变频器测试系统的制作方法

1.本技术涉及测试领域，更为具体的，涉及一种测试系统，特别是用于变频器的测试系统。


背景技术：

2.变频器的生产装配通常在流水线上进行，完成装配的变频器产品在出厂前，均需要对变频器产品的各项性能参数进行测试，相关技术中的测试方法是利用自动流水线进行自动对接测试。在进行测试前，将变频器的接线端与测试托盘的端子部连接；承载着待测变频器的测试托盘被流水线移动到测试工位后，将测试托盘固定在测试工位处，测试工位上的对接端子向下移动，与测试托盘上的端子部对接，进行上电测试；在完成测试后，对接端子断开与测试托盘上的端子的连接，测试托盘沿流水线移动到下一测试工位。
3.但是，上述方法还存在着一些问题：由于相互对接的端子之间存在插拔力，在测试完成后拔出对接端子时，测试托盘会受到向上的力，从而导致测试托盘发生振动，在一些情况下，甚至存在测试托盘从流水线上掉落的风险，从而影响测试系统运行的稳定性和安全性。


技术实现要素：

4.本技术提供一种测试系统。下面对本技术实施例涉及的各个方面进行介绍。
5.第一方面，提供一种变频器测试系统，包括：测试托盘，用于承载待测变频器，所述测试托盘上包括端子安装座以及固定在所述端子安装座中的第一端子部，所述第一端子部用于将所述待测变频器连接到测试端；输送单元，用于将所述测试托盘移动到至少一个测试工位处；对接测试单元，设置在所述测试工位处，用于与所述第一端子部对接，实现所述待测变频器的上电测试，其特征在于，所述对接测试单元包括：固定架；移动平台，与所述固定架连接，并可沿所述固定架上下移动；第一驱动装置，用于驱动所述移动平台移动；对接模组，连接到所述测试端，包括第二端子部，可与所述第一端子部对接，以对所述待测变频器进行上电测试；第二驱动装置，与所述对接模组连接，用于驱动所述对接模组移动，以使所述第二端子部与所述第一端子部对接；以及，在完成测试后断开所述第二端子部与所述第一端子部的连接；脱扣机构，与所述移动平台连接，可随所述移动平台移动至抵接在所述端子安装座上，以固定所述测试托盘；其中，在对所述待测变频器进行测试时，所述脱扣机构先固定所述测试托盘，所述第二端子部再与所述第一端子部对接；在完成测试后，所述第二端子部先断开与所述第一端子部的连接，所述脱扣机构再与所述端子安装座分离。
6.可选地，所述固定架上设置有第一导轨，所述移动平台位于所述第一导轨上，可沿所述第一导轨移动。
7.可选地，所述第一驱动装置包括第一气缸，所述第一气缸的固定端与所述固定架连接，所述第一气缸的移动端与所述移动平台连接，以驱动所述移动平台沿所述第一导轨移动。
8.可选地，所述脱扣机构包括：压板；弹簧，设置在所述压板与所述移动平台之间，当所述脱扣机构随所述移动平台移动至抵接在所述端子安装座上时，所述弹簧被压缩，以使所述脱扣机构与所述端子安装座紧密接触。
9.可选地，所述移动平台上包括第二导轨，所述脱扣机构设置在第二导轨上，可沿所述第二导轨移动。
10.可选地，所述脱扣机构还包括凸设于所述压板的至少一个定位销；所述端子安装座中包括至少一个导套，当所述脱扣机构移动至抵接在所述端子安装座上时，所述定位销的台阶与所述导套配合，以限定所述脱扣机构的位置。
11.可选地，所述第二驱动装置包括第二气缸，所述第二气缸的固定端与所述移动平台连接，所述第二气缸的移动端与所述对接模组连接。
12.可选地，所述对接模组包括：端子固定块，用于安装所述第二端子部；连接块，设置在所述端子固定块远离所述第二端子部的一侧；至少一个导杆，设置在所述端子固定块远离所述第二端子部的一侧；所述移动平台上设置有至少一个导向孔，当所述第二驱动装置驱动所述对接模组移动时，所述导杆与所述导向孔配合，以约束所述对接模组的移动。
13.本技术实施例提供的测试系统通过输送单元与对接测试单元的配合，实现流水线上的变频器的自动对接测试。在完成测试后拔出端子时，利用脱扣机构将测试托盘固定，使得在拔出时托盘不会受到向上运动的拔出力的影响，以避免测试托盘受力产生振动而导致测试托盘从输送单元上掉落，提高测试系统运行的稳定性和安全性，并进一步减少在此过程中人力的参与，提高人员安全性和生产效率。
附图说明
14.图1是本技术实施例提供的测试系统的部分结构示意图。
15.图2是本技术实施例提供的测试托盘的结构示意图。
16.图3是图2所示的测试托盘中的第一端子部以及端子安装座的局部爆炸视图。
17.图4是图1中区域a的局部放大视图。
18.图5是图4中的对接测试单元的爆炸视图。
19.图6是图5中的移动平台的局部爆炸视图。
20.图7是图5中的脱扣机构的局部爆炸视图。
21.图8是图5中的对接模组的局部爆炸视图。
具体实施方式
22.下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述。显然，所描述的实施例仅是本技术一部分实施例，而不是全部的实施例。
23.有鉴于上述问题，本技术实施例提供了一种变频器测试系统。下面结合附图，对本技术实施例提供的测试系统进行详细的说明。这里，变频器测试系统是指变频器生产装配完成后进入市场前对变频器进行各种性能测试的系统，测试包括但不限于老化测试、绝缘测试和/或io测试等等。
24.图1为本技术实施例提供的测试系统的部分结构示意图，该测试系统包括：输送单元1，测试托盘2以及对接测试单元3。可以理解的是，该结构示意图仅示出与本技术方案相
关的测试部分。
25.在利用图1中的测试系统进行测试时，先将待测变频器固定在测试托盘2上，由输送单元1带动测试托盘2移动，当测试托盘2上的待测变频器被输送单元1移动到测试工位4/4’后，设置在测试工位处的对接测试单元3与测试托盘2对接，并对待测变频器进行测试。
26.输送单元1包括框架11，输送链12以及输送链驱动机构(未示出)。其中，框架11用于承载设置在其上的输送链12、输送链驱动机构以及与输送单元1连接的其他零部件。
27.输送链12用于移动放置在其上的测试托盘2。输送链12可以沿轨道111的延伸方向设置在轨道111中。输送链12的高度可以设置为高于轨道111的上表面，以使测试托盘2能够放置在输送链12上。在一些实施方式中，输送链12可以为倍速链。
28.输送链驱动机构用于驱动输送链12移动。作为一种实现方式，输送链驱动机构可以包括驱动电机以及驱动链轮，其中驱动电机可以固定在框架11上，驱动电机的输出轴与驱动链轮连接，驱动链轮与输送链12啮合，使得当驱动电机旋转时能够驱动输送链移动。当然，以上所述仅仅是输送链驱动架构的一种可行的方式而已，本技术实施例对输送链驱动机构的具体结构不做限定，本领域公知的驱动方式均可。
29.在图1所示的测试系统中，沿输送单元1的运动方向具有至少一个测试工位，所述测试工位处可设置对接测试单元3。本技术实施例对上述测试工位的数量不做具体限定，可以根据实际的测试需求设置。例如图1中所示出的测试系统中具有两个测试工位4和4’。
30.在进行测试时，测试托盘2承载待测变频器，并在输送单元1上移动，下面结合图2对本技术实施例提供的测试托盘的结构进行描述。
31.如图2所示，测试托盘2包括托盘主体21，托盘主体21上具有定位部211，待测变频器可以固定在定位部211中。测试托盘上还包括第一端子部22以及用于安装第一端子部的端子安装座23。第一端子部22优选的设置在托盘主体21的上表面，以方便与对接测试单元3进行对接。
32.请同时参阅图3，图3示出的是图2中的第一端子部22和端子安装座23的局部爆炸视图。
33.第一端子部22中可以多个对接端子，例如在图3中所示出的第一端子部22中包括多个第一对接端子221。
34.端子安装座23包括固定底板231、端子固定板232以及第一导套233。
35.其中，固定底板231设置在托盘主体21上，与托盘主体21通过螺纹紧固件连接。
36.端子固定板232，用于固定第一端子部22，其上具有第一端子部22的连接孔，第一端子部22可以利用所述连接孔与端子固定板232连接。
37.在一些实施方式中，固定底板231上包括多个第一u形孔2311，同时，端子固定板232上具有多个第二u形孔2321，其中第一u形孔2311和第二u形孔2321的方向相互垂直，这样使得在安装托盘时可以利用上述第一u形孔2311和第二u形孔2321来调节第一端子部22的位置，从而能够避免因不同的托盘2上的第一端子部22的位置不同而造成无法进行准确对接的问题。
38.第一导套233，用于在对接时为对接测试单元3中的第二端子部导向。
39.图4是图1中区域a的局部放大视图，包括对接测试单元3、测试托盘2以及输送单元1中的框架11的局部，图5是图4中的对接测试单元3的爆炸视图。下面结合图4和图5对本申
请实施例中的对接测试单元3进行详细的介绍。
40.本技术实施例中的对接测试单元3包括：固定架31、移动平台32、脱扣机构33、第一驱动装置34、对接模组35以及第二驱动装置36。
41.其中，固定架31用于支撑对接测试单元3中的其余零部件。固定架31可以与输送单元1的框架11中的型材固定连接。如图5所示，固定架31可以包括固定架主体311以及多个加强件312。
42.移动平台32，与固定架31活动连接，可相对于固定架31上下移动。
43.在一些实施方式中，固定架31上可以设置有第一导轨313，移动平台32可以设置在第一导轨313上，从而使得移动平台32可以沿第一导轨313移动。
44.为了便于安装，在固定架31中还可以包括转接板314，第一导轨313可以固定在转接板314上，再将转接板314与固定架主体311连接，转接板314上可以设置调节机构，以对转接板314的位置进行调整。
45.图6是图5中的移动平台32的爆炸视图，下面结合图6对本技术实施例中的移动平台32的具体结构进行介绍。
46.移动平台32的主体可以由板件拼接而成，如图6所示，移动平台32中包括基板321和第一固定板322，基板321与第一固定板322可以通过螺纹紧固件连接。在基板的两侧还设置有第一加强支撑板323，所述第一加强支撑板323与基板321以及第一固定板322通过螺纹紧固件连接，能够增加移动平台的刚度。
47.基板321的下部设置有侧面板324，侧面板324可与基板321固定连接。为了增加侧面板324的稳定性，在侧面板324与基板321之间设置有多个第二加强支撑板325(例如图中示出了4个第二加强支撑板325)，以将侧面板324固定牢靠。
48.侧面板324的下方设置有用于固定第二驱动装置36的第二固定板326。上述第二固定板326，两个侧面板324以及基板321合围构成了第二驱动装置36的容纳空间。通过将第二驱动装置36设置在该容纳空间内，可以使对接测试装置的结构更为紧凑。
49.第一固定板322远离基板321的一侧与第一导轨313中的第一滑块3131相连接，从而使得移动平台能够随第一滑块3131移动。
50.重新参阅图5，脱扣结构33设置在移动平台32上，可随移动平台32移动。在本技术实施例中，脱扣机构33被配置为当对待测变频器进行测试时，脱扣机构33能够随移动平台32向下移动到抵接在测试托盘2的端子安装座23上，从而避免在拔出对接模组35时将测试托盘2带起。
51.图7是图5中的脱扣机构33的爆炸视图。图7中的脱扣机构33包括：
52.压板331，为一矩形片状结构，当脱扣机构33随移动平台32移动到至抵接在端子安装座23上时，压板331的下表面与端子安装座23的上表面接触。在一些实施方式中，为便于进行对接模组35与测试托盘2上的第一端子部22对接，压板331的中间区域设置有开孔区域3311，该区域的尺寸设置为能够容纳第一端子部22。
53.弹簧332，设置在压板331与移动平台32之间，弹簧332的一端与压板接触，另一端连接在移动平台32上。在脱扣机构33随移动平台32移动到压板331与端子安装座23接触后，移动平台32继续向下移动，此时弹簧332被压缩，从而使压板331能够与端子安装座23紧密接触，以避免测试托盘2在对接和拔出时产生振动。同时，由于弹簧332的特性，能够避免因
脱扣机构33的下压力过大对测试托盘2造成影响。
54.在一些实施方式中，脱扣机构32中还包括弹簧定位柱333，弹簧定位柱333的一端与压板331固定连接，弹簧定位柱333远离压板331的一端穿过设置在第二固定板326上的多个第二导套328，弹簧332可以套设于弹簧定位柱333上。弹簧定位柱333的上端还具有盖片帽336的连接孔，使弹簧定位柱333与盖片帽336固定连接。其中，盖片帽336为一圆盘状结构，其外径大于第二导套328的内孔直径。通过在弹簧定位柱333上设置盖片帽336，可以防止弹簧定位柱333以及与其连接的压板331等从移动平台上脱落。
55.通过上述弹簧定位柱333与第二导套328的配合，能够避免弹簧332在被压缩的过程中发生偏移。
56.本技术实施例对上述弹簧332和弹簧定位柱333的数量不做具体限定，例如在图7中示出的脱扣机构33中包括四组弹簧332和弹簧定位柱333。
57.定位销334，设置在压板331的底面，在进行对接时，定位销334可以伸入端子安装部23的导套233中，以为脱扣机构提供导向的作用。同时，在本技术实施例中，所述定位销334位具有台阶的定位销，当所述脱扣机构移动至抵接在所述端子安装座上时，所述定位销的台阶与所述第一导套233配合，以限定所述脱扣机构33的位置。
58.下面结合图6和图7，对脱扣机构33与移动平台32的连接方式进行详细的说明。
59.在第二固定板325的下方，对称设置有两个导轨固定板327，用于固定脱扣机构33中的第二导轨334；如图7所示，在脱扣机构33中，压板331的上表面的两端对称设置有滑块固定板335，用于固定上述两个第二导轨334中的滑块3341，第二导轨334中的滑轨3342可以固定在导轨固定板327上。
60.参阅图5，本技术实施例提供的对接测试单元3中还包括第一驱动装置34，用于驱动移动平台32移动。
61.在一些实施方式中，第一驱动装置34为第一气缸341，所述第一气缸341的固定端3411与固定架连31接，移动端3412与移动平台32中的第一固定板322连接，以驱动移动平台32移动。
62.图5中示出的第一气缸341为无杆气缸。当然，作为一种可能的实现方式，第一气缸也可以是有杆气缸。
63.或者，作为另一种可能的实现方式，第一驱动装置34也可以为直线电机，本技术实施例对此不做具体限定。
64.图8所示为本技术实施例中的对接模组35的爆炸视图，图8中的对接模组35包括：
65.第二端子部351，可与第一端子部22对接，以对待测变频器进行上电测试。第二端子部351中可以包括多个第二对接端子3511。其中，第二对接端子3511的数量可以与第一端子部22中的第一对接端子221的数量相同。
66.本技术实施例对多个第二对接端子3511的具体类型不做限定，可与第一端子部22中的第一对接端子221相匹配。
67.对接模组35中还包括端子固定块352以及连接块353。其中，端子固定块352用于安装上述第二端子部351，连接块353设置在端子固定块352远离第二端子部351的一侧。
68.第二驱动装置36与对接模组35通过连接块353连接，以驱动对接模组35移动，从而使得第二端子部351能够与第一端子部22对接。
69.在一些实施方式中，上述第二驱动装置36为气缸361。
70.下面结合图5，对对接模组35以及第二驱动装置36和移动平台32的连接方式进行详细的说明。
71.前文中说到，移动平台32中的第二固定板326，两个侧面板324以及基板321合围构成了第二驱动装置36的容纳空间，其中第二驱动装置36为气缸361。在第二固定板326上设置有气缸361的安装孔，从而将气缸361的固定端与移动平台32中的第二固定板326相连接，气缸361的伸出端通过上述连接块353与对接模组35连接。
72.请同时参阅图8，为了增加对接模组35在移动时的稳定性，对接模组35中还包括设置还在端子固定块352远离第二端子部351的一面对称设置的导杆354。同时，在图5所示移动平台32中还设置有第三导套329。其中，第三导套329设置在第二固定板326上，第三导套329的位置与对接模组35中的导杆354的位置相对应，从而使得导杆354能够穿设于导套327中，在对接模组35移动时，导杆354与第三导套329相配合，以约束对接模组35的移动方向。
73.下面结合以上各附图，对利用本技术实施例提供的测试系统进行变频器测试的过程进行详细的说明。
74.在进行测试前，先将待测变频器固定在测试托盘2上，并将待测变频器的输入和输出端与测试托盘2连接；输送单元1将承载着待测变频器的测试托盘2移动到测试工位4处，测试工位4处的阻挡机构(未示出)伸出，阻挡托盘的运动；利用顶升机构(未示出)将测试托盘2顶升至预设高度，以使测试托盘2与输送单元1中的输送链12脱离。当测试托盘2到达预设测试位置后，利用第一驱动装置34驱动移动平台3向下移动，带动脱扣机构33移动，使得脱扣机构33中的定位销334伸入第一导套233，定位销334的台阶面与第一导套233的上表面贴合；移动平台3继续向下移动，使得弹簧332被压缩，在弹簧332的弹力作用下，脱扣机构33向测试托盘2施加下压力；利用第二驱动机构36驱动对接模组35向下移动，使得对接模组35中的第二端子部351与测试托盘2上的第一端子部22对接，在完成对接后，对待测变频器进行上电测试。
75.在完成对待测变频器的上电测试后，先控制第二驱动机构36驱动对接模组35向上移动，以断开第二端子部351与第一端子部22的连接，此时测试托盘2在脱扣机构33的压力作用下并不会产生移动或振动；在第二端子部351与第一端子部22的连接被断开后，再控制移动平台3向上移动，使得弹簧332的弹力缓慢释放，直至脱扣机构33与测试托盘2完全分离。
76.完成当前测试工位上的测试后，顶升机构和阻挡机构释放，使得测试托盘2回到输送单元1上，被输送单元1移动到下一测试工位。
77.本技术实施例提供的测试系统通过输送单元与对接测试单元的配合，实现流水线上的变频器的自动对接和测试。在完成测试后拔出端子时，利用脱扣机构将测试托盘固定，从而使得在拔出时托盘不会受到向上的拔出力，以避免测试托盘受力产生振动而导致造成测试托盘从输送单元上中脱落的风险，能够提高测试系统运行的稳定性和安全性。
78.上文描述的实施例仅是本技术一部分实施例，而不是全部的实施例。上述实施例的描述顺序不作为对实施例优选顺序的限定。基于本技术中的实施例，本领域技术人员在没有做出创造性劳动的前提下所获得的所有其他实施例，都属于本技术保护的范围。
79.应理解，在本技术实施例中，“与a相应的b”表示b与a相关联，根据a可以确定b。但
还应理解，根据a确定b并不意味着仅仅根据a确定b，还可以根据a和/或其它信息确定b。
80.应理解，本文中术语“和/或”，仅仅是一种描述关联对象的关联关系，表示可以存在三种关系，例如，a和/或b，可以表示：单独存在a，同时存在a和b，单独存在b这三种情况。另外，本文中字符“/”，一般表示前后关联对象是一种“或”的关系。
81.以上所述，仅为本技术的具体实施方式，但本技术的保护范围并不局限于此，任何熟悉本技术领域的技术人员在本技术揭露的技术范围内，可轻易想到变化或替换，都应涵盖在本技术的保护范围之内。因此，本技术的保护范围应以所述权利要求的保护范围为准。