一种视频解码芯片SLT方法及测试装置与流程

一种视频解码芯片slt方法及测试装置
【技术领域】
1.本技术涉及半导体芯片测试技术领域，尤其涉及一种视频解码芯片slt方法及测试装置。


背景技术：

2.现有的视频解码芯片slt测试采用人工判断视频接口输出图像质量是否符合测试要求，人眼判断屏幕输出是否合格后，再把芯片从测试架中取出根据结果好坏放回测试架中，该方式存在人眼容易忽略一些细小的瑕疵、测试产能扩充难以及单颗芯片测试成本高的问题，再参照中国发明公开专利cn114461469a公布的一种基于接口数据比对的图形芯片slt方法，该发明将图形芯片的通断性测试和板级功能测试融合在一起，能够更加全面地完成图形芯片的测试，然而该发明方法只适用于图形芯片的静态图片输出的数据匹配，对于视频解码芯片，视频数据流内容多且为动态数据，较难进行数据匹配，从而没办法适用到视频解码芯片的测试中。


技术实现要素：

3.为了能够较好的测试视频解码芯片，高效自动地完成通断性测试、ip测试和芯片筛选，且方便于芯片产能扩充，减少成本的投入，本技术提出了如下方案：
4.一种视频解码芯片slt方法，包括如下步骤：
5.桌面测试机初始化；
6.桌面测试机从托盘上自动吸取芯片后放到测试座中；
7.核心测试板通电；
8.进行开短路测试并比对结果；
9.进行模拟ip测试并比对结果；
10.进行系统应用测试并比对结果；
11.测试架完成测试，给测试机发送测试信号；
12.桌面测试机根据信号将芯片进行分类。
13.如上所述的一种视频解码芯片slt方法，在进行开短路测试并比对结果的步骤中，所述开短路测试包括如下步骤：
14.判断io口数量是否为偶数个，若是，则在核心测试板上将通用io口分为数量相等的两组第一组和第二组，将第一组和第二组的通用io口在核心测试板上一一相连；
15.第一阶段控制第一组通用io口分别输出高电平和低电平，从第二组通用io口读回来进行判定。
16.控制第一组通用io口输出高电平，再从第二组的通用io口读回来第一组的输出，判断是否都为高电平，如全部为高电平进行下一步，否则判定为坏片；
17.控制第一组通用io口输出低电平，再从第二组的通用io口读回来第一组的输出，判断是否都为低电平，如全部为低电平进行下一步，否则判定为坏片；
18.第二阶段控制第二组通用io口分别输出高电平和低电平，从第一组通用io口读回来进行判定。
19.控制第二组通用io口输出高电平，再从第一组的通用io口读回来第二组的输出，判断是否都为高电平，如全部为高电平进行下一步，否则判定为坏片；
20.控制第二组通用io口输出低电平，再从第一组的通用io口读回来第二组的输出，判断是否都为低电平，如全部为低电平进行下一步，否则判定为坏片；
21.完成开短路测试，进入下一功能测试。
22.如上所述的一种视频解码芯片slt方法，若io口数量为奇数个，则在核心测试板上将通用io口分为数量相等的两组第一组和第二组之后，将第一组和第二组的通用io口在核心测试板上一一相连，剩余的一个独立io口执行如下步骤：
23.剩下的一个独立io口输出接到一个锁存器芯片的输入，第一组的任意一个io接到锁存器芯片的输出控制oe端，锁存器芯片的锁存使能端le直接接到电源上，使得锁存使能一直有效。锁存器输出控制oe端为1时，锁存器输出高阻态，不驱动总线。锁存器输出控制oe端为0时，锁存器输出锁存后的数据。
24.第一阶段控制第一组通用io口分别输出高电平和低电平，从第二组通用io口读回来进行判定。独立io口输出高电平给锁存器锁存后再切换为输入把锁存器输出读回来进行判定。
25.控制第一组通用io口输出高电平，锁存器输出控制oe端为1，锁存器输出高阻态；控制独立io输出高电平，同时从第二组的通用io口读回来第一组的输出，判断是否都为高电平，如全部为高电平进行下一步，否则判定为坏片；
26.控制第一组通用io口输出低电平，锁存器输出控制oe端为0，锁存器输出锁存的独立io状态，接下来控制独立io切换为输入，判断锁存器输出的独立io状态是否为高电平，如是则继续，否则判定为坏片；从第二组的通用io口读回来第一组的输出，判断是否为低电平，如全部为低电平进行下一步，否则判定为坏片；
27.控制独立io输出低电平，控制第一组通用io口输出低电平，锁存器输出控制oe端为0，锁存器输出锁存的独立io状态，接下来控制独立io切换为输入，判断是否为低电平，如是则进入下一步，否则判定为坏片；
28.第二阶段控制第二组通用io口分别输出高电平和低电平，从第一组通用io口读回来进行判定。
29.控制第二组通用io口输出高电平，再从第一组的通用io口读回来第二组的输出，判断是否都为高电平，如全部为高电平进行下一步，否则判定为坏片；
30.控制第二组通用io口输出低电平，再从第一组的通用io口读回来第二组的输出，判断是否都为低电平，如全部为低电平进行下一步，否则判定为坏片；
31.完成开短路测试，进入下一功能测试。
32.如上所述的一种视频解码芯片slt方法，在进行模拟ip测试并比对结果的步骤中，所述模拟ip包括有usb或ddr，所述usb或所述ddr设有bist模式，所述模拟ip的测试包括如下步骤：
33.控制被测芯片进入相应的bist模式；
34.给定输入启动信号；
35.在特定的时间内判断输出是否为高电平。
36.如上所述的一种视频解码芯片slt方法，在进行模拟ip测试并比对结果的步骤中，所述模拟ip包括有adc，所述adc需要外置的视频解码芯片控制输出dac模拟信号，通过比对被测芯片的数字输出判定adc功能的好坏。
37.如上所述的一种视频解码芯片slt方法，在进行系统应用测试并比对结果的步骤中，所述系统应用测试包括如下步骤：
38.外置的解码控制芯片控制被测芯片进入功能测试模式；
39.被测芯片从flash启动应用程序并从u盘或者sd卡读取多媒体数据后，在内部完成音视频解码以及图像显示处理后输出到hdmi接口；
40.hdmi接口开始输出动态多媒体音视频数据；
41.外置的解码控制芯片从hdmi输入口接收到多媒体音视频数据后开始解码后存放到内存中；
42.被测芯片从u盘开始读取数据，同时通过串口发送启动命令给外置的解码控制芯片，解码控制芯片同时从u盘读取相同的多媒体数据完成解码后存储到内存中；
43.主控视频解码芯片启动本地u盘解码数据和hdmi输入口解码后的多媒体数据比对；
44.完成数据比对并判定待测芯片的好坏。
45.如上所述的一种视频解码芯片slt方法，在进行主控视频解码芯片启动本地u盘解码数据和hdmi输入口解码后的多媒体数据比对的步骤中，具体包括如下操作：
46.定位hdmi解码后的i帧数据；
47.取从u盘解码后的视频数据的第一个i帧与hdmi解码后的i帧进行比对，如果比对失败则寻找下一个i帧进行比对；如果失败则继续寻找下一个i帧进行比对，直至比对成功或者超过设定的比对次数；比对成功的话进入下一步，超过比对设定的次数则判定比对失败；
48.比对接下来的p帧数据和i帧数据，如比对失败则判定为坏片，比对成功则继续比对，直到预设的i帧比较个数达到目标值。
49.本技术公开了一种视频解码芯片slt测试装置，包括桌面型测试机和核心测试板，所述桌面型测试机用于取放以及分选芯片，所述桌面型测试机用于控制所述核心测试板的电源以及获取核心测试板的反馈结果，以实现如上所述的一种视频解码芯片slt方法。
50.如上所述的一种视频解码芯片slt测试装置，所述核心测试板包括测试主控芯片和待测芯片测试座，所述测试主控芯片用于控制待测芯片完成测试，所述测试主控芯片用于控制待测芯片电源的启停，所述待测芯片测试座用于夹持待测芯片。
51.本技术还公开了一种计算机可读存储介质，所述存储介质上存储有计算机程序，当所述计算机程序被测试主控芯片执行时，实现如上所述的一种视频解码芯片slt方法。
52.与现有技术相比，本技术有如下优点：
53.本技术的一种视频解码芯片slt方法通过改进原有图形芯片slt方法，使得视频解码芯片能够自动进行slt测试，再通过进行ip测试和系统级应用的测试之后，结果自动比对，无需人工比对，降低了芯片板级测试难度，缩短了测试时间，且通过采用机器进行数据比对，能够及时发现人眼无法判别的瑕疵，减低成本的同时能够较好的扩充产能。
【附图说明】
54.为了更清楚地说明本技术实施例中的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍。
55.图1是本技术的总体测试方法流程框图；
56.图2是io口数量为偶数时的开短路测试流程图；
57.图3是io口数量为奇数时的开短路测试流程图；
58.图4是模拟ip测试流程图；
59.图5是系统应用测试流程图；
60.图6是解码后的多媒体数据比对流程图；
61.图7是测试方案的框架图；
62.图8是奇数个io口测试框架图。
【具体实施方式】
63.如图1所示，本实施例提出了一种视频解码芯片slt方法，包括如下步骤：
64.s1、桌面测试机初始化；
65.s2、桌面测试机从托盘上自动吸取芯片后放到测试座中；
66.s3、核心测试板通电；
67.s4、进行开短路测试并比对结果；
68.s5、进行模拟ip测试并比对结果；
69.s6、进行系统应用测试并比对结果；
70.s7、测试架完成测试，给测试机发送测试信号；
71.s8、桌面测试机根据信号将芯片进行分类。
72.本实施例通过改进原有图形芯片slt方法，使得视频解码芯片能够自动进行slt测试，再通过进行ip测试和系统级应用的测试之后进行结果自动比对，无需人工比对，降低了芯片板级测试难度，缩短了测试时间，且通过采用机器进行数据比对，能够及时发现人眼无法判别的瑕疵，减低成本的同时能够较好的扩充产能。
73.优选地，如图2所示，在进行开短路测试并比对结果的步骤中，所述开短路测试包括如下步骤：
74.s411、判断io口数量是否为偶数个，若是，则在核心测试板上将通用io口分为数量相等的两组第一组和第二组，将第一组和第二组的通用io口在核心测试板上一一相连；
75.第一阶段控制第一组通用io口分别输出高电平和低电平，从第二组通用io口读回来进行判定。
76.s412、控制第一组通用io口输出高电平，再从第二组的通用io口读回来第一组的输出，判断是否都为高电平，如全部为高电平进行下一步，否则判定为坏片；
77.s413、控制第一组通用io口输出低电平，再从第二组的通用io口读回来第一组的输出，判断是否都为低电平，如全部为低电平进行下一步，否则判定为坏片；
78.第二阶段控制第二组通用io口分别输出高电平和低电平，从第一组通用io口读回来进行判定。
79.s414、控制第二组通用io口输出高电平，再从第一组的通用io口读回来第二组的
输出，判断是否都为高电平，如全部为高电平进行下一步，否则判定为坏片；
80.s415、控制第二组通用io口输出低电平，再从第一组的通用io口读回来第二组的输出，判断是否都为低电平，如全部为低电平进行下一步，否则判定为坏片；
81.s416、完成开短路测试，进入下一功能测试。
82.本实施例通过对芯片进行开短路测试，能够确保芯片上的每一个io口都为正常可用的io口，为后续测试以及使用奠定基础。
83.优选地，如图3和图8所示，若io口数量为奇数个，则在核心测试板上将通用io口分为数量相等的两组第一组和第二组之后，将第一组和第二组的通用io口在核心测试板上一一相连，剩余的一个独立io口执行如下步骤：
84.s421、剩下的一个独立io口输出接到一个锁存器芯片的输入，第一组的任意一个io接到锁存器芯片的输出控制oe端，锁存器芯片的锁存使能端le直接接到电源上，使得锁存使能一直有效。锁存器输出控制oe端为1时，锁存器输出高阻态，不驱动总线。锁存器输出控制oe端为0时，锁存器输出锁存后的数据。
85.第一阶段控制第一组通用io口分别输出高电平和低电平，从第二组通用io口读回来进行判定。独立io口输出高电平给锁存器锁存后再切换为输入把锁存器输出读回来进行判定。具体步骤如下：
86.s422、控制第一组通用io口输出高电平，锁存器输出控制oe端为1，锁存器输出高阻态；控制独立io输出高电平，同时从第二组的通用io口读回来第一组的输出，判断是否都为高电平，如全部为高电平进行下一步，否则判定为坏片；
87.s423、控制第一组通用io口输出低电平，锁存器输出控制oe端为0，锁存器输出锁存的独立io状态，接下来控制独立io切换为输入，判断锁存器输出的独立io状态是否为高电平，如是则继续，否则判定为坏片；从第二组的通用io口读回来第一组的输出，判断是否为低电平，如全部为低电平进行下一步，否则判定为坏片；
88.s424、控制独立io输出低电平，控制第一组通用io口输出低电平，锁存器输出控制oe端为0，锁存器输出锁存的独立io状态，该状态为低电平，接下来控制独立io切换为输入，判断是否为低电平，如是则进入下一步，否则判定为坏片；
89.第二阶段控制第二组通用io口分别输出高电平和低电平，从第一组通用io口读回来进行判定。
90.s425、控制第二组通用io口输出高电平，再从第一组的通用io口读回来第二组的输出，判断是否都为高电平，如全部为高电平进行下一步，否则判定为坏片；
91.s426、控制第二组通用io口输出低电平，再从第一组的通用io口读回来第二组的输出，判断是否都为低电平，如全部为低电平进行下一步，否则判定为坏片；
92.s427、完成开短路测试，进入下一功能测试。
93.本实施例还考虑到出现奇数个io口时，无法做到配对分组的情况，通过对独立io进行单独的测试，保证开短路测试能够全面覆盖，不遗漏任何一个io，保证测试的质量。
94.优选地，如图4所示，在进行模拟ip测试并比对结果的步骤中，所述模拟ip包括有usb或ddr，所述usb或所述ddr设有bist模式，所述模拟ip的测试包括如下步骤：
95.s51、控制被测芯片进入相应的bist模式；
96.s52、给定输入启动信号；
97.s53、在特定的时间内判断输出是否为高电平。
98.本实施例通过采用本领域通用的bist模式对usb和ddr这两种模拟ip进行测试，能够较好较稳定测试出准备的结果，保证芯片的稳定性和测试的正确性。
99.优选地，在进行模拟ip测试并比对结果的步骤中，所述模拟ip包括有adc，所述adc需要外置的视频解码芯片控制输出dac模拟信号，通过比对被测芯片的数字输出判定adc功能的好坏。
100.本实施例还考虑到模拟ip中的adc接口，通过外置的视频解码芯片控制，对adc进行相应的测试比对，能够较好较稳定测试出准备的结果，保证芯片的稳定性和测试的正确性。
101.优选地，如图5所示，在进行系统应用测试并比对结果的步骤中，所述系统应用测试包括如下步骤：
102.s61、外置的解码控制芯片控制被测芯片进入功能测试模式；
103.s62、被测芯片从flash启动应用程序并从u盘或者sd卡读取多媒体数据后，在内部完成音视频解码以及图像显示处理后输出到hdmi接口；
104.s63、hdmi接口开始输出动态多媒体音视频数据；
105.s64、外置的解码控制芯片从hdmi输入口接收到多媒体音视频数据后开始解码后存放到内存中；
106.s65、被测芯片从u盘开始读取数据，同时通过串口发送启动命令给外置的解码控制芯片，解码控制芯片同时从u盘读取相同的多媒体数据完成解码后存储到内存中；
107.s66、主控视频解码芯片启动本地u盘解码数据和hdmi输入口解码后的多媒体数据比对；
108.s67、完成数据比对并判定待测芯片的好坏。
109.本实施例通过对系统应用测试，能够确保在io口和模拟ip都没问题的情况下，保障芯片能够正常应用，减少使用时的故障，同时能够较好较稳定测试出准备的结果，保证芯片的稳定性和测试的正确性。
110.优选地，如图6所示，在进行主控视频解码芯片启动本地u盘解码数据和hdmi输入口解码后的多媒体数据比对的步骤中，具体包括如下操作：
111.s661、定位hdmi解码后的i帧数据；
112.s662、取从u盘解码后的视频数据的第一个i帧与hdmi解码后的i帧进行比对，如果比对失败则寻找下一个i帧进行比对；如果失败则继续寻找下一个i帧进行比对，直至比对成功或者超过设定的比对次数；比对成功的话进入下一步，超过比对设定的次数则判定比对失败；
113.s663、比对接下来的p帧数据和i帧数据，如比对失败则判定为坏片，比对成功则继续比对，直到预设的i帧比较个数达到目标值。
114.本实施例通过单独对步骤s66进行具体操作，能够清晰明了地展示hdmi解码比对过程，使得该步骤的准确程度更高，能够较好较稳定测试出准备的结果，保证芯片的稳定性和测试的正确性。
115.本实施例公开了一种视频解码芯片slt测试装置，包括桌面型测试机和核心测试板，所述桌面型测试机用于取放以及分选芯片，所述桌面型测试机用于控制所述核心测试
板的电源以及获取核心测试板的反馈结果，以实现如上所述的一种视频解码芯片slt方法。
116.如图7所示，本实施例通过公开了芯片slt测试方法的装置，使得我们能够方便快捷的在该装置上实施芯片slt方法，同时通过结合桌面型测试机，不需要使用昂贵ate自动化测试设备，大大降低测试的成本。
117.优选地，如图7所示，所述核心测试板包括测试主控芯片和待测芯片测试座，所述测试主控芯片用于控制待测芯片完成测试，所述测试主控芯片用于控制待测芯片电源的启停，所述待测芯片测试座用于夹持待测芯片。
118.本实施例中的核心测试板分成两部分，能够方便快捷的夹持住芯片，使得测试过程中稳定，且能够对电源进行控制，保证芯片在测试过程中是可控的，再采用待测芯片测试座，使得芯片测试过程中能够方便取放
119.本实施例还公开了一种计算机可读存储介质，所述存储介质上存储有计算机程序，当所述计算机程序被测试主控芯片执行时，实现如上所述的一种视频解码芯片slt方法。
120.本实施例为了能够较好的储存相关控制程序，还公开了计算机可读存储介质，在程序需要执行和储存时都很方便。
121.如上所述是结合具体内容提供的一种实施方式，并不认定本技术的具体实施只局限于这些说明。凡与本技术的方法、结构等近似、雷同，或是对于本技术构思前提下做出若干技术推演或替换，都应当视为本技术的保护范围。