一种用于复杂表面物体厚度测量的传感器的制作方法

技术特征：
1.一种用于复杂表面物体厚度测量的传感器，其特征在于，所述用于复杂表面物体厚度测量的传感器包括处理器、第一激光传感器以及第二激光传感器，所述第一激光传感器和所述第二激光传感器分别设于被测物体沿高度方向的两侧并分别朝所述被测物体两侧投射第一激光和第二激光，以分别测量所述第一激光传感器和所述第二激光传感器所在一侧被测物体表面的轮廓轮廓数据，所述第一激光和所述第二激光的波长不相等，所述第一激光传感器和所述第二激光传感器均与所述处理器连接。2.根据权利要求1所述的用于复杂表面物体厚度测量的传感器，其特征在于，所述第一激光传感器和所述第二激光传感器均包括安装盒体、设于所述安装盒体内的激光发生组件以及成像组件，所述安装盒体面对被测物体一侧设有激光出口以及激光入口，所述激光出口与所述激光发生组件相对设置，所述激光入口与所述成像组件相对设置。3.根据权利要求2所述的用于复杂表面物体厚度测量的传感器，其特征在于，所述激光发生组件包括依次设置的激光发生器、准直透镜以及光学整形棱镜，所述光学整形棱镜靠近所述激光出口。4.根据权利要求3所述的用于复杂表面物体厚度测量的传感器，其特征在于，所述成像组件包括依次成像镜头以及图像传感器，所述成像镜头靠近所述激光入口设置。5.根据权利要求4所述的用于复杂表面物体厚度测量的传感器，其特征在于，所述成像组件还包括滤光片，所述滤光片设于所述成像镜头和所述激光入口之间。6.根据权利要求2所述的用于复杂表面物体厚度测量的传感器，其特征在于，所述用于复杂表面物体厚度测量的传感器还包括相连接的控制电路板以及通讯接口，所述控制电路板设于所述安装盒体内，所述通讯接口与所述处理器相连接，所述激光发生组件和所述成像组件均与所述控制电路板电连接。7.根据权利要求6所述的用于复杂表面物体厚度测量的传感器，其特征在于，所述处理器上设有两个第一接口，两个所述第一接口用于分别和两个所述通讯接口连接。8.根据权利要求7所述的用于复杂表面物体厚度测量的传感器，其特征在于，所述处理器上设有第二接口，所述处理器通过所述第二接口与后端设备进行连接。

技术总结
本实用新型公开一种用于复杂表面物体厚度测量的传感器，用于复杂表面物体厚度测量的传感器包括处理器、第一激光传感器以及第二激光传感器，所述第一激光传感器和所述第二激光传感器分别设于被测物体沿高度方向的两侧并分别朝所述被测物体两侧投射第一激光和第二激光，以分别测量所述第一激光传感器和所述第二激光传感器所在一侧被测物体表面的轮廓轮廓数据，所述第一激光和所述第二激光的波长不相等，所述第一激光传感器和所述第二激光传感器均与所述处理器连接。本实用新型提供的用于复杂表面物体厚度测量的传感器能够降低测量误差，准确测量被测物体的厚度。准确测量被测物体的厚度。准确测量被测物体的厚度。


技术研发人员：王多平 孙宇良
受保护的技术使用者：上海森格激光技术有限公司
技术研发日：2022.06.23
技术公布日：2022/12/9