一种修调电路及集成电路的制作方法

1.本技术涉及集成电路技术领域，特别涉及一种修调电路及集成电路。


背景技术：

2.集成电路在生产中通常存在片间偏差问题，为了保证产品良率，需要对芯片进行测试和修调。目前在成品测试中，通常需要两个端口，一个端口灌注时钟信号，另一个端口灌注修调信号，修调信号是通过对芯片进行成品参数测试，再根据测试的值与实际需求值对比，计算出修调的逻辑值，再对芯片灌注修调信号，通过内部修调电路对芯片进行修调，这种测试和修调方式只能在产品还未进行封装时进行，不仅占用了中测资源，而且产品修调后再进行封装可能会受到封装应力影响而导致修调后的芯片参数发生偏差，从而降低成品良率。


技术实现要素：

3.本技术实施例提供一种修调电路及集成电路，解决了现有集成电路的修调方式会降低成品良率的问题。
4.本发明是这样实现的，一种修调电路，包括：
5.带隙基准模块，所述带隙基准模块用于产生内部基准电压；
6.比较器模块，所述比较器模块的正输入端连接所述带隙基准模块的输出端，所述比较器模块的负输入端输入外部标准电压；
7.逻辑判断模块，所述逻辑判断模块接入测试信号，且所述比较器模块的输出端连接所述逻辑判断模块；
8.所述逻辑判断模块用于根据所述比较器模块的输出结果判断所述带隙基准模块当前输出的内部基准电压是否为目标基准电压，并根据判断结果输出逻辑控制信号；
9.修调烧录模块，所述修调烧录模块分别与所述逻辑判断模块的输出端和所述带隙基准模块连接，所述修调烧录模块用于根据所述逻辑控制信号生成修调信号，以控制所述带隙基准模块自动调节当前输出的内部基准电压。
10.根据本技术实施例提供的修调电路，带隙基准模块输出的内部基准电压会进入比较器模块，比较器模块会对内部基准电压和外部标准电压进行比较，逻辑判断模块会判断比较器模块的输出结果是高电平还是低电平，并随之判断出当前的内部基准电压是否是目标基准电压，得到逻辑控制信号，修调烧录模块再根据逻辑控制信号生成修调信号来控制当前输出的内部基准电压得到调节；本技术只需要接入一路测试信号即可进入修调模式，且自动完成内部基准电压的修调，免去了传统的成品测试步骤，从而可以在电路封装后进行修调，极大的提高了成品良率。
11.在其中一个实施例中，所述测试信号为时钟信号。
12.在其中一个实施例中，所述逻辑判断模块包括若干个串联的移位寄存器，所述时钟信号接入所述移位寄存器中。
13.在其中一个实施例中，所述修调烧录模块包括熔丝，所述带隙基准模块包括可变修调电阻；
14.所述修调烧录模块输出的修调信号用于控制烧断所述熔丝或者用于调节所述可变修调电阻的阻值，以使所述带隙基准模块当前输出的内部基准电压得到调节。
15.在其中一个实施例中，所述带隙基准模块输出的内部基准电压的可调节档位个数与所述移位寄存器的个数相等。
16.在其中一个实施例中，在修调过程中，所述带隙基准模块输出的内部基准电压从最小值开始依次增大。
17.在其中一个实施例中，修调电路还包括采样分压模块，所述采样分压模块用于产生外部标准电压，所述采样分压模块连接所述比较器模块的负输入端。
18.在其中一个实施例中，所述逻辑判断模块包括若干个串联的移位寄存器以及振荡器，所述振荡器与所述移位寄存器连接；
19.所述测试信号接入所述振荡器，所述振荡器用于产生时钟信号。
20.本技术实施例还提供了一种集成电路，包括如上述任一实施例所述的修调电路。
21.本技术提供的修调电路及集成电路的有益效果在于：本技术直接跳过中测步骤，可以在电路封装后进行测试和修调，并且只需要通过一个引脚灌入测试信号，就可以自动实现修调功能，缩短了产品开发周期，提高了成品良率；需要用到的引脚数量减少，对于一些少引脚的产品也同样适用。
附图说明
22.图1是本技术实施例一提供的修调电路的模块示意图。
23.图2是本技术实施例一提供的修调电路的比较器模块、带隙基准模块和采样分压模块的电路示意图。
24.图3是本技术实施例一提供的修调电路的逻辑判断模块和修调烧录模块的电路示意图。
25.图4是本技术实施例一中包括三个串联的移位寄存器的逻辑判断模块和修调烧录模块的电路示意图。
26.图5是本技术实施例二提供的修调电路的模块示意图。
27.附图标记：10、带隙基准模块；11、可变修调电阻；
28.20、比较器模块；
29.30、逻辑判断模块；31、移位寄存器；32、振荡器；
30.40、修调烧录模块；41、熔丝；
31.50、采样分压模块。
具体实施方式
32.为了使本发明的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本发明进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本发明，并不用于限定本发明。
33.本技术实施例提供一种修调电路，解决了现有集成电路的修调方式会降低成品良
率的问题。
34.实施例一
35.参考图1
‑
图2，本技术实施例提供的修调电路包括带隙基准模块10，带隙基准模块10用于产生内部基准电压；比较器模块20，比较器模块20的正输入端连接带隙基准模块10的输出端，比较器模块20的负输入端输入外部标准电压；逻辑判断模块30，逻辑判断模块30接入测试信号，且比较器模块20的输出端连接逻辑判断模块30；逻辑判断模块30用于根据比较器模块20的输出结果判断带隙基准模块10当前输出的内部基准电压是否为目标基准电压，并根据判断结果输出逻辑控制信号；修调烧录模块40，修调烧录模块40分别与逻辑判断模块30的输出端和带隙基准模块10连接，修调烧录模块40用于根据逻辑控制信号生成修调信号，以控制带隙基准模块10自动调节当前输出的内部基准电压。
36.根据本技术实施例提供的修调电路，带隙基准模块10输出的内部基准电压会进入比较器模块20，比较器模块20会对内部基准电压和外部标准电压进行比较，逻辑判断模块30会判断比较器模块20的输出结果是高电平还是低电平，并随之判断出当前的内部基准电压是否是目标基准电压，得到逻辑控制信号，修调烧录模块40再根据逻辑控制信号生成修调信号来控制当前输出的内部基准电压得到调节；本技术只需要接入一路测试信号即可进入修调模式，且自动完成内部基准电压的修调，免去了传统的成品测试步骤，从而可以在电路封装后进行修调，极大的提高了成品良率。
37.需要说明的是，上述测试信号为时钟信号。时钟信号(clock signal，简称clk)是时序逻辑的基础，用于决定逻辑单元中的状态何时更新，是有固定周期并与运行无关的信号量。将时钟信号clk接入逻辑判断模块30可以使逻辑判断模块30在判断完当前的内部基准电压不为目标基准电压之后进入下一个状态，也就是当前的内部基准电压得到调整，逻辑判断模块30再一次判断调整后的内部基准电压是否为目标基准电压，这样可以自动遍历所有档位的内部基准电压，实现自动修调的功能。
38.可选的，逻辑判断模块30包括若干个串联的移位寄存器31，时钟信号接入移位寄存器31中。
39.在数字电路中，用来存放二进制数据或代码的电路称为寄存器。移位寄存器中的数据可以在移位脉冲作用下依次逐位右移或左移，数据既可以并行输入、并行输出，也可以串行输入、串行输出，还可以并行输入、串行输出，串行输入、并行输出，十分灵活，用途也很广。移位寄存器31不仅能寄存数据，而且能在时钟信号的作用下使其中的数据依次左移或右移。通过移位寄存器31的设置可以使逻辑判断模块30依次从小到达遍历内部基准电压所有档位的值，从而自动修调内部基准电压。
40.可以理解的是，带隙基准模块10输出的内部基准电压的可调节档位个数与移位寄存器31的个数相等。移位寄存器31设置有若干个，每一个移位寄存器31都与修调烧录模块40连接，形成的若干个电路分别与逻辑判断模块30判断不同档位下的内部基准电压是否为目标基准电压对应，若干个移位寄存器31依次被触发，也就是逻辑判断模块30依次判断不同档位下的内部基准电压是否为目标基准电压。参考图4，移位寄存器31设置有三个，且三个移位寄存器31串联，每一个移位寄存器31都与修调烧录模块40连接，图4中将时钟信号clk和比较器模块20输出的信号voc输入逻辑判断模块30，移位寄存器31输出信号pt,逻辑判断模块30生成逻辑控制信号trim，将pt信号和trim信号输入修调烧录模块40，生成修调
信号tx，示例性的，图4中的移位寄存器31有三个，分别输出信号pt1、pt2和pt3，每一次只有一个移位寄存器31的输出信号输入修调烧录模块40，修调烧录模块40对应会生成修调信号tx1、tx2和tx3，这样可以对每一个档位的内部基准电压都进行独立判断，当某一个档位的内部基准电压为目标基准电压时可以将该内部基准电压保持固定不变，不被上下电或其他任何状态所干扰。
41.参考图3，修调烧录模块40包括熔丝41，带隙基准模块10包括可变修调电阻11；修调烧录模块40输出的修调信号用于控制烧断熔丝41或者用于调节可变修调电阻11的阻值，以使带隙基准模块10当前输出的内部基准电压得到调节。
42.通过以上设置，当逻辑判断模块30判断比较器模块20的输出信号voc为高电平时，就说明当前的内部基准电压是目标基准电压，则修调烧录模块40就会控制熔丝41烧断，以将带隙基准模块10输出的内部基准电压固定为目标基准电压不变，完成修调；当逻辑判断模块30判断比较器模块20的输出信号voc为低电平时，就说明当前的内部基准电压不是目标基准电压，则修调烧录模块40就会输出修调信号tx控制可变修调电阻11变化，从而改变带隙基准模块10输出的内部基准电压的值，然后逻辑判断模块30再一次判断调节后的内部基准电压是否为目标基准电压，重复上述步骤直到找出目标基准电压为止，然后再将熔丝41烧断，将带隙基准模块10输出的内部基准电压固定为目标基准电压不变，完成修调；整个修调过程可以在电路内部自动完成，极大的缩短了产品的开发周期。
43.可选的，在修调过程中，带隙基准模块10输出的内部基准电压从最小值开始依次增大。
44.通过以上设置，开始修调时，带隙基准模块10第一次输出的内部基准电压的值为带隙基准模块10输出的最小档位的内部基准电压，本实施例中修调过程可以分为三种，分别为：开始修调时，带隙基准模块10第一次输出内部基准电压后，比较器模块20的输出信号voc为高电平，说明当前的内部基准电压为目标基准电压，修调烧录模块40就会控制熔丝41烧断，以将带隙基准模块10输出的内部基准电压固定为目标基准电压不变，完成修调，由于当前的内部基准电压为带隙基准模块10输出的最小档位的内部基准电压，因此就不需要再对其他档位的内部基准电压进行判断了，这样大大的减少了修调的周期，提高了产品的研发效率。开始修调时，带隙基准模块10第一次输出内部基准电压后，比较器模块20的输出信号voc为低电平，说明当前的内部基准电压不是目标基准电压，修调烧录模块40就会控制可变修调电阻11变化，从而改变带隙基准模块10输出的内部基准电压的值，逻辑判断模块30会跳转到下一个状态继续判断，由此遍历重复上述逻辑，直到比较器模块20的输出信号voc由低电平变为高电平，交由逻辑判断模块30判断后输出到修调烧录模块40，修调烧录模块40将对应的熔丝41烧断，并将当前的内部基准电压保持固定给带隙基准模块10，修调动作完成。遍历带隙基准模块10输出的所有档位的内部基准电压之后，比较器模块20的输出信号voc依然为低电平，此时就将带隙基准模块10输出的最大档位的内部基准电压确认为目标基准电压，并烧断熔丝41，将带隙基准模块10输出的内部基准电压固定为最大档位的内部基准电压，完成修调。
45.参考图1
‑
图2，修调电路还包括采样分压模块50，采样分压模块50用于产生外部标准电压，采样分压模块50连接比较器模块20的负输入端。
46.采样分压模块50包括两个串联的电阻，其中一个电阻连接电源，另一个电阻接地，
比较器模块20的负输入端连接在两个电阻之间的连接线上，通过改变电阻的阻值就可以改变比较器模块20的负输入端输入的电压，从而改变比较器模块20输出信号voc为高电平时其正输入端输入的内部基准电压的值，可以适用不同产品的修调。
47.实施例二
48.参考图5，逻辑判断模块30包括若干个串联的移位寄存器31以及振荡器32，振荡器32与移位寄存器31连接；测试信号接入振荡器32，振荡器32用于产生时钟信号clk。
49.本实施例二中，在逻辑判断模块30内部设置振荡器32，可以通过振荡器32自身产生时钟信号，不过需要有一路外部的测试信号来触发振荡器32，这个测试信号可以是电压信号，这里的测试信号可以从产品的复用引脚接入，极大的减少了需要设置的引脚个数，使得本实施例二的修调电路更适合少引脚的产品应用。
50.实施例三
51.本技术实施例三提供了一种集成电路，包括如上述任一实施例中的修调电路。
52.本技术实施例三的集成电路采用了修调电路，可以在集成电路封装之后进行测试和修调，直接跳过中测步骤，并且只需要通过一个引脚灌入测试信号，就可以自动实现修调功能，缩短了产品开发周期，提高了成品良率；需要用到的引脚数量减少，对于一些少引脚的产品也同样适用。
53.以上所述，仅为本技术的具体实施方式，但本技术的保护范围并不局限于此，任何熟悉本技术领域的技术人员在本技术揭露的技术范围内，可轻易想到变化或替换，都应涵盖在本技术的保护范围之内。因此，本技术的保护范围应以所述权利要求的保护范围为准。