撑板；10、导向组装座；11、芯片定位架；12、主动齿轮盘；13、自动化芯片测试机架体；14、防滑脚垫；15、透明观察窗口；16、电机；17、侧封板；18、销轴；19、芯片定位槽；20、凸块；21、凹口。
具体实施方式
23.下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。
24.请参阅图1-4，本发明提供的一种实施例：一种自动化芯片测试装置，包括自动化芯片测试机架体13，自动化芯片测试机架体13的上方设有防护罩1，防护罩1的前端设有透明观察窗口15，防护罩1的内部的两侧设有侧封板17，防护罩1的内部的顶端设有芯片检测器2，芯片检测器2的内部的下方设有测试探针3，防护罩1的下方位于自动化芯片测试机架体13的内部设有导向组装座10，导向组装座10上的两侧设有链条式输送带6，链条式输送带6的两端设有密封壳7，导向组装座10的上方的一端位于测试探针3的正下方的位置处设有芯片定位架11，链条式输送带6的每节链条的内部均设有芯片定位槽19，且相邻的两个芯片定位槽19均通过销轴18旋转连接，防护罩1的一侧设有显示屏4。
25.通过防护罩1用于将芯片检测器2密封安装，通过透明观察窗口15便于对测试的过程进行观察，可以及时发现情况，通过导向组装座10用于对链条式输送带6输送的方向进行引导定位，通过芯片定位架11可以对链条式输送带6内芯片输送的位置进行定位，使芯片定位槽19位于最高的位置，便于检测，通过芯片定位槽19便于将芯片进行放置，通过显示屏4用于将测试的数据及图片进行显示。
26.进一步，链条式输送带6的一端与密封壳7通过主动齿轮盘12连接，主动齿轮盘12与电机16连接，且链条式输送带6的另一端与密封壳7通过传动齿轮盘8连接。
27.通过电机16用于将电能转换为机械能带动主动齿轮盘12旋转，与传动齿轮盘8结合可以使链条式输送带6循环旋转。
28.进一步，芯片定位架11的横截面设为梯形结构。
29.通过梯形结构可以使链条具有一个爬坡的斜度。
30.进一步，链条式输送带6与防护罩1连接处的两侧设有定位条5，且定位条5与链条式输送带6滑动连接。
31.通过定位条5可以对链条式输送带6的位置进行定位。
32.进一步，密封壳7的底部与自动化芯片测试机架体13通过三角支撑板9焊接连接，自动化芯片测试机架体13的底部的两侧设有防滑脚垫14，且防滑脚垫14与自动化芯片测试机架体13通过螺纹固定连接。
33.通过三角支撑板9可以增加密封壳7的承重能力。
34.进一步，芯片定位槽19的内部的两侧设有凹口21，芯片定位槽19的内部的底端设有多个凸块20，且凸块20设为球形结构。
35.通过凹口21可以增加芯片定位的准确性，通过凸块20防止芯片卡固过紧，使芯片的底部具有一定的空隙，便于机械手取出。
36.一种自动化芯片测试装置的测试方法，包括以下步骤：
37.s1：将芯片搁置整齐摆放在链条式输送带6的一端的芯片定位槽19内
38.s2：通过电机16带动主动齿轮盘12旋转带动另一端的传动齿轮盘8旋转，使链条式输送带6协调旋转，链条式输送带6沿着导向组装座10的外形向上滑动至芯片定位架11的上方，使芯片定位槽19位于测试探针3的正下方；
39.s3：通过测试探针3对芯片定位槽19内的芯片进行测试；
40.s4：将测试好的芯片向一端进行输送，通过机械手将测试好的芯片进行分类放置。
41.工作原理：使用时，将芯片搁置整齐摆放在链条式输送带6的一端的芯片定位槽19内，通过电机16带动主动齿轮盘12旋转带动另一端的传动齿轮盘8旋转，使链条式输送带6协调旋转，链条式输送带6沿着导向组装座10的外形向上滑动至芯片定位架11的上方，使芯片定位槽19位于测试探针3的正下方，通过测试探针3对芯片定位槽19内的芯片进行测试，再将测试好的芯片向一端进行输送，通过机械手将测试好的芯片进行分类放置即可。
42.对于本领域技术人员而言，显然本发明不限于上述示范性实施例的细节，而且在不背离本发明的精神或基本特征的情况下，能够以其他的具体形式实现本发明。因此，无论从哪一点来看，均应将实施例看作是示范性的，而且是非限制性的，本发明的范围由所附权利要求而不是上述说明限定，因此旨在将落在权利要求的等同要件的含义和范围内的所有变化囊括在本发明内。不应将权利要求中的任何附图标记视为限制所涉及的权利要求。