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勾头式键帽拉拔力测试装置的制作方法

2022-12-31 18:58:10 来源:中国专利 TAG:


1.本实用新型专利涉及键帽拉拔力测试的技术领域,具体而言,涉及勾头式键帽拉拔力测试装置。


背景技术:

2.键盘是用于操作设备运行的一种指令和数据输入装置,也指经过系统安排操作一台机器或设备的一组功能键;键盘包括基板、线路板、剪刀支撑架和键帽等,键帽与剪刀支撑架呈组装布置,通过对键帽的按压,实现指令和数据输入,进而操控机器或设备。
3.目前,键帽组装后,需要对键帽的弹力或拉拔力进行测试,因为键帽的弹力或拉拔力不足或没有弹力,直接影响键盘的使用寿命和使用手感。
4.现有技术中,采用人工手抠键帽的方式来判断拉拔力能否满足使用要求,这种测试方式人为主观性强,容易导致误判,而且造成人力物力的浪费,同时,成本高且效率低。


技术实现要素:

5.本实用新型的目的在于提供勾头式键帽拉拔力测试装置,旨在解决现有技术中,键帽拉拔力测试效率低的问题。
6.本实用新型是这样实现的,勾头式键帽拉拔力测试装置,包括勾头件,所述勾头件移动用于朝上拉起键帽,所述勾头件包括勾台,所述勾台具有勾面呈倾斜布置,所述勾面用于抵触拉起所述键帽,进行测试时,所述勾面用于将所述键帽由下往上顶升布置。
7.进一步的,所述勾头式键帽拉拔力测试装置包括驱动结构、拉力传感器和下压器,所述驱动结构用于驱动所述勾头件沿键盘的长度方向呈往复移动布置,所述下压器和所述拉力传感器分别安设所述驱动结构,所述下压器用于下压固定所述键盘,所述拉力传感器与所述勾头件呈上下连接布置,所述拉力传感器用于测试和反馈所述勾头件的拉力数据。
8.进一步的,所述勾台具有圆头部,所述圆头部沿朝向所述键帽方向呈弧形拱起布置。
9.进一步的,所述勾台具有水平面,所述水平面呈水平布置,所述水平面的一端呈活动布置,所述水平面的另一端与所述勾面呈对接布置,所述勾面沿背离所述水平面方向逐渐朝下呈倾斜布置;所述勾头件包括凸台,所述凸台与所述勾台的下部呈连接布置,且所述凸台呈扁平状布置,所述凸台沿背离所述勾台方向呈凸起布置。
10.进一步的,所述勾头件包括勾板,所述勾板呈纵向布置,所述勾板具有板面,所述勾台抵触所述板面布置,所述板面与所述勾面形成沟槽,测试时,所述键帽朝向所述沟槽方向移动且嵌设所述沟槽。
11.进一步的,所述勾头件包括对接板与连接板,所述对接板的上部与所述拉力传感器呈连接布置,所述对接板的下部与所述连接板的上部呈连接布置,所述连接板的下部与所述勾板呈连接布置,所述连接板呈上大下小梯台状布置,所述连接板的下部形成下台,所述勾板呈长条状布置,所述勾板与所述下台呈对齐布置。
12.进一步的,所述下压器包括第一下压件和第二下压件,所述第一下压件和所述第二下压件分别安设所述驱动结构,且所述第一下压件和所述第二下压件呈间隔对应布置,所述勾头件处于所述第一下压件与所述第二下压件之间布置;所述第一下压件和所述第二下压件同步抵触所述键帽,且所述第一下压件和所述第二下压件分别对不同所述键帽施加下压力。
13.进一步的,所述第一下压件包括第一下压电机、第一下压轴和第一滚轮,所述第一下压电机与所述第一下压轴的上部呈连接布置,且所述第一下压电机用于驱动所述第一下压轴朝下移动布置,所述第一下压轴的下部与所述第一滚轮呈活动连接布置,所述第一滚轮受外力呈滚动布置,所述第一滚轮用于对键帽施加下压力;所述第二下压件包括第二下压电机、第二下压轴和第二滚轮,所述第二下压电机与所述第二下压轴的上部呈连接布置,且所述第二下压电机用于驱动所述第二下压轴朝下移动布置,所述第二下压轴的下部与所述第二滚轮呈活动连接布置,所述第二滚轮受外力呈滚动布置,所述第二滚轮用于对键帽施加下压力。
14.进一步的,所述第一下压件包括第一轮壳、第一下压簧以及第一旋拧件,所述第一滚轮的上部嵌设所述第一轮壳,所述第一滚轮与所述第一轮壳呈转动连接布置,所述第一下压簧套设所述第一下压轴布置,所述第一旋拧件与所述第一下压轴呈螺纹连接布置,所述第一下压簧的上部与所述第一旋拧件呈连接布置,所述第一下压簧的下部与所述第一轮壳呈连接布置,所述第一下压簧用于对所述第一轮壳和所述第一滚轮施加下压力。
15.进一步的,所述驱动结构包括保护器,所述拉力传感器与所述保护器呈连接布置;所述保护器包括保护轴和保护簧,所述保护簧套设所述保护轴布置,所述保护轴的上部呈固定布置,所述保护轴的下部与所述拉力传感器呈连接布置,所述保护簧的上部呈固定布置,所述保护簧的下部与所述拉力传感器呈连接布置,所述保护簧用于防止所述拉力传感器过压。
16.与现有技术相比,本实用新型提供的勾头式键帽拉拔力测试装置,进行测试时,勾面用于将键帽由下往上顶升布置。进行测试时,勾头件呈移动布置,直至移动至勾面抵触键帽,实现勾面将键帽由下往上顶升,实现对键帽的拉拔力进行测试;同时,克服键帽与键帽之间的间隔,对相邻键帽测试时,勾头件无需重新上下拉升,省去重复上下移动及重复左右移动的时间,提高测试效率。
附图说明
17.图1是本实用新型提供的勾头式键帽拉拔力测试装置的平面示意图;
18.图2是本实用新型提供的勾头式键帽拉拔力测试装置的勾头件与键帽的配合示意图;
19.图3是本实用新型提供的勾头式键帽拉拔力测试装置的勾头件的立体示意图;
20.图4是本实用新型提供的勾头式键帽拉拔力测试装置的勾头件的局部立体示意图;
21.图5是本实用新型提供的勾头式键帽拉拔力测试装置的下压器的立体示意图。
具体实施方式
22.为了使本实用新型的目的、技术方案及优点更加清楚明白,以下结合附图及实施例,对本实用新型进行进一步详细说明。应当理解,此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本实用新型,并不用于限定本实用新型。
23.以下结合具体实施例对本实用新型的实现进行详细的描述。
24.本实施例的附图中相同或相似的标号对应相同或相似的部件;在本实用新型的描述中,需要理解的是,若有术语“上”、“下”、“左”、“右”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系,仅是为了便于描述本实用新型和简化描述,而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作,因此附图中描述位置关系的用语仅用于示例性说明,不能理解为对本专利的限制,对于本领域的普通技术人员而言,可以根据具体情况理解上述术语的具体含义。
25.参照图1-5所示,为本实用新型提供的较佳实施例。
26.勾头式键帽拉拔力测试装置,包括驱动结构4、拉力传感器2、勾头件1以及下压器3,驱动结构4用于驱动勾头件1沿键盘5的长度方向呈往复移动布置,下压器3和拉力传感器2分别安设驱动结构4,下压器3用于下压固定键盘5,拉力传感器2与勾头件1呈上下连接布置,拉力传感器2用于测试和反馈勾头件1的拉力数据,勾头件1用于朝上拉起键帽51;勾头件1包括勾台11,勾台11具有勾面呈倾斜布置,勾面用于抵触拉起键帽51。
27.上述的勾头式键帽拉拔力测试装置,驱动结构4提供驱动力,减少人工参与,实现自动化测试键帽51的拉拔力;进行测试时,驱动结构4驱动勾头件1沿键盘5的长度方向移动,勾头件1移动至抵触键帽51的边沿,在勾面的作用下,将键帽51由下往上拉升,克服键帽51与键帽51间隔,且对相邻键帽51测试无需重新上下拉升,提升测试效率,同时,勾头件1拉起键帽51时,同步将拉力数据传输至拉力传感器2,并且,在下压器3的作用下,对待测试键帽51起到下压固定作用,避免相邻的键帽51连带被拉起,维持相对力量压住待测试键帽51,便于多个键帽51的测试,也提高键帽51的抗拔力的测试效率。
28.勾台11具有圆头部,圆头部沿朝向所述键帽方向呈弧形拱起布置;直接挑起键帽体,无需上下调整勾头件1,提高键帽51的抗拔力的测试效率。
29.勾头式键帽拉拔力测试装置包括传输带,键盘5放置在传输带上,传输带用于沿键盘5的宽度方向传输键盘5;这样,无需调整勾头件1的位置,通过传输带调整键盘5的位置,实现对左右的键帽51进行抗拔力的测试;有助于提高键帽51的抗拔力的测试效率。
30.勾台11具有水平面,水平面呈水平布置,水平面的一端呈活动布置,水平面的另一端与勾面呈对接布置,勾面沿背离水平面方向逐渐朝下呈倾斜布置;当键帽51移动至水平面时,键帽51承受最大的拉拔力,在水平面的作用下,便于拉力传感器2提取数据。
31.勾头件1包括凸台12,凸台12与勾台11的下部呈连接布置,且凸台12呈扁平状布置,凸台12沿背离勾台11方向呈凸起布置;在凸台12的作用下,有效防止键帽51意外高度过低,撞坏拉力传感器2,凸台12将勾台11往上顶起,对拉力传感器2起到保护作用。
32.凸台12与勾台11呈一体成型布置,便于生产制造,降低造价,同时,也便于勾头件1的组装。
33.勾头件1包括勾板13,勾板13呈纵向布置,勾板13具有板面,勾台11抵触板面布置,板面与勾面形成沟槽,测试时,键帽51朝向沟槽方向移动且嵌设沟槽;在板面的作用下,对
键帽51移动起到定位作用,使键帽51沿勾面的下端移动至勾面的上端,逐渐上拔键帽51,避免键帽51偏移。
34.勾头件1包括对接板15与连接板14,对接板15的上部与拉力传感器2呈连接布置,对接板15的下部与连接板14的上部呈连接布置,连接板14的下部与勾板13呈连接布置,连接板14呈上大下小梯台状布置,连接板14的下部形成下台,勾板13呈长条状布置,勾板13与下台呈对齐布置。
35.在对接板15的作用下,便于勾头件1与拉力传感器2之间的配合,在连接板14的作用下,便于作用力的传导,且连接板14与勾板13配合,保障勾台11的垂直性,便于勾台11对键帽51施加上拔力。
36.下压器3包括第一下压件和第二下压件,第一下压件和第二下压件分别安设驱动结构4,且第一下压件和第二下压件呈间隔对应布置,勾头件1处于第一下压件与第二下压件之间布置;第一下压件和第二下压件同步抵触键帽51,且第一下压件和第二下压件分别对不同键帽51施加下压力;在第一下压件和第二下压件的作用下,压住固定键盘5,致使相邻的其他按键不会连带被拉起,便于键帽51的测试。
37.第一下压件包括第一下压电机、第一下压轴31和第一滚轮34,第一下压电机与第一下压轴31的上部呈连接布置,且第一下压电机用于驱动第一下压轴31朝下移动布置,第一下压轴31的下部与第一滚轮34呈活动连接布置,第一滚轮34受外力呈滚动布置,第一滚轮34用于对键帽51施加下压力;通过第一滚轮34的滚动配合位移到下一个键帽51,同时,维持相对力量压住相邻键帽51,实现多个键帽51进行测试。
38.第二下压件包括第二下压电机、第二下压轴35和第二滚轮38,第二下压电机与第二下压轴35的上部呈连接布置,且第二下压电机用于驱动第二下压轴35朝下移动布置,第二下压轴35的下部与第二滚轮38呈活动连接布置,第二滚轮38受外力呈滚动布置,第二滚轮38用于对键帽51施加下压力;通过第二滚轮38的滚动配合位移到下一个键帽51,同时,维持相对力量压住相邻键帽51,实现多个键帽51进行测试。
39.第一下压件包括第一轮壳33、第一下压簧32以及第一旋拧件,第一滚轮34的上部嵌设第一轮壳33,第一滚轮34与第一轮壳33呈转动连接布置,第一下压簧32套设第一下压轴31布置,第一旋拧件与第一下压轴31呈螺纹连接布置,第一下压簧32的上部与第一旋拧件呈连接布置,第一下压簧32的下部与第一轮壳33呈连接布置,第一下压簧32用于对第一轮壳33和第一滚轮34施加下压力;实现对第一滚轮34的下压力进行调整,确保不压伤键盘5和键帽51。
40.另外,下压时,第一下压簧32对第一滚轮34起到减缓行程作用,避免施加压力过大,也就是避免造成过压,同时,第一下压簧32起到调整下压力作用,根据施加作用力的高度调整下压力。
41.第二下压件包括第二轮壳37、第二下压簧36以及第二旋拧件,第二滚轮38的上部嵌设第二轮壳37,第二滚轮38与第二轮壳37呈转动连接布置,第二下压簧36套设第二下压轴35布置,第二旋拧件与第二下压轴35呈螺纹连接布置,第二下压簧36的上部与第二旋拧件呈连接布置,第二下压簧36的下部与第二轮壳37呈连接布置,第二下压簧36用于对第二轮壳37和第二滚轮38施加下压力;实现对第二滚轮38的下压力进行调整,确保不压伤键盘5和键帽51。
42.另外,下压时,第二下压簧36对第二滚轮38起到减缓行程作用,避免施加压力过大,也就是避免造成过压,同时,第二下压簧36起到调整下压力作用,根据施加作用力的高度调整下压力。
43.驱动结构4包括保护器,拉力传感器2与保护器呈连接布置;保护器包括保护轴和保护簧21,保护簧21套设保护轴布置,保护轴的上部呈固定布置,保护轴的下部与拉力传感器2呈连接布置,保护簧21的上部呈固定布置,保护簧21的下部与拉力传感器2呈连接布置,保护簧21用于防止拉力传感器2过压;在保护簧21的作用下,对拉力传感器2起到保护作用。
44.另外,在保护簧21的作用下,防止过压行程超过,对拉力传感器起到保护作用,减缓过压的形成。
45.在下压过程时,保护簧21呈压缩布置,下压力经过保护簧21的缓冲后,减缓后再施加拉力传感器2,有效避免过压造成拉力传感器2的损坏。
46.保护簧21呈拉伸过程时,经过保护簧21的缓冲后,有效避免过压造成拉力传感器2的损坏。
47.驱动结构4包括驱动电机、驱动轴和驱动架,驱动电机与驱动轴呈连接布置,驱动轴嵌设且与驱动架呈连接布置,驱动电机用于驱动驱动架沿键盘5的方向呈往复移动布置;拉力传感器2、勾头件1和下压器3分别安设驱动架布置;实现对勾头件1和下压器3进行驱动。
48.以上所述仅为本实用新型的较佳实施例而已,并不用以限制本实用新型,凡在本实用新型的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换和改进等,均应包含在本实用新型的保护范围之内。
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