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用于校准灌装设备中的填充构件的方法与流程

2022-05-21 02:02:02 来源:中国专利 TAG:

技术特征:
1.一种用于校准灌装设备(1)中的填充构件(3,4,5)的方法,其中,所述灌装设备(1)具有用于将填充产品(2)灌装到容器中的多个填充构件(3,4,5),所述方法包括以下步骤:-将所述填充产品(2)导入到被选为参考填充构件(3)的填充构件(3)的参考管线(6)中以生成参考流量(fr);-测量所述参考填充构件(3)中的所述参考流量(fr)以获得参考测量值(vr);-将所述参考流量(fr)导入到第一填充构件(4)中以生成第一填充流量(ff1);-测量所述第一填充构件(4)中的所述第一填充流量(ff1)以获得第一填充构件测量值(vf1);以及-通过将所述参考测量值(vr)与所述第一填充构件测量值(vf1)进行比较来确定第一校准参数(c1)。2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,-依赖于所确定的所述第一校准参数(c1)适配所述第一填充构件(4)的填充特性。3.根据权利要求1或2所述的方法,其特征在于,-将所述第一校准参数(c1)存储在所述第一填充构件(4)中以用于所述灌装设备(1)的灌装操作中。4.根据前述权利要求中任一项所述的方法,其特征在于-将所述参考流量(fr)导入到第二填充构件(5)中以生成第二填充流量(ff2);-测量所述第二填充构件(5)中的所述第二填充流量(ff2)以获得第二填充构件测量值(vf2);以及-通过将所述参考测量值(vr)与所述第二填充构件测量值(vf2)进行比较来确定第二校准参数(c2)。5.根据权利要求4所述的方法,其特征在于,-依赖于所确定的所述第二校准参数(c2)适配所述第二填充构件(5)的填充特性。6.根据权利要求4或5所述的方法,其特征在于,-将所述第二校准参数(c2)存储在所述第二填充构件(5)中以用于所述灌装设备(1)的灌装操作中。7.根据前述权利要求中任一项所述的方法,其特征在于,在将所述填充产品(2)导入到所述参考填充构件(3)的参考管线(6)中之前,用填充产品(2)完全填充所述灌装设备(1)的所有填充产品引导区域。8.根据前述权利要求中任一项所述的方法,其特征在于,被选为参考填充构件(3)的所述填充构件(3)在所述灌装设备(1)的灌装操作中用于将所述填充产品(2)灌装到容器中。9.根据前述权利要求中任一项所述的方法,其特征在于,针对所有填充构件(3,4,5,21)确定各个校准参数(c1,c2,...)。10.根据前述权利要求中任一项所述的方法,其特征在于,针对每个填充构件(3,4,5)执行在至少两个不同的参考流量(fr1,fr2)下对校准参数(c11,c12,c21,c22)的确定。11.根据前述权利要求中任一项所述的方法,其特征在于,所述参考填充构件(3)的所述参考管线(6)是与布置在所述参考填充构件(3)中的填充产品管线(13)分开的清洁介质通道(12),所述清洁介质通道(12)适配于在所述灌装设备的冲洗过程中收纳冲洗剂。12.一种用于将填充产品(2)灌装到容器中的灌装设备(1),其具有:
用于引导所述填充产品(2)的环形管线(10);参考填充构件(3),所述参考填充构件(3)布置在所述环形管线(10)中,并且具有由所述环形管线(10)供应的填充产品管线(13)和清洁介质通道(12);以及至少一个另外的填充构件(4,5);其中,所述填充产品管线(13)从所述参考填充构件(3)与所述环形管线(10)的接口(16)伸展到填充产品出口(15);以及其中,所述清洁介质通道(12)与所述填充产品管线(13)分开地从所述参考填充构件(3)与冲洗储存器的接口(17)伸展到所述填充产品出口(15);其中,在所述参考填充构件(3)的所述填充产品出口(15)上布置有封闭盖(11),所述封闭盖(11)使流体能够从所述清洁介质通道(12)流入所述填充产品管线(13)中;其中,所述参考填充构件(3)具有流量测量装置(7),并且所述另外的填充构件(4,5)具有流量测量装置(7),所述流量测量装置(7)可以使用根据权利要求1至11中任一项所述的方法来校准。13.根据权利要求12所述的灌装设备,其特征在于,所述封闭盖(11)布置在所述填充产品出口(15)上,和/或所述至少一个另外的填充构件(4,5)设计成与所述参考填充构件(3)结构相同,其中,所述至少一个另外的填充构件(4、5)的所述填充产品出口(15)没有封闭盖。

技术总结
本发明涉及一种用于校准灌装设备(1)中的填充构件(3,4,5)的方法,其中,所述灌装设备具有用于将填充产品(2)灌装到容器中的多个填充构件。所述方法包括以下步骤:将填充产品(2)导入到被选为参考填充构件的填充构件(3)的参考管线(6)中以生成参考流量(Fr);测量所述参考填充构件中的所述参考流量(Fr)以获得参考测量值(Vr);将所述参考流量(Fr)导入到第一填充构件(4)中以生成第一填充流量(Ff1);测量所述第一填充构件(4)中的第一填充流量(Ff1)以获得第一填充构件测量值(Vf1);以及通过将参考测量值(Vr)与第一填充构件测量值(Vf1)进行比较来确定第一校准参数(C1)。较来确定第一校准参数(C1)。较来确定第一校准参数(C1)。


技术研发人员:托拜厄斯
受保护的技术使用者:克朗斯公司
技术研发日:2021.11.18
技术公布日:2022/5/20
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