一种芯片储存与更新装置的制作方法

1.本实用新型涉及微流控芯片技术领域，特别是涉及一种芯片储存与更新装置。


背景技术：

2.微流控芯片技术可将生物、化学、医学分析过程的样品制备、反应、分离、检测等基本操作单元集成到一块几个平方厘米的芯片上，以可控流体贯穿整个系统，用以替代常规化学或生物实验室的各种功能，有着体积轻巧、使用样品及试剂量少、能耗低、反应速度快、可大量平行处理及可即用即弃等优点。目前，微流控芯片在生物医学检测领域中具有巨大的发展潜力和广泛的应用前景。目前，一次性使用的芯片产品一般为独立包装，利用芯片检测样品时，需要先打开芯片的外包装，并将芯片放于温控设备中进行检测反应，最后将使用过得芯片丢弃到垃圾桶中，整流程操作繁琐、耗时。


技术实现要素：

3.为解决以上技术问题，本实用新型提供一种芯片储存与更新装置，实现了芯片的快速更新与检测，操作简便，节省了时间。
4.为实现上述目的，本实用新型提供了如下方案：
5.本实用新型提供一种芯片储存与更新装置，包括推板放置箱、芯片储存箱、芯片反应箱、芯片废弃箱、推进板、弹性支撑组件、顶部限位组件和两个隔板，所述推板放置箱、所述芯片储存箱、所述芯片反应箱和所述芯片废弃箱依次连接，所述芯片储存箱和所述芯片废弃箱均为上端敞口结构，两个所述隔板分别设置于所述推板放置箱上端的左右两侧，所述隔板的长度延伸方向与所述推板放置箱、所述芯片储存箱和所述芯片反应箱的排列方向相同，且所述隔板由所述推板放置箱延伸至所述芯片反应箱，所述顶部限位组件设置于所述推板放置箱和所述芯片储存箱的上端，所述隔板的顶端与所述顶部限位组件之间存在空隙；所述弹性支撑组件设置于所述芯片储存箱中，所述弹性支撑组件上用于放置芯片，所述推进板的两端分别与两个所述隔板滑动安装，所述推进板用于将所述芯片储存箱中的所述芯片推动至所述芯片反应箱，所述芯片反应箱用于放置温控设备，所述顶部限位组件用于对所述推进板的顶部和所述芯片的顶部进行限位。
6.优选地，所述弹性支撑组件包括第一弹性部件和底板，所述底板水平设置于所述芯片储存箱中，且所述第一弹性部件的两端分别与所述底板和所述芯片储存箱的底面连接，所述底板上用于放置所述芯片。
7.优选地，所述顶部限位组件包括两个侧板和限位部件，两个所述侧板分别设置于所述推板放置箱上端的左右两侧，所述侧板的长度延伸方向与所述推板放置箱、所述芯片储存箱和所述芯片反应箱的排列方向相同，且所述侧板由所述推板放置箱延伸至所述芯片反应箱，各所述侧板位于一个所述隔板的外侧，且所述侧板与所述隔板之间存在空隙，所述限位部件安装于两个所述侧板的顶端，所述限位部件由所述推板放置箱延伸至所述芯片储存箱，所述隔板的顶端与所述限位部件之间存在空隙。
8.优选地，所述限位部件包括两个顶板，各所述侧板的顶部固定有一个水平设置的所述顶板，所述顶板远离所述侧板的一端相对于所述隔板朝向内侧延伸设置，所述隔板的顶端与所述顶板之间存在空隙，所述顶板由所述推板放置箱延伸至所述芯片储存箱。
9.优选地，所述限位部件为封闭板，所述封闭板的两端分别与两个所述侧板的顶部连接，所述隔板的顶端与所述封闭板之间存在空隙，所述封闭板由所述推板放置箱延伸至所述芯片储存箱。
10.优选地，还包括两个安装板和两个第二弹性部件，各所述安装板固定于一个所述侧板和一个所述隔板之间，且所述安装板位于所述芯片储存箱靠近所述芯片反应箱的一端；所述推进板包括端部推板和加长推板，所述加长推板固定于所述端部推板的后部，所述端部推板下部的两侧分别设置有一个滑槽，各所述滑槽滑动安装于一个所述隔板上，所述加长推板位于两个所述隔板之间，各所述第二弹性部件位于一个所述侧板和一个所述隔板之间，各所述第二弹性部件的两端分别与一个所述安装板和所述端部推板的一侧连接。
11.优选地，还包括两个挡板，各所述挡板固定于一个所述侧板和一个所述隔板之间，所述挡板位于所述芯片储存箱的上方，且所述挡板位于所述安装板远离所述芯片反应箱的一侧，所述挡板中部设置有供所述第二弹性部件穿过的通孔。
12.优选地，所述加长推板的长度等于所述挡板与所述芯片储存箱的尾端之间的距离，所述推板放置箱的长度大于所述加长推板的长度；所述芯片的厚度等于所述隔板的高度与所述隔板的顶面和所述顶板的底面之间的间隙的高度之和，两个所述隔板之间的距离与所述芯片的宽度相同。
13.优选地，还包括托板，所述托板设置于所述芯片反应箱尾端的上部，且所述托板的上表面由靠近所述芯片反应箱的一端至远离所述芯片反应箱的一端向上倾斜设置。
14.优选地，还包括两个端面板，各所述端面板固定于一个所述侧板和一个所述隔板的头端，所述端面板远离所述侧板的一端相对于所述隔板朝向内侧延伸设置。
15.本实用新型相对于现有技术取得了以下技术效果：
16.本实用新型提供的芯片储存与更新装置，包括推板放置箱、芯片储存箱、芯片反应箱、芯片废弃箱、推进板、弹性支撑组件、顶部限位组件和两个隔板，推板放置箱用于放置推动芯片移动的推进板，芯片储存箱用于存放未使用的新芯片。通过推动推板放置箱上的推进板，可以将芯片储存箱的芯片推动到芯片反应箱，芯片反应箱下方的空腔可用于放置温控设备，为芯片检测提供所需温度。芯片废弃箱用于盛放芯片反应箱使用过的芯片，当芯片反应箱的芯片使用完毕，需要更新为新的芯片时，可通过推动推进板将新芯片推动到芯片反应箱，与此同时，原来处于芯片反应箱的芯片在新芯片的推动下离开芯片反应箱掉入到芯片废弃箱中。可见，该装置可储存芯片，且可通过推动推进板将储存的芯片直接推到芯片反应箱，用于对待测样品进行检测，实现了芯片的快速更新与检测，操作简便，为整个操作进程节省时间。
附图说明
17.为了更清楚地说明本实用新型实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本实用新型的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这
些附图获得其他的附图。
18.图1为本实用新型的实施例一提供的芯片储存与更新装置的外部结构示意图；
19.图2为本实用新型的实施例一提供的芯片储存与更新装置中推板放置箱安装有推进板时的结构示意图；
20.图3为本实用新型的实施例一提供的芯片储存与更新装置中推板放置箱未安装推进板时的结构示意图；
21.图4为本实用新型的实施例一提供的芯片储存与更新装置中推进板的结构示意图；
22.图5为本实用新型的实施例一提供的芯片储存与更新装置中芯片储存箱中放置有芯片时的结构示意图；
23.图6为本实用新型的实施例一提供的芯片储存与更新装置中芯片储存箱未放置芯片时的结构示意图；
24.图7为本实用新型的实施例一提供的芯片储存与更新装置中芯片反应箱的结构示意图；
25.图8为本实用新型的实施例一提供的芯片储存与更新装置的内部结构示意图；
26.图9为本实用新型的实施例二提供的芯片储存与更新装置的外部结构示意图。
27.附图标记说明：100、芯片储存与更新装置；1、推板放置箱；2、芯片储存箱；3、芯片反应箱；4、芯片废弃箱；5、侧板；6、隔板；7、顶板；8、底板；9、第一弹性部件；10、推进板；101、端部推板；102、加长推板；103、滑槽；11、第二弹性部件；12、安装板；13、挡板；14、托板；15、端面板；16、芯片；17、封闭板。
具体实施方式
28.下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。
29.本实用新型的目的是提供一种芯片储存与更新装置，实现了芯片的快速更新与检测，操作简便，节省了时间。
30.为使本实用新型的上述目的、特征和优点能够更加明显易懂，下面结合附图和具体实施方式对本实用新型作进一步详细的说明。
31.实施例一：
32.如图1-图8所示，本实施例提供一种芯片储存与更新装置100，包括推板放置箱1、芯片储存箱2、芯片反应箱3、芯片废弃箱4、推进板10、弹性支撑组件、顶部限位组件和两个隔板6，推板放置箱1、芯片储存箱2、芯片反应箱3和芯片废弃箱4依次连接，芯片储存箱2和芯片废弃箱4均为上端敞口结构，推板放置箱1和芯片反应箱3均为上端封闭结构，两个隔板6分别设置于推板放置箱1上端的左右两侧，隔板6的长度延伸方向与推板放置箱1、芯片储存箱2和芯片反应箱3的排列方向相同，且隔板6由推板放置箱1延伸至芯片反应箱3。顶部限位组件设置于推板放置箱1和芯片储存箱2的上端，隔板6的顶端与顶部限位组件之间存在空隙。弹性支撑组件设置于芯片储存箱2中，弹性支撑组件上用于放置芯片16，推进板10的
两端分别与两个隔板6滑动安装，推进板10位于两个顶板7的下方，推进板10用于将芯片储存箱2中的芯片16推动至芯片反应箱3，从而使得芯片反应箱3上原有的芯片16被推入芯片废弃箱4，实现芯片16的更新；芯片废弃箱4用于盛放废弃的芯片16，芯片反应箱3用于放置温控设备，顶部限位组件用于对推进板10的顶部和芯片16的顶部进行限位，顶部限位组件能够将推进板10底面限制在推板放置箱1上表面的水平面。
33.具体地，顶部限位组件包括两个侧板5和限位部件，两个侧板5分别设置于推板放置箱1上端的左右两侧，侧板5的长度延伸方向与推板放置箱1、芯片储存箱2和芯片反应箱3的排列方向相同，且侧板5由推板放置箱1延伸至芯片反应箱3，各侧板5位于一个隔板6的外侧，且侧板5与隔板6之间存在空隙，侧板5和隔板6均竖直设置；限位部件安装于两个侧板5的顶端，限位部件由推板放置箱1延伸至芯片储存箱2，隔板6的顶端与限位部件之间存在空隙。
34.于本具体实施例中，限位部件包括两个顶板7，各侧板5的顶部固定有一个水平设置的顶板7，顶板7远离侧板5的一端相对于隔板6朝向内侧延伸设置，隔板6的顶端与顶板7之间存在空隙，顶板7由推板放置箱1延伸至芯片储存箱2。
35.具体地，侧板5由推板放置箱1的头端延伸至芯片反应箱3的尾端，隔板6由推板放置箱1的头端延伸至芯片反应箱3的尾端，顶板7由推板放置箱1的头端延伸至芯片储存箱2的尾端。
36.如图5和图6所示，弹性支撑组件包括第一弹性部件9和底板8，底板8水平设置于芯片储存箱2中，且第一弹性部件9的两端分别与底板8和芯片储存箱2的底面连接，底板8的上方形成储存腔，底板8上用于放置芯片16。具体地，在第一弹性部件9的弹力作用下，储存腔中的芯片16可以被顶出储存腔，同时，由于顶板7的存在，当芯片16被顶出至顶板7时不再向上移动，即顶板7对芯片16的顶部进行限位。
37.如图8所示，本实施例中还包括两个安装板12和两个第二弹性部件11，各安装板12固定于一个侧板5和一个隔板6之间，且安装板12位于芯片储存箱2靠近芯片反应箱3的一端。如图2-图4所示，推进板10包括端部推板101和加长推板102，加长推板102固定于端部推板101的后部，端部推板101下部的两侧分别设置有一个滑槽103，各滑槽103滑动安装于一个隔板6上，加长推板102位于两个隔板6之间，各第二弹性部件11位于一个侧板5和一个隔板6之间，各第二弹性部件11的两端分别与一个安装板12和端部推板101的一侧连接。可见，端部推板101的两侧跨过两个隔板6，且能够沿两个隔板6的长度延伸方向往复滑动，进而带动加长推板102往复移动，在无外力推动下，第二弹性部件11的弹力通过推动端部推板101保持加长推板102位于推板放置箱1上。
38.如图8所示，本实施例中还包括两个挡板13，各挡板13固定于一个侧板5和一个隔板6之间，挡板13位于芯片储存箱2的上方，且挡板13位于安装板12远离芯片反应箱3的一侧，挡板13中部设置有供第二弹性部件11穿过的通孔。于本具体实施例中，加长推板102的长度等于挡板13与芯片储存箱2的尾端之间的距离，推板放置箱1的长度大于加长推板102的长度。
39.当推动推进板10时，可通过加长推板102推动芯片储存箱2的芯片16向芯片反应箱3移动。当推进板10的端部推板101被推到挡板13的位置时，由于挡板13的存在，无法将推进板10继续向前推进，此时，加长推板102的尾端刚好处于芯片储存箱2与芯片反应箱3的分界
线。当撤回对推进板10的推力，推进板10在第二弹性部件11的弹力作用下重新回到推板放置箱1，此时，芯片储存箱2下方储存的芯片16在下方的第一弹性部件9的推力作用下被顶出，即一张新的芯片16被自动补充到芯片储存箱2的上部。
40.于本具体实施例中，芯片16的厚度等于隔板6的高度与隔板6的顶面和顶板7的底面之间的间隙的高度之和，两个隔板6之间的距离与芯片16的宽度相同。
41.如图7所示，本实施例中还包括托板14，托板14设置于芯片反应箱3尾端的上部，且托板14的上表面由靠近芯片反应箱3的一端至远离芯片反应箱3的一端向上倾斜设置，托板14的下表面水平设置。托板14对芯片16起到一定的阻挡固定作用。具体地，当芯片16被从芯片储存箱2推到芯片反应箱3时，该托板14可以防止芯片16由于惯性向芯片废弃箱4的方向偏移；同时，该托板14不会完全阻挡芯片16的移动，当芯片储存箱2中新的芯片16向芯片反应箱3移动，推动芯片反应箱3的芯片16时，芯片反应箱3的芯片16在推力作用下可以正常向芯片废弃箱4移动，最终掉入芯片废弃箱4。
42.具体地，托板14的上表面与水平面之间的夹角为25
°
~35
°
。于本具体实施例中，托板14的上表面与水平面之间的夹角为30
°
。
43.如图2所示，本实施例中还包括两个端面板15，各端面板15固定于一个侧板5和一个隔板6的头端，端面板15远离侧板5的一端相对于隔板6朝向内侧延伸设置，通过设置端面板15来限位，进而避免推进板10的端部推板101由隔板6上脱出。具体地，端面板15的宽度与顶板7的宽度相同。
44.于本具体实施例中，第一弹性部件9和第二弹性部件11均为弹簧。
45.由此可知，本实施例中推板放置箱1用于放置推动芯片16移动的推进板10，芯片储存箱2用于存放未使用的新芯片16。通过推动推板放置箱1上的推进板10，可以将芯片储存箱2的芯片16推动到芯片反应箱3，芯片反应箱3下方的空腔可用于放置温控设备，为芯片16检测提供所需温度。芯片废弃箱4用于盛放芯片反应箱3使用过的芯片16，当芯片反应箱3的芯片16使用完毕，需要更新为新的芯片16时，可通过推动推进板10将新芯片16推动到芯片反应箱3，与此同时，原来处于芯片反应箱3的芯片16在新芯片16的推动下离开芯片反应箱3掉入到芯片废弃箱4中。可见，该装置可储存芯片16，且可通过推动推进板10将储存的芯片16直接推到芯片反应箱3，用于对待测样品进行检测，实现了芯片16的快速更新与检测，操作简便，为整个操作进程节省时间。此外，本实施例中的芯片储存与更新装置100可被放置于自动化检测装置中，作为整个自动化检测系统的部件，系统检测所需的芯片16可被预先储存于本实施例中的芯片储存与更新装置100中，使系统在使用过程的芯片16更替操作更加简便。
46.实施例二：
47.如图9所示，本实施例中的限位部件为封闭板17，封闭板17的两端分别与两个侧板5的顶部连接，隔板6的顶端与封闭板17之间存在空隙，封闭板17由推板放置箱1延伸至芯片储存箱2，进而使芯片储存箱2处于半密闭状态，从而避免芯片储存箱2的芯片16长时间暴露于空气中，减少环境物质对芯片储存箱2的芯片16的污染。同时，由于封闭板17的存在，当芯片16被顶出至封闭板17时不再向上移动，即封闭板17对芯片16的顶部进行限位。
48.于本具体实施例中，推进板10也可通过其它方式来回移动，例如，在推进板10的前端或两侧加上推拉杆，通过推动推拉杆实现推进板10的前后移动。
49.本说明书中应用了具体个例对本实用新型的原理及实施方式进行了阐述，以上实施例的说明只是用于帮助理解本实用新型的方法及其核心思想；同时，对于本领域的一般技术人员，依据本实用新型的思想，在具体实施方式及应用范围上均会有改变之处。综上，本说明书内容不应理解为对本实用新型的限制。