勾头式键帽拉拔力测试装置的制作方法

技术特征：
1.勾头式键帽拉拔力测试装置，其特征在于，包括勾头件，所述勾头件移动用于朝上拉起键帽，所述勾头件包括勾台，所述勾台具有勾面呈倾斜布置，所述勾面用于抵触拉起所述键帽，进行测试时，所述勾面用于将所述键帽由下往上顶升布置。2.如权利要求1所述的勾头式键帽拉拔力测试装置，其特征在于，所述勾头式键帽拉拔力测试装置包括驱动结构、拉力传感器和下压器，所述驱动结构用于驱动所述勾头件沿键盘的长度方向呈往复移动布置，所述下压器和所述拉力传感器分别安设所述驱动结构，所述下压器用于下压固定所述键盘，所述拉力传感器与所述勾头件呈上下连接布置，所述拉力传感器用于测试和反馈所述勾头件的拉力数据。3.如权利要求2所述的勾头式键帽拉拔力测试装置，其特征在于，所述勾台具有圆头部，所述圆头部沿朝向所述键帽方向呈弧形拱起布置。4.如权利要求3所述的勾头式键帽拉拔力测试装置，其特征在于，所述勾台具有水平面，所述水平面呈水平布置，所述水平面的一端呈活动布置，所述水平面的另一端与所述勾面呈对接布置，所述勾面沿背离所述水平面方向逐渐朝下呈倾斜布置；所述勾头件包括凸台，所述凸台与所述勾台的下部呈连接布置，且所述凸台呈扁平状布置，所述凸台沿背离所述勾台方向呈凸起布置。5.如权利要求4所述的勾头式键帽拉拔力测试装置，其特征在于，所述勾头件包括勾板，所述勾板呈纵向布置，所述勾板具有板面，所述勾台抵触所述板面布置，所述板面与所述勾面形成沟槽，测试时，所述键帽朝向所述沟槽方向移动且嵌设所述沟槽。6.如权利要求5所述的勾头式键帽拉拔力测试装置，其特征在于，所述勾头件包括对接板与连接板，所述对接板的上部与所述拉力传感器呈连接布置，所述对接板的下部与所述连接板的上部呈连接布置，所述连接板的下部与所述勾板呈连接布置，所述连接板呈上大下小梯台状布置，所述连接板的下部形成下台，所述勾板呈长条状布置，所述勾板与所述下台呈对齐布置。7.如权利要求2-6任意一项所述的勾头式键帽拉拔力测试装置，其特征在于，所述下压器包括第一下压件和第二下压件，所述第一下压件和所述第二下压件分别安设所述驱动结构，且所述第一下压件和所述第二下压件呈间隔对应布置，所述勾头件处于所述第一下压件与所述第二下压件之间布置；所述第一下压件和所述第二下压件同步抵触所述键帽，且所述第一下压件和所述第二下压件分别对不同所述键帽施加下压力。8.如权利要求7所述的勾头式键帽拉拔力测试装置，其特征在于，所述第一下压件包括第一下压电机、第一下压轴和第一滚轮，所述第一下压电机与所述第一下压轴的上部呈连接布置，且所述第一下压电机用于驱动所述第一下压轴朝下移动布置，所述第一下压轴的下部与所述第一滚轮呈活动连接布置，所述第一滚轮受外力呈滚动布置，所述第一滚轮用于对键帽施加下压力；所述第二下压件包括第二下压电机、第二下压轴和第二滚轮，所述第二下压电机与所述第二下压轴的上部呈连接布置，且所述第二下压电机用于驱动所述第二下压轴朝下移动布置，所述第二下压轴的下部与所述第二滚轮呈活动连接布置，所述第二滚轮受外力呈滚动布置，所述第二滚轮用于对键帽施加下压力。9.如权利要求8所述的勾头式键帽拉拔力测试装置，其特征在于，所述第一下压件包括第一轮壳、第一下压簧以及第一旋拧件，所述第一滚轮的上部嵌设所述第一轮壳，所述第一滚轮与所述第一轮壳呈转动连接布置，所述第一下压簧套设所述第一下压轴布置，所述第
一旋拧件与所述第一下压轴呈螺纹连接布置，所述第一下压簧的上部与所述第一旋拧件呈连接布置，所述第一下压簧的下部与所述第一轮壳呈连接布置，所述第一下压簧用于对所述第一轮壳和所述第一滚轮施加下压力。10.如权利要求2-6任意一项所述的勾头式键帽拉拔力测试装置，其特征在于，所述驱动结构包括保护器，所述拉力传感器与所述保护器呈连接布置；所述保护器包括保护轴和保护簧，所述保护簧套设所述保护轴布置，所述保护轴的上部呈固定布置，所述保护轴的下部与所述拉力传感器呈连接布置，所述保护簧的上部呈固定布置，所述保护簧的下部与所述拉力传感器呈连接布置，所述保护簧用于防止所述拉力传感器过压。

技术总结
本实用新型涉及键帽拉拔力测试的技术领域，公开了勾头式键帽拉拔力测试装置，包括勾头件，勾头件移动用于朝上拉起键帽，勾头件包括勾台，勾台具有勾面呈倾斜布置，勾面用于抵触拉起键帽，进行测试时，勾面用于将键帽由下往上顶升布置。进行测试时，勾头件呈移动布置，直至移动至勾面抵触键帽，实现勾面将键帽由下往上顶升，实现对键帽的拉拔力进行测试；同时，克服键帽与键帽之间的间隔，对相邻键帽测试时，勾头件无需重新上下拉升，省去重复上下移动及重复左右移动的时间，提高测试效率。提高测试效率。提高测试效率。


技术研发人员：赖贵城
受保护的技术使用者：深圳安格仪器有限公司
技术研发日：2021.10.26
技术公布日：2022/12/30