烹饪器具温度测量设备、测试方法、测试装置和烹饪器具与流程

1.本技术涉及家用电器技术领域，特别是涉及一种烹饪器具温度测量设备、测试方法、测试装置和烹饪器具。


背景技术：

2.随着人民生活水平的不断提高，出现了各种各样的烹饪器具，如烤箱、蒸箱、智能电饭煲等。通常需要对烹饪器具进行烹饪测试，评价烹饪器具的烹饪效果。而烹饪测试过程中，需要对烹饪器具内所烹饪的食物进行温度测量。
3.传统的烹饪器具温度测量设备，配置热电偶采集烹饪器具中某一点的空气温度，进而推断出食物受热后的温度，进行烹饪效果的评价。由于烹饪器具中某一点的空气温度与实际的食物加热温度无法达到较好的拟合，因此，传统的烹饪器具温度测量设备，存在加热温度检测数据不准确的缺点。


技术实现要素：

4.基于此，有必要针对传统烹饪器具温度测量设备加热温度检测数据不准确的问题，提供一种烹饪器具温度测量设备、测试方法、测试装置和烹饪器具，提高烹饪器具测试过程中加热温度检测数据的准确性。
5.第一方面，本技术提供了一种烹饪器具温度测量设备，包括云母片和探测器；所述云母片布置于待测烹饪器具的器皿上；所述探测器用于探测所述云母片在烹饪测试过程中的属性；所述云母片在烹饪测试过程中的属性用于确定对应位置的加热温度。
6.在其中一个实施例中，所述待测烹饪器具为烤箱；所述云母片布置于所述烤箱的烤架上。
7.在其中一个实施例中，所述云母片的数量为两片以上，各所述云母片铺满所述烤架。
8.在其中一个实施例中，所述云母片在烹饪测试过程中的属性为颜色属性，所述探测器为红外探测器。
9.上述烹饪器具温度测量设备，将云母片布置于用于放置被烹饪食物的器皿上，并配置探测器探测云母片在烹饪测试过程中的属性，根据云母片的属性确定云母片所在位置的加热温度，相当于用云母片代替食物进行烹饪测试，并根据云母片属性变化情况，确定云母片所在位置的加热温度变化情况，由于云母片的片状属性及良好的热传导性能，可以模拟烹饪过程中食物的大面积受热过程，有利于提高烹饪器具测试过程中加热温度检测数据的准确性。
10.第二方面，本技术提供了一种烹饪器具测试方法，包括：
11.获取云母片在待测烹饪器具测试过程中的属性，并根据所述属性确定所述云母片的温度；所述云母片布置于所述待测烹饪器具的器皿上；
12.根据所述云母片的温度，确定所述云母片所在位置的加热温度；
13.根据所述加热温度，得到所述待测烹饪器具的烹饪测试结果并输出。
14.在其中一个实施例中，所述获取云母片在待测烹饪器具测试过程中的属性，并根据所述属性确定所述云母片的温度之前，还包括：
15.获取待测烹饪器具的测试要求，并根据所述测试要求确定所述待测烹饪器具在测试过程中的工作参数，并输出提示信息。
16.在其中一个实施例中，所述云母片在待测烹饪器具测试过程中的属性包括颜色属性；所述获取云母片在待测烹饪器具测试过程中的属性，并根据所述属性确定所述云母片的温度，包括：
17.获取云母片在待测烹饪器具测试过程中的颜色；
18.根据所述颜色，以及预存的云母片颜色与温度的对应关系，确定所述云母片在所述待测烹饪器具测试过程中的温度。
19.在其中一个实施例中，所述待测烹饪器具为烤箱；所述云母片的数量为两片以上，各所述云母片布置于所述烤箱的烤架上，且铺满所述烤架；所述根据所述加热温度，得到所述待测烹饪器具的烹饪测试结果并输出，包括：
20.根据所述加热温度，确定所述烤箱的加热温度均匀性和加热温度变化情况，并基于所述加热温度均匀性和所述加热温度变化情况，得到所述烤箱的烹饪测试结果并输出。
21.第三方面，本技术提供了一种烹饪器具测试装置，包括：
22.云母片温度确定模块，用于获取云母片在待测烹饪器具测试过程中的属性，并根据所述属性确定所述云母片的温度；所述云母片布置于所述待测烹饪器具的器皿上；
23.加热温度确定模块，用于根据所述云母片的温度，确定所述云母片所在位置的加热温度；
24.烹饪测试结果确定模块，用于根据所述加热温度，得到所述待测烹饪器具的烹饪测试结果并输出。
25.在其中一个实施例中，所述烹饪器具测试装置还包括工作参数确定模块，用于获取待测烹饪器具的测试要求，并根据所述测试要求确定所述待测烹饪器具在测试过程中的工作参数，并输出提示信息。
26.在其中一个实施例中，所述云母片在待测烹饪器具测试过程中的属性包括颜色属性；云母片温度确定模块具体用于：
27.获取云母片在待测烹饪器具测试过程中的颜色；
28.根据所述颜色，以及预存的云母片颜色与温度的对应关系，确定所述云母片在所述待测烹饪器具测试过程中的温度。
29.在其中一个实施例中，所述待测烹饪器具为烤箱；所述云母片的数量为两片以上，各所述云母片布置于所述烤箱的烤架上，且铺满所述烤架；烹饪测试结果确定模块具体用于：根据所述加热温度，确定所述烤箱的加热温度均匀性和加热温度变化情况，并基于所述加热温度均匀性和所述加热温度变化情况，得到所述烤箱的烹饪测试结果并输出。
30.第四方面，本技术提供了一种烹饪器具，包括控制单元、烹饪单元和上述的烹饪器具温度测量设备；所述控制单元连接所述烹饪单元和所述烹饪器具温度测量设备，用于执行如上述的烹饪器具测试方法。
31.上述烹饪器具测试方法、装置和烹饪器具，将云母片布置于用于放置被烹饪食物
的器皿上，并配置探测器探测云母片在烹饪测试过程中的属性，根据云母片的属性确定云母片所在位置的加热温度，相当于用云母片代替食物进行烹饪测试，并根据云母片属性变化情况，确定云母片所在位置的加热温度变化情况，一方面，由于云母片的片状属性及良好的热传导性能，可以模拟烹饪过程中食物的大面积受热过程，有利于提高烹饪器具测试过程中加热温度检测数据的准确性，另一方面由于云母片具有耐热性好的优点，测试过程中不会污染待烹饪器具，清洁方便，可以减小测试工作量，提高效率。
附图说明
32.为了更清楚地说明本技术实施例或传统技术中的技术方案，下面将对实施例或传统技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
33.图1为一实施例中烹饪器具测试方法的流程图；
34.图2为一实施例中获取云母片在待测烹饪器具测试过程中的属性，并根据该属性确定云母片的温度的流程图；
35.图3为另一实施例中烹饪器具测试方法的流程图；
36.图4为一实施例中烹饪器具测试装置的组成框图；
37.图5为另一实施例中烹饪器具测试装置的组成框图；
38.图6为一实施例中烹饪器具的组成框图。
具体实施方式
39.为了便于理解本技术，下面将参照相关附图对本技术进行更全面的描述。附图中给出了本技术的实施例。但是，本技术可以以许多不同的形式来实现，并不限于本文所描述的实施例。相反地，提供这些实施例的目的是使本技术的公开内容更加透彻全面。
40.除非另有定义，本文所使用的所有的技术和科学术语与属于本技术的技术领域的技术人员通常理解的含义相同。本文中在本技术的说明书中所使用的术语只是为了描述具体的实施例的目的，不是旨在于限制本技术。
41.需要说明的是，当一个元件被认为是“连接”另一个元件时，它可以是直接连接到另一个元件，或者通过居中元件连接另一个元件。此外，以下实施例中的“连接”，如果被连接的对象之间具有电信号或数据的传递，则应理解为“电连接”、“通信连接”等。
42.在此使用时，单数形式的“一”、“一个”和“所述/该”也可以包括复数形式，除非上下文清楚指出另外的方式。还应当理解的是，术语“包括/包含”或“具有”等指定所陈述的特征、整体、步骤、操作、组件、部分或它们的组合的存在，但是不排除存在或添加一个或更多个其他特征、整体、步骤、操作、组件、部分或它们的组合的可能性。
43.热辐射及热对流过程受到多种因素的影响。其中，影响热辐射的主要因素有：温度、黑度、角系数(几何位置)、面积大小、中间介质等；影响热对流的主要因素有：流体流动状态、流体有无相变发生、流体的物理性质、受热面的结构特性等。因此，受热介质的面积对温度的吸收具有重要的影响。经发明人研究发现，传统技术中的烹饪器具温度测量设备之所以存在加热温度检测数据不准确的缺点，是因为采用热电偶直接进行单点的温度采集忽
略了受热面积带来的影响，无法准确评价食物的大面积受热情况。基于此，本技术提出一种烹饪器具温度测量设备、测试方法、测试装置和烹饪器具，用云母片代替食物进行烹饪测试，并根据云母片温度确定云母片所在位置的加热温度，以提高烹饪器具测试过程中加热温度检测数据的准确性。
44.在一个实施例中，本技术提供了一种烹饪器具温度测量设备，包括云母片和探测器。该云母片布置于待测烹饪器具的器皿上。该探测器用于探测云母片在烹饪测试过程中的属性。云母片在烹饪测试过程中的属性用于确定对应位置的加热温度。
45.其中，待测烹饪器具的具体类型并不唯一，例如，可以是烤箱、蒸箱或智能电饭煲等。对应的，待测烹饪器具的器皿，可以是烤箱内的烤架，蒸箱内的蒸盘或智能电饭煲的煲体。云母由多硅白云母、石英、石榴石和金红石等组成，具有绝缘及低损失的热阻功能，且性价比高。云母片是指厚度与长度，以及厚度与宽度的比值均小于设定阈值的片状云母，以尽可能模拟食物在烹饪器具内大面积受热的场景。该云母片，可以是天然云母片或合成云母片。其中，天然云母片是具有一定厚度、一定形状的云母零件，为天然矿制品，具有无污染、绝缘、耐电压性能好的特点。合成云母片(又称合成氟金云母)，具有纯净、透明度高、耐高温，耐强酸强碱，化学稳定性高，电绝缘性能好的特点。进一步的，可以使用多个云母片，分别布置于待测烹饪器具的器皿的不同位置，以获取多个位置的加热温度。
46.在一个实施例中，待测烹饪器具为烤箱；云母片布置于烤箱的烤架上。其中，云母片在烤架上的布置方式并不唯一。例如，使用一个云母片时，可以将云母片布置于烤架的中间或两侧；使用多个云母片时，可以将云母片间隔一定间隙阵列布置于烤架上，也可以通过拼接，将多个云母片边缘对边缘，组成一个整体，布置于烤架的中间或两侧。在一个实施例中，云母片的数量为两片以上，各云母片铺满烤架。其中，云母片铺满烤架是指云母片完全覆盖整个烤架。具体的，可以根据单个云母片尺寸和烤架尺寸，确定云母片的数量和布置方式，以使云母片铺满整个烤架，获取烹饪测试过程中整个烤架的云母片属性，进而得到整个烤架的加热温度信息，以确定食物在烤架不同位置上的烹饪情况，提高烹饪器具测试方法的科学全面性。
47.由于云母片具有良好的热传导性能，因此同一云母片的不同位置的温度趋于一致。基于此，云母片长度和宽度方向的尺寸越小，检测精度越高，但裁剪难度越大，基于此，可以综合考虑检测精度和裁剪难度，确定云母片的尺寸。在一个实施例中，云母片的尺寸与对应待测烹饪器具的测试要求一致。该测试要求，可以是企标测试要求，也可以是国标测试要求。以待测烹饪器具为烤箱的情况为例，若某公司的企标测试要求中，规定用于烹饪测试的食物为白面包片，且该白面包片的尺寸为7cm*7cm。则将云母片也裁剪成7cm*7cm的尺寸，平铺于烤架上，使用云母片替代白面包片进行烹饪测试。云母片的尺寸与对应待测烹饪器具的测试要求一致，可以尽可能地接近对应烹饪器具的标准测试要求，有利于提高烹饪测试结果的准确性。
48.进一步的，云母片在烹饪测试过程中的属性可以是颜色属性、尺寸属性或温度属性，对应的，探测器可以是用于探测云母片颜色变化的红外探测器，也可以是用于探测云母片尺寸变化的尺寸探测器，如电感测微仪或机器视觉检测系统，还可以是用于探测云母片温度变化的温度传感器。在一个实施例中，云母片在烹饪测试过程中的属性为颜色属性，探测器为红外探测器。具体的，云母片具有良好的耐热性，在高温环境下不会溶解，但随着温
度的升高，会呈现出不同的颜色，基于此，可以使用红外探测器采集云母片的颜色，并根据预设的云母片颜色与温度的对应关系，确定云母片的温度，进而确定对应位置的加热温度。通过红外探测器探测云母片的颜色，进而确定云母片的温度，由于红外探测器具有低功耗、性能稳定且抗干扰能力强的优点，有利于进一步提高测试准确性。
49.上述烹饪器具温度测量设备，配置云母片布置于用于放置被烹饪食物的器皿上，并配置探测器探测云母片在烹饪测试过程中的属性，根据云母片的属性确定云母片所在位置的加热温度，相当于用云母片代替食物进行烹饪测试，并根据云母片属性变化情况，确定云母片所在位置的加热温度变化情况，由于云母片的片状属性及良好的热传导性能，可以模拟烹饪过程中食物的大面积受热过程，有利于提高烹饪器具测试过程中加热温度检测数据的准确性。
50.在一个实施例中，如图1所示，提供了一种烹饪器具测试方法，包括步骤s200至步骤s600。
51.步骤s200：获取云母片在待测烹饪器具测试过程中的属性，并根据该属性确定云母片的温度。
52.其中，云母片布置于待测烹饪器具的器皿上。待测烹饪器具的具体类型并不唯一，例如，可以是烤箱、蒸箱或智能电饭煲等。对应的，待测烹饪器具的器皿，可以是烤箱内的烤架，蒸箱内的蒸盘或智能电饭煲的煲体。云母片是指厚度与长度，以及厚度与宽度的比值均小于设定阈值的片状云母，以尽可能模拟食物在烹饪器具内大面积受热的场景。该云母片，可以是天然云母片或合成云母片。进一步的，可以使用多个云母片，分别布置于待测烹饪器具的器皿的不同位置，以获取多个位置的加热温度。
53.在一个实施例中，待测烹饪器具为烤箱；云母片布置于烤箱的烤架上。其中，云母片在烤架上的布置方式并不唯一。例如，使用一个云母片时，可以将云母片布置于烤架的中间或两侧；使用多个云母片时，可以将云母片间隔一定间隙阵列布置于烤架上，也可以通过拼接，将多个云母片边缘对边缘，组成一个整体，布置于烤架的中间或两侧。在一个实施例中，云母片的数量为两片以上，各云母片铺满烤架。其中，云母片铺满烤架是指云母片完全覆盖整个烤架。具体的，可以根据单个云母片尺寸和烤架尺寸，确定云母片的数量和布置方式，以使云母片铺满整个烤架，获取烹饪测试过程中整个烤架的云母片属性，进而得到整个烤架的加热温度信息，以确定食物在烤架不同位置上的烹饪情况，提高烹饪器具测试方法的科学全面性。
54.由于云母片具有良好的热传导性能，因此同一云母片的不同位置的温度趋于一致。基于此，云母片长度和宽度方向的尺寸越小，检测精度越高，但裁剪难度越大，基于此，可以综合考虑检测精度和裁剪难度，确定云母片的尺寸。在一个实施例中，云母片的尺寸与对应待测烹饪器具的测试要求一致。该测试要求，可以是企标测试要求，也可以是国标测试要求。以待测烹饪器具为烤箱的情况为例，若某公司的企标测试要求中，规定用于烹饪测试的食物为白面包片，且该白面包片的尺寸为7cm*7cm。则将云母片也裁剪成7cm*7cm的尺寸，平铺于烤架上，使用云母片替代白面包片进行烹饪测试。云母片的尺寸与对应待测烹饪器具的测试要求一致，可以尽可能地接近对应烹饪器具的标准测试要求，有利于提高烹饪测试结果的准确性。
55.进一步的，云母片在烹饪测试过程中的属性可以是颜色属性、尺寸属性或温度属
性。具体的，可以由对应的探测器探测得到云母片在烹饪测试过程中的属性，并发送至控制单元，再由控制单元根据该属性，以及预存的云母片属性与温度的对应关系，确定云母片的温度。以被检测的属性为尺寸属性的情况为例。物体由于温度改变会发生涨缩现象，具体表现为热胀冷缩，其变化能力以一定压力下，单位温度变化所导致的长度量值的变化，即热膨胀系数表示，云母片也不例外。基于此，可以采用尺寸探测器采集云母片在烹饪测试过程中的尺寸，并结合云母片尺寸与温度的对应关系，确定云母片温度。其中，云母片尺寸与温度的对应关系，根据云母片的初始尺寸、初始温度以及热膨胀系数确定。
56.步骤s400：根据云母片的温度，确定云母片所在位置的加热温度。
57.具体的，根据云母片的温度，确定云母片所在位置的加热温度方式并不唯一。例如，可以简单地将云母片的温度等同于云母片所在位置的加热温度，以简化计算过程，提高工作效率；也可以根据云母片和企标/国标测试要求中规定的用于烹饪测试的食物的性质差异，如比热容、热导率等，引入误差系数，并结合云母片的温度和误差系数，得到云母片所在位置的加热温度。
58.步骤s600：根据加热温度，得到待测烹饪器具的烹饪测试结果并输出。
59.其中，狭义的烹饪，是指通过对食物加热，使食物由生变熟的过程。基于此，以食物为研究对象，烹饪过程可以表示为因加热引起的食物的温度变化过程，而食物的温度变化过程与烹饪过程的加热温度直接相关，这也将最终影响食物的烹饪效果。以待测烹饪器具为烤箱，用于烹饪测试的食物为白面包片的情况为例：若加热温度太低，则白面包片可能无法上色；若加热温度太高，则白面包片可能烤焦；若加热温升过慢，则白面包片可能水分丧失过多，影响口感。总之，根据对应食物的烹饪要求，可以建立加热温度变化情况与烹饪效果的关系。
60.基于此，可以根据待测烹饪器具测试过程中云母片的温度，得到对应的加热温度，并根据加热温度，得到测试过程中的加热温度变化情况，该加热温度变化情况即对应实际烹饪过程中的食物温度变化情况，再结合预存的食物温度变化情况与烹饪效果的对应关系，确定待测烹饪器具的烹饪效果，最后再基于该烹饪效果，得到烹饪测试结果并输出。
61.进一步的，如上文所述，以食物为研究对象，烹饪过程可以表示为食物的温度变化过程。而针对特定的食物，必然存在其可以承受的最高温度，例如白面包片烤焦时的对应温度，基于此，可以根据实时采集到的加热温度，以及预设临界温度，若加热温度达到预设临界温度，则结束当前烹饪测试，生成烹饪测试结果并输出。
62.此外，烹饪测试结果的输出对象和输出方式并不唯一。例如，烹饪测试结果的输出对象可以是显示装置、移动终端或上位机；烹饪测试结果的输出方式，可以是文字、图片或图文结合。进一步的，还可以根据加热温度变化情况与预设的理想加热温度变化曲线的偏离程度，设定多个等级的烹饪效果，得到被测烹饪器具的烹饪效果评级，作为烹饪测试结果输出。
63.上述烹饪器具测试方法，将云母片布置于放置被烹饪食物的器皿上，并配置探测器探测云母片在烹饪测试过程中的属性，根据云母片的属性确定云母片所在位置的加热温度，相当于用云母片代替食物进行烹饪测试，并根据云母片属性变化情况，确定云母片所在位置的加热温度变化情况，一方面，由于云母片的片状属性及良好的热传导性能，可以模拟烹饪过程中食物的大面积受热过程，有利于提高烹饪器具测试过程中加热温度检测数据的
准确性，另一方面由于云母片具有耐热性好的优点，测试过程中不会污染待烹饪器具，清洁方便，可以减小测试工作量，提高效率。
64.在一个实施例中，云母片在待测烹饪器具测试过程中的属性包括颜色属性；如图2所示，步骤s200包括步骤s220和步骤s240。
65.步骤s220：获取云母片在待测烹饪器具测试过程中的颜色。
66.步骤s240：根据该颜色，以及预存的云母片颜色与温度的对应关系，确定云母片在待测烹饪器具测试过程中的温度。
67.具体的，云母片具有良好的耐热性，在高温环境下不会溶解，但随着温度的升高，会呈现出不同的颜色，基于此，可以采集云母片在待测烹饪器具测试过程中的颜色，并根据预设的云母片颜色与温度的对应关系，确定云母片的温度，进而确定对应位置的加热温度。进一步的，云母片颜色与温度的对应关系可以以数据库的方式存储于控制单元的内置存储器，或存储于与控制单元连接的外部存储器中。
68.上述实施例中，充分利用云母片的特性，通过检测云母片的颜色确定云母片的温度，一方面可以提高云母片温度检测结果的准确性，另一方面可以提高温度检测过程的便利性，进而提升烹饪测试结果的准确性和测试效率。
69.在一个实施例中，待测烹饪器具为烤箱；云母片的数量为两片以上，各云母片布置于烤箱的烤架上，且铺满烤架；步骤s600包括：根据加热温度，确定烤箱的加热温度均匀性和加热温度变化情况，并基于该加热温度均匀性和加热温度变化情况，得到烤箱的烹饪测试结果并输出。
70.具体的，根据同一时刻烤架不同位置的云母片温度，可以确定对应位置的加热温度，进而得到烤架不同位置的加热温度均匀性，即为烤箱的加热温度均匀性；根据烤架同一位置不同时刻的云母片温度，可以确定对应时刻的加热温度，进而得到该位置的加热温度变化情况，即为烤箱的加热温度变化情况。
71.其中，加热温度均匀性可以用烤架不同位置加热温度的极差、标准差、方差或变异系数等参数表征，具体可以取均匀性最差的时刻所对应的参数，或不同时刻对应参数的平均值表征测试过程中的加热温度均匀性。加热温度变化情况可以用加热温度变化曲线与预设的理想加热温度变化曲线之间的距离，进行量化表征。进一步的，可以选择与预设的理想加热温度变化曲线偏离程度最大的位置作为研究对象，得到加热温度变化情况；也可以通过选定烤架上一个或多个特定位置，并根据该选定位置在不同时刻的平均温度，得到加热温度变化情况。
72.此外，基于该加热温度均匀性和加热温度变化情况，得到待测烹饪器具的烹饪测试结果的方式并不唯一。
73.在一个实施例中，可以设定多个均匀性阈值，对应多个均匀性等级：当加热温度均匀性小于第一均匀性阈值时，均匀性等级为b；当加热温度均匀性大于或等于第一均匀性阈值，且小于第二均匀性阈值时，均匀性等级为a；当加热温度均匀性大于或等于第二均匀性阈值时，均匀性等级为s。其中，等级s的温度均匀性最优。同样的，可以设定多个温度变化偏离阈值，对应多个温度变化情况等级。再根据温度均匀性等级和温度变化情况等级，得到被测烹饪器具的烹饪效果评级，作为烹饪测试结果输出。
74.在另外的实施例中，可以根据加热温度均匀性和加热温度变化情况，以及二者对
烹饪效果的贡献率，得到烹饪效果评分，作为烹饪测试结果并输出。其中，加热温度均匀性对烹饪效果的贡献率，与加热温度变化情况对烹饪效果的贡献率之和小于或等于1。
75.上述实施例中，一方面，将云母片铺满整个烤架，可以获取烹饪测试过程中整个烤架的云母片属性，进而得到整个烤架的加热温度信息，可以确定食物在烤架不同位置上的烹饪情况，提高烹饪器具测试方法的科学全面性；另一方面，基于加热温度均匀性和加热温度变化情况，从不同维度对烹饪效果进行评估，有利于提高烹饪测试结果的准确性。
76.在一个实施例中，如图3所示，步骤s200之前，还包括步骤s100：获取待测烹饪器具的测试要求，并根据该测试要求确定待测烹饪器具在测试过程中的工作参数，并输出提示信息。
77.其中，测试要求，可以是企标测试要求，也可以是国标测试要求。具体的，控制单元可以通过设置待测烹饪器具中各功能单元的工作参数，达到设置待测烹饪器具在测试过程中的工作参数的目的。以待测烹饪器具为烤箱的情况为例，若某公司的企标测试要求中，规定测试过程中，烤箱应工作于上管模式，工作温度为该模式下的最高温度，测试烤架为最上层烤架，且需预热设定时长(如5min)。则需对应设置待测烹饪器具在测试过程中的工作参数，具体的，控制单元根据企标测试要求，确定待测烹饪器具在测试过程中的工作参数，并输出第一提示信息，提示工作人员进行对应参数的设置，具体包括：设置工作模式为上管模式，启用烤箱的所有上部电热管，且关闭循环风扇，预热预设时长。进一步的，预热预设时长后，控制单元输出第二提示信息提示工作人员将云母片放入烤箱的最上层烤架，并在确定云母片放入烤架后，闭锁烤箱门，保持上管模式进行后续的烹饪测试工作。
78.进一步的，控制单元获取待测烹饪器具的测试要求的具体方式，可以是主动获取，也可以是被动接收。此外，上述第一提示信息和第二提示信息，可以以声音或文字的方式输出。
79.上述实施例中，在获取云母片在待测烹饪器具测试过程中的属性，并根据该属性确定云母片的温度之前，先根据对应的测试要求进行待测烹饪器具工作参数的设置，可以确保烹饪器具测试过程中的工作参数符合对应的测试要求，有利于提高测试方法的科学性，进而确保测试结果的可靠性。
80.应该理解的是，虽然如上所述的各实施例所涉及的流程图中的各个步骤按照箭头的指示依次显示，但是这些步骤并不是必然按照箭头指示的顺序依次执行。除非本文中有明确的说明，这些步骤的执行并没有严格的顺序限制，这些步骤可以以其它的顺序执行。而且，如上所述的各实施例所涉及的流程图中的至少一部分步骤可以包括多个步骤或者多个阶段，这些步骤或者阶段并不必然是在同一时刻执行完成，而是可以在不同的时刻执行，这些步骤或者阶段的执行顺序也不必然是依次进行，而是可以与其它步骤或者其它步骤中的步骤或者阶段的至少一部分轮流或者交替地执行。
81.基于同样的发明构思，本技术实施例还提供了一种用于实现上述所涉及的烹饪器具测试方法的烹饪器具测试装置。该装置所提供的解决问题的实现方案与上述方法中所记载的实现方案相似，故下面所提供的一个或多个烹饪器具测试装置实施例中的具体限定，可以参见上文中对于烹饪器具测试方法的限定，在此不再赘述。
82.在一个实施例中，如图4所示，提供了一种烹饪器具测试装置100，包括云母片温度确定模块120、加热温度确定模块140和烹饪测试结果确定模块160，其中：
83.云母片温度确定模块120，用于获取云母片在待测烹饪器具测试过程中的属性，并根据该属性确定云母片的温度；该云母片布置于待测烹饪器具的器皿上；
84.加热温度确定模块140，用于根据云母片的温度，确定云母片所在位置的加热温度；
85.烹饪测试结果确定模块160，用于根据加热温度，得到待测烹饪器具的烹饪测试结果并输出。
86.在一个实施例中，如图5所示，烹饪器具测试装置100还包括工作参数确定模块110，用于获取待测烹饪器具的测试要求，并根据该测试要求确定待测烹饪器具在测试过程中的工作参数，并输出提示信息。
87.在一个实施例中，云母片在待测烹饪器具测试过程中的属性包括颜色属性，云母片温度确定模块120具体用于：获取云母片在待测烹饪器具测试过程中的颜色；根据该颜色，以及预存的云母片颜色与温度的对应关系，确定云母片在待测烹饪器具测试过程中的温度。
88.在一个实施例中，待测烹饪器具为烤箱，云母片的数量为两片以上，各云母片布置于该烤箱的烤架上，且铺满烤架，烹饪测试结果确定模块160具体用于根据加热温度，确定烤架不同位置的加热温度均匀性，以及烤架同一位置的加热温度变化情况，并基于该加热温度均匀性和加热温度变化情况，得到待测烹饪器具的烹饪测试结果并输出。
89.上述烹饪器具测试装置中的各个模块可全部或部分通过软件、硬件及其组合来实现。上述各模块可以硬件形式内嵌于或独立于计算机设备中的处理器中，也可以以软件形式存储于计算机设备中的存储器中，以便于处理器调用执行以上各个模块对应的操作。
90.在一个实施例中，如图6所示，提供了一种烹饪器具，包括控制单元20、烹饪单元30和上述的烹饪器具温度测量设备10；该控制单元20连接烹饪单元30和烹饪器具温度测量设备10，用于执行上述的烹饪器具测试方法。
91.其中，关于烹饪器具温度测量设备10的具体限定参见上文，此处不再赘述。控制单元20是包含各类控制器或控制芯片，可以进行逻辑运算的硬件模块。烹饪单元30是包括加热器件，可以改变烹饪器具工作温度的硬件模块。以烤箱为例，烤箱的烹饪单元包括电热管和循环风扇等。具体的，控制单元20通过设置烹饪单元30的工作参数，使待测烹饪器具按照设定参数工作，进行烹饪测试，并通过烹饪器具温度测量设备10测量云母片在待测烹饪器具测试过程中的属性，再由控制单元20获取云母片在待测烹饪器具测试过程中的属性，并根据该属性确定云母片的温度，再根据云母片的温度，确定云母片所在位置的加热温度，最后再根据加热温度，得到待测烹饪器具的烹饪测试结果并输出。
92.上述烹饪器具，将云母片布置于用于放置被烹饪食物的器皿上，并配置探测器探测云母片在烹饪测试过程中的属性，根据云母片的属性确定云母片所在位置的加热温度，相当于用云母片代替食物进行烹饪测试，并根据云母片属性变化情况，确定云母片所在位置的加热温度变化情况，一方面，由于云母片的片状属性及良好的热传导性能，可以模拟烹饪过程中食物的大面积受热过程，有利于提高烹饪器具测试过程中加热温度检测数据的准确性，另一方面由于云母片具有耐热性好的优点，测试过程中不会污染待烹饪器具，清洁方便，可以减小测试工作量，提高效率。
93.在本说明书的描述中，参考术语“有些实施例”、“其他实施例”、“理想实施例”等的
描述意指结合该实施例或示例描述的具体特征、结构、材料或者特征包含于本发明的至少一个实施例或示例中。在本说明书中，对上述术语的示意性描述不一定指的是相同的实施例或示例。
94.以上实施例的各技术特征可以进行任意的组合，为使描述简洁，未对上述实施例中的各个技术特征所有可能的组合都进行描述，然而，只要这些技术特征的组合不存在矛盾，都应当认为是本说明书记载的范围。
95.以上所述实施例仅表达了本技术的几种实施方式，其描述较为具体和详细，但并不能因此而理解为对发明专利范围的限制。应当指出的是，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本技术构思的前提下，还可以做出若干变形和改进，这些都属于本技术的保护范围。因此，本技术专利的保护范围应以所附权利要求为准。