电子元件测试装置的制作方法

1.本实用新型有关于一种测试装置，尤指一种适于对电子元件进行测试的电子元件测试装置。


背景技术：

2.一般电子元件在制造完成后通常需经过测试以确定其物理特性，例如用于电容类的电子元件测试的公告号码第411735号的「电路元件装卸装置」专利申请案所提供的设备，其以一个或数个元件槽座的同心环座可相对于环心旋转，槽座均匀地以角度间隔并以增量方式旋转，而该旋转增量即是相邻槽座间的角度间隔，该环座以某个角度倾斜，而且当环座旋转时，元件流路向环座倾倒元件，邻接于槽座的外板侧边的固定栅板局限未归位的元件因动力而随机滚落于通过环座旋转路径的弧段的空槽座，随机的滚动使元件归位入槽座中，在旋转环座的路径中有用以连接元件和测试机的电子接触器，被测试过的元件经过一喷出歧管的下方，该喷出歧管板界定了许多喷出孔，而每当环座旋转一增量时喷出孔则与一组槽座相互对齐，喷出管与喷出口相连接，元件被选择性启动的各个气压阀门的空气的鼓风而从槽座喷出，由空气的鼓风和重力作用，喷出的元件经由管子落下并依管路板的导引进入分类储盒中，元件流路能响应于表示栅板缺少元件的检测器的信号而选择性地被引向该栅板，感应器能检测出在座槽中尚未被喷出歧管所喷出的元件。
3.该公告号码第411735号专利申请案的现有技术虽然提供电容类电子元件的测试及分类收集，该现有技术的入料是经由一具有多个坐入栅板的弧形载入架，该载入架以旋摆方式移入至测试板上方，并以振动送料机经一开口漏斗自该载入架上方(依间歇旋转流路方向为先后为前、后，则为后方出口处)入料；由于该载入架旋摆移入至测试板上方时为设定其与该测试板间的间距，每次摆入必须在坐入栅板底部与该测试板间以金属薄片垫设隔开，一旦该载入架旋摆移出该测试板，所作的间距设定就会失去，必须耗费工时重作设定，相当麻烦！另，该现有技术的该喷出歧管板是以螺固件螺设固定在机台台面上，一旦须进行各喷出歧管的维修，必须逐一拆卸各螺固件，相当麻烦费事，有鉴于此，实有待改进之处。


技术实现要素：

4.因此，本实用新型的目的在于提供一种具有改善先前技术至少一缺失的电子元件测试装置。
5.依据本实用新型目的的电子元件测试装置，包括：一机台，其上设有一机台台面；一承载底盘，设于该机台台面，该承载底盘上设置可被驱动进行旋转的测试板，并在该承载底盘周缘外设置有一入料单元、一检查单元、及一排出单元；该入料单元设有呈弧形的一栅架，该栅架设有在径向相隔间距的多个同心环状设置的弧形的栅板，其定义出多个载料槽道；该栅架以一外侧部固设于一固定座所枢设的一连接件的一固定部上，并与该连接件连动，该栅架连同该连接件可以该固定座所枢设的轴心为支点，作枢转扳起与该测试板表面
形成一仰起的角度，或置下靠近该测试板表面。
6.依据本实用新型目的的另一电子元件测试装置，包括：一机台，其上设有一机台台面；一承载底盘，设于该机台台面，该承载底盘上设置可被驱动进行旋转的测试板，并在该承载底盘周缘外设置有一入料单元、一检查单元、及一排出单元；其中，该排出单元设有一导管板，该导管板上设有多个具有挠性的导管，每一导管分别各以一端对应该测试板上的一个该座槽上方，另一端则牵引经该导料架而对应导通至一收集机构的一个料盒；该导管板一侧设于一掀架，该掀架以一端枢设于该收集机构的一座架上方的一枢转座，使该导管板及其上的各导管可随该掀架由该机台台面往该收集机构方向，即朝操作人员的方向被掀起，而使整个该排出单元位于该座架上方。
7.依据本实用新型目的的又一电子元件测试装置，包括：一机台，其上设有一机台台面；一承载底盘，设于该机台台面，该承载底盘上设置可被驱动进行旋转的测试板，并在该承载底盘周缘外设置有一入料单元、一检查单元、及一排出单元；其中，该排出单元设有一导管板，该导管板上设有多个具有挠性的导管，每一导管分别各以一端对应该测试板上的一个该座槽上方，另一端则牵引经该导料架而对应导通至一收集机构的一个料盒；该座架内供设置该料盒，该座架受枢设，该座架可掀转至一侧，使该机台台面下方靠该排出单元的一侧呈现一镂空的操作区间。
8.本实用新型实施例的电子元件测试装置，由于该入料单元的该栅架连同该连接件可以该固定座所枢设的轴心为支点，作枢转扳起与该测试板表面形成一仰起的角度，或置下靠近该测试板表面，该垫片仅在更换待测元件规格时需要改变，在该栅架作枢转扳起再置下时，该间隙并不会改变，也不须要再调整该垫片的厚薄或数量，使操作上更为便利；该掀架以一端枢设于该收集机构的该座架上方的该枢转座，使该导管板及其上的各导管可随该掀架由该机台台面往该收集机构方向，即朝操作人员的方向被掀起，而使整个该排出单元位于该座架上方，因此操作人员可便于对该排出单元进行检修。
附图说明
9.图1是一种电子元件测试装置的立体示意图，用以说明本实用新型实施例。
10.图2是该电子元件测试装置机台台面上各机构配置示意图。
11.图3是该电子元件测试装置中承载底盘的示意图。
12.图4是该电子元件测试装置中各区块对应各单元的示意图。
13.图5是该电子元件测试装置中该测试板上表面部分示意图。
14.图6是该电子元件测试装置中该测试板下表面部分示意图。
15.图7是该电子元件测试装置中该入料单元的立体分解与该测试板对应关系是示意图。
16.图8是该电子元件测试装置中该入料单元与该测试板、供料装置的对应关系是示意图。
17.图9是该电子元件测试装置中该供料装置自该入料单元旋摆位移的示意图。
18.图10是该电子元件测试装置中该第一检查单元位于测试板间歇旋转流路的位置关系是示意图。
19.图11是该电子元件测试装置中该第一检查单元一侧面的对应关系示意图。
20.图12是该电子元件测试装置中该第一检查单元中该掀架掀起的示意图。
21.图13是该电子元件测试装置中该第一检查单元中多个该第一上端子组件及多个该第一探针的配置关系示意图。
22.图14是该电子元件测试装置中该第一检查单元中多个该第一上端子组件及多个该第一探针的配置关系的部分放大示意图。
23.图15是该电子元件测试装置中该承载底盘的该第一检查区块与一列第一电极的部分立体分解示意图。
24.图16是该电子元件测试装置中该第二检查单元位于测试板间歇旋转流路的位置关系示意图。
25.图17是该电子元件测试装置中该第二检查单元中多个该第二上端子组件及多个该第二探针的配置关系示意图。
26.图18是该电子元件测试装置中该第二检查单元中多个该第二上端子组件及多个该第二探针的配置关系的部分放大示意图。
27.图19是该电子元件测试装置中该承载底盘的该第二检查区块与第二电极的立体分解示意图。
28.图20是该电子元件测试装置中该承载底盘的该第二检查区块的底部示意图。
29.图21是该电子元件测试装置中该排出单元与收集机构一侧的立体示意图。
30.图22是该电子元件测试装置中该排出单元与收集机构另一侧的立体示意图。
31.图23是该电子元件测试装置中该掀架被掀至该座架上方及该座架掀转至一侧的立体示意图。
32.【符号说明】
33.a：机台
34.a1：机台台面
35.a11：固定座
36.a2：机台桌面
37.a21：定位孔
38.b：承载底盘
39.b1：入料区块
40.b11：入料吸沟
41.b12：吸孔
42.b13：短弧边
43.b14：长弧边
44.b15：前端边
45.b16：后端边
46.b17：空部位
47.b171：第三吸沟
48.b172：吸孔
49.b2：检查区块
50.b21：第一检查区块
51.b211：第一吸沟
52.b212：吸孔
53.b213：隔肋
54.b214：轴环
55.b215：轴孔
56.b216：短弧边
57.b217：长弧边
58.b218：前端边
59.b219：后端边
60.b22：第二检查区块
61.b221：第二吸沟
62.b222：吸孔
63.b223：隔肋
64.b224：轴环
65.b225：轴孔
66.b226：短弧边
67.b227：长弧边
68.b228：前端边
69.b229：后端边
70.b23：第二检查区块
71.b3：排出区块
72.b31：排料吸嘴
73.b32：吸孔
74.b33：短弧边
75.b34：长弧边
76.b35：前端边
77.b36：后端边
78.c：测试板
79.c1：座槽
80.c2：导沟
81.c3：清洁槽
82.c31：扩凸区间
83.d：入料单元
84.d1：栅架
85.d11：栅板
86.d12：载料槽道
87.d13：入口端
88.d14：出口端
89.d15：内侧部
90.d16：外侧部
91.d2：入料座
92.d21：入料口
93.d3：转向座
94.d31：导沟
95.d32：漏槽
96.d33：入料端
97.d34：排料端
98.d35：吹气管
99.d4：导料座
100.d41：输料槽口
101.d42：导料道
102.d5：罩盖
103.d51：气孔
104.d6：联通件
105.d61：气压接头
106.d62：导孔
107.d63：气沟
108.d7：吹气座
109.d8：检测座
110.d81：检测元件
111.d9：连接件
112.d91：固定部
113.d92：调整件
114.d93：垫片
115.d94：扣枢部
116.d95：锁固件
117.d951：挠性垫圈
118.d952：螺固件
119.d96：挡靠座
120.d961：垫件
121.e：检查单元
122.e1：第一检查单元
123.e11：第一座架
124.e111：固定座
125.e1111：固定部
126.e1112：滑座
127.e1113：调整件
128.e112：支撑架
129.e1121：轨座
130.e1122：滑动部
131.e1123：支撑部
132.e1124：弹性件
133.e1125：调整件
134.e1126：杆部
135.e1127：枢接部
136.e113：掀架
137.e1131：回让区间
138.e1132：扶靠部
139.e1133：螺固件
140.e1134：嵌孔
141.e1135：挡孔
142.e1136：垫件
143.e12：第一上端子匣
144.e121：匣盖
145.e1211：固定盖座
146.e1212：活动盖座
147.e122：上匣座
148.e1221：连接座
149.e1222：上端子座
150.e123：第一上端子组件
151.e1231：第一上端子
152.e1232：上端子座
153.e1233：弹性件
154.e1234：导电片
155.e1235：转接部
156.e1236：连接件
157.e1237：电缆线
158.e13：第一下端子匣
159.e131：探针座
160.e132：下匣座
161.e133：第一探针
162.e134：电缆线
163.e135：第一电极
164.e2：第二检查单元
165.e21：第二座架
166.e211：底座
167.e2111：插销
168.e212：掀座
169.e2121：定位孔
170.e2122：握把
171.e2123：螺固件
172.e2124：台座
173.e2125：第一微调座
174.e2126：第二微调座
175.e2127：固定架
176.e2128：第三微调座
177.e2129：微调转钮
178.e22：第二上端子匣
179.e221：底板
180.e222：mosfet电路
181.e223：端子座
182.e224：第二上端子组件
183.e2241：第二上端子
184.e2242：上端子座
185.e2243：挡件
186.e2244：弹性件
187.e2245：导电片
188.e2246：转接部
189.e2247：电缆线
190.e23：第二下端子匣
191.e231：底板
192.e232：mosfet电路
193.e233：探针座
194.e234：第二探针
195.e235：第二电极
196.e2351：电极部
197.e2352：螺纹部
198.e2353：调整部
199.e236：电极座
200.e2361：微调孔
201.e3：第三检查单元
202.f：排出单元
203.f1：导管板
204.f2：导管
205.f3：掀架
206.f31：重叠部位
207.f32：螺固件
208.f33：定位槽
209.f4：连接件
210.f5：枢杆
211.f6：弹性件
212.f7：螺抵件
213.f8：离子产生器
214.f81：吹送槽
215.f9：检查组件
216.f91：检测器
217.g：供料单元
218.g1：振动送料机
219.g11：料斗
220.g12：输送道
221.g13：振动元件
222.g14：底座
223.g141：拨杆
224.g2：摆座
225.g3：第一轮体
226.g4：第二轮体
227.g41：置架
228.g411：栓件
229.h：导料架
230.h1：嵌座
231.h11：侧座
232.h12：侧座
233.h2：嵌孔
234.k：收集机构
235.k1：料盒
236.k2：座架
237.k21：枢转座
238.k22：角侧
239.k23：枢扣座
240.k24：拉把
241.k25：背侧部
242.k26：扣设部
243.k3：操作区间
244.k4：背侧面
245.l：径向轴线
具体实施方式
246.请参阅图1、2所示，本实用新型实施例以用于电容类的的待测元件进行测试的电子元件测试装置来作说明，但并不拘限于电容类电子元件的实施；其是在一机台a上倾斜约六十度的一机台台面a1上设有圆盘状的一金属材质的承载底盘b，该承载底盘b上设置可被驱动依一顺时针方向间歇进行旋转的测试板c，并在该承载底盘b周缘外设置有用以载入待测元件的一入料单元d、用以对待测元件进行测试其特性的一检查单元e、及用以将完成测试的该待测元件排出收集的一排出单元f，在该机台a水平的一机台桌面a2上设有用以提供该待测元件的一供料机构g及用以引导该排出单元f至一收集机构k的一导料架h，在该机台a前侧设有容置多个料盒k1的该收集机构k。
247.请参阅图2所示，该检查单元e包括用以进行电容的绝缘阻抗(俗称ir)检查的一个第一检查单元e1，及用以进行电容的电容量、损耗或品质因子(俗称cd)检查的分别位于间歇进行旋转的方向该第一检查单元e1前、后的二个第二检查单元e2、e3；其中，位于间歇进行旋转的方向该第一检查单元e1后的该第二检查单元e3可依需要予以省略不设。
248.请参阅图3、4所示，该承载底盘b是由多个分别独立但可相互对接组并的不同大小扇形的区块所组构而成，包括与该入料单元d对应的设置的一入料区块b1，与该检查单元e对应设置的一检查区块b2、及与该排出单元f对应的一排出区块b3，其中，该检查区块b2是由分别独立但可相互对接组并的一第一检查区块b21及二个第二检查区块b22、b23所组构而成，其中，该第一检查区块b21与该第一检查单元e1对应设置，二个该第二检查区块b22、b23分别与二个该第二检查单元e2、e3对应设置；
249.该入料区块b1上设有在径向相隔间距的多个列(本实施例设有8列)同心环状设置的凹设环弧状的入料吸沟b11，每一入料吸沟b11中设有沿该入料吸沟b11底部间隔排列的多个镂空的吸孔b12；所述吸孔b12可连通负压源抽真空，使入料吸沟b11内形成负压的真空状态；该入料区块b1包括相互平行的一短弧边b13及一长弧边b14，以及互呈一夹角的一前端边b15及一后端边b16；
250.该第一检查区块b21上设有在径向相隔间距的多列(本实施例设有8列)同心设置的凹设环弧状的第一吸沟b211，每一第一吸沟b211中设有沿该第一吸沟b211底部间隔排列的多个镂空的吸孔b212，径向直线排列的每二个该第一吸沟b211间对应部位的隔肋b213上，设有多行(本实施例设有16行)相隔间距位于扇形径向轴线上分别各设有一具绝缘材质构成的轴环b214，每一轴环b214上设有一轴孔b215；所述吸孔b212可连通负压源抽真空，使第一吸沟b211内形成负压的真空状态；该第一检查区块b21包括相互平行的一短弧边b216及一长弧边b217，以及互呈一夹角的一前端边b218及一后端边b219；
251.该第二检查区块b22上设有在径向相隔间距的多列(本实施例设有8列)同心设置的凹设环弧状的第二吸沟b221，每一第二吸沟b221中设有沿该第二吸沟b221底部间隔排列的多个镂空的吸孔b222，径向直线排列的每二个该第二吸沟b221间对应部位的隔肋b223上仅设有一行分别各设有一具绝缘材质构成的轴环b224，每一轴环b224上设有一轴孔b225，每一列的该轴环b224共同位于扇形中央的径向轴线l上；所述吸孔b222可连通负压源抽真空，使第二吸沟b221内形成负压的真空状态；该第二检查区块b22包括相互平行的一短弧边b226及一长弧边b227，以及互呈一夹角的一前端边b228及一后端边b229；
252.该第二检查区块b23与该第二检查区块b22构造相同，同理可推，兹不赘述；惟当该
第二检查单元e3依前述不需要而省略时，该第二检查区块b23上可如图3所示省略如该第二检查区块b22中该轴环b224、轴孔b225；
253.该排出区块b3上设有在径向相隔间距的多列(本实施例设有8列)同心设置的凹设环弧状的排料吸沟b31，每一排料吸沟b31中设有沿该排料吸沟b31底部间隔排列的多个镂空的吸孔b32；所述吸孔b32可连通负压源抽真空，使排料吸沟b31内形成负压的真空状态；该排出区块b3包括相互平行的一短弧边b33及一长弧边b34，以及互呈一夹角的一前端边b35及一后端边b36；
254.该第一检查区块b21上的该第一吸沟b211与该第二检查区块b22、b23上的该第二吸沟b221在组并时相导通，但与该入料区块b1上的该入料吸沟b11、该排出区块b3上的该排料吸沟b31在组并时互不导通；该入料区块b1上的该入料吸沟b11在后端裕留一段空部位b17，该空部位b17设有一小段与该第二检查区块b22上的该第二吸沟b221在组并时导通的第三吸沟b171，并于该第三吸沟b171中设有镂空的吸孔b1 72。
255.请参阅图3、5所示，该测试板c上表面设有在径向相隔间距的多列(本实施例设有8列)同心环状设置的镂设矩形的座槽c1，该座槽c1每一列环状相隔间距设置多数个，各列径向对应的该座槽c1直线间隔排列呈多数行；每一个座槽c1可供容纳上、下分别各设有电极的一待测元件，例如电容类的电子元件，该待测元件以电极分别位于上、下端方式于图5中该入料单元d处落置于该座槽c1中。
256.请参阅图3、6，该测试板c下表面每一该座槽c1底部各径向朝外圆周伸设一段凹设的导沟c2，各该导沟c2分别与该承载底盘b的该入料吸沟b11、第一吸沟b211、第二吸沟b221、及排料吸沟b31在该测试板c进行间歇旋转时导通，以由该承载底盘b中该吸孔b12、吸孔b1213、吸孔b1223、及吸孔b32导入负压抽真空时，负压可经由该入料吸沟b11、第一吸沟b211、第二吸沟b221、及排料吸沟b31，对各该座槽c1中容置的待测物件(在本实施例中为电容类的电子元件)进行吸附；该测试板c下表面两行该座槽c1间形成长条凹设区间状的清洁槽c3，该清洁槽c3临近每一该座槽c1处形成一朝该座槽c1靠近的扩凸区间c31，所述清洁槽c3用以容纳该测试板c下表面长期操作下与该承载底盘b间磨擦所产生的粉屑，以避免阻塞该座槽c1底部孔径。
257.请参阅图7所示，该入料单元d设有呈弧形的一栅架d1，该栅架d1设有在径向相隔间距的多个同心环状设置的弧形的栅板d11，其定义出多个载料槽道d12(本实施例设有8个)，所述该测试板c上表面同心环状设置的各列座槽c1分别对应位于各该载料槽道d12中；该栅架d1位于接近该测试板c间歇旋转流路方向欲进入该栅架d1的入口端d13处的上方设有一入料座d2，该入料座d2上设有下方以一第一轴向x直线排列且分别对应各该载料槽道d12的多个入料口d21；该入料座d2上方设有一转向座d3，该转向座d3设有多个导沟d31及如所述第一轴向x直线排列并与该多个入料口d21分别对应的多个镂孔状的漏槽d32，各该导沟d31包括一入料端d33及一排料端d34，各该入料端d33共同并列呈一第二轴向y直线排列，各该排料端d34分别各与一个该漏槽d32连通，且各入料端d33中分别各设有可由入料端d33朝排料端d34吹出气体的吹气管d35；该转向座d3上方覆设有一导料座d4，该导料座d4在一矩形的输料槽口d41内设有多个共同并列呈所述第二轴向y直线排列并分别对应连通各该导沟d31的该入料端d33的导料道d42；该导料座d4一侧设有一覆设该转向座d3上方的一罩盖d5，该罩盖d5设有依该第一轴向x直线排列并与该转向座d3上多个镂孔状的漏槽d32分别
对应的多个气孔d51，该罩盖d5上设有一联通件d6，该联通件d6一侧设有一气压接头d61，另一底侧面d62设有与该气压接头d61连通的导孔d62及多个以不等长直线状槽沟与该导孔d62连通的气沟d63，在该联通件d6覆盖于该罩盖d5上时，每一气沟d63分别各对应导通该罩盖d5上的一个气孔d51；借此，当待测元件自该导料座d4上该输料槽口d41的该导料道d42被引导输入时，该待测元件将经由该转向座d3的该入料端d33掉至排料端d34，而在该排料端d34的该漏槽d32处，受该联通件d6上气压接头d61所输入经该导孔d62、气沟d63而由该罩盖d5上的该气孔d51喷出的气体所吹送，而由该漏槽d32落经该入料座d2的该入料口d21，以进入该栅架d1的其中一对应的该载料槽道d12中，并在该测试板c间歇旋转的流路上随机掉入对应的该列的该座槽c1的其中之一个；
258.该栅架d1位于该测试板c间歇旋转流路方向欲离开该栅架d1的出口端d14处设有一吹气座d7，该吹气座d7提供气体对各该载料槽道d12中由该出口端d14向该入口端d13吹送，使各该载料槽道d12中未随机落入该座槽c1中的待测元件被吹回重新找机会落入该座槽c1；
259.该栅架d1位于该测试板c间歇旋转流路方向该栅架d1的该入料座d2与该出口端d14间设有一检测座d8，该检测座d8设有多个检测元件d81分别各对应朝各该载料槽道d12中进行检测，当所检测的该载料槽道d12中该待测元件累积到被该检测元件d81检测到时，显示该载料槽道d12中该待测元件过多，系统将控制暂时停止对该导料座d4的该导料座d4供应该待测元件；
260.该栅架d1设有朝靠该测试板c圆心的弧形的内侧部d15及朝靠该测试板c圆周外缘的弧形的外侧部d16，该栅架d1以该外侧部d16固设于图1中机台台面a1上一固定座a11所枢设的一连接件d9所设的一弧形凹设的固定部d91上，并借此与该连接件d9连动，使该栅架d1连同该连接件d9可以该固定座d91所枢设的轴心为支点，作枢转扳起与该测试板c表面形成一仰起的角度，或置下靠近该测试板c上表面，并借助该连接件d9上一调整件d92以螺纹螺抵方式对该机台台面a1的螺抵锁固，以固定该栅架d1的定位；该栅架d1与连接件d9的该固定部d91间，借嵌设适当厚度的垫片d93以调整该栅架d1固设时的高度，保持和该测试板c间适当的间隙，该垫片d93仅在更换待测元件规格时需要改变，在该栅架d1作枢转扳起再置下时，该间隙并不会改变；
261.该连接件d9以相隔间距的二扣枢部d94间相对的内侧与该固定部d91两外端枢设，二扣枢部d94并于两外端各以一锁固件d95压抵一挠性垫圈d951下，借助一螺固件d952螺抵或松放，以改变该连接件d9连动该栅架d1作枢转扳起或置下时扳转的紧度；该固定座a11相对该连接件d9的另一侧于图1中该机台台面a1上设有一挡靠座d96，该挡靠座d96上方设有一呈倾斜一角度的以挠性体构成的垫件d961，当该连接件d9连动该栅架d1作枢转扳起时，可反向扳至落靠于该挡靠座d96的该垫件d961处受挡靠，以使整体维持在一敞掀的预设定位。
262.请参阅图8所示，该入料单元d的该导料座d4的该输料槽口d41受该供料机构g供应该待测元件，该供料机构g设有一振动送料机g1，
263.该振动送料机g1设有一供置入待测元件的料斗g11，及对应该测试板c上该座槽c1列数的多个(本实施例设有八个)相并列成所述第二轴向y排列供输送待测元件的输送道g12，各输送道g12以一第三轴向z的方向垂直该输料槽口d41排列的所述第二轴向y方式共
同伸入该导料座d4的该输料槽口d41，并分别各受一组振动元件g13(本实施例设有八个)所驱动；该振动送料机g1设于该机台桌面a2上一摆座g2上，该摆座g2上相隔间距设有第一轮体g3及第二轮体g4，该第一轮体g3与该第二轮体g4以一皮带g5联结而可相互连动同方向旋转，该第二轮体g4上方设有一置架g41，该振动送料机g1以一底座g14置于该置架g41上，该底座g14与该置架g41间可作相对旋转位移，该底座g14上设有一拨杆g141，该置架g41一侧的该摆座g2上设有杆状的一栓件g411可选择性向下插嵌该机台桌面a2上一定位孔a21。
264.请参阅图8、9所示，操作者可握拨该拨杆g141，使整个该振动送料机g1旋摆移离相隔该入料单元d一间距，此时该摆座g2将以该第一轮体g3的轮轴为中心作顺时针方向旋转偏摆，借由该第一轮体g3与该第二轮体g4相互连动同方向旋转，该底座g14与该置架g41间将作相对旋转位移，使该振动送料机g1在位移过程中，各该输送道g12仍以原对应的该第三轴向z的方向移出该导料座d4的该输料槽口d41，而不会随该摆座g2产生偏摆而撞及该输料槽口d41侧缘，而该振动送料机g1旋摆移离至预设位置后，可操作该栓件g411向下插嵌该定位孔a21，使该摆座g2在一定位被固定；而此项该振动送料机g1可旋摆移离的功能，将有助于操作者能更靠近该入料单元d进行检修。
265.请参阅图10～12所示，该第一检查单元e1设有一第一座架e11、以相隔间距弧形并列方式设于该第一座架e11的多个匣盒状的第一上端子匣e12、及分别各以相隔间距弧形并列方式对应设于各该第一上端子匣e12下方的多个匣盒状的第一下端子匣e13；其中，
266.该第一座架e11设有一固定座e111、一与该固定座e111可作上、下相对位移的支撑架e112、及一可作上、下掀启或落置的掀架e113；该固定座e111设有与该机台台面a1呈水平设置的一固定部e1111及与该机台台面a1呈垂直设置的一滑座e1112，该固定部e1111一侧设有螺栓构成的二调整件e1113，二调整件e1113相隔间距左、右设置并借助螺设于图1中该机台台面a1上的微调固定部a11，可相互微调整个该第一座架e11的左、右倾斜定位；该支撑座e112设有与该滑座e1112平行设置的一轨座e1121，该轨座e1121设有一滑动部e1122使该轨座e1121可在该滑座e1112上作相对滑动上、下位移，该支撑座e112于该轨座e1121上方相对该固定部e1111的另一侧伸设与该机台台面a1平行的一支撑部e1123，该滑动部e1122下端受一弹簧构成的弹性件e1124顶撑作用，使该支撑部e1123保持一预定的高度定位；该支撑座e112与该轨座e1121相对该固定部e1111的同侧设有一旋钮类的调整件e1125，该调整件e1125以具有螺纹的杆部e1126螺于该固定座e111，借助旋转调整该调整件e1125可使该支撑座e112上、下位移；该掀架e113与该支撑座e112上一枢接部e1127枢设而可作掀启或落置在该支撑部e1124上，该支撑部e1124设有由一侧向该固定座e11侧弧形凹设的一回让区间e1131，而使该回让区间e1131两侧分别形成左右各一扶靠部e1132，每一扶靠部e1132上分别各设有一螺固件e1133，可将该掀架e113与该支撑部e1124螺设定位。
267.请参阅图10、13、14所示，每一个该第一上端子匣e12分别各设于该第一座架e11的该掀架e113上，并位于该测试板c上方；每一个第一上端子匣e12设有一位于该掀架e113上方的匣盖e121及位于该掀架e113下方的上匣座e122；该上匣座e122以上端嵌设于该掀架e113的一嵌孔e1134中，该掀架e113上方罩覆其上设有多个分别各对应该嵌孔e1134的挡孔e1135的一垫件e1136，该挡孔e1135孔径小于该嵌孔e1134的孔径，使该上匣座e122上端借以获得止挡定位；该匣盖e121包括位于一侧并固设于该垫件e1136上的一固定盖座e1211及位于另一侧可拆卸地设于该固定盖座e1211侧边的一活动盖座e1212；该上匣座e122包括位
于上方的一连接座e1221及位于下方的一上端子座e1222，并以该连接座e1221嵌置于该嵌孔e1134中；该上匣座e122上设有多个相隔间距直线并列的(本实施例为8个)第一上端子组件e123，每一个第一上端子组件e123分别由下往上依序设有位于该测试板c上方的可滚动轮体构成的一第一上端子e1231、位于该上匣座e122上凹设的一置穴e1222中供安装该第一上端子e1231的一上端子座e1232、位于该置穴e1222内该上端子座e1232上方提供该第一上端子e1231上下弹性驱力的一弹簧构成的弹性件e1233、一端与该第一上端子e1231连接并电性导通的细长片状的一导电片e1234、使该导电片e1234另一端受固设的一转接部e1235、位于该连接座e1221中一端与该转接部e1235处该导电片e1234另一端电性导通且另一端凸伸于该匣盖e121中的一连接件e1236、在该匣盖e121中与该连接件e1236焊固导通而经该匣盖e121上一缆线孔e1213延伸至该第一上端子匣e12外的一电缆线e1237；
268.每一个该第一下端子匣e13分别各设于该承载底盘b的下方，该第一下端子匣e13包括位于上方的一探针座e131及位于该探针座e131下方的下匣座e132，该探针座e131上设有多个(本实施例为8个)相隔间距直线并列受有弹性作用(探针中设有弹簧，图中未示)可上下微动的第一探针e133，每一个第一探针e133下方的一端在该下匣座e132中焊固导通经该下匣座e132上一缆线孔e1321延伸至该下匣座e132外的一电缆线e134；请参阅图14～15，每一个第一探针e133上方的一端分别顶抵一第一电极e135的底端，该第一电极e135呈杆状并被与该承载底盘b的该第一检查区块b21上所对应的该轴孔b215焊固而不可位移，该第一电极e135上端面抵于图6中该测试板c上的该座槽c1下方。
269.请参阅图16～18所示，该第二检查单元e2与e3机构相同，同理可推，以下兹以该第二检查单元e2作说明；该第二检查单元e2设有一第二座架e21、设于该第二座架e21的一匣盒状的第二上端子匣e22、及对应设于该第二上端子匣e22下方的一匣盒状的第二下端子匣e23；其中，
270.该第二座架e21以一底座e211设于该机台台面a1上，该底座e211设有位于一侧可作x轴向拉拔位移的插销e2111、位于上表面并于相对该第二上端子匣e22的另一侧与该底座e211枢设的一掀座e212；该掀座e212设有位于一侧可在掀起时供该插销e2111插入的定位孔e2121、位于该掀座e212上表面z轴向用以握扳该掀座e212使其往一侧掀起的一握把e2122、位于该掀座e212上表面可将该掀座e212锁固于该底座e211的一螺固件e2123、位于该掀座e212上表面的一立设台座e2124，该台座e2124底部与该掀座e212间设有微调该台座e2124x轴向位移的一第一微调座e2125及微调该台座e2124y轴向位移的一第二微调座e2126，该台座e2124一侧设有用以固定该第二上端子匣e22的一固定架e2127，该台座e2124一侧与该固定架e2127间设有微调该固定架e2127y轴向位移的一第三微调座e2128，该第三微调座e2125并设置具有刻度的一微调转钮e2129供进行微调该第二上端子匣e22与该测试板c上表面间的间距高度；
271.该第二上端子匣e22设有用以和该固定架e2127固设的一底板e221，该底板e221上设有位于上方由多个印刷电路版上的电路所组构的一组mosfet电路e222及位于下方的一端子座e223，该端子座e223上设有多个(本实施例为8个)相隔间距直线并列的第二上端子组件e224，每一个第二上端子组件e224分别由下往上依序设有位于该测试板c上方的可滚动轮体构成的一第二上端子e2241、位于该端子座e223上凹设的一置穴e2231中供安装该第二上端子e2241的一上端子座e2242、一端固设于该上端子座e2242而另一端与置穴e2231内
上缘保持一间距以限制该第二上端子e2241上死点的一挡件e2243、位于该置穴e2231内该上端子座e2242上方提供该第二上端子e2241上下弹性驱力的一弹簧构成的弹性件e2244、一端与该第二上端子e2241连接并电性导通的细长片状的一导电片e2245、使该导电片e2245另一端受固设的一转接部e2246、与该转接部e2246焊固一体而与该mosfet电路e222连接的一电缆线e2247；
272.该第二下端子匣e23设于该承载底盘b的下方，该第二下端子匣e23设有一底板e231，该底板e231上设有位于下方由多个印刷电路版上的电路所组构的一组mosfet电路e232及位于上方的一探针座e233，该探针座e233上设有多个(本实施例为8个)相隔间距直线并列的受有弹性作用(探针中设有弹簧，图中未示)可上下微动的第二探针e234，请参阅图18～20，每一个第二探针e234上方的一端分别顶抵以一第二电极e235的底端，该第二电极e235呈杆状并由上而下分别设有一段电极部e2351、具有一段外螺纹的一螺纹部e2352、及具有六角截面(或内六角凹穴)可供工具扳转以作上下微调的调整部e2353；该承载底盘b的第二检查区块b22上所对应的该轴孔b215下方设有一电极座e236，该电极座e236设有对应于该承载底盘b的第二检查区块b22上的该轴孔b225且其内设有内螺纹的一微调孔e2361，该第二电极e235以该螺纹部e2352螺设于该电极座e236的该微调孔e2361中，并以该电极部e2351伸经该承载底盘b的该第二检查区块b22上所对应的该轴孔b225，而以该电极部e2351上端面抵于图6中该测试板c上的该座槽c1下方。
273.以电容类的待测元件为例，当待测元件位于该测试板c上的该座槽c1中被以顺时针方向间歇旋转流路进行搬送时，先经过该第二检查单元e2的该第二上端子e2241与该第二电极e235间，以被测试电容的电容量、损耗或品质因子(俗称cd)，再经过该第一检查单元e1的该第一上端子e1231与该第一电极e135间，以被测试电容的绝缘阻抗(俗称ir)，然后依须要可再经过该第二检查单元e3进行再一次的电容的电容量、损耗或品质因子测试；其中，该第一检查单元e1由于具有多组相对应的该第一上端子匣e12、该第一下端子匣e13，因此在进行电容的绝缘阻抗测试时，可以每四组分别作充电、充电、测试、放电的方式作多阶段的测试。
274.该第一检查单元e1由于是用以检查测试电容的绝缘阻抗，其测试的电量较低，该第一电极e135较少损耗，故被与该承载底盘b所对应的该轴孔b215焊固而不可位移，惟该第二检查单元e3因作电容的电容量、损耗或品质因子测试，其测试电量较高，故设计上使该第二电极e235可进行上、下微调使与该承载底盘b的该第二检查区块b22上的该轴孔b225作相对位移，以适应该第二电极e235需应对较高的耗损！
275.请参阅图1、3、21所示，该排出单元f设有一导管板f1，该导管板f1上设有多个具有挠性的导管f2，每一导管f2分别各以一端对应该测试板c上的一个该座槽c1上方，另一端则牵引经该导料架h而对应导通至该收集机构k的一个料盒k1；
276.该收集机构k设有一矩形框体状的座架k2，座架k2内供设置该料盒k1，座架k2上方形成该机台桌面a2供设置该导料架h；该导料架h上设有多列长条状的嵌座h1，该嵌座h1上设有多个相隔间距直线排列分别可各供该导管f2嵌设的嵌孔h2，该嵌座h1由分置左、右两侧的可拆卸、组装的二侧座h11、h12共同并置组成。
277.请参阅图1、21、22，所示，该排出单元f的该导管板f1一侧设于一掀架f3，其中，该掀架f3是借助一连接件f4与该导管板f1连设并连动，该连接件f4与该掀架f3上、下设有一
重叠部位f31，并于该重叠部位f31处相隔间距设有二枢杆f5，并在该连接件f4下表面与该掀架f3上表面间设有弹簧构成的弹性件f6(图中未示)，借助该弹性件f6的顶撑保持了该连接件f4下表面与该掀架f3上表面间的间距，并在该连接件f4上设有一螺抵件f7螺抵至下方的该掀架f3上表面中，借助螺抵件f7的螺抵向下或向上，以调整连接件f4在二枢杆f5的支撑下作上下位移，以连动该导管板f1改变与该测试板c间的间距；该掀架f3设有二螺固件f32可螺至该机台台面a1以固定该掀架f3；该掀架f3并设有镂空的长槽状的一定位槽f33，该定位槽f33恰可在该掀架f3落置于该机台台面a1时，正套嵌在该机台台面a1上的一定位件a11上，使该掀架f3获得定位；该掀架f3以一端枢设于该收集机构k的该座架k2上方的一枢转座k21，该座架k2一角侧k22上、下分别各受一枢扣座k23枢设，该座架k2一侧设有一拉把k24。
278.请参阅图22、23，借助拉握该拉把k24，可使该座架k2以该枢扣座k23为支点作掀转至一侧，使机台台面a1下方靠该排出单元f的一侧呈现一镂空的操作区间k3，操作人员可位于该操作区间k3中靠近机台台面a1进行维修；该导管板f1及其上的各导管f2可随该掀架f3由该机台台面a1往该收集机构k方向，即朝操作人员的方向被掀起，而使整个该排出单元f位于该座架k2上方，并在该座架k2掀转至一侧时，整个该排出单元f将被连动位移转至一侧。
279.请参阅图21、23，在该测试板c以顺时针方向间歇旋转进入该排出单元f的该导管板f1下方而欲离开该导管板f1下方处的该导管板f1上，设有一离子产生器f8，并在该离子产生器f8处的该导管板f1下方设有一呈细长槽缝状并延伸横跨覆盖该各测试板c径向的各列座槽c1的吹送槽f81，该离子产生器f8可产生离子气体经该吹送槽f81对该测试板c上表面吹送，以避免受测元件因静电粘附在该测试板c表面；该测试板c以顺时针方向间歇旋转离开该导管板f1后的该导管板f1外设有一检查组件f9，该检查组件f9设有分别对应该测试板c上各列座槽c1上方的检测器f91，用以检查是否有未被该导管f2或吸附槽f8排除的受测元件；
280.该机台台面a1下方的机台前侧a3设有相隔间距分设上、下的可受驱动作水平朝一侧伸出或缩回位移的卡掣件a31，该座架k2相对该机台前侧a3的一背侧面k25设有相隔间距分设上、下的二扣设部k26，该座架k2一侧以该枢扣座k23为支轴使另一侧相对该机台前侧a3作朝靠后，可借助该卡掣件a31受驱动卡嵌入该扣设部k26，而使该座架k2保持在定位，或在欲使该座架k2一侧以该枢扣座k23为支轴使另一侧相对该机台前侧a3作掀启时，借助该卡掣件a31受驱动缩回并脱离对该扣设部k26卡嵌，而使该座架k2解除定位而可作掀启。
281.本实用新型实施例的电子元件测试装置，由于该入料单元d的该栅架d1连同该连接件d9可以该固定座a11所枢设的轴心为支点，作枢转扳起与该测试板c表面形成一仰起的角度，或置下靠近该测试板c表面，该垫片d93仅在更换待测元件规格时需要改变，在该栅架d1作枢转扳起再置下时，该间隙并不会改变，也不须要再调整该垫片d93的厚薄或数量，使操作上更为便利；该掀架f3以一端枢设于该收集机构的该座架k2上方的该枢转座k21，使该导管板f1及其上的各导管f2可随该掀架f3由该机台台面a1往该收集机构k方向，即朝操作人员的方向被掀起，而使整个该排出单元f位于该座架k2上方，因此操作人员可便于对该排出单元f进行检修。
282.以上所述仅为本实用新型的实施例而已，当不能以此限定本实用新型实施的范
围，凡是依本实用新型申请专利范围及专利说明书内容所作的简单的等效变化与修饰，皆仍属本实用新型专利涵盖的范围内。