一种光纤光栅解调设备的生产线自动测试系统的制作方法

1.本发明属于光学仪器的生产测试领域，具体涉及一种光纤光栅解调设备的生产线自动测试系统。


背景技术：

2.随着光纤传感技术的发展，在光纤传感数据采集领域，各种基于光纤传感器包括震动传感器、温度、应力传感器等广泛应用，结合光纤通信技术，正在被广泛应用于电子围栏、火灾报警、安全围栏、桥梁隧道、路基等传感监测领域。相应的光纤光栅传感器的解调设备也大量生产应用，由于光纤光栅解调设备对光钎光栅传感器的应用采用的是传感器串接后接入到光纤光栅解调设备对应的通道上，每个通道可以串接32个光纤光栅传感器，由于在建筑、地质等领域监测范围广的原因，所应用的光纤光栅传感器的数量极其庞大，这就要求光纤光栅解调设备自带的通道数量也很多，而生产过程中，对光纤光栅解调设备各通道的性能检测往往是人工处理的，这就造成工作量大、操作繁琐，检测效率较低、成本较高。


技术实现要素：

3.针对上述光纤光栅解调设备生产过程中人工测试繁琐的问题，为了进一步提高测试效率、减轻测试人员工作量，本发明提供了一种光纤光栅解调设备的生产线自动测试系统，具体技术方案如下：一种光纤光栅解调设备的生产线自动测试系统，包括仪器摆放工作台、两轴联动定位装置、承载台、电动伸缩杆、测试管理主机；所述仪器摆放工作台用于放置固定待测光纤光栅解调设备；所述两轴联动定位装置设置在所述仪器摆放工作台上固定有待测光纤光栅解调设备的一侧，用于实现左右直线运动和上下直线运动；所述承载台固定在两轴联动定位装置上；所述电动伸缩杆固定在所述承载台上，并在两轴联动定位装置的带动下作左右直线运动和上下直线运动；所述电动伸缩杆上设置有n个fc/apc接头，n≥1，用于同时匹配待测光纤光栅解调设备的n个或m个通道插口，m为待测光纤光栅解调设备的通道总数；所述每个fc/apc接头连接有1条光纤；所述每条光纤上串接了若干个光栅传感器，用于测试待测光纤光栅解调设备的通道是否正常；所述测试管理主机分别与两轴联动定位装置、电动伸缩杆、待测光纤光栅解调设备连接，用于根据定位算法控制两轴联动定位装置与电动伸缩杆配合使得fc/apc接头自动插入待测光纤光栅解调设备的对应通道，以及读取待测光纤光栅解调设备的信息，以分析判定待测光纤光栅解调设备的对应通道连接的可靠性和数据准确性。
4.优选地，所述两轴联动定位装置包括x轴直线模组、y轴直线模组；所述x轴直线模组固定在仪器摆放工作台上固定有待测光纤光栅解调设备的一侧，所述y轴直线模组竖直设置在x轴直线模组上并可在x轴直线模组的带动下作左右直线运动；所述承载台设置在y轴直线模组上，并可在y轴直线模组的带动下作上下直线运动。
5.优选地，所述电动伸缩杆包括电动缸、伸缩杆；所述伸缩杆的一端固定在电动缸靠
近待测光纤光栅解调设备的一端；所述fc/apc接头固定在伸缩杆的另一端。
6.优选地，所述两轴联动定位装置还包括用于测量fc/apc接头左右直线运动距离的第一光栅尺和用于测量fc/apc接头上下直线运动距离的第二光栅尺；所述第一光栅尺和第二光栅尺分别与测试管理主机连接。
7.优选地，所述仪器摆放工作台上固定设置有多层固定支架，所述多层固定支架用于放置若干个待测光纤光栅解调设备；所述多层固定支架包括两块竖直支撑板和若干水平支撑底板，两块所述竖直支撑板相对设置，且互相平行；若干所述水平支撑底板设置在两块所述竖直支撑板之间，任何两块水平支撑底板之间的空间尺寸与待测光纤光栅解调设备的尺寸匹配，两块所述竖直支撑板远离待测光纤光栅解调设备通道的一侧上设置有与待测光纤光栅解调设备所在位置相匹配的限位构件，用于对待测光纤光栅解调设备在两块水平支撑底板之间的空间处进行限位。
8.优选地，所述限位构件包括固定在竖直支撑板上的定位杆以及一端可围绕定位杆旋转的挡块。
9.优选地，所述两轴联动定位装置安装在多层固定支架的前方且面对待测光纤光栅解调设备的通道，两轴联动定位装置带动电动伸缩杆上的n个fc/apc接头运动至最左侧时，使得电动伸缩杆上的最左侧的fc/apc接头正对待测光纤光栅解调设备的最左侧通道。
10.优选地，设待测光纤光栅解调设备有m个通道，当n=1时，所述测试管理主机的定位算法为：（1）测试管理主机控制两轴联动定位装置带动电动伸缩杆上1个fc/apc接头运动至最左侧，并且刚好对准放置在多层固定支架对应层的待测光纤光栅解调设备的最左侧通道，在测试该待测光纤光栅解调设备的第i个通道时，测试管理主机控制两轴联动定位装置向右移动（i
‑
1）d，并且控制电动伸缩杆向前伸出，使得fc/apc接头与该待测光纤光栅解调设备的第i个通道连接，等测试管理主机读取对应待测光纤光栅解调设备的信息后控制电动伸缩杆向后缩回，如此循环m次，直至测试完该层待测光纤光栅解调设备的m个通道；（2）在测试完一层待测光纤光栅解调设备的m个通道后，测试管理主机控制两轴联动定位装置向左运动回到该层最左侧，在需要测试上一层或下一层待测光纤光栅解调设备时，则测试管理主机控制两轴联动定位装置向上或向下运动h，然后重复步骤（1）即可，h为相邻两层待测光纤光栅解调设备的通道中心所在的直线间的距离。
11.优选地，设待测光纤光栅解调设备有m个通道，当n大于等于2，且m小于等于n时，所述测试管理主机的定位算法为：（1）测试管理主机控制两轴联动定位装置带动电动伸缩杆上n个fc/apc接头运动至最左侧，并且刚好使得最左侧的fc/apc接头对准放置在多层固定支架对应层的待测光纤光栅解调设备的最左侧通道，测试管理主机控制电动伸缩杆伸出，使得n个fc/apc接头中的m个fc/apc接头分别与待测光纤光栅解调设备的对应m个通道分别一一对应连接，测试管理主机读取对应待测光纤光栅解调设备的信号，如此完成一个待测光纤光栅解调设备的测试；（2）在测试完一层待测光纤光栅解调设备的m个通道后，测试管理主机控制两轴联动定位装置向左运动回到该层最左侧，在需要测试上一层或下一层待测光纤光栅解调设备时，则测试管理主机控制两轴联动定位装置向上或向下运动h，然后重复步骤（1）即可，h为
相邻两层待测光纤光栅解调设备的通道中心所在的直线间的距离。
12.优选地，设待测光纤光栅解调设备有m个通道，当n大于等于2，且m大于n时，所述测试管理主机的定位算法为：（1）测试管理主机控制两轴联动定位装置带动电动伸缩杆上n个fc/apc接头运动至最左侧，并且刚好使得最左侧的fc/apc接头对准放置在多层固定支架对应层的待测光纤光栅解调设备的最左侧通道，测试管理主机控制电动伸缩杆伸出，使得n个fc/apc接头分别与待测光纤光栅解调设备的对应n个通道分别一一对应连接，测试管理主机读取对应待测光纤光栅解调设备的信号，测试管理主机控制电动伸缩杆缩回，使得n个fc/apc接头分别与待测光纤光栅解调设备的对应n个通道分离；（2）测试管理主机控制两轴联动定位装置带动电动伸缩杆上n个fc/apc接头往右运动n*d，继续测试下一n个通道，直至重复k次，其中k为m/n并向上取整得到的整数，d为同一待测光纤光栅解调设备的两个相邻通道的中心距离，如此完成一个待测光纤光栅解调设备的测试；（3）在测试完一层待测光纤光栅解调设备的m个通道后，测试管理主机控制两轴联动定位装置向左运动回到该层最左侧，在需要测试上一层或下一层待测光纤光栅解调设备时，则测试管理主机控制两轴联动定位装置向上或向下运动h，然后重复步骤（1）
‑
（2）即可，h为相邻两层待测光纤光栅解调设备的通道中心所在的直线间的距离。
13.本发明的有益效果为：本发明提供了一种光纤光栅解调设备的生产线自动测试系统，包括仪器摆放工作台、两轴联动定位装置、电动伸缩杆、测试管理主机，在测试过程中，通过两轴联动定位装置上下及左右移动及电动伸缩杆的前后伸缩准确的插入待测光纤光栅解调仪设备上的某个通道插口上，以便通过光纤光栅解调设备读取连接该通道上的光纤光栅传感器数据，并上传到与待测光纤光栅解调设备连接的测试管理主机中，以便分析该通道的物理连接可靠性和采集数据的正确与否，以检测待测光纤光栅解调设备在生产过程中的性能、可靠性指标正常与否。本发明可自动实现对待测光纤光栅解调设备的测试，无需人工一一测试，检测效率高、节约了人工成本。
14.本发明设置多层固定支架，可同时对多个待测光纤光栅解调设备进行测试，提高了检测效率，通过多层固定支架对光纤光栅解调设备进行限位，提高了测试精度。并且每层固定支架之间独立，在测试上层固定支架的光纤光栅解调仪时，可以拆除下面已经测试的光纤光栅解调仪，如此实现循环，提高效率。
15.本发明对多层固定支架与两轴联动定位装置的相对位置合理设置，两轴联动定位装置带动电动伸缩杆上的n个fc/apc接头运动至最左侧时，使得电动伸缩杆上的最左侧的fc/apc接头正对待测光纤光栅解调设备的最左侧通道，如此简化了定位算法，提高了定位效率和测试精度。
16.本发明采用光栅尺辅助定位，提高了定位精度。
附图说明
17.为了更清楚地说明本发明具体实施方式或现有技术中的技术方案，下面将对具体实施方式或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍。在所有附图中，类似的元件或部分一般由类似的附图标记标识。附图中，各元件或部分并不一定按照实际的比例绘制。
18.图1为本发明的结构示意图；图2为电动伸缩杆的结构示意图；图3为多层固定支架的结构示意图；图4为多层固定支架的后视图。
19.其中，1
‑
待测光纤光栅解调设备、2
‑
仪器摆放工作台、3
‑
两轴联动定位装置、4
‑
电动伸缩杆、41
‑
电动缸、42
‑
伸缩杆、5
‑
fc/apc接头、6
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多层固定支架、61
‑
竖直支撑板、62
‑
水平支撑底板、63
‑
定位杆、64
‑
挡块、7
‑
承载台。
具体实施方式
20.下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。
21.应当理解，当在本说明书和所附权利要求书中使用时，术语“包括”和
ꢀ“
包含”指示所描述特征、整体、步骤、操作、元素和/或组件的存在，但并不排除一个或多个其它特征、整体、步骤、操作、元素、组件和/或其集合的存在或添加。
22.还应当理解，在本发明说明书中所使用的术语仅仅是出于描述特定实施例的目的而并不意在限制本发明。如在本发明说明书和所附权利要求书中所使用的那样，除非上下文清楚地指明其它情况，否则单数形式的“一”、“一个”及“该”意在包括复数形式。
23.还应当进一步理解，在本发明说明书和所附权利要求书中使用的术语“和/ 或”是指相关联列出的项中的一个或多个的任何组合以及所有可能组合，并且包括这些组合。
24.如图1所示，一种光纤光栅解调设备的生产线自动测试系统，包括仪器摆放工作台2、两轴联动定位装置3、承载台7、电动伸缩杆4、测试管理主机；仪器摆放工作台2用于放置固定待测光纤光栅解调设备1；两轴联动定位装置3设置在仪器摆放工作台2上固定有待测光纤光栅解调设备1的一侧，用于实现左右直线运动和上下直线运动；承载台7固定在两轴联动定位装置3上，电动伸缩杆4固定在承载台7上，并在两轴联动定位装置3的带动下作左右直线运动和上下直线运动；电动伸缩杆4上设置有n个fc/apc接头5，n≥1，用于同时匹配待测光纤光栅解调设备1的n个或m个通道插口；fc/apc接头5连接有一条光纤；光纤上串接了若干个光栅传感器，用于测试待测光纤光栅解调设备1的通道是否正常；测试管理主机分别与两轴联动定位装置3、电动伸缩杆4、待测光纤光栅解调设备1连接，用于根据定位算法控制两轴联动定位装置3与电动伸缩杆4配合使得fc/apc接头5自动插入待测光纤光栅解调设备1的对应通道，以及读取待测光纤光栅解调设备1的信息，以分析判定待测光纤光栅解调设备1的对应通道连接的可靠性和数据准确性。
25.两轴联动定位装置3两轴联动定位装置包括x轴直线模组、y轴直线模组；x轴直线模组固定在仪器摆放工作台上固定有待测光纤光栅解调设备的一侧，y轴直线模组竖直设置在x轴直线模组上并可在x轴直线模组的带动下作左右直线运动；承载台设置在y轴直线模组上，并可在y轴直线模组的带动下作上下直线运动。
26.具体地，x轴直线模组包括第一步进电机、第一丝杆，y轴直线模组包括第二步进电机、第二丝杆；第一步进电机用于带动第一丝杆作左右直线运动，主要用于定位待测光纤光
栅解调设备1左右各通道的位置；第二步进电机用于带动第二丝杆作上下直线运动，主要用于定位上下层待测光纤光栅解调设备1各通道的位置；承载台设置在第二丝杆上，电动伸缩杆4固定在承载台上，并且电动伸缩杆4往待测光纤光栅解调设备1所在的方向伸缩，这样就可定位到具体某一个通道。
27.如图2所示，电动伸缩杆4包括电动缸41、伸缩杆42；伸缩杆42的一端固定在电动缸41靠近待测光纤光栅解调设备1的一端；fc/apc接头5固定在伸缩杆的另一端。电动缸41伸缩杆采用24v直流供电，行程比较小，只有30毫米，同时由测试管理主机控制电动缸41的伸缩。
28.两轴联动定位装置3还包括用于测量fc/apc接头5左右直线运动距离的第一光栅尺和用于测量fc/apc接头5上下直线运动距离的第二光栅尺；第一光栅尺和第二光栅尺分别与测试管理主机连接。
29.如图3
‑
4所示，仪器摆放工作台2上固定设置有多层固定支架6，多层固定支架6用于放置若干个待测光纤光栅解调设备1；多层固定支架6包括两块竖直支撑板61和若干水平支撑底板62，两块竖直支撑板61相对设置，且互相平行；若干水平支撑底板62设置在两块竖直支撑板61之间，任何两块水平支撑底板62之间的空间尺寸与待测光纤光栅解调设备1的尺寸匹配，两块竖直支撑板61远离待测光纤光栅解调设备1通道的一侧上设置有与待测光纤光栅解调设备1所在位置相匹配的限位构件，用于对待测光纤光栅解调设备1在两块水平支撑底板62之间的空间处进行限位。
30.限位构件包括固定在竖直支撑板61上的定位杆63以及一端可围绕定位杆63旋转的挡块64。
31.两轴联动定位装置3安装在多层固定支架6的前方且面对待测光纤光栅解调设备1的通道，两轴联动定位装置3带动电动伸缩杆4上的n个fc/apc接头5运动至最左侧时，使得电动伸缩杆4上的最左侧的fc/apc接头5正对待测光纤光栅解调设备1的最左侧通道。
32.设待测光纤光栅解调设备1有m个通道，当n=1时，测试管理主机的定位算法为：（1）测试管理主机控制两轴联动定位装置3带动电动伸缩杆4上1个fc/apc接头5运动至最左侧，并且刚好对准放置在多层固定支架6对应层的待测光纤光栅解调设备1的最左侧通道，在测试该待测光纤光栅解调设备1的第i个通道时，测试管理主机控制两轴联动定位装置3向右移动（i
‑
1）d，并且控制电动伸缩杆4向前伸出，使得fc/apc接头5与该待测光纤光栅解调设备1的第i个通道连接，等测试管理主机读取对应待测光纤光栅解调设备1的信息后控制电动伸缩杆4向后缩回，如此循环m次，直至测试完该层待测光纤光栅解调设备1的m个通道；（2）在测试完一层待测光纤光栅解调设备1的m个通道后，测试管理主机控制两轴联动定位装置3向左运动回到该层最左侧，在需要测试上一层或下一层待测光纤光栅解调设备1时，则测试管理主机控制两轴联动定位装置3向上或向下运动h，然后重复步骤（1）即可，h为相邻两层待测光纤光栅解调设备1的通道中心所在的直线间的距离。
33.设待测光纤光栅解调设备1有m个通道，当n大于等于2，且m小于等于n时，测试管理主机的定位算法为：（1）测试管理主机控制两轴联动定位装置3带动电动伸缩杆4上n个fc/apc接头5运动至最左侧，并且刚好使得最左侧的fc/apc接头5对准放置在多层固定支架6对应层的待测
光纤光栅解调设备1的最左侧通道，测试管理主机控制电动伸缩杆4伸出，使得n个fc/apc接头5中的m个fc/apc接头5分别与待测光纤光栅解调设备1的对应m个通道分别一一对应连接，测试管理主机读取对应待测光纤光栅解调设备1的信号，如此完成一个待测光纤光栅解调设备1的测试；（2）在测试完一层待测光纤光栅解调设备1的m个通道后，测试管理主机控制两轴联动定位装置3向左运动回到该层最左侧，在需要测试上一层或下一层待测光纤光栅解调设备1时，则测试管理主机控制两轴联动定位装置3向上或向下运动h，然后重复步骤（1）即可，h为相邻两层待测光纤光栅解调设备1的通道中心所在的直线间的距离。
34.设待测光纤光栅解调设备1有m个通道，当n大于等于2，且m大于n时，测试管理主机的定位算法为：（1）测试管理主机控制两轴联动定位装置3带动电动伸缩杆4上n个fc/apc接头5运动至最左侧，并且刚好使得最左侧的fc/apc接头5对准放置在多层固定支架6对应层的待测光纤光栅解调设备1的最左侧通道，测试管理主机控制电动伸缩杆4伸出，使得n个fc/apc接头5分别与待测光纤光栅解调设备1的对应n个通道分别一一对应连接，测试管理主机读取对应待测光纤光栅解调设备1的信号，测试管理主机控制电动伸缩杆4缩回，使得n个fc/apc接头5分别与待测光纤光栅解调设备1的对应n个通道分离；（2）测试管理主机控制两轴联动定位装置3带动电动伸缩杆4上n个fc/apc接头5往右运动n*d，继续测试下一n个通道，直至重复k次，其中k为m/n并向上取整得到的整数，d为同一待测光纤光栅解调设备1的两个相邻通道的中心距离，如此完成一个待测光纤光栅解调设备1的测试；（3）在测试完一层待测光纤光栅解调设备1的m个通道后，测试管理主机控制两轴联动定位装置3向左运动回到该层最左侧，在需要测试上一层或下一层待测光纤光栅解调设备1时，则测试管理主机控制两轴联动定位装置3向上或向下运动h，然后重复步骤（1）
‑
（2）即可，h为相邻两层待测光纤光栅解调设备1的通道中心所在的直线间的距离。
35.生产测试过程中，一般指定最外围的通道为起始测量通道，由于上下通道和左右通道都是固定间距，因此定位系统只要以最外围通道作为参考点，就可以实现连续移动测量各个通道的光纤传感参数。
36.实施例2：当每个待测光纤光栅解调设备1有w排，每排有m个通道时，设同个待测光纤光栅解调设备1的相邻两排的通道中心距离为h，则定位算法如下：当n=1时，测试管理主机的定位算法为：（1）测试管理主机控制两轴联动定位装置3带动电动伸缩杆4上1个fc/apc接头5运动至最左侧，并且刚好对准放置在多层固定支架6对应层的待测光纤光栅解调设备1的最左侧通道，在测试该待测光纤光栅解调设备1的第i个通道时，测试管理主机控制两轴联动定位装置3向右移动（i
‑
1）d，并且控制电动伸缩杆4向前伸出，使得fc/apc接头5与该待测光纤光栅解调设备1的第i个通道连接，等测试管理主机读取对应待测光纤光栅解调设备1的信息后控制电动伸缩杆4向后缩回，如此循环m次，直至测试完该待测光纤光栅解调设备1的一排m个通道；（2）在测试完待测光纤光栅解调设备1的一排m个通道后，测试管理主机控制两轴
联动定位装置3向左运动回到该排通道最左侧，测试管理主机控制两轴联动定位装置3向上或向下运动h，测试相邻一排通道，重复步骤（1）w次，如此实现测试完一层待测光纤光栅解调设备1的m*w个通道。
37.（3）在测试完一层待测光纤光栅解调设备1的m*w个通道后，测试管理主机控制两轴联动定位装置3向左运动回到该层最左侧，在需要测试上一层或下一层待测光纤光栅解调设备1时，则测试管理主机控制两轴联动定位装置3向上或向下运动h，然后重复步骤（1）
‑
（2）即可，h为相邻两层待测光纤光栅解调设备1的相邻两排通道中心所在的直线间的距离。
38.设待测光纤光栅解调设备1有m个通道，当n大于等于2，且m小于等于n时，测试管理主机的定位算法为：（1）测试管理主机控制两轴联动定位装置3带动电动伸缩杆4上n个fc/apc接头5运动至最左侧，并且刚好使得最左侧的fc/apc接头5对准放置在多层固定支架6对应层的待测光纤光栅解调设备1的最左侧通道，测试管理主机控制电动伸缩杆4伸出，使得n个fc/apc接头5中的m个fc/apc接头5分别与待测光纤光栅解调设备1的对应m个通道分别一一对应连接，测试管理主机读取对应待测光纤光栅解调设备1的信号，如此完成待测光纤光栅解调设备1的一排m个通道的测试；（2）在测试完待测光纤光栅解调设备1的一排m个通道后，测试管理主机控制两轴联动定位装置3向左运动回到该排通道最左侧，测试管理主机控制两轴联动定位装置3向上或向下运动h，测试相邻一排通道，重复步骤（1）w次，如此实现测试完一层待测光纤光栅解调设备1的m*w个通道。
39.（3）在测试完一层待测光纤光栅解调设备1的m*w个通道后，测试管理主机控制两轴联动定位装置3向左运动回到该层最左侧，在需要测试上一层或下一层待测光纤光栅解调设备1时，则测试管理主机控制两轴联动定位装置3向上或向下运动h，然后重复步骤（1）
‑
（2）即可，h为相邻两层待测光纤光栅解调设备1的相邻两排通道中心所在的直线间的距离。
40.设待测光纤光栅解调设备1有m个通道，当n大于等于2，且m大于n时，测试管理主机的定位算法为：（1）测试管理主机控制两轴联动定位装置3带动电动伸缩杆4上n个fc/apc接头5运动至最左侧，并且刚好使得最左侧的fc/apc接头5对准放置在多层固定支架6对应层的待测光纤光栅解调设备1的最左侧通道，测试管理主机控制电动伸缩杆4伸出，使得n个fc/apc接头5分别与待测光纤光栅解调设备1的对应n个通道分别一一对应连接，测试管理主机读取对应待测光纤光栅解调设备1的信号，测试管理主机控制电动伸缩杆4缩回，使得n个fc/apc接头5分别与待测光纤光栅解调设备1的对应n个通道分离；（2）测试管理主机控制两轴联动定位装置3带动电动伸缩杆4上n个fc/apc接头5往右运动n*d，继续测试下一n个通道，直至重复k次，其中k为m/n并向上取整得到的整数，d为同一待测光纤光栅解调设备1的两个相邻通道的中心距离，如此完成待测光纤光栅解调设备1的一排m个通道的测试；（3）在测试完待测光纤光栅解调设备1的一排m个通道后，测试管理主机控制两轴联动定位装置3向左运动回到该排通道最左侧，测试管理主机控制两轴联动定位装置3向上或向下运动h，测试相邻一排通道，重复步骤（1）
‑
（2）w次，如此实现测试完一层待测光纤光栅解调设备1的m*w个通道。
41.（4）在测试完一层待测光纤光栅解调设备1的m*w个通道后，测试管理主机控制两轴联动定位装置3向左运动回到该层最左侧，在需要测试上一层或下一层待测光纤光栅解调设备1时，则测试管理主机控制两轴联动定位装置3向上或向下运动h，然后重复步骤（1）
‑
（3）即可，h为相邻两层待测光纤光栅解调设备1的相邻两排通道中心所在的直线间的距离。
42.本发明还可采用各个通道性能正常的光纤光栅解调设备来测试光纤光栅传感器的性能好坏。
43.本领域普通技术人员可以意识到，结合本文中所公开的实施例描述的各示例的单元，能够以电子硬件、计算机软件或者二者的结合来实现，为了清楚地说明硬件和软件的可互换性，在上述说明中已经按照功能一般性地描述了各示例的组成。这些功能究竟以硬件还是软件方式来执行，取决于技术方案的特定应用和设计约束条件。专业技术人员可以对每个特定的应用来使用不同方法来实现所描述的功能，但是这种实现不应认为超出本发明的范围。
44.在本技术所提供的实施例中，应该理解到，单元的划分，仅仅为一种逻辑功能划分，实际实现时可以有另外的划分方式，例如多个单元可结合为一个单元，一个单元可拆分为多个单元，或一些特征可以忽略等。
45.最后应说明的是：以上各实施例仅用以说明本发明的技术方案，而非对其限制；尽管参照前述各实施例对本发明进行了详细的说明，本领域的普通技术人员应当理解：其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分或者全部技术特征进行等同替换；而这些修改或者替换，并不使相应技术方案的本质脱离本发明各实施例技术方案的范围，其均应涵盖在本发明的权利要求和说明书的范围当中。