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烹饪器具温度测量设备、测试方法、测试装置和烹饪器具与流程

2022-02-22 09:22:11 来源:中国专利 TAG:

技术特征:
1.一种烹饪器具温度测量设备,其特征在于,包括云母片和探测器;所述云母片布置于待测烹饪器具的器皿上;所述探测器用于探测所述云母片在烹饪测试过程中的属性;所述云母片在烹饪测试过程中的属性用于确定对应位置的加热温度。2.根据权利要求1所述的烹饪器具温度测量设备,其特征在于,所述待测烹饪器具为烤箱;所述云母片布置于所述烤箱的烤架上。3.根据权利要求2所述的烹饪器具温度测量设备,其特征在于,所述云母片的数量为两片以上,各所述云母片铺满所述烤架。4.根据权利要求1至3中任意一项所述的烹饪器具温度测量设备,其特征在于,所述云母片在烹饪测试过程中的属性为颜色属性,所述探测器为红外探测器。5.一种烹饪器具测试方法,其特征在于,包括:获取云母片在待测烹饪器具测试过程中的属性,并根据所述属性确定所述云母片的温度;所述云母片布置于所述待测烹饪器具的器皿上;根据所述云母片的温度,确定所述云母片所在位置的加热温度;根据所述加热温度,得到所述待测烹饪器具的烹饪测试结果并输出。6.根据权利要求5所述的烹饪器具测试方法,其特征在于,所述获取云母片在待测烹饪器具测试过程中的属性,并根据所述属性确定所述云母片的温度之前,还包括:获取待测烹饪器具的测试要求,并根据所述测试要求确定所述待测烹饪器具在测试过程中的工作参数,并输出提示信息。7.根据权利要求5所述的烹饪器具测试方法,其特征在于,所述云母片在待测烹饪器具测试过程中的属性包括颜色属性;所述获取云母片在待测烹饪器具测试过程中的属性,并根据所述属性确定所述云母片的温度,包括:获取云母片在待测烹饪器具测试过程中的颜色;根据所述颜色,以及预存的云母片颜色与温度的对应关系,确定所述云母片在所述待测烹饪器具测试过程中的温度。8.根据权利要求5至7中任意一项所述的烹饪器具测试方法,其特征在于,所述待测烹饪器具为烤箱;所述云母片的数量为两片以上,各所述云母片布置于所述烤箱的烤架上,且铺满所述烤架;所述根据所述加热温度,得到所述待测烹饪器具的烹饪测试结果并输出,包括:根据所述加热温度,确定所述烤箱的加热温度均匀性和加热温度变化情况,并基于所述加热温度均匀性和所述加热温度变化情况,得到所述烤箱的烹饪测试结果并输出。9.一种烹饪器具测试装置,其特征在于,包括:云母片温度确定模块,用于获取云母片在待测烹饪器具测试过程中的属性,并根据所述属性确定所述云母片的温度;所述云母片布置于所述待测烹饪器具的器皿上;加热温度确定模块,用于根据所述云母片的温度,确定所述云母片所在位置的加热温度;烹饪测试结果确定模块,用于根据所述加热温度,得到所述待测烹饪器具的烹饪测试结果并输出。10.一种烹饪器具,其特征在于,包括控制单元、烹饪单元和如权利要求1至4中任意一项所述的烹饪器具温度测量设备;所述控制单元连接所述烹饪单元和所述烹饪器具温度测
量设备,用于执行如权利要求5至8中任意一项所述的烹饪器具测试方法。

技术总结
本申请涉及一种烹饪器具温度测量设备、测试方法、测试装置和烹饪器具,其中,该烹饪器具温度测量设备包括云母片和探测器;该云母片布置于待测烹饪器具的器皿上;该探测器用于探测云母片在烹饪测试过程中的属性;云母片在烹饪测试过程中的属性用于确定对应位置的加热温度。上述烹饪器具温度测量设备,将云母片布置于用于放置被烹饪食物的器皿上,并配置探测器探测云母片在烹饪测试过程中的属性,根据云母片的属性确定云母片所在位置的加热温度,相当于用云母片代替食物进行烹饪测试,并根据云母片属性变化情况,确定云母片所在位置的加热温度变化情况,有利于提高烹饪器具测试过程中加热温度检测数据的准确性。热温度检测数据的准确性。热温度检测数据的准确性。


技术研发人员:张淼 陈丹慧 石磊 熊明洲
受保护的技术使用者:珠海格力电器股份有限公司
技术研发日:2021.11.01
技术公布日:2022/2/6
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