一种银或金纳米粒子膜拉曼芯片定标无损质检方法与设备

技术特征：
1.一种银或金纳米粒子膜拉曼芯片定标无损质检方法，其特征是，所述方法包括如下步骤：步骤一：在待质检的拉曼芯片的生产线上选取至少5种不同灵敏度的定标拉曼芯片组，其跨度需包含质检规范合格要求的整个范围，序列不同灵敏度的定标拉曼芯片标记为t，即所述定标拉曼芯片生长银纳米粒子的光催化时间；步骤二：将选取的所述定标拉曼芯片组分别置于紫外可见平行光束中，采集消光吸收光谱，检测表面等离子体激元共振(spr)主峰的高度h
spr
，作定标t～h
spr
曲线；步骤三：在无损质检定标用的拉曼光谱仪上，采用定标样品，采集所述定标拉曼芯片的拉曼光谱，选定其中定标峰的高度h
rs
，作定标t～h
rs
曲线；步骤四：根据定标t～h
spr
和t～h
rs
曲线，作h
spr
～h
rs
定标曲线，根据所述拉曼芯片质检灵敏度达标规范制定质控限；步骤五：在步骤一所述拉曼芯片的生产线的产品质检中，若无损检测拉曼芯片的峰高h
srp
在步骤四所制定的质检灵敏度质控限达标的范围内，则该拉曼芯片质检合格，否则，不合格。2.根据权利要求1所述的拉曼芯片定标无损质检方法，其特征是，所述拉曼芯片为二氧化钛膜光催化生长的“三聚体型-银箔/银纳米粒子膜”拉曼芯片，或金纳米粒子膜拉曼芯片，或镀金的银纳米粒子膜拉曼芯片。3.根据权利要求1所述的拉曼芯片定标无损质检方法，其特征是，所述拉曼芯片的消光吸收光谱和spr主峰的高度h
spr
，包括常规分子吸收、常规弹性散射损失和金属表面等离子体激元共振(spr)非弹性散射消光-吸收三项之和。4.根据权利要求1所述的拉曼芯片定标无损质检方法，其特征是，为防止拉曼芯片质检过程在空气中氧化，h
spr
的检测设置在生长银纳米粒子膜的硝酸银溶液中完成，或真空环境中、或惰性气体中完成。5.根据权利要求1所述的拉曼芯片定标无损质检方法，其特征是，所述定标t～h
spr
和t～h
rs
曲线以及h
spr
～h
rs
定标曲线上的每一个h
spr
和h
rs
点的数据，采用不少于2个相同t值为一组的定标拉曼芯片的实验平均值数据；若每个h
spr
和h
rs
点的数据只采用单一t值定标拉曼芯片的实验数据，则需不少于10个不同t值的定标拉曼芯片的实验数据，用于保障h
spr
～h
rs
定标曲线的精确度。6.一种权利要求1～5任一所述方法所用的无损质检设备，其特征在于，所述设备包括紫外可见光源(1)，所述紫外可见光源(1)发射的宽光谱光束通过或不通过自聚焦传输光纤(4)，产生小口径平行光束(5)，待质检的拉曼芯片(6)位于平行光束(5)的下方，与平行光束垂直设置，放在支架(8)上，所述拉曼芯片(6)处于生长银纳米粒子膜的硝酸银溶液(7)中，或真空或惰性气体环境中；平行光束(5)和待质检的拉曼芯片(6)的周边设有暗相幕布(9)或处于暗室中，所述小口径平行光束透过该拉曼芯片(6)之后的透射平行光束，通过另一自聚焦传输光纤(4)，或不通过该光纤，连接到光谱仪系统(2)，接收记录该拉曼芯片(6)的消光吸收光谱，计算机和h
spr
～h
rs
定标软件系统和管理系统(3)负责处理spr主峰高度h
spr
，并显示质检中的拉曼芯片的灵敏度质量是否符合出厂质检规范要求。

技术总结
一种银或金纳米粒子膜拉曼芯片定标无损质检方法与设备，所述拉曼芯片在紫外可见平行光束中检测消光(Extinction)吸收光谱SPR主峰高度H


技术研发人员：李睿 吴世法 于杰 潘路军 吴彤 邸琨
受保护的技术使用者：大连理工大学
技术研发日：2021.12.28
技术公布日：2022/4/12