一种基于自旋波衍射效应的探测界面DM作用强度的方法与流程

技术特征：
1.一种基于自旋波衍射效应的探测界面dm作用强度的方法，其特征在于，包括：s1.在能产生衍射条纹的平面波导上激发自旋波，使得激发的自旋波通过镂空结构传播并发生衍射；所述平面波导由能够产生自旋波的波导材料构成；s2.根据背向体波中最强衍射束偏转角β的正弦值计算得到dm作用的强度；所述最强衍射束的偏转角为最强衍射束的方向与背向体波磁矩方向的夹角；所述最强衍射束指衍射强度最强的衍射束；所述背向体波为薄膜被面内磁化且磁矩平行于自旋波波矢时的自旋波模式。2.根据权利要求1所述的一种基于自旋波衍射效应的探测界面dm作用强度的方法，其特征在于，所述平面波导的长和宽至少是自旋波波长的十倍。3.根据权利要求2所述的一种基于自旋波衍射效应的探测界面dm作用强度的方法，其特征在于，所述平面波导为h型镂空结构，其中间实体部分的长度d与自旋波波长的关系遵循光波的衍射原理里对狭缝长度与宽度的要求。4.根据权利要求1
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3任一项所述的一种基于自旋波衍射效应的探测界面dm作用强度的方法，其特征在于，所述波导材料为坡莫合金、铁、钴、镍或yig。5.根据权利要求4所述的一种基于自旋波衍射效应的探测界面dm作用强度的方法，其特征在于，所述平面波导设置有边界吸收层；所述边界吸收层采用阻尼因子至少大于波导材料阻尼因子一个数量级的铁磁材料构成。6.根据权利要求1
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5任一项所述的一种基于自旋波衍射效应的探测界面dm作用强度的方法，其特征在于，采用微波磁场、超短激光脉冲或者自旋极化电流作为激励场，在恒定磁场下激发背向体波。7.根据权利要求1
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6任一项所述的一种基于自旋波衍射效应的探测界面dm作用强度的方法，其特征在于，最强衍射束的偏转角β的正弦值与界面dm作用强度d的关系为：a表示磁性材料的交换常数，k0为入射波的波数。

技术总结
本发明公开了一种基于自旋波衍射效应的探测界面DM作用强度的方法，属于自旋电子学领域。本发明基于在一定条件下，最强衍射束偏转角的正弦值与DM作用常数近似满足简单的线性关系，通过测量最强衍射束偏转角的正弦值来测量DM作用常数，不需要分辨自旋波波长变化，测量方法不受波长分辨率的限制，因而可以适用于更宽频率范围(20GHz到100GHz，以坡莫合金波导系统为例)的自旋波下的DM作用强度的测量，突破了传统BLS等方法对波长分辨率的限制，这对于未来研究基于界面DM作用的自旋波特别是交换自旋波有着很大的作用。换自旋波有着很大的作用。换自旋波有着很大的作用。


技术研发人员：谢丽娜 沈茂康 聂彦 张悦 王韬 王鲜
受保护的技术使用者：华中科技大学
技术研发日：2021.07.28
技术公布日：2021/11/2