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一种真空吸笔同轴度的校正治具的制作方法

2022-07-05 21:20:42 来源:中国专利 TAG:

技术特征:
1.一种真空吸笔同轴度的校正治具,其特征在于,其用于校正真空吸笔的同轴度,所述校正治具包括治具本体,所述治具本体的上表面开设有检测孔,所述检测孔的半径比所述真空吸笔的半径大0.01mm,所述治具本体的两侧开均设有固定孔,所述治具本体通过所述固定孔的固定。2.根据权利要求1所述的真空吸笔同轴度的校正治具,其特征在于,所述检测孔的直径为4.02mm。3.根据权利要求1所述的真空吸笔同轴度的校正治具,其特征在于,所述检测孔的同轴度为0.005mm。4.根据权利要求1所述的真空吸笔同轴度的校正治具,其特征在于,所述检测孔的深度为30mm。5.根据权利要求1所述的真空吸笔同轴度的校正治具,其特征在于,所述治具本体的长宽高分别为50mm,35mm,40mm。6.根据权利要求1所述的真空吸笔同轴度的校正治具,其特征在于,两个所述固定孔的圆心所形成的平面的平面度为0.005mm。7.根据权利要求1所述的真空吸笔同轴度的校正治具,其特征在于,所述固定孔为跑道型通孔。8.根据权利要求7所述的真空吸笔同轴度的校正治具,其特征在于,所述跑道型通孔的一侧设有对位刻度。9.根据权利要求1所述的真空吸笔同轴度的校正治具,其特征在于,所述检测孔的两侧均设置有定位柱,两个所述定位柱与所述检测孔的圆心的距离相等。10.根据权利要求9所述的真空吸笔同轴度的校正治具,其特征在于,两个所述定位柱的顶部固定有缓冲垫。

技术总结
本实用新型公开了一种真空吸笔同轴度的校正治具,其用于校正真空吸笔的同轴度,所述校正治具包括治具本体,所述治具本体的上表面开设有检测孔,所述检测孔的半径比所述真空吸笔的半径大0.01mm,所述治具本体的两侧开均设有固定孔,所述治具本体通过所述固定孔的固定。当真空吸笔可以在检测孔内正常转动时,则说明真空吸笔的安装已经满足同轴度的要求。该治具简单易用,经过简单培训即可轻松掌握使用技能,且每次调整和测量所消耗的时间极少,减少了大量的培训成本和时间成本,使得产品的制造成本降低,提高了产品的竞争力。提高了产品的竞争力。提高了产品的竞争力。


技术研发人员:王贺军
受保护的技术使用者:汕尾市汇正光学科技有限公司
技术研发日:2022.01.26
技术公布日:2022/7/4
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