一种测试针的制作方法

1.本实用新型涉及测试装置技术领域，尤其涉及一种测试针。


背景技术：

2.测试针又称探针，被广泛应用于电路板的测试中。在对电路板上的电镀通孔进行测试时，会将测试针的针头插入电镀通孔内，其中，需要保证针头的侧壁与电镀通孔的内壁相接触。
3.但现有的测试针通用性差，尤其是在测试大孔径的电镀通孔时，需要更换对应规格的测试针，才能避免出现接触不良的情况。而如何提高测试针的通用性，是目前亟待解决的问题。


技术实现要素：

4.本实用新型的目的在于克服现有技术的缺陷，提供一种测试针，用以解决现有技术中的问题。
5.为解决上述问题，本实用新型提供了：一种测试针，包括圆柱形的杆体和圆锥形的针头；
6.所述针头的尾端与所述杆体固定连接，其中，所述针头的尾端的外缘上设置有环状的导电片，所述导电片的外径大于所述杆体的外径。
7.进一步地，所述针头与所述杆体可拆卸连接。
8.进一步地，所述针头与所述杆体螺纹连接。
9.进一步地，所述针头的尾端的端面上设置有螺纹柱，所述杆体上设置有螺纹孔；
10.所述螺纹柱与所述螺纹孔螺纹连接。
11.进一步地，所述针头与所述杆体磁性连接。
12.进一步地，所述针头的尾端的端面上设置有导磁立柱，所述杆体上设置有安装孔，其中，所述安装孔的底部设置有磁铁；
13.所述导磁立柱插入所述安装孔内且与所述磁铁相接触。
14.进一步地，所述针头、所述杆体和所述导电片三者的轴心线共线。
15.本实用新型的有益效果是：一种测试针，包括圆柱形的杆体和圆锥形的针头，其中，针头的尾端的外缘上设置有环装的导电片。当对大孔径的电镀通孔进行检测时，将针头插入到电路板的电镀通孔内，通过导电片与电镀通孔端面上的覆铜处相接触，由此保障接触的充分性。
16.该测试针的通用性好，可用于检测不同孔径大小的电镀通孔。
附图说明
17.为了更清楚地说明本实用新型实施例的技术方案，下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，应当理解，以下附图仅示出了本实用新型的某些实施例，因此不应被
看作是对范围的限定，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他相关的附图。
18.图1示出了一种测试针的示意图；
19.图2示出了图1中的局部放大图；
20.图3示出了实施例一中的一种针头的示意图；
21.图4示出了实施例一中的一种杆体的局部示意图；
22.图5示出了实施例二中的一种针头的示意图；
23.图6示出了实施例二中的一种杆体的局部示意图。
24.主要元件符号说明：
25.11，21-杆体；12，22-针头；13-导电片；14-套管；15-螺纹柱；16-螺纹孔；25-导磁立柱；26-安装孔；27-磁铁。
具体实施方式
26.下面详细描述本实用新型的实施例，所述实施例的示例在附图中示出，其中自始至终相同或类似的标号表示相同或类似的元件或具有相同或类似功能的元件。下面通过参考附图描述的实施例是示例性的，仅用于解释本实用新型，而不能理解为对本实用新型的限制。
27.在本实用新型中，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”、“固定”等术语应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或成一体；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通或两个元件的相互作用关系。对于本领域的普通技术人员而言，可以根据具体情况理解上述术语在本实用新型中的具体含义。
28.实施例一
29.请参阅图1和图2，在本实施例中，提出一种测试针，包括圆柱形的杆体11和圆锥形的针头12。其中，针头12具有尖端和尾端，且尖端和尾端分置于针头12的两端。
30.如图2所示，针头12的尾端与杆体11固定连接，针头12尾端的外径可与杆体11的外径相同。其中，针头12的尾端的外缘上设置有环状的导电片13，导电片13的外径大于杆体11的外径。
31.导电片13可用铜等材料制成。导电片13的厚度可以根据实际情况进行设置，在本实施例中，导电片13的厚度可设为3mm。
32.环状的导电片13可通过焊接等方式固定于针头12上。其中，在进行组装时，需保证针头12、杆体11和导电片13三者的轴心线共线。
33.如图1所示，杆体11可滑动设置于套管14内。
34.测试针在长期使用的过程中，针头12容易出现损耗的情况，基于成本等因素的考虑，在本实施例中，针头12与杆体11之间采用可拆卸连接的方式进行连接。由于针头12与杆体11之间可拆卸连接，所以，当针头12出现问题，只需对针头12进行更换即可。
35.在一些实施例中，为了提高针头12的寿命，可将针头12的尖端设置为半圆球状，例如进行倒圆角处理，由此避免尖端容易出现折断的情况。
36.为了实现针头12与杆体11之间的可拆卸连接，针头12可与杆体11螺纹连接。
37.如图3和图4所示，针头12的尾端的端面上可设置有螺纹柱15，杆体11上可设置有螺纹孔16，其中，螺纹柱15与螺纹孔16螺纹连接。
38.实施例二
39.本实施例与实施例一的区别在于，针头与杆体之间采用磁性连接的方式实现可拆卸连接。
40.如图5和图6所示，针头22的尾端的端面上设置有导磁立柱25，杆体21上设置有安装孔26，其中，安装孔26的底部固定设置有磁铁27。当导磁立柱25插入安装孔26内且与磁铁27相接触，通过导磁立柱25与磁铁27之间的相互吸引，实现了针头22与杆体21之间的固定。
41.在本实施例中，导磁立柱25可采用铁等导磁的材料制成。其中，导磁立柱25可通过焊接等方式固定于针头22尾端的端面上。
42.在本说明书的描述中，参考术语“一个实施例”、“一些实施例”、“示例”、“具体示例”、或“一些示例”等的描述意指结合该实施例或示例描述的具体特征、结构、材料或者特点包含于本实用新型的至少一个实施例或示例中。在本说明书中，对上述术语的示意性表述不必须针对的是相同的实施例或示例。而且，描述的具体特征、结构、材料或者特点可以在任一个或多个实施例或示例中以合适的方式结合。此外，在不相互矛盾的情况下，本领域的技术人员可以将本说明书中描述的不同实施例或示例以及不同实施例或示例的特征进行结合和组合。
43.尽管上面已经示出和描述了本实用新型的实施例，可以理解的是，上述实施例是示例性的，不能理解为对本实用新型的限制，本领域的普通技术人员在本实用新型的范围内可以对上述实施例进行变化、修改、替换和变型。


技术特征：
1.一种测试针，其特征在于，包括圆柱形的杆体和圆锥形的针头；所述针头的尾端与所述杆体固定连接，其中，所述针头的尾端的外缘上设置有环状的导电片，所述导电片的外径大于所述杆体的外径。2.根据权利要求1所述的测试针，其特征在于，所述针头与所述杆体可拆卸连接。3.根据权利要求2所述的测试针，其特征在于，所述针头与所述杆体螺纹连接。4.根据权利要求3所述的测试针，其特征在于，所述针头的尾端的端面上设置有螺纹柱，所述杆体上设置有螺纹孔；所述螺纹柱与所述螺纹孔螺纹连接。5.根据权利要求2所述的测试针，其特征在于，所述针头与所述杆体磁性连接。6.根据权利要求5所述的测试针，其特征在于，所述针头的尾端的端面上设置有导磁立柱，所述杆体上设置有安装孔，其中，所述安装孔的底部设置有磁铁；所述导磁立柱插入所述安装孔内且与所述磁铁相接触。7.根据权利要求1-6中任一项所述的测试针，其特征在于，所述针头、所述杆体和所述导电片三者的轴心线共线。

技术总结
本实用新型提供了一种测试针，包括圆柱形的杆体和圆锥形的针头；所述针头的尾端与所述杆体固定连接，其中，所述针头的尾端的外缘上设置有环状的导电片，所述导电片的外径大于所述杆体的外径。该测试针的通用性好，可用于检测不同孔径大小的电镀通孔。测不同孔径大小的电镀通孔。测不同孔径大小的电镀通孔。


技术研发人员：雷红梅 李飞云 覃沿日
受保护的技术使用者：桂林海威科技股份有限公司
技术研发日：2021.10.20
技术公布日：2022/5/16