一种自动测量ESD管压降的电路的制作方法

一种自动测量esd管压降的电路
技术领域
1.本发明涉及电路领域，更具体的说是，涉及一种自动测量esd管压降的电路。


背景技术：

2.芯片管脚的esd二极管，对于芯片是一个非常重要的保护，可以避免芯片受到外部高压静电击穿而损坏。每款芯片设计初期的样品，都需要进行esd二极管的功能及性能的测试。在进行esd测试之前，必须先将管脚间的esd二极管的导通压降测量出来，待esd测试后，再次测量esd二极管的导通压降，然后进行对照比较，作为判断esd二极管功能和性能的一个判定参考数据。
3.芯片在做esd静电击穿实验的功能和性能验证时，需要较多的芯片样品，并且往往需要多次实验。传统上是通过人工手动用万用表测量esd的管压降并记录数值，做完相应的静电击穿实验后，再次测量esd的管压降并记录数值，这样在人力和时间上耗费较多。


技术实现要素：

4.本发明的目的是提供一种自动测量esd管压降的电路。
5.本发明要解决的是现有测量esd管压降过程中存在的问题。
6.与现有技术相比，本发明技术方案及其有益效果如下：
7.一种自动测量esd管压降的电路，包括：mcu控制器，所述mcu控制器包括usb转uart通信模块，所述mcu控制器的输出端连接于上位机的输入端，所述usb转uart通信模块的输入端连接于所述上位机的输出端，所述 usb转uart通信模块的输出端连接于所述mcu控制器的输入端；译码器，所述译码器的输入端连接于所述mcu控制器的信号输出端，所述译码器用于转换信号；继电器模块，所述继电器模块连接于所述译码器的输出端，所述继电器模块连接于万用表的负极和esd管的阴极之间，所述万用表的正极连接于所述esd管的阳极，所述继电器模块用于控制所述万用表的负极和esd管的阴极之间的接触状态；其中，所述上位机与所述万用表通讯连接，所述mcu控制器通过所述译码器控制所述继电器模块，所述继电器模块通过控制所述万用表的负极和所述esd管之间的接触状态，通过所述万用表测量得到所述esd管的压降数值，并发送数值数据至所述上位机。
8.作为进一步改进的，所述mcu控制器的信号输出端为io信号端。
9.作为进一步改进的，所述译码器为38译码器。
10.作为进一步改进的，所述译码器的型号为74hc138。
11.作为进一步改进的，所述mcu控制器的型号为stc/iap15f2k612s
‑
35i。
12.作为进一步改进的，所述上位机和所述万用表之间采用usb连接。
13.作为进一步改进的，所述上位机为电脑。
14.本发明的有益效果为：采用上位机、mcu控制器、译码器、继电器模块和万用表之间的配合，实现了mcu控制器通过译码器控制继电器模块，而继电器模块通过控制所述万用表的负极和所述esd管之间的接触状态，通过所述万用表测量得到所述esd管的压降数值，并
发送数值数据至所述上位机，实现自动测量esd管的压降，提升了测量效率，且提升了测量、记录数据的准确性。
附图说明
15.图1是本发明实施例提供的一种自动测量esd管压降的电路的电路结构示意图。
16.图2是本发明实施例提供的一种自动测量esd管压降的电路的电路连接示意图。
17.图3是本发明实施例提供的mcu控制器的结构示意图。
18.图4是本发明实施例提供的译码器的结构示意图。
19.图5是本发明实施例提供的继电器模块的第一部分结构示意图。
20.图6是本发明实施例提供的继电器模块的第二部分结构示意图。
21.图中：
22.1.上位机
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11.通信模块
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2.mcu控制器
23.3.译码器
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4.继电器模块
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5.万用表
具体实施方式
24.为使本发明实施方式的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本发明实施方式中的附图，对本发明实施方式中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施方式是本发明一部分实施方式，而不是全部的实施方式。基于本发明中的实施方式，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施方式，都属于本发明保护的范围。因此，以下对在附图中提供的本发明的实施方式的详细描述并非旨在限制要求保护的本发明的范围，而是仅仅表示本发明的选定实施方式。基于本发明中的实施方式，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施方式，都属于本发明保护的范围。
25.在本发明的描述中，术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括一个或者更多个该特征。在本发明的描述中，“多个”的含义是两个或两个以上，除非另有明确具体的限定。
26.参照图1至图6所示，一种自动测量esd管压降的电路，包括：mcu控制器2，所述mcu控制器2包括通信模块11，所述mcu控制器2的输出端连接于上位机1的输入端，所述通信模块11的输入端连接于所述上位机1 的输出端，所述通信模块11的输出端连接于所述mcu控制器2的输入端；译码器3，所述译码器3的输入端连接于所述mcu控制器2的信号输出端，所述译码器3用于转换信号；继电器模块4，所述继电器模块4连接于所述译码器3的输出端，所述继电器模块4连接于万用表5的负极和esd管的阴极之间，所述万用表5的正极连接于所述esd管的阳极，所述继电器模块4用于控制所述万用表5的负极和esd管的阴极之间的接触状态；其中，所述上位机1与所述万用表5通讯连接，所述mcu控制器2通过所述译码器3控制所述继电器模块4，所述继电器模块4通过控制所述万用表5的负极和所述esd管之间的接触状态，通过所述万用表5测量得到所述esd管的压降数值，并发送数值数据至所述上位机1，上位机1接收数值数据并实时更新至esd管压降数据库。
27.所述通信模块11为usb转uart通信模块11。
28.所述mcu控制器2的信号输出端为io信号端。所述mcu控制器2的型号为stc/iap15f2k612s
‑
35i。
29.所述译码器3为38译码器3。所述译码器3的型号为74hc138。
30.所述上位机1和所述万用表5之间采用usb连接。所述上位机1为电脑，上位机1包括与mcu控制器2通信连接的软件及人机交互控制界面。
31.需要说明的是，本发明也可以用于测试芯片，将万用表5的正极连接于芯片的某一管脚，继电器模块4的一端连接于芯片的其他管脚，相对应继电器模块4的另一端连接于万用表5的负极。
32.其中，参照图5和图6所示，继电器u8用来控制两个site轮流测试，其他继电器使用来控制ic引脚的闭合测试。控制ic闭合测试的继电器可以根据ic引脚数量来设置。
33.参照图2所示，继电器模块4包括mos管和继电器，mos管的栅极连接于译码器3的输出端，mos管的漏极连接于继电器的控制端，mos管的源极接地。
34.本发明提供的一种自动测量esd管压降的电路的工作原理为：
35.所述上位机1与所述万用表5通讯连接，所述mcu控制器2通过所述译码器3控制所述继电器模块4，译码器3将mcu控制器2发出的io信号转换成发送至继电器模块4的控制信号，所述继电器模块4通过控制所述万用表5的负极和所述esd管之间的接触状态，通过所述万用表5测量得到所述esd管的压降数值，并发送数值数据至所述上位机1，上位机1接收数值数据并实时更新至esd管压降数据库，实现自动测量、读取esd管压降的数值。
36.以上实施例仅用以解释说明本发明的技术方案而非对其限制。本领域技术人员应当理解，未脱离本发明精神和范围的任何修改和等同替换，均应落入本发明权利要求的保护范围中。