一种芯片制造过程中的抽检装置的制作方法

1.本实用新型涉及芯片检测技术领域，尤其涉及一种芯片制造过程中的抽检装置。


背景技术：

2.芯片一般是指集成电路的载体，也是集成电路经过设计、制造、封装、测试后的结果，通常是一个可以立即使用的独立的整体。芯片是一种微型电子器件或部件，采用一定的工艺，把一个电路中所需的晶体管、电阻、电容和电感等元件及布线互连在一起，制作在一小块或几小块半导体晶片或介质基片上，然后封装在一个管壳内，成为具有所需电路功能的微型结构，目前的芯片的检测方式就是检测工人手持着从电气检测箱上引出的检测探针，通过观察着电气检测箱上的指示灯的状态和显示屏所显示的参数大小来判断着该芯片是否合格。
3.根据专利号为cn213517428u，一种用于芯片制造中抽检装置，包括箱体及输送结构，所述箱体左右两侧面分别开设出料口以及进料口，所述输送结构穿过进料口及出料口，所述箱体内部顶部位置固接电机，所述电机轴承处固接主动齿轮，所述箱体顶部位于主动齿轮两侧位置固接两个滑轨。本实用新型在对芯片进行抽检时，只需要将芯片放置在放置筐内的放置槽处，即可进行抽检，检测的数据会会回显在显示屏上，无需人工进行手持探针操作，自动化程度高，此外，本实用新型探针为三个，可同时对三个芯片进行检测，效率高，另外本实用新型检测箱体内设有散热结构，使箱体内温度适宜，避免了芯片由于温度问题在抽检过程中出现损坏，避免了经济损失。
4.上述一种用于芯片制造中抽检装置以及市面上的芯片抽检装置，在对芯片进行抽检后，需要同过人力操作的方式去剔除不合格的芯片，但是芯片检测产线上排布的芯片数量较多，人为挑拣的方式容易出错。


技术实现要素：

5.本实用新型的目的是为了解决现有技术中存在的缺点，而提出的一种芯片制造过程中的抽检装置。
6.为了实现上述目的，本实用新型采用了如下技术方案：一种芯片制造过程中的抽检装置，包括安装底板，安装底板的顶面一侧设置有连接侧板，所述安装底板的顶面位于连接侧板的一侧设置有安装座，所述连接侧板靠近安装座的一侧设置有前进滚轮，所述连接侧板的侧部位于前进滚轮的顶部处设置有检测装置，所述检测前进滚轮的顶面设置有检测芯片，所述安装座的数量为两个，且安装座分别位于检测装置的两侧，所述安装座的顶面均设置有侧向滚轮，所述安装座远离侧向滚轮的一侧均设置有控制箱，所述控制箱的侧壁均设置有侧向驱动电机，所述安装座与安装底板之间连接有升降杆。
7.优选的，所述侧向滚轮的内部均设置有侧向驱动转轴，且侧向驱动转轴与控制箱相连接。
8.优选的，所述前进滚轮的内部均设置有前进驱动转轴，所述前进驱动转轴靠近连
接侧板的一侧均设置有控制齿轮。
9.优选的，所述控制齿轮的外侧连接有驱动带，所述连接侧板远离前进滚轮的一侧设置有前进控制电机。
10.优选的，所述前进驱动转轴与连接侧板之间为活动连接。
11.有益效果
12.本实用新型中，在连接侧板靠近安装座的一侧设置有前进滚轮，并在检测装置的两侧设有两个安装座，安装座的顶面均设置有侧向滚轮，一侧的侧向滚轮可以往前进滚轮的顶面输送待抽检的芯片，另一侧的侧向滚轮可以将前进滚轮顶面抽检不合格的芯片输送下来，抽检的过程不需要人工操作参与，可以有效降低在抽检芯片的过程中出现失误的概率，同时侧向滚轮与前进滚轮之间的工作互不干涉，可以减少抽检过程所需要的时间。
附图说明
13.图1为本实用新型的主体结构示意图；
14.图2为本实用新型的背面结构示意图；
15.图3为本实用新型的侧面结构示意图；
16.图4为本实用新型图3中a处的结构示意图。
17.图例说明：
18.1、安装底板；2、安装座；3、连接侧板；4、检测装置；5、前进滚轮；6、检测芯片；7、控制箱；8、侧向滚轮；9、侧向驱动电机；10、侧向驱动转轴；11、升降杆；12、前进控制电机；13、前进驱动转轴；14、控制齿轮；15、驱动带。
具体实施方式
19.为了使本实用新型实现的技术手段、创作特征、达成目的与功效易于明白了解，下面结合具体实施例和附图，进一步阐述本实用新型，但下述实施例仅仅为本实用新型的优选实施例，并非全部。基于实施方式中的实施例，本领域技术人员在没有做出创造性劳动的前提下所获得其它实施例，都属于本实用新型的保护范围。
20.下面结合附图描述本实用新型的具体实施例。
21.具体实施例：
22.参照图1-4，一种芯片制造过程中的抽检装置，包括安装底板1，安装底板1的顶面一侧设置有连接侧板3，安装底板1的顶面位于连接侧板3的一侧设置有安装座2，连接侧板3靠近安装座2的一侧设置有前进滚轮5，连接侧板3的侧部位于前进滚轮5的顶部处设置有检测装置4，检测前进滚轮5的顶面设置有检测芯片6，安装座2的数量为两个，且安装座2分别位于检测装置4的两侧，安装座2的顶面均设置有侧向滚轮8，侧向滚轮8在前进滚轮5之间的位置，安装座2远离侧向滚轮8的一侧均设置有控制箱7，控制箱7的侧壁均设置有侧向驱动电机9，安装座2与安装底板1之间连接有升降杆11，侧向滚轮8的内部均设置有侧向驱动转轴10，且侧向驱动转轴10与控制箱7相连接，侧向驱动转轴10之间通过皮带进行连接，侧向驱动电机9带动一侧的侧向驱动转轴10旋转时，皮带可以带动其它侧向驱动转轴10同时旋转，进而可以控制侧向滚轮8转动，驱动侧向驱动转轴10的皮带位于控制箱7内部，前进滚轮5的内部均设置有前进驱动转轴13，前进驱动转轴13靠近连接侧板3的一侧均设置有控制齿
轮14，控制齿轮14的外侧连接有驱动带15，连接侧板3远离前进滚轮5的一侧设置有前进控制电机12，前进驱动转轴13与连接侧板3之间为活动连接，前进控制电机12带动一端的前进驱动转轴13旋转时，驱动带15可以带动其它前进驱动转轴13同时旋转，进而可以控制前进滚轮5转动，连接侧板3的侧壁位于两端的前进驱动转轴13均与前进控制电机12的输出端相连接。
23.本实用新型的工作原理：在连接侧板3靠近安装座2的一侧设置有前进滚轮5，并在检测装置4的两侧设有两个安装座2，安装座2的顶面均设置有侧向滚轮8，升降杆11控制安装座2上升，使得侧向滚轮8的高度高于前进滚轮5的高度，侧向驱动电机9控制侧向滚轮8转动，将待抽检的芯片移动至前进滚轮5的顶部，升降杆11控制安装座2下降，将待检测芯片6放置在前进滚轮5的顶面，前进滚轮5转动进而一侧的侧向滚轮8可以往前进滚轮5的顶面输送待抽检的芯片，当出现抽检不合格的芯片时，前进滚轮5将芯片输送至另一侧侧向滚轮8的顶部，另一侧的升降杆11控制安装座2上升，使得侧向滚轮8的高度高于前进滚轮5的高度，侧向滚轮8抬起不合格芯片，侧向驱动电机9控制侧向滚轮8转动，将待抽检的芯片移动远离前进滚轮5，另一侧的侧向滚轮8可以将前进滚轮5顶面抽检不合格的芯片输送下来，抽检的过程不需要人工操作参与，可以有效降低在抽检芯片的过程中出现失误的概率，同时侧向滚轮8与前进滚轮5之间的工作互不干涉，可以减少抽检过程所需要的时间。
24.在本实用新型中，除非另有明确的规定和限定，第一特征在第二特征之“上”或之“下”可以包括第一和第二特征直接接触，也可以包括第一和第二特征不是直接接触而是通过它们之间的另外的特征接触。而且，第一特征在第二特征“之上”、“上方”和“上面”包括第一特征在第二特征正上方和斜上方，或仅仅表示第一特征水平高度高于第二特征。第一特征在第二特征“之下”、“下方”和“下面”包括第一特征在第二特征正下方和斜下方，或仅仅表示第一特征水平高度小于第二特征。
25.以上显示和描述了本实用新型的基本原理、主要特征和本实用新型的优点。本行业的技术人员应该了解，本实用新型不受上述实施例的限制，上述实施例和说明书中描述的仅为本实用新型的优选例，并不用来限制本实用新型，在不脱离本实用新型精神和范围的前提下，本实用新型还会有各种变化和改进，这些变化和改进都落入要求保护的本实用新型范围内。本实用新型要求保护范围由所附的权利要求书及其等效物界定。