一种发光二极管晶粒分选自动化生产装置的制作方法

1.本实用新型涉及晶粒分选领域，更具体地说，涉及一种发光二极管晶粒分选自动化生产装置。


背景技术：

2.发光二极管(led)晶片在制作完成后，会被贴附在蓝膜(bluetape)上并切割成多颗晶粒，一般来说，蓝膜会被固定于晶片环(waferring)且因受张力而绷开，使得贴附在蓝膜上的各颗晶粒彼此分离，接着晶片环可通过手动或自动的进料过程送入各自独立的外观检查机台(例如自动光学检查(aoi)装置)或光电测试机台，以进行晶粒的分选测试。
3.现有技术中，通常利用两个双向导轨对分选前与分选后的晶片放置箱进行输送，每次分选工作完成后需要将两个放置箱运出，随后工作人员摆放下一批次的放置箱，再次进行分选工作，整个过程，占用放置箱数量的同时严重影响送料效率，导致分选过程缓慢，同时现有技术中通常利用单个机械臂将晶片放入分选机内部进行检测，当检测完毕后需利用机械臂将其放入放置箱内部，随后再继续拿取下一晶片，整个过程效率低下，严重影响晶粒的生产效率，为此我们推出了一种发光二极管晶粒分选自动化生产装置来解决上述问题。


技术实现要素：

4.针对现有技术中存在的问题，本实用新型的目的在于提供一种发光二极管晶粒分选自动化生产装置。
5.为解决上述问题，本实用新型采用如下的技术方案。
6.一种发光二极管晶粒分选自动化生产装置，包括底板与推送组件，所述底板的顶部安装有分选检测机器，所述底板的顶部安装有两个支撑座，两个所述支撑座的顶部均安装有机械臂，所述底板的内部安装有两个单向导轨，两个所述单向导轨的内部均安装有放置箱，所述底板的顶部设置有中转平台。
7.作为上述技术方案的进一步描述：
8.所述中转平台包括电动升降座、支撑板与三个支撑杆，所述电动升降座安装至底板的顶部，所述支撑板安装至电动升降座的顶部，三个所述支撑杆均固定连接至支撑板的顶部。
9.作为上述技术方案的进一步描述：
10.所述放置箱包括箱体、两组支撑条与两组防滑垫，两个所述箱体分别安装至两个单向导轨的内部，四组所述支撑条分别固定连接至两个箱体内部的左右两侧，四组所述防滑垫分别嵌设至四组支撑条的顶部。
11.作为上述技术方案的进一步描述：
12.所述推送组件包括电动推杆与推板，所述电动推杆安装至底板的内部，所述推板固定连接至电动推杆的左端。
13.作为上述技术方案的进一步描述：
14.三个所述支撑杆的顶端均固定连接有防滑球，三个所述防滑球均为橡胶材质制成。
15.作为上述技术方案的进一步描述：
16.所述底板的左侧安装有工业电脑。
17.相比于现有技术，本实用新型的优点在于：
18.本方案利用底板的设置，便于对整个装置起到支撑作用，利用两个单向导轨的设置，便于带动两个放置箱进行运动，在分选前使用者可将左侧单向导轨内放置空的放置箱，右侧单向导轨内放置具备晶片的放置箱，利用两个支撑座的设置，便于对两个机械臂起到支撑作用，随后利用左侧机械臂对后侧放置箱内部的晶片进行拿取，随后将晶片放入分选检测机器内部，与此同时右侧机械臂对下一个晶片进行拿取，当晶片检测完毕后，左侧运动的机械臂将其放置在中转平台上，与此同时右侧机械臂将拿取完成的晶片放置分选检测机器内部，当该晶片检测完成后，上一次检测完成的晶片将被左侧机械臂放入左侧放置箱的内部，随后对下一个晶片进行拿取，放入分选检测机器中，同时右侧机械臂将检测完毕的晶片放置在中转平台上，两个机械臂沿此工作方式持续交替工作，随后当右侧放置箱内部晶片全部检测完毕后，此时处于空箱状态，随后利用左侧单向导轨将检测完毕的晶片运出，随后利用推送组件将空的放置箱推入左侧单向导轨内，随后利用右侧单向导轨将下一批次的晶片运输至底板上，继续进行晶片检测工作。
附图说明
19.图1为本实用新型的结构示意图；
20.图2为本实用新型的结构图1中a的放大示意图；
21.图3为本实用新型的结构图1中b的放大示意图；
22.图4为本实用新型的结构图1中c的放大示意图。
23.图中标号说明：
24.1、底板；2、分选检测机器；3、支撑座；4、机械臂；5、单向导轨；6、放置箱；601、箱体；602、支撑条；603、防滑垫；7、推送组件；701、电动推杆；702、推板；8、中转平台；801、电动升降座；802、支撑板；803、支撑杆；9、工业电脑；10、防滑球。
具体实施方式
25.下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述；
26.请参阅图1～4，本实用新型中，一种发光二极管晶粒分选自动化生产装置，包括底板1与推送组件7，底板1的顶部安装有分选检测机器2，底板1的顶部安装有两个支撑座3，两个支撑座3的顶部均安装有机械臂4，底板1的内部安装有两个单向导轨5，两个单向导轨5的内部均安装有放置箱6，底板1的顶部设置有中转平台8。
27.本实用新型中，利用底板1的设置，便于对整个装置起到支撑作用，利用两个单向导轨5的设置，便于带动两个放置箱6进行运动，在分选前使用者可将左侧单向导轨5内放置空的放置箱6，右侧单向导轨5内放置具备晶片的放置箱6，利用两个支撑座3的设置，便于对
两个机械臂4起到支撑作用，随后利用左侧机械臂4对后侧放置箱6内部的晶片进行拿取，随后将晶片放入分选检测机器2内部，与此同时右侧机械臂4对下一个晶片进行拿取，当晶片检测完毕后，左侧运动的机械臂4将其放置在中转平台8上，与此同时右侧机械臂4将拿取完成的晶片放置分选检测机器2内部，当该晶片检测完成后，上一次检测完成的晶片将被左侧机械臂4放入左侧放置箱6的内部，随后对下一个晶片进行拿取，放入分选检测机器2中，同时右侧机械臂4将检测完毕的晶片放置在中转平台8上，两个机械臂4沿此工作方式持续交替工作，随后当右侧放置箱6内部晶片全部检测完毕后，此时处于空箱状态，随后利用左侧单向导轨5将检测完毕的晶片运出，随后利用推送组件7将空的放置箱6推入左侧单向导轨5内，随后利用右侧单向导轨5将下一批次的晶片运输至底板1上，继续进行晶片检测工作。
28.请参阅图1～2，其中：中转平台8包括电动升降座801、支撑板802与三个支撑杆803，电动升降座801安装至底板1的顶部，支撑板802安装至电动升降座801的顶部，三个支撑杆803均固定连接至支撑板802的顶部。
29.本实用新型中，利用电动升降座801的设置，便于对支撑板802起到支撑作用的同时可跟随晶片的摆放情况进行升降，从而减少两个机械臂4的运动时间，提升分选效率，利用三个支撑杆803的设置，便于对晶片进行支撑，三个支撑杆803与支撑板802之间的空隙便于两个机械臂4可正常插入，保证晶片可正常拿取。
30.请参阅图1～4，其中：放置箱6包括箱体601、两组支撑条602与两组防滑垫603，两个箱体601分别安装至两个单向导轨5的内部，四组支撑条602分别固定连接至两个箱体601内部的左右两侧，四组防滑垫603分别嵌设至四组支撑条602的顶部。
31.本实用新型中，利用四组支撑条602的设置，便于对晶片起到支撑作用，相邻两个支撑条602之间的空隙，便于两个机械臂4正常插入，对晶片进行拿取，利用四组防滑垫603的设置，便于减少在晶片拿取放置与放置箱6运动过程中使晶片发生滑动偏移现象。
32.请参阅图1～3，其中：推送组件7包括电动推杆701与推板702，电动推杆701安装至底板1的内部，推板702固定连接至电动推杆701的左端。
33.本实用新型中，利用电动推杆701运作，便于使推板702推动右侧放置箱6运动，使其运动至左侧单向导轨5内部，便于继续进行分选工作，相比传统上下料方式，更加高效便捷。
34.请参阅图1～2，其中：三个支撑杆803的顶端均固定连接有防滑球10，三个防滑球10均为橡胶材质制成。
35.本实用新型中，根据三个防滑球10均为橡胶材质制成，便于减少晶片在放置拿取过程中发生滑动现象。
36.请参阅图1，其中：底板1的左侧安装有工业电脑9。
37.本实用新型中，利用工业电脑9的设置，便于工作人员预先针对整个装置内部电气元件进行调试与设置，使整个分选过程中更加顺畅。
38.需要说明的是，本技术中的各设备均为市场常见设备，具体使用时可根据需求选择，且各设备的电路连接关系均属于简单的串联、并联连接电路，在电路连接这一块并不存在创新点，本领域技术人员可以较为容易的实现，属于现有技术，不再赘述。
39.工作原理：利用工业电脑9的设置，便于工作人员预先针对整个装置内部电气元件进行调试与设置，使整个分选过程中更加顺畅，利用底板1的设置，便于对整个装置起到支
撑作用，利用两个单向导轨5的设置，便于带动两个放置箱6进行运动，利用四组支撑条602的设置，便于对晶片起到支撑作用，相邻两个支撑条602之间的空隙，便于两个机械臂4正常插入，对晶片进行拿取，利用四组防滑垫603的设置，便于减少在晶片拿取放置与放置箱6运动过程中使晶片发生滑动偏移现象，在分选前使用者可将左侧单向导轨5内放置空的放置箱6，右侧单向导轨5内放置具备晶片的放置箱6，利用两个支撑座3的设置，便于对两个机械臂4起到支撑作用，随后利用左侧机械臂4对后侧放置箱6内部的晶片进行拿取，随后将晶片放入分选检测机器2内部，与此同时右侧机械臂4对下一个晶片进行拿取，当晶片检测完毕后，左侧运动的机械臂4将其放置在中转平台8上，利用电动升降座801的设置，便于对支撑板802起到支撑作用的同时可跟随晶片的摆放情况进行升降，从而减少两个机械臂4的运动时间，提升分选效率，利用三个支撑杆803的设置，便于对晶片进行支撑，三个支撑杆803与支撑板802之间的空隙便于两个机械臂4可正常插入，保证晶片可正常拿取，根据三个防滑球10均为橡胶材质制成，便于减少晶片在放置拿取过程中发生滑动现象，与此同时右侧机械臂4将拿取完成的晶片放置分选检测机器2内部，当该晶片检测完成后，上一次检测完成的晶片将被左侧机械臂4放入左侧放置箱6的内部，随后对下一个晶片进行拿取，放入分选检测机器2中，同时右侧机械臂4将检测完毕的晶片放置在中转平台8上，两个机械臂4沿此工作方式持续交替工作，随后当右侧放置箱6内部晶片全部检测完毕后，此时处于空箱状态，随后利用左侧单向导轨5将检测完毕的晶片运出，随后利用推送组件7将空的放置箱6推入左侧单向导轨5内，利用电动推杆701运作，便于使推板702推动右侧放置箱6运动，使其运动至左侧单向导轨5内部，便于继续进行分选工作，相比传统上下料方式，更加高效便捷，随后利用右侧单向导轨5将下一批次的晶片运输至底板1上，继续进行晶片检测工作，整个装置，便于减少放置箱6占用数量，同时可提升送料的效率，同时利用双机械臂4配合中转平台8的设置，便于在一个晶片分选过程中，对下一个晶片进行预先拿取，从而节省送料时间，有效的提升晶粒的分选生产效率。
40.以上所述，仅为本实用新型较佳的具体实施方式；但本实用新型的保护范围并不局限于此。任何熟悉本技术领域的技术人员在本实用新型揭露的技术范围内，根据本实用新型的技术方案及其改进构思加以等同替换或改变，都应涵盖在本实用新型的保护范围内。