一种CSK-IA改进型试块及其使用方法与流程

技术特征：
1.一种csk-ia改进型试块，其特征在于，包括：标准csk-ia试块，包括呈矩形的本体部，设置在所述本体部右端面上的圆弧形台阶，以及设置在所述本体部正面并贯穿至背面、且沿着本体部厚度方向从正面到背面孔径逐渐减小的第一阶梯通孔；刻度尺，沿着所述本体部上端面外边缘设置在所述本体部正面；第二阶梯通孔，设置在所述本体部正面并贯穿至背面，且位于所述第一阶梯通孔的右下方，其内部孔径沿着本体部厚度方向从正面到背面逐渐减小；多个平底孔，分别在所述本体部正面上和/或下端面上。2.根据权利要求1所述的csk-ia改进型试块，其特征在于，所述标准csk-ia试块符合gb/t 19799.1-2005标准的1号校准试块。3.根据权利要求1所述的csk-ia改进型试块，其特征在于，所述刻度尺包括毫米刻度和/或测试k≤1.5斜探头折射角k值标识。4.根据权利要求3所述的csk-ia改进型试块，其特征在于，所述毫米刻度尺刻度从本体部的左端面延伸至所述圆弧形台阶的弧面端，共计270mm。5.根据权利要求3所述的csk-ia改进型试块，其特征在于，所述测试k≤1.5斜探头折射角k值标识中，k0.7刻度线距离本体部左端的长度为184mm，k1.0刻度线距离本体部左端的长度为205mm，k1.5刻度线距离本体部左端的长度为240mm。6.根据权利要求1所述的csk-ia改进型试块，其特征在于，所述第二阶梯通孔的圆心与所述本体部上端面的距离为70mm，所述第二阶梯通孔的圆心与所述本体部左端面的距离为135mm。7.根据权利要求1所述的csk-ia改进型试块，其特征在于，所述第二阶梯通孔沿着本体部厚度方向从正面到背面的孔径依次为ф50mm、ф44mm、ф40mm。8.根据权利要求1所述的csk-ia改进型试块，其特征在于，所述平底孔至少包括6个，且每个平底孔的孔径为ф2mm；至少4个平底孔布置于本体部的正面上，且超声波探测距离分别为5mm、10mm、15mm、20mm；至少2个平底孔布置于本体部的下端面上，分别定义为第一平底孔和第二平底孔；所述第一平底孔的孔道或孔道的延长线位于所述第一通孔与第二通孔之间，所述第一平底孔的超声波探测距离为30mm；所述第二平底孔穿过所述第二阶梯通孔的圆心，所述第二平底孔的超声波探测距离为40mm。9.一种基于权利要求1至8任一项所述的csk-ia改进型试块的使用方法，其特征在于，包括如下步骤：测试斜探头前沿长度和入射点测量，用探头线把斜探头与超声波探伤仪连接起来，打开超声波探伤仪电源开关，选择使用斜探头检测的通道，探头主声束对准圆弧形台阶外侧的弧面，把圆弧形台阶弧面最大反射波调整至仪器满幅高度的80％，直接读取斜探头前端与刻度尺重合时的毫米刻度x，k1.5刻度对应毫米刻度为y，那么斜探头前沿长度为(x－y)mm，斜探头与k1.5刻度重合的位置就是斜探头的入射点；折射角＞k1.5斜探头折射角测量，将斜探头主声束对准第一阶梯通孔，移动探头找到ф50mm圆孔最大反射波，读取斜探头入射点处的毫米刻度尺，得到折射角数值；
折射角≤k1.5斜探头折射角测量，将斜探头主声束对准第二阶梯通孔，移动探头找到ф50mm圆孔最大反射波，读取斜探头入射点处的毫米刻度尺，得到折射角数值。10.根据权利要求9所述的csk-ia改进型试块的使用方法，其特征在于，还包括如下步骤：按照母材厚度选择能够覆盖检测深度的至少3个不同超声波探测距离的平底孔，将上述平底孔最大反射波连成一条曲线，补偿csk-ia改进型试块与焊缝母材之间的耦合差，调整增益或者衰减器，使得曲线上幅度最低的平底孔反射波至少为仪器满幅高度的40％，此状态的曲线即为探伤灵敏度曲线；现场执行超声探伤扫查时，将探伤灵敏度曲线提高预定分贝，发现缺陷波后恢复探伤灵敏度；缺陷定量时，测量同声程位置探伤灵敏度曲线幅度与缺陷波幅度之间的幅度差，即可得到缺陷平底孔当量大小。

技术总结
本发明公开了一种CSK-IA改进型试块及其使用方法，属于超声探测领域。包括标准CSK-IA试块、刻度尺、第二阶梯通孔和多个平底孔。刻度尺沿着所述本体部上端面外边缘设置在所述本体部正面；第二阶梯通孔设置在所述本体部正面并贯穿至背面，且位于所述第一阶梯通孔的右下方，其内部孔径沿着本体部厚度方向从正面到背面逐渐减小；多个平底孔分别在所述本体部正面上和/或下端面上。本发明在测试斜探头折射角时，折射角≤K1.5的斜探头使用第二阶梯通孔即可，不需要翻转试块，测试斜探头折射角和折射角总的时间缩短了50％左右，消除了翻转试块的安全风险，也无须购买安装旋转架。也无须购买安装旋转架。也无须购买安装旋转架。


技术研发人员：陈士华 万升云 章文显 郑小康 卢东磊 桑劲鹏
受保护的技术使用者：中车戚墅堰机车车辆工艺研究所有限公司
技术研发日：2022.11.01
技术公布日：2023/2/3