复折射率测量装置的制作方法

1.本实用新型涉及光学测量技术领域，尤其是复折射率测量装置。


背景技术：

2.对于吸收介质（如金属、生物组织液等）的折射率，其值用复折射率来表征。这种形式上的变化使波的性质也发生了变化，尤其是折射率虚部，不仅是介质吸收特性的根源，还影响反射光、透射光的偏振状态。复折射率的研究不仅具有理论意义，同时还具有实际的应用价值。
3.现有的复折射率的测量方法主要是偏振技术，入射的线偏振光经吸收介质反射后将变成椭圆偏振光，通过测量反射光的位相和振幅来获得复折射率的实部和虚部的大小，原理比较复杂，不易理解。也有人利用表面等离子体共振技术测量复折射率，通过测量反射率、共振角、相位差等计算样品的复折射率，实验原理难懂，仪器结构也较复杂。


技术实现要素：

4.本实用新型提出复折射率测量装置，结构简单，易于使用。
5.本实用新型采用以下技术方案。
6.复折射率测量装置，所述测量装置包括样品承台和激光发射台；所述激光发射台位于样品承台一旁侧处且以杆件与样品承台铰接；激光发射台上设有光输出方向朝向样品承台的激光发射器；样品承台另一旁侧处设有与计算模块相连的光学探测器；激光发射器发射的激光从样品承台处的样品透射后，在光学探测器的传感面处形成可被光学探测器检测的激光光斑。
7.当检测样品的复折射率时，所述激光发射台绕样品承台转动以改变激光在样品处的入射角，使激光光斑在光学探测器的传感面处移动。
8.所述计算模块根据激光光斑在光学探测器的传感面处的位移来计算样品的复折射率。
9.所述杆件在样品承台的铰接点处设有刻度盘；所述刻度盘的盘面平行于杆件，且垂直于样品的激光照射面；当激光发射台绕样品承台转动时，杆件在刻度盘处指示的刻度即为激光在样品处的入射角。
10.所述光学探测器为psd位置传感器，其传感面为psd位置传感器接收屏。
11.本实用新型提供一种通过测量光在经过待测吸收介质前后光斑位置的位移量，反演出介质的复折射率的实验装置，测量原理容易理解，不需要对吸收介质进行特殊形状的处理，光路更简单，按此架构做成仪器的成本低廉；本实用新型仅需测量光通过待测介质前后光斑位置的位移量，即可计算出复折射率，测量原理容易理解，光路简单，做成仪器成本低廉。
附图说明
12.下面结合附图和具体实施方式对本实用新型进一步详细的说明：
13.附图1是本实用新型的示意图；
14.附图2是本实用新型的俯视向示意图；
15.附图3是本实用新型的测量原理示意图；
16.图中：1-激光发射器；2-激光发射台；3-杆件；4-样品承台；5-刻度盘；6-光学探测器；7-样品。
具体实施方式
17.如图所示，复折射率测量装置，所述测量装置包括样品承台4和激光发射台2；所述激光发射台位于样品承台一旁侧处且以杆件3与样品承台铰接；激光发射台上设有光输出方向朝向样品承台的激光发射器1；样品承台另一旁侧处设有与计算模块相连的光学探测器6；激光发射器发射的激光从样品承台处的样品7透射后，在光学探测器的传感面处形成可被光学探测器检测的激光光斑。
18.当检测样品的复折射率时，所述激光发射台绕样品承台转动以改变激光在样品处的入射角，使激光光斑在光学探测器的传感面处移动。
19.所述计算模块根据激光光斑在光学探测器的传感面处的位移来计算样品的复折射率。
20.所述杆件在样品承台的铰接点处设有刻度盘5；所述刻度盘的盘面平行于杆件，且垂直于样品的激光照射面；当激光发射台绕样品承台转动时，杆件在刻度盘处指示的刻度即为激光在样品处的入射角。
21.所述光学探测器为psd位置传感器，其传感面为psd位置传感器接收屏。
22.实施例：
23.本例中，激光平台（激光发射台）和样品固定平台（样品承台）通过连杆固定，并且激光平台可以绕着样品平台转动，在检测样器复折射率时，旋转激光平台让激光分别以不同的角度斜入射平行吸收介质样品，利用psd位置传感器分别对两次折射的光斑位移的变化量进行测量。


技术特征：
1.复折射率测量装置，其特征在于：所述测量装置包括样品承台和激光发射台；所述激光发射台位于样品承台一旁侧处且以杆件与样品承台铰接；激光发射台上设有光输出方向朝向样品承台的激光发射器；样品承台另一旁侧处设有与计算模块相连的光学探测器；激光发射器发射的激光从样品承台处的样品透射后，在光学探测器的传感面处形成可被光学探测器检测的激光光斑。2.根据权利要求1所述的复折射率测量装置，其特征在于：当检测样品的复折射率时，所述激光发射台绕样品承台转动以改变激光在样品处的入射角，使激光光斑在光学探测器的传感面处移动。3.根据权利要求2所述的复折射率测量装置，其特征在于：所述计算模块根据激光光斑在光学探测器的传感面处的位移来计算样品的复折射率。4.根据权利要求2所述的复折射率测量装置，其特征在于：所述杆件在样品承台的铰接点处设有刻度盘；所述刻度盘的盘面平行于杆件，且垂直于样品的激光照射面；当激光发射台绕样品承台转动时，杆件在刻度盘处指示的刻度即为激光在样品处的入射角。5.根据权利要求1所述的复折射率测量装置，其特征在于：所述光学探测器为psd位置传感器，其传感面为psd位置传感器接收屏。

技术总结
本实用新型提出复折射率测量装置，所述测量装置包括样品承台和激光发射台；所述激光发射台位于样品承台一旁侧处且以杆件与样品承台铰接；激光发射台上设有光输出方向朝向样品承台的激光发射器；样品承台另一旁侧处设有与计算模块相连的光学探测器；激光发射器发射的激光从样品承台处的样品透射后，在光学探测器的传感面处形成可被光学探测器检测的激光光斑；本实用新型结构简单，易于使用。易于使用。易于使用。


技术研发人员：张秋长 罗天舒
受保护的技术使用者：厦门大学嘉庚学院
技术研发日：2021.08.27
技术公布日：2022/3/22