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一种低应力GaN基发光二极管外延片及其制备方法与流程

2022-03-04 23:32:34 来源:中国专利 TAG:

技术特征:
1.一种低应力gan基发光二极管外延片,包括沿指定方向依次设置的n型gan层、浅发光层、预发光层、多量子阱层发光层、低温p型gan层、p型algan电子阻挡层和高温p型gan层,其特征在于:所述n型gan层与浅发光层之间还设置有n型alinn前势垒层,所述n型alinn前势垒层至少用于阻挡电子向所述n型gan层回流。2.根据权利要求1所述的低应力gan基发光二极管外延片,其特征在于:所述alinn前势垒层内部的掺杂元素含量沿指定方向降低。3.根据权利要求1所述的低应力gan基发光二极管外延片,其特征在于:所述n型alinn前势垒层包括多个第一alinn层,多个所述的第一alinn层的掺杂浓度沿指定方向逐层降低;优选的,多个所述的第一alinn层的掺杂浓度沿指定方向逐层线性降低。4.根据权利要求3所述的低应力gan基发光二极管外延片,其特征在于:至少一个所述的第一alinn层具有第一掺杂浓度且所含的掺杂元素均匀分布;和/或,至少一个所述的第一alinn层具有第二掺杂浓度且内部的掺杂元素含量沿指定方向线性递减;所述第一掺杂浓度高于第二掺杂浓度。5.根据权利要求1所述的低应力gan基发光二极管外延片,其特征在于:所述浅发光层与预发光层之间还设置有n型alinn后势垒层,所述n型alinn后势垒层包括多个第二alinn层;和/或,两个所述的第二alinn层之间还分布有al
x
in
y
ga
1-x-y
n应力调控层,其中0≤x≤1,0≤y≤1,0≤x y≤1。6.根据权利要求1-5中任一项所述的低应力gan基发光二极管外延片,其特征在于包括沿指定方向依次设置的衬底、低温gan缓冲层、高温非掺杂gan层、n型gan层、n型alinn前势垒层、浅发光层、n型alinn后势垒层、预发光层、多量子阱层发光层、低温p型gan层、p型algan电子阻挡层和高温p型gan层。7.一种低应力gan基发光二极管外延片的制备方法,其特征在于包括:在衬底上沿指定方向依次生长形成n型gan层、n型alinn前势垒层、浅发光层、预发光层、多量子阱层发光层、低温p型gan层、p型algan电子阻挡层和高温p型gan层,使所述n型alinn前势垒层内部的掺杂元素含量沿指定方向降低。8.根据权利要求7所述制备方法,其特征在于还包括:在所述n型gan层上依次形成多个第一alinn层,多个所述的第一alinn层构成所述n型alinn前势垒层,且多个所述的第一alinn层的掺杂浓度沿指定方向逐层降低,或者,多个所述的第一alinn层的掺杂浓度沿指定方向逐层线性降低。9.根据权利要求8所述制备方法,其特征在于还包括:在第一温度条件下生长所述n型gan层;在第二温度条件下生长所述n型alinn前势垒层;其中,所述第一温度高于第二温度。10.根据权利要求7所述制备方法,其特征在于还包括:在浅发光层上生长n型alinn后势垒层,之后在n型alinn后势垒层上生长形成预发光层;其中,所述n型alinn后势垒层包括多个第二alinn层;和/或,所述制备方法还包括:在两个第二alinn层之间生长al
x
in
y
ga
1-x-y
n应力调控层,其中0≤x≤1,0≤y≤1,0≤x y≤1。

技术总结
本发明公开了一种低应力GaN基发光二极管外延片及其制备方法。所述外延片包括沿指定方向依次设置的衬底、低温GaN缓冲层、高温非掺杂GaN层、n型GaN层、n型AlInN前势垒层、浅发光层、n型AlInN后势垒层、预发光层、多量子阱层发光层、低温p型GaN层、p型AlGaN电子阻挡层和高温p型GaN层,所述n型AlInN前势垒层至少用于阻挡电子向所述n型GaN层回流。本发明中的低应力GaN基发光二极管外延片,通过高低掺杂的AlInN前势垒层形成高的能垒,能够阻挡电子回流,形成电子有效注入,同时通过AlInN后势垒层实现发光层的晶格匹配,降低极化效应,增强辐射复合发光,提高二极管的发光效率。提高二极管的发光效率。提高二极管的发光效率。


技术研发人员:闫其昂 王国斌
受保护的技术使用者:江苏第三代半导体研究院有限公司
技术研发日:2021.11.30
技术公布日:2022/3/3
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