一种测试装置的制作方法

技术特征：
1.一种测试装置，其特征在于，包括至少一个测试板主体，所述测试板主体包括第一连接接口、第二连接接口、处理器模块以及多个测试座；所述第一连接接口，用于接收测试指令，并与测试主机进行测试数据交互，其中，所述测试指令和所述测试数据均由所述测试主机生成；所述第二连接接口，用于与其余任一测试板主体中的第二连接接口进行测试数据交互以及测试指令交互；所述处理器模块，分别与所述第一连接接口和所述第二连接接口电连接，用于从所述第一连接接口或所述第二连接接口获取到测试指令后，将所述第一连接接口或所述第二连接接口获取到的测试数据传输到对应的测试座；所述多个测试座，均与所述处理器模块电连接，用于将来自所述第一连接接口或所述第二连接接口的测试数据传输到对应的待测存储器，并对所述待测存储器进行测试。2.根据权利要求1所述的测试装置，其特征在于，所述第二连接接口包括：输出端，用于向其余任一测试板主体中第二连接接口的输入端发送测试指令以及测试数据；输入端，用于接收来自其余任一测试板主体中第二连接接口的输出端输出的测试指令以及测试数据。3.根据权利要求2所述的测试装置，其特征在于，所述测试板主体还包括：连接组件，用于进行测试板主体之间的连接。4.根据权利要求3所述的测试装置，其特征在于，所述测试板主体为多边形的电路板；所述输出端和所述输入端分别设置于所述电路板的不同侧的边缘。5.根据权利要求4所述的测试装置，其特征在于，所述输出端和所述输入端分别设置于所述电路板的相对侧的边缘；设置所述输出端所在的电路板边缘为第一侧边缘，设置所述输入端所在的电路板边缘为第二侧边缘；所述第一连接接口设置于所述电路板的边缘，设置所述第一连接接口所在的电路板边缘为第三侧边缘；所述第三侧边缘与所述第一侧边缘相邻，且所述第三侧边缘与所述第二侧边缘相邻。6.根据权利要求5所述的测试装置，其特征在于，设置于所述第一侧边缘的输出端与设置于所述第二侧边缘的输入端部分相对。7.根据权利要求6所述的测试装置，其特征在于，所述第一连接接口包括从第三侧边缘向外凸出的第一插件，用于插入所述测试主机以实现与所述测试主机电连接；所述输出端的中心点到所述第三侧边缘的距离与所述输入端的中心点到所述第三侧边缘的距离之差大于或等于所述第一插件插入所述测试主机的深度；或者，所述输入端的中心点到所述第三侧边缘的距离与所述输出端的中心点到所述第三侧边缘的距离之差大于或等于所述第一插件插入所述测试主机的深度。8.根据权利要求4所述的测试装置，其特征在于，所述连接组件包括多个连接部件，一部分连接部件设置于与所述输出端同一侧的电路板边缘，另一部分连接部件设置于与所述输入端同一侧的电路板边缘。9.根据权利要求8所述的测试装置，其特征在于，至少一个所述连接部件与所述输出端
或所述输入端的一端相邻，且至少一个所述连接部件与所述输出端或所述输入端的另一端相邻。10.根据权利要求9所述的测试装置，其特征在于，所述连接组件还包括多个子连接件，每个所述子连接件与对应的连接部件配合。11.根据权利要求10所述的测试装置，其特征在于，所述输出端为从电路板边缘向外凸出的第二插件；所述输入端为与所述第二插件匹配的插槽。12.根据权利要求11所述的测试装置，其特征在于，与所述输出端位于同一侧的连接部件为从电路板边缘向外凸出的凸出部，且所述凸出部设有第一定位孔；与所述输入端位于同一侧的连接部件为与所述第一定位孔相同的第二定位孔；所述子连接件为用于穿过所述第一定位孔与所述第二定位孔的定位栓。

技术总结
本申请公开了一种测试装置包括至少一个测试板主体，所述测试板主体包括：第一连接接口，用于接收测试指令，并与测试主机进行测试数据交互；第二连接接口，用于与其余任一测试板主体中的第二连接接口进行测试数据交互以及测试指令交互；处理器模块，用于从所述第一连接接口或所述第二连接接口获取到测试指令后，将所述第一连接接口或所述第二连接接口获取到的测试数据传输到对应的测试座；多个测试座，用于将来自所述第一连接接口或所述第二连接接口的测试数据传输到对应的待测存储器，并对所述待测存储器进行测试。本申请能够同时对多个存储器进行测试，从而提高测试效率，降低生产成本。生产成本。生产成本。


技术研发人员：朱玉龙
受保护的技术使用者：深圳宏芯宇电子股份有限公司
技术研发日：2022.04.12
技术公布日：2022/8/26