一种光学芯片测试用的吸盘的制作方法

1.本实用新型涉及光学芯片测试技术领域，具体为一种光学芯片测试用的吸盘。


背景技术：

2.光学芯片是用来完成光电信号转换的，相当于信息中转站，它在移动设备上属于一个核心设备，工作原理是一个将磷化铟的发光属性和硅的光路由能力整合到单一的芯片中，通过给磷化铟施加电压时产生的光束，可以驱动其他硅光子器件进行运作。
3.在光学芯片出厂之前需要对其进行测试，一般是由操作人员将小吸盘吸附在光学芯片表面，将光学芯片移动至测试机上进行测试，但是吸附固定的时候需要向下按压，由于光学芯片体积非常小，其表面有很多非常脆弱的晶体管和针脚，在按压时很容易因为压力过大使得光学芯片损坏，同时使用结束后又要将吸盘拔下来，也很容易对光学芯片造成损害，因此需要提供一种光学芯片测试用的吸盘以解决上述问题。


技术实现要素：

4.(一)解决的技术问题
5.针对现有技术的不足，本实用新型公开了一种光学芯片测试用的吸盘，以解决上述背景技术中提出的问题。
6.(二)技术方案
7.为实现以上目的，本实用新型通过以下技术方案予以实现：一种光学芯片测试用的吸盘，包括：
8.手持杆，所述手持杆的底端固定连接有软胶吸盘，所述手持杆的内部滑动连接有活塞杆，所述手持杆的外表面活动铰接有按压块，所述按压块与活塞杆传动连接，所述活塞杆的外表面活动套接有第一弹簧，所述手持杆的顶端设有按压杆；
9.卡接组件，所述卡接组件包括连接条、卡块和第二弹簧，所述卡块固定连接在连接条的外表面一侧，所述第二弹簧设置在连接条的外表面另一侧。
10.优选的，所述手持杆的顶部固定连接有固定座，所述卡接组件活动卡接在固定座的内部，所述按压杆活动插接在固定座的顶部。
11.优选的，所述活塞杆的底端固定连接有橡胶活塞，所述活塞杆的顶端固定连接有活动条，所述按压块的底端内部活动铰接有传动条，所述活动条的外表面开设有连接槽，所述传动条的端部活动铰接在连接槽的内部。
12.优选的，所述活动条的顶端侧面开设有卡槽，所述卡块活动卡接在卡槽的内部，所述活动条的顶端为锥状。
13.优选的，所述卡接组件还包括滑动柱和固定套筒，所述滑动柱的一端固定连接在连接条的外表面，所述滑动柱的另一端活动插接在固定套筒的内部，所述第二弹簧活动卡接在固定套筒的内部，所述固定套筒固定连接在固定座的内侧壁上。
14.优选的，所述按压杆的外表面固定套接有挡环，所述按压杆的外表面且位于挡环
的下方活动套接有第三弹簧，所述按压杆的底端固定连接有三角压块，所述三角压块与卡块相抵。
15.本实用新型公开了一种光学芯片测试用的吸盘，其具备的有益效果如下：
16.1、该光学芯片测试用的吸盘，通过将软胶吸盘按在光学芯片的上表面，然后使用手指按压两组按压块，使得活动条向上顶起，此时活动条带动橡胶活塞向上移动，使得软胶吸盘内部形成负压，此时软胶吸盘紧紧地吸附在光学芯片的表面，同时活动条向上移动，将两组卡块向两侧挤压，最终卡块正对卡槽对活动条进行固定，方便在使用时操控吸盘对光学芯片进行吸附固定。
17.2、该光学芯片测试用的吸盘，通过将按压杆向下按压，使得三角压块将顶端的两组卡块向两侧挤压，使得连接条带动底端的两组卡块向两侧移动从卡槽内部移出，此时橡胶活塞向下移动，此时软胶吸盘与光学芯片之间的压强增大，此时软胶吸盘自动从光学芯片表面移开，完成对光学芯片的移动，此时松开按压杆，在第三弹簧的作用下按压杆向上移动复位，同时两组按压块向两侧转动撑开，方便解除软胶吸盘与光学芯片之间的固定。
附图说明
18.图1为本实用新型主体结构示意图；
19.图2为本实用新型手持杆内部结构剖视图；
20.图3为本实用新型活塞杆外表面结构示意图；
21.图4为本实用新型卡接组件结构示意图。
22.图中：1、手持杆；2、软胶吸盘；3、按压块；4、固定座；5、按压杆；6、卡接组件；601、连接条；602、卡块；603、滑动柱；604、固定套筒；605、第二弹簧；7、活动条；8、活塞杆；9、传动条；10、第一弹簧；11、橡胶活塞；12、卡槽；13、三角压块；14、第三弹簧；15、挡环。
具体实施方式
23.本实用新型实施例公开一种光学芯片测试用的吸盘，如图1
‑
4所示，包括：
24.手持杆1，手持杆1的底端固定连接有软胶吸盘2，手持杆1的内部滑动连接有活塞杆8，手持杆1的外表面活动铰接有按压块3，按压块3与活塞杆8传动连接，活塞杆8的外表面活动套接有第一弹簧10，手持杆1的顶端设有按压杆5；
25.卡接组件6，卡接组件6包括连接条601、卡块602和第二弹簧605，卡块602固定连接在连接条601的外表面一侧，第二弹簧605设置在连接条601的外表面另一侧。
26.进一步的，手持杆1的顶部固定连接有固定座4，卡接组件6活动卡接在固定座4的内部，按压杆5活动插接在固定座4的顶部。
27.进一步的，活塞杆8的底端固定连接有橡胶活塞11，活塞杆8的顶端固定连接有活动条7，按压块3的底端内部活动铰接有传动条9，活动条7的外表面开设有连接槽，传动条9的端部活动铰接在连接槽的内部，手持杆1的底端内部开设有滑槽，橡胶活塞11滑动连接在滑槽的内部，第一弹簧10的顶端与滑槽的内顶部相抵。
28.进一步的，活动条7的顶端侧面开设有卡槽12，卡块602活动卡接在卡槽12的内部，活动条7的顶端为锥状。
29.进一步的，卡接组件6还包括滑动柱603和固定套筒604，滑动柱603的一端固定连
接在连接条601的外表面，滑动柱603的另一端活动插接在固定套筒604的内部，第二弹簧605活动卡接在固定套筒604的内部，固定套筒604固定连接在固定座4的内侧壁上，卡块602的数量为四组，分别处于两组连接条601相对的一侧两端，同时上下两侧的卡块602相背的一侧为倾斜面。
30.进一步的，按压杆5的外表面固定套接有挡环15，按压杆5的外表面且位于挡环15的下方活动套接有第三弹簧14，按压杆5的底端固定连接有三角压块13，三角压块13与卡块602相抵，所述固定座4的内顶部开设有活动槽，挡环15和第三弹簧14均活动卡接在活动槽的内部。
31.工作原理：本实用新型公开了一种光学芯片测试用的吸盘，该装置在使用时，操作人员用手拿住手持杆1，然后将软胶吸盘2按在光学芯片的上表面，然后使用手指按压两组按压块3，使得按压块3在手持杆1的外表面转动，此时按压块3通过传动条9将活动条7向上顶起，此时活动条7的底端带动活塞杆8向上移动，使得橡胶活塞11将软胶吸盘2和光学芯片之间的空气向上抽动，使得软胶吸盘2内部形成负压，此时软胶吸盘2紧紧地吸附在光学芯片的表面，同时橡胶活塞11向上移动挤压第一弹簧10，使得第一弹簧10被压缩；
32.与此同时，活动条7的锥状顶端将两组连接条601底端的两组卡块602向两侧挤压，使得滑动柱603向固定套筒604内部移动，使得第二弹簧605被压缩，随着活动条7继续向上移动，最终卡块602正对卡槽12，此时在第二弹簧605的作用下两侧底端的卡块602进入到卡槽12内对活动条7进行固定，此时通过手持杆1将光学芯片进行移动；
33.当移动至指定的位置时，此时使用大拇指将按压杆5向下按压，使得挡环15挤压第三弹簧14，同时按压杆5底端的三角压块13向连接条601顶端的两组卡块602之间移动，将顶端的两组卡块602向两侧挤压，使得第二弹簧605被压缩，同时连接条601带动底端的两组卡块602向两侧移动从卡槽12内部移出，此时在第一弹簧10的作用下，活动条7向下移动，使得橡胶活塞11向下移动，此时软胶吸盘2与光学芯片之间的压强增大，此时软胶吸盘2自动从光学芯片表面移开，完成对光学芯片的移动，此时松开按压杆5，在第三弹簧14的作用下按压杆5向上移动复位，同时两组按压块3向两侧转动撑开，等待下一次使用。
34.以上显示和描述了本实用新型的基本原理和主要特征和本实用新型的优点。本行业的技术人员应该了解，本实用新型不受上述实施例的限制，上述实施例和说明书中描述的只是说明本实用新型的原理，在不脱离本实用新型精神和范围的前提下，本实用新型还会有各种变化和改进，这些变化和改进都落入要求保护的本实用新型范围内。本实用新型要求保护范围由所附的权利要求书及其等效物界定。