一种集成电路测试设备的制作方法

技术特征：
1.一种集成电路测试设备，其结构包括操作台(1)、箱门(2)、护板(3)、测试主机(4)，所述操作台(1)前端面安装有箱门(2)，并且操作台(1)上端面外侧焊接有护板(3)，所述测试主机(4)设在操作台(1)上端面中部，其特征在于：所述测试主机(4)包括电控台(41)、卡板机构(42)、下降机构(43)、推移板(44)、支撑板(45)、气缸(46)，所述电控台(41)底部固定安装在操作台(1)上端面中部，并且卡板机构(42)嵌固安装在电控台(41)上端面，所述下降机构(43)下端固定安装在电控台(41)上端面，所述下降机构(43)中端与推移板(44)外侧端内部相固定，所述推移板(44)位于支撑板(45)正上方，所述支撑板(45)上端面设有气缸(46)，并且气缸(46)输出端与推移板(44)上端面中部相固定，所述下降机构(43)顶部与支撑板(45)底面外侧相固定。2.根据权利要求1所述的一种集成电路测试设备，其特征在于：所述卡板机构(42)包括放置槽(421)、卡角板(422)、挤压杆(423)、弹簧管套(424)、导气孔(425)、边护机构(426)，所述放置槽(421)嵌固安装在操作台(1)上端面中部，所述卡角板(422)位于放置槽(421)内侧四角，所述卡角板(422)外侧中端与挤压杆(423)一端相固定，并且挤压杆(423)另一端采用间隙配合安装在弹簧管套(424)内部，所述弹簧管套(424)末端内部与导气孔(425)相贯通，并且导气孔(425)与边护机构(426)内部相贯通，所述边护机构(426)嵌固安装在放置槽(421)内侧表面。3.根据权利要求2所述的一种集成电路测试设备，其特征在于：所述边护机构(426)包括气压管(46a)、分压口(46b)、推板(46c)、抵触片(46d)，所述气压管(46a)嵌固安装在放置槽(421)内部，所述气压管(46a)左侧嵌固安装有分压口(46b)并且相贯通，所述推板(46c)滑动安装在分压口(46b)左端内部，所述推板(46c)左侧端与抵触片(46d)右侧端相固定，并且抵触片(46d)设在分压口(46b)左端开口处。4.根据权利要求1所述的一种集成电路测试设备，其特征在于：所述下降机构(43)包括测试机构(431)、褶皱板(432)、数据线(433)、缓冲机构(434)，所述测试机构(431)顶部固定安装有褶皱板(432)，并且褶皱板(432)上端与推移板(44)底部相固定，所述数据线(433)与测试机构(431)内部电连接，所述缓冲机构(434)设在测试机构(431)外侧端，所述缓冲机构(434)底部与电控台(41)上端面外侧相固定。5.根据权利要求4所述的一种集成电路测试设备，其特征在于：所述测试机构(431)包括检测头(31a)、导通板(31b)、管套(31c)、导电片(31d)、导电杆(31e)、接触头(31f)，所述检测头(31a)顶部固定安装有褶皱板(432)，并且导通板(31b)嵌固安装在检测头(31a)内部，所述管套(31c)设在导通板(31b)底面，所述管套(31c)内部安装有导电片(31d)，并且导电片(31d)底部与导电杆(31e)顶部相抵触，所述导电杆(31e)下端焊接有接触头(31f)，并且接触头(31f)采用间隙配合安装在检测头(31a)下端内部，所述检测头(31a)外侧端与缓冲机构(434)相固定。6.根据权利要求5所述的一种集成电路测试设备，其特征在于：所述缓冲机构(434)包括导向套管(34a)、导向杆(34b)、调节杆(34c)，所述导向杆(34b)采用间隙配合贯穿于导向套管(34a)内部，并且调节杆(34c)外侧端采用间隙配合安装在导向套管(34a)内部，所述调节杆(34c)内侧端与述检测头(31a)外侧端相固定。

技术总结
本发明公开了一种集成电路测试设备，其结构包括操作台、箱门、护板、测试主机，操作台前端面安装有箱门，并且操作台上端面外侧焊接有护板，通过弹簧管套内部弹簧施加的回弹力，使得卡角板对集成电路板的四角进行牢固的卡合，避免集成电路板放置在放置槽内部后发生角度偏移，抵触片在对集成电路板外侧四周进行弹性抵触，避免集成电路板在进行测试的过程中发生损坏，通过导向套管在导向杆上进行导向下降，而调节杆在导向套管内部进行弹性缓冲，通过接触头对集成电路板上的测试点进行抵触，导电片在管套内部进行弹性形变，导电片在弹性形变的过程中保持导电性，防止集成电路板上的测试点受损。受损。受损。


技术研发人员：谢俊娅
受保护的技术使用者：谢俊娅
技术研发日：2021.09.07
技术公布日：2021/12/2