反相积分峰值检测系统、方法及设备

1.本技术属于电路控制领域，具体涉及一种反相积分峰值检测系统、方法及设备。


背景技术：

2.在信号自动增益放大系统中，峰值检测系统负责对放大电路输出端信号的峰值检测，是信号自动增益放大系统的重要一环，其峰值检测的能力直接决定了信号自动增益放大系统的工作带宽，因此，研发峰值检测能力优秀的峰值检测系统至关重要。
3.传统的峰值检测系统，包括：使用有效值检测芯片，例如ad637、ltc1966等搭建峰值检测电路；或者，使用高速运放搭建峰值检测电路。
4.然而，常用的有效值检测芯片工作带宽通常在10mhz以内，最为常见的使用运放搭建的峰值检测电路尽管经过了各种改良，其有效工作带宽也很难超过20mhz，对于频率超过20mhz的待检测信号，存在难以检测峰值的问题。


技术实现要素：

5.本技术提供了反相积分峰值检测系统、方法及设备，可以解决常用的运放搭建的峰值检测电路，对于超过频率超过20mhz的待检测信号，存在难以检测峰值的问题。本技术提供如下技术方案：
6.第一方面，提供了一种反相积分峰值检测系统，所述系统包括：峰值比较电路、反相积分电路和单片机；所述峰值比较电路，用于接收参考信号和待检测信号，并将所述参考信号和所述待检测信号进行比较，输出高频脉冲信号；所述参考信号为由高到低扫描的直流信号；所述待检测信号为峰值不变的交流信号；所述反相积分电路，与所述峰值比较电路相连，用于接收所述峰值比较电路输出的所述高频脉冲信号；对所述高频脉冲信号进行积分处理，输出直流信号；所述单片机，与所述反相积分电路相相连，用于相连检测所述直流信号。
7.可选地，所述峰值比较电路包括：高速比较器；所述高速比较器，用于将所述参考信号和所述待检测信号进行比较，输出所述高频脉冲信号相连。
8.可选地，所述峰值比较电路还包括：第一电阻、第二电阻和第三电阻；所述第一电阻，用于所述高速比较器的同向输入端的阻抗匹配；所述第二电阻，用于所述高速比较器的反向输入端的阻抗匹配；所述第三电阻，用于所述高速比较器的输出端的负载匹配。
9.可选地，所述系统还包括供电组件；用于为所述系统供电；所述峰值比较电路，还包括：第一电容和第二电容；所述第一电容，用于降低所述供电组件产生信号的波动的干扰；所述第二电容，用于去除所述供电组件产生信号的高频噪声。
10.可选地，所述第一电容与所述第二电容并联；所述第一电容的电容大于所述第二电容的电容。
11.可选地，所述系统还包括数模转换电路；所述数模转换电路与所述峰值比较电路相连，用于生成所述参考信号，并将所述参考信号传输至所述峰值比较电路。
12.可选地，所述单片机还与所述数模转换电路相连，用于控制所述数模转换电路生成所述参考信号。
13.第二方面，提供了一种反相积分峰值检测方法，所述方法包括：
14.通过高速比较器接收待检测信号和参考信号，所述待检测信号为峰值不变的交流信号；所述参考信号为由高到低扫描的直流信号；通过高速比较器将所述待检测信号和所述参考信号进行比较；在所述参考信号的当前值等于或小于所述待检测信号的峰值时，通过所述高速比较器输出高频脉冲信号；将所述高频脉冲信号发送至反相积分电路；通过所述反相积分电路对所述高频脉冲信号进行积分处理，得到直流信号；通过单片机检测所述直流信号，确定所述待检测信号的峰值。
15.可选地，所述通过单片机检测所述直流信号，确定所述待检测信号的峰值，包括：在所述单片机检测到所述直流信号的情况下，确定所述参考信号的当前值为所述待检测信号的峰值。
16.第三方面，提供一种电子设备，包括存储器、控制器以及存储在存储器上并可在控制器上运行的计算机程序，所述控制器执行所述计算机程序时实现上述反相积分峰值检测方法的步骤。
17.本技术的有益效果至少包括：通过峰值比较电路接收参考信号和待检测信号，并将参考信号和待检测信号进行比较；输出高频脉冲信号；通过反相积分电路与峰值比较电路相连，接收峰值比较电路输出的高频脉冲信号；对高频脉冲信号进行积分处理，得到直流信号；通过单片机与反相积分电路相相连，检测直流信号。可以解决常用的运放搭建的峰值检测电路，对于超过频率超过20mhz的待检测信号，存在难以检测峰值的问题；将待检测信号和数模转换电路生成的参考信号送入峰值比较电路进行峰值比较，比较后产生的高频脉冲信号由反相积分电路积分处理，转换成可被单片机处理的直流信号。峰值比较电路选用高速比较器tlv3501，高速比较器的反向输入端输入单片机控制数模转换电路产生的参考信号，正向输入端输入待检测信号，进行对输入信号的比较处理；反向积分电路由运放芯片搭建而成，可以对经过峰值比较电路后生成的高频脉冲信号进行处理，使其转化为可被单片机检测的直流信号，从而检测出待检测信号的峰值。反相积分峰值检测系统可以对频率70mhz以内的高速信号进行有效可靠的峰值检测，提高峰值检测的频率范围。
附图说明
18.为了更清楚地说明本技术具体实施方式或现有技术中的技术方案，下面将对具体实施方式或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见，下面描述中的附图是本技术的一些实施方式，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
19.图1是本技术一个实施例提供的反相积分峰值检测系统的示意图；
20.图2是本技术一个实施例提供的峰值比较电路的示意图；
21.图3是本技术一个实施例提供的反相积分电路的示意图；
22.图4是本技术一个实施例提供的反相积分峰值检测方法的流程图；
23.图5是本技术一个实施例提供的待检测信号与参考信号的比较图；
24.图6是本技术一个实施例提供的另一个待检测信号与参考信号的比较图；
25.图7是本技术一个实施例提供的另一个待检测信号与参考信号的比较图；
26.图8是本技术一个实施例提供的峰值比较电路与反相积分电路的仿真原理图；
27.图9是本技术一个实施例提供的反相积分电路的积分图；
28.图10是本技术一个实施例提供的峰值检测的结果图；
29.图11是本技术一个实施例提供的另一个峰值检测的结果图；
30.图12是本技术一个实施例提供的待检测信号评率与误差率的关系图；
31.图13是本技术一个实施例提供的反相积分峰值检测装置的框图；
32.图14是本技术一个实施例提供的电子设备的框图。
具体实施方式
33.下面将结合附图对本技术的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本技术一部分实施例，而不是全部的实施例。下文中将参考附图并结合实施例来详细说明本技术。需要说明的是，在不冲突的情况下，本技术中的实施例及实施例中的特征可以相互组合。
34.需要说明的是，本技术的说明书和权利要求书及上述附图中的术语“第一”、“第二”等是用于区别类似的对象，而不必用于描述特定的顺序或先后次序。
35.在本技术中，在未作相反说明的情况下，使用的方位词如“上、下、顶、底”通常是针对附图所示的方向而言的，或者是针对部件本身在竖直、垂直或重力方向上而言的；同样地，为便于理解和描述，“内、外”是指相对于各部件本身的轮廓的内、外，但上述方位词并不用于限制本技术。
36.图1是本技术一个实施例提供的反相积分峰值检测系统的系统示意图。如图1所示，该系统至少包括：峰值比较电路110、反相积分电路120、单片机130和数模转换电路140(digital analog converter，dac)。
37.在本实施例中，峰值比较电路110用于接收参考信号和待检测信号，并将参考信号和待检测信号进行比较，输出高频脉冲信号。
38.其中，参考信号为由高到低扫描的直流信号；待检测信号可视为峰值不变的交流信号。
39.本实施例中，数模转换电路140与峰值比较电路110相连，用于生成参考信号，并将参考信号传输至峰值比较电路110；单片机130与数模转换电路140相连，用于控制数模转换电路140生成参考信号。
40.如图2所示，峰值比较电路110包括高速比较器tvl3501、第一电阻r1、第二电阻r2和第三电阻r3。
41.其中，高速比较器tvl3501包括同向输入端in 、反向输入端in-、输出端out和电源接入端v 。
42.在本实施例中，同向输入端in 用于接收待检测信号；反向输入端in-与数模转换电路140的相连，用于接收数模转换电路140输出的参考信号。
43.可选地，同向接入端in 采用sma(subminiature version a)接口j1，以确保待检测信号传输的精度。
44.同向输入段in 与第一电阻r1相连，第一电阻r1用于同向输入端in 的阻抗匹配。
45.在一个示例中，第一电阻r1的阻值可以为50ω。
46.相对应地，反向输入端in-与第二电阻r2相连，第二电阻r2用于反向输入端in-的阻抗匹配。
47.在一个示例中，第二电阻r2的阻值可以为10ω。
48.可选地，反相积分峰值检测系统还包括供电组件。为了让高速比较器tlv3501正常运行，还需要在高速比较器tlv3501的电源接入端v 接入供电组件。
49.由于，供电组件在供电时，存在产生干扰信号的可能，因此，为了避免高速比较器tlv3501受到干扰信号的影响，高速比较器tlv3501的电源接入端v 还与第一电容c1和第二电容c2相连。其中，第一电容c1与第二电容c2并联，且第一电容c1的电容大于第二电容c2的电容。
50.在本实施例中，第一电容c1用于稳定电压，降低供电组件产生信号的波动的干扰。第二电容c2为高频滤波电容，用于去除供电组件产生信号中的高频噪声。
51.在一个示例中，第一电容c1的电容可以为10uf；第二电容c2的电容可以为10nf。
52.高速比较器tlv3501在接收到待检测信号和参考信号后，将待检测信号与参考信号进行比较，得到比较结果，比较结果包括以下两种情况：
53.第一种，参考信号的当前值高于待检测信号的峰值时，则高速比较器tlv3501的输出端out无输出，即峰值比较电路110无输出。
54.第二种，参考信号的当前值等于或低于待检测信号的峰值时，高速比较器tlv3501的输出端out输出高频脉冲信号，即峰值比较电路110输出高频脉冲信号。
55.由于参考信号为由高到低扫描的直流信号，待检测信号可视为峰值不变的交流信号，因此，将参考信号和待检测信号进行比较是指，将待检测信号的峰值与参考信号的不同值的按照预设顺序进行对比，例如按照参考信号的值由高到低的顺序与待检测信号的峰值进行对比；或者按照参考信号的值由低到高的顺序与待检测信号的峰值进行对比，本实施例不对待检测信号与参考信号比较的实施方式作限定。
56.在参考信号的值恒大于待检测信号的峰值的情况下，高速比较器tlv3501的输出端out无输出；在参考信号的当前值等于或小于待检测信号的峰值的情况下，高速比较器tlv3501的输出端out输出高频脉冲信，停止待检测信号和参考信号的比较。
57.在本实施例中，高速比较器tlv3501的输出端out还与第三电阻r3相连。其中，第三电阻r3用于输出端out的负载匹配。
58.在一个示例中，第三电阻r3的阻值可以为50ω。
59.在高速比较器tlv3501的输出端out输出的高频脉冲信号后，由反相积分电路120接收。
60.反相积分电路120在接收到高频脉冲信号后，对高频脉冲信号进行积分处理，输出直流信号。
61.如图4所示，反相积分电路120包括芯片opa847、第四电阻r4、第五电阻r5、第六电阻r6和第三电容c3。
62.芯片opa847包括反向输入端vin-、输出端vout和电源接入端vs 。
63.其中，反向输入端vin-与峰值比较电路110的输出端相连，用于接收峰值比较电路输出110输出的高频脉冲信号。
64.可选地，反相积分电路120的输入端与峰值比较电路的输出端可以通过sma接口j2相连，以确保高频脉冲信号传输的精度。
65.芯片opa847的反向输入端vin-还与第四电阻r4相连，第四电阻r4为反相积分电路120的输入电阻。
66.在一个示例中，第四电阻r4的阻值可以为100kω。
67.芯片opa847的反向输入端vin-还分别与第三电容c3和第六电阻r6的一端相连，芯片opa847的输出端vout与第三电容c3与第六电阻r6的另一端相连。
68.其中，第三电容c3与第六电阻r6并联。
69.在一个示例中，第三电容c3的电容可以为100uf；第六电阻r6的阻值可以为50ω。
70.在本实施例中，第六电阻r6为积分漂移泄漏电阻，用于防止积分漂移所造成的饱和或截止现象。
71.其中，积分漂移是指在同向输入端vin 接地时，反向输入端vin-的输入不为零，输入的偏移量也被积分。
72.另外，芯片opa847的电源接入端vs 用于与供电组件相连，为芯片opa847供电，以保证芯片opa847的正常工作；芯片opa847还包括同向输入端vin ，同向输入端vin 与第五电阻r5相连。其中，第五电阻r5用于使同向输入端vin 断路。
73.在一个示例中，第五电阻r5的阻值可以为10mω。
74.反相积分电路120的输入端接收到峰值比较电路110的输出端out输出的高频脉冲信号后，反相积分电路120用于对高频脉冲信号进行积分处理，得到直流信号。
75.反相积分电路120的输出端与单片机130相连，单片机130用于接收反相积分电路420输出的直流信号。
76.在单片机130检测到反相积分电路120输出直流信号的情况下，将参考信号的值确定为待检测信号的峰值。
77.本实施例中，通过峰值比较电路110接收参考信号和待检测信号，并将参考信号和待检测信号进行比较；输出高频脉冲信号；通过反相积分电路120与峰值比较电路110相连，接收峰值比较电路110输出的高频脉冲信号；对高频脉冲信号进行积分处理，得到直流信号；通过单片机130与反相积分电路120相连，检测直流信号。可以提高峰值检测的频率范围。
78.下面对本技术提供的反相积分峰值检测方法进行详细介绍。
79.如图4所示，本技术的实施例提供一种反相积分峰值检测方法。该方法至少包括以下几个步骤：
80.步骤401，通过高速比较器接收待检测信号和参考信号。
81.其中，待检测信号可视为峰值不变的交流信号，参考信号为由高到低扫描的直流信号。
82.例如，待检测信号的峰值包括但不限于为20mv、30mv或者50mv等；参考信号可以为10mv到100mv扫描的直流信号。
83.其中，参考信号还可以为5mv到20mv，或者1mv到15mv的扫描的直流信号，本实施例不对参考信号的实现方式作限定。
84.可选地，参考信号是由数模转换电路生成信号。
85.步骤402，通过高速比较器将待检测信号和参考信号进行比较。
86.在本实施例中，由于待检测信号的峰值不变，而参考信号为由高到低扫描的直流信号，高速比较器将待检测信号和参考信号进行比较，是指将参考信号的当前值和待检测信号进行比较。
87.步骤403，在参考信号的当前值等于或小于待检测信号的峰值时，高速比较器输出高频脉冲信号。
88.比如：参考信号是值从3v到1v的扫描的直流信号，待检测信号为峰值为2v的交流信号，在将参考信号与待检测信号进行对比时，先选取当前值为3v，与待检测信号进行比较，此时待检测信号的峰值恒小与当前值，高速比较器无输出；在当前值降至2v时，此时待检测信号的峰值等于参考信号的当前值，高速比较器输出高频脉冲信号。
89.如图5所示，参考信号的当前值为2v，待检测信号的峰值也为2v时，即参考信号的当前值等于待检测信号的峰值时，高速比较器输出高频脉冲信号。
90.可选地，在高速比较器输出高频脉冲信号之后，还包括：停止将待检测信号和参考信号进行比较。
91.可选地，参考信号的值可以基于预设值依次递减，例如预设值为0.05v，参考信号的当前值为1.05v，则参考信号的下一值为1.00v。
92.可选地，预设值包括但不限于0.01v、0.02v等，本实施例不对预设值的选取作限定。
93.如果参考信号的值基于预设值依次递减，存在参考信号的值无法等于待检测信号的峰值的可能，那么在参考信号的值首次低于待检测信号的峰值时，高速比较器会输出高频脉冲信号。
94.比如：如图6至图7所示，参考信号vg1的上一值为1.05v，待检测信号vg2的峰值为1.00v，此时，峰值比较电路无输出；参考信号vg1的当前值为0.95v，即参考信号vg1的值首次低于待检测信号vg2的峰值1.00v，此时，高速比较器输出高频脉冲信号，停止将待检测信号和参考信号进行比较。
95.步骤404，将高频脉冲信号发送至反相积分电路。
96.如图8所示为峰值比较电路110与反相积分电路120的扫描状态实验仿真原理图，由于仿真为理想状况，仿真原理图中去除了电源处并联电容的设计。
97.峰值比较电路110与反相积分电路120相连，并将高频脉冲信号发送至反相积分电路120。
98.步骤405，通过反相积分电路对高频脉冲信号进行积分处理，得到直流信号。
99.图9为反相积分过程，反相积分电路120将对峰值比较电路110输出的高频脉冲信号进行积分处理，积分后的输出信号将在极短时间内不断积分上升，随后输出近似于直流、可被单片机直接检测处理的信号。
100.在一个示例中，如图10至图11所示，待检测信号vg2均为10mhz的正弦信号，但峰值有所不同。
101.图10中的待检测信号vg2的峰值为0.5v，参考信号vg1为0.48v，vm2为反相积分电路120的输出信号。
102.图11中的待检测信号vg2峰值为3v，参考信号vg1为2.95v，vm2为反相积分电路120
的输出信号。
103.步骤406，通过单片机检测直流信号，确定待检测信号的峰值。
104.具体地，在单片机检测到直流信号的情况下，确定参考信号的当前值为待检测信号的峰值。
105.另外，对于峰值相同而频率不同的待检测信号，在参考信号值相同的情况下，高速比较器输出的高频脉冲信号也会不同。
106.图7为峰值为1v，频率为10mhz的待检测信号与当前值为0.95v的参考信号的比较图；图8为峰值为1v，频率为30mhz的待检测信号与当前值为0.95v的参考信号的比较图。
107.如图7和图8所示，在待检测信号峰值相同，频率不同的情况下，与值相同的参考信号进行比较，频率较低的待检测信号，高速比较器输出的高频脉冲信号较好。
108.可选地，高速比较全输出的高频脉冲信号与待检测信号的频率呈正相关关系。
109.以待检测信号的峰值为1v为例，在参考信号值相同的情况下，不同频率对应的峰值比较电路的产生误差不同。比如：参考下表一，如表一所示，待检测信号不同的频率对应的峰值比较电路的误差不同。
110.表一：
[0111][0112][0113]
由于峰值比较电路的检测存在误差，还需要获取预设修正值，基于预设修正值，修正待检测信号的峰值。
[0114]
在未修正之前，确定出的待检测信号的峰值会小于待检测信号的实际峰值，且其误差由频率决定，误差范围约为1％～11％。因此，可以通过预设修正值对确定出的待检测信号的峰值进行修正，即将确定出的待检测信号的峰值乘以预设修正值，修正后的峰值数值将会更接近实际峰值。
[0115]
可选地，预设修正值可以为1.055。
[0116]
或者，通过确定出的待检测信号的峰值加上预设修正值，对确定出的待检测信号的峰值进行修正，此时，预设修正值可以为55mv。
[0117]
如图12所示，为加入修正系数后信号自动增益放大系统的输出信号误差分析，可以看到，加入修正系数后，系统的输出信号误差可以减小到
±
5％以内。
[0118]
在实际实现时，还可以构建预设修正值与待检测信号频率之间的函数关系，即不同的频率对应不同的预设修正值，可以进一步降低系统的输出信号的误差，本实施例不对预设修正值的实现方式作限定。
[0119]
综上所述，本实施例提供的反相积分峰值检测方法，通过峰值比较电路接收参考信号和待检测信号，并将参考信号和待检测信号进行比较；输出高频脉冲信号；通过反相积分电路与峰值比较电路相连，接收峰值比较电路输出的高频脉冲信号；对高频脉冲信号进行积分处理，得到直流信号；通过单片机与反相积分电路相连，检测直流信号。可以解决常
用的运放搭建的峰值检测电路，对于超过频率超过20mhz的待检测信号，存在难以检测峰值的问题；将待检测信号和数模转换电路生成的参考信号送入峰值比较电路进行峰值比较，比较后产生的高频脉冲信号由反相积分电路积分处理，转换成可被单片机处理的直流信号。峰值比较电路选用高速比较器tlv3501，高速比较器的反向输入端输入单片机调控的参考信号，正向输入端输入待检测信号，进行对输入信号的比较处理；反向积分电路由运放芯片搭建而成，可以对经过峰值比较电路后生成的高频脉冲信号进行处理，使其转化为可被单片机检测的直流信号，从而检测出待检测信号的峰值。反相积分峰值检测系统可以对频率70mhz以内的高速信号进行有效可靠的峰值检测，提高峰值检测的频率范围。
[0120]
本实施例提供一种反相积分峰值检测装置，如图13所示。该装置包括至少以下几个模块：信号接收模块1310、信号比较模块1320、信号输出模块1330、信号发送模块1340、积分处理模块1350和峰值确定模块1360。
[0121]
信号接收模块1310，用于通过高速比较器接收待检测信号和参考信号；
[0122]
信号比较模块1320，用于通过高速比较器将待检测信号和参考信号进行比较；
[0123]
信号输出模块1330，用于在参考信号的当前值等于或小于待检测信号的峰值时，高速比较器输出高频脉冲信号；
[0124]
信号发送模块1340，用于将高频脉冲信号发送至反相积分电路；
[0125]
积分处理模块1350，用于通过反相积分电路对高频脉冲信号进行积分处理，得到直流信号；
[0126]
峰值确定模块1360，用于通过单片机检测直流信号，确定待检测信号的峰值。
[0127]
相关细节参考上述方法和系统实施例。
[0128]
需要说明的是：上述实施例中提供的反相积分峰值检测装置在进行反相积分峰值检测时，仅以上述各功能模块的划分进行举例说明，实际应用中，可以根据需要而将上述功能分配由不同的功能模块完成，即将反相积分峰值检测装置的内部结构划分成不同的功能模块，以完成以上描述的全部或者部分功能。另外，上述实施例提供的反相积分峰值检测装置与反相积分峰值检测方法实施例属于同一构思，其具体实现过程详见方法实施例，这里不再赘述。
[0129]
本实施例提供一种电子设备，如图14所示。该电子设备至少包括处理器1401和存储器1402。
[0130]
处理器1401可以包括一个或多个处理核心，比如：4核心处理器、8核心处理器等。处理器1401可以采用dsp(digital signal processing，数字信号处理)、fpga(field－programmable gate array，现场可编程门阵列)、pla(programmable logic array，可编程逻辑阵列)中的至少一种硬件形式来实现。处理器1401也可以包括主处理器和协处理器，主处理器是用于对在唤醒状态下的数据进行处理的处理器，也称cpu(central processing unit，中央处理器)；协处理器是用于对在待机状态下的数据进行处理的低功耗处理器。在一些实施例中，处理器1401可以在集成有gpu(graphics processing unit，图像处理器)，gpu用于负责显示屏所需要显示的内容的渲染和绘制。一些实施例中，处理器1401还可以包括ai(artificial intelligence，人工智能)处理器，该ai处理器用于处理有关机器学习的计算操作。
[0131]
存储器1402可以包括一个或多个计算机可读存储介质，该计算机可读存储介质可
以是非暂态的。存储器1402还可包括高速随机存取存储器，以及非易失性存储器，比如一个或多个磁盘存储设备、闪存存储设备。在一些实施例中，存储器1402中的非暂态的计算机可读存储介质用于存储至少一个指令，该至少一个指令用于被处理器1401所执行以实现本技术中方法实施例提供的反相积分峰值检测方法。
[0132]
在一些实施例中，电子设备还可选包括有：外围设备接口和至少一个外围设备。处理器1401、存储器1402和外围设备接口之间可以通过总线或信号线相连。各个外围设备可以通过总线、信号线或电路板与外围设备接口相连。示意性地，外围设备包括但不限于：射频电路、触摸显示屏、音频电路、和电源等。
[0133]
当然，电子设备还可以包括更少或更多的组件，本实施例对此不作限定。
[0134]
可选地，本技术还提供有一种计算机可读存储介质，计算机可读存储介质中存储有程序，程序由处理器加载并执行以实现上述方法实施例的反相积分峰值检测方法。
[0135]
以上所述实施例的各技术特征可以进行任意的组合，为使描述简洁，未对上述实施例中的各个技术特征所有可能的组合都进行描述，然而，只要这些技术特征的组合不存在矛盾，都应当认为是本说明书记载的范围。
[0136]
显然，上述所描述的实施例仅仅是本技术一部分的实施例，而不是全部的实施例。基于本技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下，可以做出其它不同形式的变化或变动，都应当属于本技术保护的范围。