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一种高对比度成像星冕仪微点密度调制系统及工作方法与流程

2022-03-05 09:15:44 来源:中国专利 TAG:

技术特征:
1.一种高对比度成像星冕仪微点密度调制系统工作方法,其特征在于:包括如下步骤:s1:建立星冕仪系统,根据系统的光学元器件尺寸、光瞳调制器工作区域和系统设计指标,初步确定系统的有效通光口径、光瞳调制器带数、调制函数趋势;s2:根据星冕仪成像对比度指标要求计算每调制带透过率数值;s3:根据每条透过率带对应的透过率值,设计明暗微点的密度布局方案,其中每调制带设有m个明微点,明微点透过率对应1,n个暗微点,暗微点透过率对应0,该调制带的透过率对应n/m;s4:计算上述设计微点变密度布局方案的成像对比度;s5:优化明暗微点的空间排布,并计算特定工作区域内的成像对比度,判断对比度是否10-6-10-8
范围内,如果判断结果不是,重复步骤s5,如果判断结果是,结束。2.根据权利要求1所述的一种高对比度成像星冕仪微点密度调制系统工作方法,其特征在于:所述密度布局方案为每调制带内分子区域、被分子区域内随机布局微点的方式或沿特定方向、样式布局微点的方式。3.根据权利要求1或2所述的一种高对比度成像星冕仪微点密度调制系统工作方法,其特征在于:所述光瞳调制器中的光瞳调制方案为单向或双向调制。4.一种高对比度成像星冕仪微点密度调制系统,包括望远镜入射端、反射镜、准直镜、孔径光阑、光瞳调制器、成像镜和探测器,反射镜设有两片,分别位于望远镜入射端、准直镜和光瞳调制器、成像镜之间,其特征在于:所述光瞳调制器包括多个调制带,每个调制带上设置有多个明微点和暗微点。5.根据权利要求4所述的一种高对比度成像星冕仪微点密度调制系统,其特征在于:所述光瞳调制器的调整带数范围为10-200。

技术总结
本发明公开了一种高对比度成像星冕仪微点密度调制系统,涉及星冕仪技术领域,包括望远镜入射端、反射镜、准直镜、孔径光阑、光瞳调制器、成像镜和探测器,反射镜设有两片,分别位于望远镜入射端、准直镜和光瞳调制器、成像镜之间,所述光瞳调制器包括多个调制带,每个调制带上设置有多个明微点和暗微点,光瞳调制器的调整带数范围为10-200,还提出一种高对比度成像星冕仪微点密度调制系统的工作方法。该高对比度成像星冕仪微点密度调制系统,通过改变调制带上明暗微点的空间密度分布来实现透过率变化调制的目的,对所有的工作波长都可以实现相同的调制效果,该发明能够彻底解决传统星冕仪通光效率因观测波段过窄而受限的技术难题。题。题。


技术研发人员:窦江培 陈祎力 张熙 王钢
受保护的技术使用者:中国科学院国家天文台南京天文光学技术研究所
技术研发日:2021.10.15
技术公布日:2022/3/4
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