一种多芯片筛选方案的制作方法

技术特征：
1.一种多芯片筛选方案，由芯片测试模块、协调模块组成，可以用于大规模芯片测试，其中，芯片测试模块包括被测部分、陪测部分和接口；协调模块包括多组接口、测温模块、协调芯片、电源和上位机接口；其特征在于，芯片测试模块的存储部分提供测试需要的测试代码，并保存测试结果，可以实现大规模测试时，准备、测试和结果输出的流水线工作流程的柔性安排。2.根据权利要求1所述的芯片测试模块，其特征在于，接口部分需要和协调模块的接口定义一致，可以接插在一起；除了接口部分，各个芯片测试模块的其他部分可以不同，以满足多种类型芯片的测试。3.根据权利要求1和2所述的芯片测试模块，其特征在于，被测部分可以有可编程测试逻辑，存储部分与被测部分连接。4.根据权利要求1和2所述的芯片测试模块，其特征在于，陪测部分的陪测电路包含可编程逻辑器件，存储部分可以和陪测部分可编程逻辑器件连接。5.根据权利要求1所述的接口部分，其特征在于，提供通讯总线和供电，一般情况下，测试模块具备一个接口；协调模块具备多组接口，连接多个芯片测试模块。6.根据权利要求1所述的协调模块，其特征在于，协调模块能够读取测温模块的温度数据，并通过接口传递给多组芯片测试模块，而且通过接口为多组芯片测试模块提供电源，也可以通过上位机接口连接上位机电脑。7.根据权利要求1、2、3、4所述的芯片测试模块，其特征在于，陪测电路的存储部分，可以通过socket座加装；存储的测试结果包括测试结果和环境温度间的关系；存储的测试代码包括启动系统、测试程序、芯片测试模块的唯一标识。8.根据权利要求1所述的启动和停止装置，其特征在于，可以是按钮或拨码开关，可以放到芯片测试模块，启动和停止单个芯片测试；也可以放到协调模块，启动和停止整改测试系统。9.根据权利要求1所述的协调模块，其特征在于，测量时，可以连接上位机实时观察测量情况。10.根据权利要求1所述的协调模块，其特征在于，测量完成后，可以连接上位机读取连接芯片测试模块的测量结果。

技术总结
本申请涉及芯片测试技术领域，具体涉及一种多芯片筛选方案，该方案用于对处于同样批次中的多种类型的芯片一起进行混合测试，包括：芯片测试模块、协调模块，芯片测试模块包括被测部分、陪测部分和接口，协调模块包括多组接口、测温模块、协调芯片、电源和上位机接口；其中，所述陪测部分内置陪测电路、存储部分等模块，所述存储部分提供测试需要的测试代码，并保存测试结果，可以实现大规模测试时，准备、测试和结果输出的流水线工作流程的柔性安排。本申请中芯片测试模块的接口一致性，确保了多种芯片的同时测试，所采用的多级的模块化设计，可以实现测试平台的复用性，降低了测试时的复杂度，从而使芯片测试更加方便快捷。从而使芯片测试更加方便快捷。从而使芯片测试更加方便快捷。


技术研发人员：程朝辉
受保护的技术使用者：北京艾博唯科技有限公司
技术研发日：2021.08.09
技术公布日：2023/2/17