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一种微生物分离检测装置的制作方法

2022-10-26 05:05:23 来源:中国专利 TAG:

技术特征:
1.一种微生物分离检测装置,其结构包括:电源插座(1)、主机箱(2)、显示端(3)、调控键(4)、检测机构(5)、封闭盖(6),其特征在于:所述电源插座(1)嵌入于主机箱(2)的侧端位,所述显示端(3)安装于主机箱(2)表端,所述调控键(4)设置于显示端(3)的侧方并均与主机箱(2)进行通电链接,所述检测机构(5)安装于主机箱(2)内部并与显示端(3)、调控键(4)进行通电链接,所述封闭盖(6)设置于检测机构(5)上方。2.根据权利要求1所述的一种微生物分离检测装置,其特征在于:所述检测机构(5)设有检测腔(51)、震动夹块(52)、存放管(53)、引入槽(54)、取放块(55),所述检测腔(51)内侧与震动夹块(52)进行通电连接,所述存放管(53)贯穿于震动夹块(52)的中心部位并进行定位连接,所述引入槽(54)下端与存放管(53)上端相通,所述引入槽(54)贯穿于取放块(55)中心,所述取放块(55)下端与存放管(53)进行固定连接。3.根据权利要求2所述的一种微生物分离检测装置,其特征在于:所述存放管(53)设有实心环(531)、容纳槽(532)、定位轴(533)、震动装置(534)、通电轴(535)、电连接块(536)、加固块(537),所述实心环(531)内侧与容纳槽(532)为一体化结果,所述定位轴(533)竖直安装于容纳槽(532)的中心部位,所述震动装置(534)嵌入于定位轴(533)的中心点当中,所述通电轴(535)设置于震动装置(534)两侧,所述电连接块(536)与通电轴(535)进行通电连接,所述加固块(537)焊接于电连接块(536)两侧。4.根据权利要求3所述的一种微生物分离检测装置,其特征在于:所述震动装置(534)设有定位槽(a1)、通电槽(a2)、震动环(a3)、滑轨(a4)、去除体(a5)、顶杆(a6)、转轮(a7),所述定位槽(a1)与通电槽(a2)为同一圆心并均与震动环(a3)外层相连接,所述滑轨(a4)嵌入于震动环(a3)内侧,所述去除体(a5)与滑轨(a4)进行间隙配合并与震动环(a3)表层相贴合,所述顶杆(a6)固定于去除体(a5)的底部,所述转轮(a7)与顶杆(a6)进行活动配合。5.根据权利要求4所述的一种微生物分离检测装置,其特征在于:所述去除体(a5)设有限位块(a51)、连接槽(a52)、滚珠(a53)、拼装层(a54)、螺钉(a55)、刮块(a56),所述限位块(a51)中心底部与连接槽(a52)为一体化结构,所述滚珠(a53)嵌入于限位块(a51)的中心部位并进行间隙配合,所述拼装层(a54)设置于滚珠(a53)上方,所述螺钉(a55)与拼装层(a54)进行螺纹连接,所述刮块(a56)通过螺钉(a55)与拼装层(a54)进行固定连接并与滚珠(a53)进行活动连接。6.根据权利要求2所述的一种微生物分离检测装置,其特征在于:所述取放块(55)设有实心体(551)、夹块(552)、螺纹层(553)、连接件(554),所述实心体(551)内侧与夹块(552)进行定位连接,所述螺纹层(553)设置于夹块(552)下方,所述螺纹层(553)与连接件(554)为一体化结构。7.根据权利要求6所述的一种微生物分离检测装置,其特征在于:所述夹块(552)设有拆装条(b1)、贴合层(b2)、卡合槽(b3)、橡胶体(b4)、接触层(b5),所述拆装条(b1)下端与贴合层(b2)为一体化结构,所述贴合层(b2)与卡合槽(b3)相贴合,所述橡胶体(b4)与卡合槽(b3)为一体化结构,所述接触层(b5)安装于橡胶体(b4)的表端。8.根据权利要求7所述的一种微生物分离检测装置,其特征在于:所述接触层(b5)设有表层(b51)、定位组(b52)、中心轴(b53)、平衡杆(b54)、滚动体(b55),所述表层(b51)内侧中心于定位组(b52)进行焊接连接,所述中心轴(b53)嵌入于定位组(b52)的中心部位,所述平衡杆(b54)设置于中心轴(b53)两侧,所述滚动体(b55)嵌入于中心轴(b53)当中并进行间隙
配合。

技术总结
本发明提供一种微生物分离检测装置,其结构包括电源插座、主机箱、显示端、调控键、检测机构、封闭盖,电源插座嵌入于主机箱的侧端位,显示端安装于主机箱表端,调控键设置于显示端的侧方并均与主机箱进行通电链接,检测机构安装于主机箱内部并与显示端、调控键进行通电链接,封闭盖设置于检测机构上方;本发明由检测机构进一步改进后,其可通过检测腔的震动夹块来将存放管的位置进行限定,从而搭配存放管内部的震动装置进行内外一同对容纳槽的微生物以及液体进行全方位抖动,使微生物受力后能够完全充斥整体容纳槽,为此提高微生物的活性,防止沉淀后形成的检测腔无法对微生物进行全方位检测的情况,提高检测装置的检测完全性。提高检测装置的检测完全性。提高检测装置的检测完全性。


技术研发人员:林茹南
受保护的技术使用者:林茹南
技术研发日:2022.07.22
技术公布日:2022/10/25
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