半导体二极管测试组件的制作方法

1.本实用新型涉及半导体测试技术领域，具体涉及一种半导体二极管测试组件。


背景技术：

2.半导体二极管是指利用半导体特性的两端电子器件。最常见的半导体二极管是pn结型二极管和金属半导体接触二极管。它们的共同特点是伏安特性的不对称性，即电流沿其一个方向呈现良好的导电性，而在相反方向呈现高阻特性。可用作为整流、检波、稳压、恒流、变容、开关、发光及光电转换等。
3.半导体二极管在制造完成后需要进行工作稳定性测试，目前的测试方式大多是利用驱动盘带动二极管在传输过程中与测试片发生瞬间接触来进行测试，每台测试机每小时约测试半导体二极管1.7万根，每台测试机一天产量约18万根左右，因此测试片需要频繁进行换新维护，普通测试片只能使用三周左右，在使用两周后就会出现因测试片的测试面磨损而造成测试面不平整导致半导体二极管的引线磨损、刮伤等现象；测试面与半导体二极管的引线接触不到位也会引起测试不良，材料误判、耽误正常生产效率，及产品良率的下降，降料再复测等一系列徒劳动作和徒劳工时。
4.但是，目前的测试片换新操作十分不便。


技术实现要素：

5.(一)解决的技术问题
6.针对现有技术的不足，本实用新型提供了一种半导体二极管测试组件，解决了测试片换新不便的问题。
7.(二)技术方案
8.为实现以上目的，本实用新型通过以下技术方案予以实现：
9.一种半导体二极管测试组件，所述测试组件包括：基座、安装轴和测试片；
10.所述基座的外壁设置有连接座，所述连接座的外端开设有卯眼；
11.所述安装轴的内端设置有与卯眼对应的榫头，所述安装轴与连接座通过榫头和卯眼卯榫连接；
12.所述测试片安装在安装轴上。
13.优选的，所述榫头开设有第一插孔，所述连接座开设有与第一插孔对应的第二插孔，所述榫头与卯眼连接时，第一插孔与第二插孔连通并通过插销固定。
14.优选的，所述测试片上焊接有引线，所述引线与测试机组电性连接。
15.优选的，所述测试片的底部焊接有钨钢片。
16.优选的，所述基座的外壁设置有牵引轴，所述牵引轴上设置有与测试片一一对应的螺栓，所述牵引轴沿径向开设有与螺栓一一对应的螺纹通道，所述螺栓与螺纹通道螺纹连接且贯穿牵引轴。
17.优选的，所述螺栓的头端开设有第一通孔，所述测试片的顶端开设有第二通孔，所
述第一通孔与第二通孔通过弹簧连接。
18.(三)有益效果
19.本实用新型提供了一种半导体二极管测试组件。与现有技术相比，具备以下有益效果：
20.本实用新型中，所述测试组件包括：基座、安装轴和测试片；基座的外壁设置有连接座，连接座的外端开设有卯眼；安装轴的内端设置有与卯眼对应的榫头，安装轴与连接座通过榫头和卯眼卯榫连接；测试片安装在安装轴上；测试片换新的过程中，直接将报废的测试片连同安装轴拔下，新的测试片连同新的安装轴与连接座插接即可完成换新，操作方便快捷。
附图说明
21.为了更清楚地说明本实用新型实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本实用新型的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
22.图1为本实用新型实施例中测试组件的俯视轴测图；
23.图2为本实用新型实施例中测试组件的爆炸图；
24.图3为本实用新型实施例中测试组件的仰视轴测图；
25.图4为图3中a处的放大图。
具体实施方式
26.为使本实用新型实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。
27.本技术实施例通过提供一种半导体二极管测试组件，解决了测试片换新不便的问题。
28.本技术实施例中的技术方案为解决上述技术问题，总体思路如下：
29.本实用新型实施例中，所述测试组件包括：基座、安装轴和测试片；基座的外壁设置有连接座，连接座的外端开设有卯眼；安装轴的内端设置有与卯眼对应的榫头，安装轴与连接座通过榫头和卯眼卯榫连接；测试片安装在安装轴上；测试片换新的过程中，直接将报废的测试片连同安装轴拔下，新的测试片连同新的安装轴与连接座插接即可完成换新，操作方便快捷。
30.为了更好的理解上述技术方案，下面将结合说明书附图以及具体的实施方式对上述技术方案进行详细的说明。
31.实施例：
32.如图1～3所示，本实用新型提供了一种半导体二极管测试组件，所述测试组件包括：基座10、安装轴20和测试片30；
33.所述基座10的外壁设置有连接座11，所述连接座11的外端开设有卯眼12；
34.所述安装轴20的内端设置有与卯眼12对应的榫头21，所述安装轴20与连接座11通过榫头21和卯眼12卯榫连接；
35.所述测试片30安装在安装轴20上。
36.测试片30换新的过程中，直接将报废的测试片30连同安装轴20拔下，新的测试片30连同新的安装轴20与连接座11插接即可完成换新，操作方便快捷。
37.如图1～3所示，所述榫头21开设有第一插孔22，所述连接座11开设有与第一插孔22对应的第二插孔13，所述榫头21与卯眼12连接时，第一插孔22与第二插孔13连通并通过插销40固定，防止安装轴20与连接座11的连接松动。
38.如图1～3所示，所述测试片30上焊接有引线31，所述引线31与测试机组电性连接，实现测试功能。
39.如图3、图4所示，所述测试片30的底部焊接有钨钢片32，用于提高测试片30的耐磨性能，提升测试片30的使用寿命，降低测试片30的换新频率。
40.如图1～3所示，所述基座10的外壁还设置有牵引轴50，所述牵引轴50上设置有与测试片30一一对应的螺栓51，所述牵引轴50沿径向开设有与螺栓51一一对应的螺纹通道，所述螺栓51与螺纹通道螺纹连接且贯穿牵引轴50。
41.如图1、图2所示，所述螺栓51的头端开设有第一通孔，所述测试片30的顶端开设有第二通孔，所述第一通孔与第二通孔通过弹簧60连接，所述弹簧60为测试片30提供旋转牵引力，以此保证测试片30的底面与每个半导体二极管的引线都接触到位，有效避免测试误判。
42.安装测试片30的过程中可以通过旋动螺栓51来调整牵引力大小，以此来对测试片30进行调试。
43.综上所述，与现有技术相比，本实用新型具备以下有益效果：
44.本实用新型实施例中，所述测试组件包括：基座、安装轴和测试片；基座的外壁设置有连接座，连接座的外端开设有卯眼；安装轴的内端设置有与卯眼对应的榫头，安装轴与连接座通过榫头和卯眼卯榫连接；测试片安装在安装轴上；测试片换新的过程中，直接将报废的测试片连同安装轴拔下，新的测试片连同新的安装轴与连接座插接即可完成换新，操作方便快捷。
45.需要说明的是，在本文中，诸如第一和第二等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来，而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。而且，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者设备不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者设备所固有的要素。在没有更多限制的情况下，由语句“包括一个
……”
限定的要素，并不排除在包括所述要素的过程、方法、物品或者设备中还存在另外的相同要素。
46.以上实施例仅用以说明本实用新型的技术方案，而非对其限制；尽管参照前述实施例对本实用新型进行了详细的说明，本领域的普通技术人员应当理解：其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分技术特征进行等同替换；而这些修改或者替换，并不使相应技术方案的本质脱离本实用新型各实施例技术方案的精神和范围。