超高精度的雷达物位计标定装置及方法与流程

技术特征：
1.一种超高精度的雷达物位计标定装置，其特征在于，包括：第一反射板，所述第一反射板能够接收雷达物位计发出的雷达波并且能够对所述雷达波进行反射以形成第一飞行方向的第一反射波作为雷达波；以及第二反射板，所述第二反射板能够接收来自所述第一反射板反射形成的雷达波且进行反射以形成第二飞行方向的第二反射波作为雷达波，并且所述第一反射板能够接收来自所述第二反射板反射形成的雷达波且进行反射来再次形成第一飞行方向的第一反射波作为雷达波，其中所述第一飞行方向与所述雷达物位计发出的雷达波的方向相反，所述第二飞行方向与所述雷达物位计发出的雷达波的方向相同，其中，所述雷达物位计发出的雷达波经由所述第一反射板和所述第二反射板进行反射，并且所述雷达物位计接收所述第一反射板反射形成的雷达波，至少基于所述雷达物位计所接收的经所述第一反射板反射形成的雷达波的反射次数和所述第一反射板与所述第二反射板之间的间距来得到距离测量值，并且通过所述距离测量值与距离标准值来进行所述雷达物位计的标定。2.如权利要求1所述的雷达物位计标定装置，其特征在于，所述第一反射板位于雷达物位计的对侧，所述第二反射板位于所述雷达物位计的同侧，其中，所述雷达物位计相对于所述第二反射板固定设置并且所述第二反射板具有通过空间，经由所述通过空间，所述雷达物位计发出的雷达波能够到达所述第一反射板并且所述雷达物位计能够接收经所述第一反射板反射形成的雷达波。3.如权利要求2所述的雷达物位计标定装置，其特征在于，所述第一反射板和第二反射板之间的封闭空间构成微波飞行通道，所述微波飞行通道的四周包围有吸波材料或者不设置有任何微波反射物体。4.如权利要求3所述的雷达物位计标定装置，其特征在于，所述吸波材料包括锥形吸波海绵。5.如权利要求3所述的雷达物位计标定装置，其特征在于，所述第一反射板和第二反射板的形状为矩形或圆形，并且所述微波飞行通道为长方体或圆柱体。6.如权利要求1所述的雷达物位计标定装置，其特征在于，所述第一反射板与第二反射板的尺寸相同。7.如权利要求1所述的雷达物位计标定装置，其特征在于，所述第一反射板和所述第二反射板与所述雷达物位计发出的雷达波的方向垂直。8.如权利要求1所述的雷达物位计标定装置，其特征在于，所述雷达物位计设置在所述第二反射板的中心位置处并且所述雷达物位计发出的雷达波射向所述第一反射板的中心位置处。9.如权利要求1所述的雷达物位计标定装置，其特征在于，所述第一反射板和/或第二反射板的表面为平面状或曲面状，或者所述第一反射板和/或第二反射板的表面为抛物面。10.一种使用如权利要求1至9中任一项所述的雷达物位计标定装置的标定方法，其特征在于，包括：所述雷达物位计发射雷达波；通过所述第一反射板和第二反射板反射所述雷达波；所述第一反射板对雷达波进行n次反射，并且所述雷达物位计接收n次反射中的i次反
射所形成的雷达波；至少基于所述雷达物位计所接收的雷达波的i次反射次数和所述第一反射板与第二反射板之间的间距来得到i个距离测量值；以及通过所述i个距离测量值与多个预设的距离标准值来进行所述雷达物位计的标定。

技术总结
本公开提供了一种超高精度的雷达物位计标定装置，包括：第一反射板，能够接收雷达物位计发出的雷达波并且能够对雷达波进行反射以形成第一飞行方向的第一反射波作为雷达波；以及第二反射板，能够接收来自第一反射板反射形成的雷达波且进行反射以形成第二飞行方向的第二反射波作为雷达波，并且第一反射板能够接收来自第二反射板反射形成的雷达波且进行反射来再次形成第一飞行方向的第一反射波作为雷达波，其中第一飞行方向与雷达物位计发出的雷达波的方向相反，第二飞行方向与雷达物位计发出的雷达波的方向相同。本公开还提供了一种使用上述雷达物位计标定装置的标定方法。使用上述雷达物位计标定装置的标定方法。使用上述雷达物位计标定装置的标定方法。


技术研发人员：呼秀山 夏阳
受保护的技术使用者：北京锐达仪表有限公司
技术研发日：2021.08.02
技术公布日：2021/11/9