用于对型坯进行光学检查的装置的制作方法

技术特征：
1.一种用于对型坯(2)进行光学检查的装置(1)，其包括：
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发光器(3)，其包括被构造为发出指向位于检查位置(10)处的所述型坯(2)的光束的光源(31)；
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探测器(4)，其包括被构造为捕获位于所述检查位置(10)处的所述型坯(2)的图像(20)的摄像机(41)，其中所述型坯(2)在所述检查位置(10)处操作性地介于所述发光器(3)与所述探测器(4)之间，其特征在于，所述发光器(3)包括发射偏振滤光器(32)，其被构造为拦截所述光源(31)发出的所述光束并且产生偏振光束，并且其中所述探测器(4)包括接收偏振滤光器(42)，其被构造为接收所述偏振光束，使得所述型坯(2)在所述检查位置(10)处操作性地介于所述发射偏振滤光器(32)与所述接收偏振滤光器(42)之间。2.根据权利要求1所述的装置(1)，其还包括处理单元，所述处理单元包括：存储器(5)，其包含有参考数据集(51，52)；处理器(6)，其被编程为基于所述参考数据集(51，52)来处理所述探测器(4)捕获的所述图像(20)，从而得出与所述型坯(2)的缺陷有关的诊断指示(23)。3.根据权利要求2所述的装置(1)，其中，所述处理单元被构造为：
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基于所述参考数据集(51，52)来处理所述探测器(4)捕获的所述图像(20)，从而从所述图像(20)中得出多个图像特征(21)的值；
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处理所述多个图像特征(21)的值，以得出与所述型坯(2)的所述缺陷有关的所述诊断指示(23)。4.根据权利要求3所述的装置(1)，其中，所述处理单元被构造为：
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生成通过所述多个图像特征(21)的值并且基于所述参考数据集(51，52)重建的图像(22)；
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通过将所述探测器(4)捕获的所述图像(20)与所述重建图像(22)进行比较来得出与所述型坯(2)的缺陷有关的诊断指示(23)。5.根据权利要求4所述的装置(1)，其包括自学习系统(7)，所述自学习系统被构造为：
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接收所述探测器(4)针对对应的多个所述型坯(2)捕获的多个所述图像(20)作为输入；
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基于所述参考数据集(51，52)来处理所述探测器(4)捕获的多个图像(20)中的每个图像(20)，从而针对每个图像(20)得出所述多个图像特征(21)的基于预定标准的对应值；
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基于所述参考数据集(51，52)使用针对所述多个图像特征(21)得出的对应值来针对多个图像(20)中的每个图像(20)生成对应的重建图像(22)；
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将所述探测器(4)捕获的多个图像(20)中的每个图像(20)与所述对应的重建图像(22)进行比较，从而针对多个图像(20)中的每个图像(20)得出表示所述探测器(4)捕获的图像(20)与所述对应的重建图像(22)之间的相似性的对应的相似参数(24)；
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针对多个图像(20)中的每个图像(20)基于所述相似参数(24)和用于所述相似参数(24)的预定阈值(72)来更新所述参考数据集(51，52)。6.根据权利要求5所述的装置(1)，其中，所述自学习系统(7)被构造为基于所述相似参数(24)和所述预定阈值(72)来更新所述多个图像特征(21)。7.根据权利要求5或6所述的装置(1)，其中，所述预定标准包括针对所述多个图像特征
(21)的最大数量的图像特征(21)。8.根据权利要求5
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7中任一项所述的装置(1)，其中，所述自学习系统(7)包括卷积神经网络。9.根据前述任一项权利要求所述的装置(1)，其中，所述发射偏振滤光器(32)是线性滤光器，其被构造为使光在第一偏振方向上偏振。10.根据前述任一项权利要求所述的装置(1)，其中，所述接收偏振滤光器(42)是线性滤光器，其被构造为使光在第二偏振方向上偏振。11.一种用于制造热塑材料的容器的生产线(100)，其包括被构造为制造型坯(2)的成型机(101)，其特征在于，其包括根据权利要求1
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10中任一项所述的用于对型坯(2)进行光学检查的装置(1)，其中用于光学检查的所述装置(1)操作性地定位在所述成型机(101)的下游。12.一种用于制造热塑材料的容器的生产线(100)，其包括被构造为接收型坯(2)并且在模具中对它们进行吹塑从而制成所述容器的吹塑机(103)，其特征在于，其包括根据权利要求1
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10中任一项所述的用于对型坯(2)进行光学检查的装置(1)，其中用于光学检查的所述装置(1)操作性地定位在所述吹塑机(103)的上游。13.一种用于对型坯进行光学检查的方法，其包括以下步骤：
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通过包括光源(31)的发光器(3)发出指向位于检查位置(10)处的型坯(2)的光束；
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通过包括摄像机(41)的探测器(4)捕获位于所述检查位置(10)处的所述型坯(2)的图像(20)，其中所述型坯(2)在所述检查位置(10)处操作性地介于所述发光器(3)与所述探测器(4)之间，其特征在于，其还包括以下步骤：
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通过在介于所述光源(31)与所述型坯(2)之间的发射偏振滤光器(32)上拦截所述发光器(3)发出的所述光束来产生偏振光束；
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在介于所述型坯(2)与所述摄像机(41)之间的接收偏振滤光器(42)上接收所述偏振光束，其中，所述型坯(2)在所述检查位置(10)处操作性地介于所述发射偏振滤光器(32)与所述接收偏振滤光器(42)之间。14.根据权利要求13所述的方法，其包括处理所述图像(20)的步骤，其中所述处理步骤包括以下子步骤：
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(61)基于参考数据集(51，52)来处理所述探测器(4)捕获的所述图像(20)，从而从所述图像(20)中得出多个图像特征(21)的值；
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(62)生成通过所述多个图像特征(21)的值并且基于所述参考数据集(51，52)重建的图像(22)；
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(63)通过将所述探测器(4)捕获的所述图像(20)与所述重建图像(22)进行比较来得出与所述型坯(2)的缺陷有关的诊断指示(23)。15.根据权利要求14所述的方法，其包括自学习步骤，所述自学习步骤包括以下子步骤：
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针对对应的多个所述型坯(2)捕获多个图像(20)；
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基于所述参考数据集(51，52)来处理多个图像(20)中的每个图像(20)，从而针对多个
图像(20)中的每个图像(20)得出所述多个图像特征(21)的基于预定标准的对应值；
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使用所述多个图像特征(21)的所述对应值并且基于所述参考数据集(51，52)来针对多个图像(20)中的每个图像(20)生成对应的重建图像(22)；
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将多个图像(20)中的每个图像(20)与所述对应的重建图像(22)进行比较，并且得出表示所述探测器(4)捕获的所述图像(20)与所述对应的重建图像(22)之间的相似性的对应的相似参数(24)；
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基于所述相似参数(24)和预定阈值(72)来更新所述参考数据集(51，52)和所述多个图像特征(21)。16.根据权利要求15所述的方法，其中，在所述自学习步骤中通过所述摄像机(41)捕获的多个图像(20)中的所述图像(20)代表对应的多个无缺陷的所述型坯(2)。17.根据权利要求15或16所述的方法，其包括一次一个地并且根据相对于所述发射偏振滤光器(32)以及相对于所述接收偏振滤光器(42)的预定的取向将多个型坯(2)中的所述型坯(2)供应到所述检查位置(10)的步骤。18.根据权利要求13
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17中任一项所述的方法，其中，所述发射偏振滤光器(32)是线性偏振滤光器，其被构造为使光在第一偏振方向上偏振。19.根据权利要求18所述的方法，其中，所述型坯(2)在所述检查位置(10)处被定向为具有与所述第一偏振方向平行的相应的轴线(a)。20.根据权利要求18或19所述的方法，其中，所述接收偏振滤光器(42)是线性滤光器，其被构造为使光在与所述第一偏振方向不同的第二偏振方向上偏振。21.一种用于对探测器(4)捕获的型坯的图像进行处理的方法，所述方法包括以下步骤：
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基于参考数据集(51，52)来处理所述探测器(4)捕获的图像(20)，从而从所述图像(20)中得出多个图像特征(21)的值；
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生成通过所述多个图像特征(21)的所述值并且基于所述参考数据集(51，52)重建的图像(22)；
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通过将摄像机捕获的所述图像(20)与所述重建图像(22)进行比较来得出与型坯(2)的缺陷有关的诊断指示(23)。22.根据权利要求21所述的用于对型坯的图像进行处理的方法，其包括自学习步骤，所述自学习步骤包括以下子步骤：
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针对对应的多个所述型坯(2)捕获多个图像(20)；
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基于所述参考数据集(51，52)来处理多个图像(20)中的每个图像(20)，从而从多个图像(20)中的每个图像(20)中得出所述多个图像特征(21)的基于预定标准的对应值；
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使用所述多个图像特征(21)的所述对应值并且基于所述参考数据集(51，52)来针对多个图像(20)中的每个图像(20)生成对应的重建图像(22)；
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将多个图像(20)中的每个图像(20)与所述对应的重建图像(22)进行比较，并且得出表示所述探测器(4)捕获的所述图像(20)与所述对应的重建图像(22)之间的相似性的对应的相似参数(24)；
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基于所述相似参数(24)和预定阈值(72)来更新所述参考数据集(51，52)和所述多个图像特征(21)。
23.一种计算机程序，其包括被构造为在计算机上运行时执行根据权利要求21或22所述的方法的步骤的操作指令。24.一种用于对塑料材料制成的物品的图像进行处理的方法，所述图像通过探测器(4)捕获，所述方法包括以下步骤：
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基于参考数据集(51，52)来处理所述探测器(4)捕获的所述图像(20)，从而从所述图像(20)中得出多个图像特征(21)的值；
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生成通过所述多个图像特征(21)的所述值并且基于所述参考数据集(51，52)重建的图像(22)；
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通过将所述探测器(4)捕获的所述图像(20)与所述重建图像(22)进行比较来得出与所述物品的缺陷有关的诊断指示(23)。25.根据权利要求24所述的方法，其包括自学习步骤，所述自学习步骤包括以下子步骤：
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针对对应的多个所述物品捕获多个图像(20)；
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基于所述参考数据集(51，52)来处理多个图像(20)中的每个图像(20)，从而从多个图像(20)中的每个图像(20)中得出所述多个图像特征(21)的基于预定标准的对应值；
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使用所述多个图像特征(21)的所述对应值并且基于所述参考数据集(51，52)来针对多个图像(20)中的每个图像(20)生成对应的重建图像(22)；
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将多个图像(20)中的每个图像(20)与所述对应的重建图像(22)进行比较，并且得出表示所述探测器(4)捕获的所述图像(20)与所述对应的重建图像(22)之间的相似性的对应的相似参数(24)；
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基于所述相似参数(24)和预定阈值(72)来更新所述参考数据集(51，52)和所述多个图像特征(21)。26.根据权利要求25所述的方法，其中，在所述自学习步骤中，还基于所述相似参数(24)和所述预定阈值(72)来更新所述多个图像特征(21)。27.根据权利要求25或26所述的方法，其中，所述预定标准包括针对所述多个图像特征(21)的最大数量的图像特征(21)。28.根据权利要求25
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27中任一项所述的方法，其中，所述自学习步骤包括使用卷积神经网络。29.根据权利要求25
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28中任一项所述的方法，其中，在所述自学习步骤中通过所述探测器(41)捕获的多个图像(20)中的所述图像(20)代表对应的多个无缺陷的物品。30.根据权利要求24
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29中任一项所述的方法，其中，所述物品是预制件或型坯(2)。31.一种计算机程序，其包括被构造为在计算机上运行时执行根据权利要求24
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30中任一项所述的方法的步骤的操作指令。32.一种用于对塑料材料制成的物品进行光学检查的装置(1)，其包括：
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发光器(3)，其包括被构造为发出指向位于检查位置(10)处的型坯(2)的光束的光源(31)；
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探测器(4)，其包括被构造为捕获位于所述检查位置(10)处的所述物品的图像(20)的摄像机(41)，其中所述物品在所述检查位置(10)处操作性地介于所述发光器(3)与所述探测器(4)之间；
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处理单元，其包括包含有参考数据集(51，52)的存储器(5)以及处理器(6)，所述处理器被编程为基于所述参考数据集(51，52)来处理所述探测器(4)捕获的所述图像(20)从而从所捕获的所述图像(20)中得出多个图像特征(21)的值，并且对所述多个图像特征(21)的所述值进行处理来得出与所述物品的缺陷有关的诊断指示(23)，其特征在于，所述处理单元被构造为通过所述多个图像特征(21)的所述值并且基于所述参考数据集(51，52)来生成重建图像(22)，并且通过将所述探测器(4)捕获的所述图像(20)与所述重建图像(22)进行比较来得出与所述物品(2)的缺陷有关的所述诊断指示(23)。33.根据权利要求32所述的装置(1)，其包括自学习系统(7)，所述自学习系统被构造为：
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接收所述探测器(4)针对对应的多个所述物品捕获的多个图像(20)作为输入；
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基于所述参考数据集(51，52)来处理所述探测器(4)捕获的多个图像(20)中的每个图像(20)，从而针对每个图像(20)得出所述多个图像特征(21)的基于预定标准的对应值；
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基于所述参考数据集(51，52)使用针对所述多个图像特征(21)得出的所述对应值来针对多个图像(20)中的每个图像(20)生成对应的重建图像(22)；
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将所述探测器(4)捕获的多个图像(20)中的每个图像(20)与所述对应的重建图像(22)进行比较，从而针对多个图像(20)中的每个图像(20)得出表示所述探测器(4)捕获的所述图像(20)与所述对应的重建图像(22)之间的相似性的对应的相似参数(24)；
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针对多个图像(20)中的每个图像(20)基于所述相似参数(24)和用于所述相似参数(24)的预定阈值(72)来更新所述参考数据集(51，52)。34.根据权利要求33所述的装置(1)，其中，所述自学习系统(7)包括卷积神经网络。35.一种用于制造热塑材料的容器的生产线(100)，其包括被构造为制造型坯(2)的成型机(101)，其特征在于，其包括根据权利要求32
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34中任一项所述的用于对物品进行光学检查的装置(1)，其中用于光学检查的所述装置(1)操作性地定位在所述成型机(101)的下游并且其中所述物品是所述预制件(2)。

技术总结
一种用于对型坯(2)进行光学检查的装置(1)，包括：发光器(3)，其被构造为发出指向位于检查位置(10)处的型坯(2)的光束；探测器(4)，其被构造为捕获介于发光器(3)与探测器(4)之间的型坯(2)的图像(10)，其中发光器(3)包括发射偏振滤光器(32)，其被构造为产生偏振光束，并且其中探测器(4)包括接收偏振滤光器(41)，其被构造为接收偏振光束。其被构造为接收偏振光束。其被构造为接收偏振光束。


技术研发人员：多纳托
受保护的技术使用者：伊莫拉SACMI机械合作公司
技术研发日：2019.12.12
技术公布日：2021/11/9