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一种混合滤波器结构及MEMS芯片的制作方法

2022-10-22 19:42:25 来源:中国专利 TAG:

一种混合滤波器结构及mems芯片
技术领域
1.本实用新型涉及mems芯片制造工艺技术领域,更具体地说,涉及一种混合滤波器结构及mems芯片。


背景技术:

2.随着当今集成电路的迅速发展,大规模集成电路已逐渐的出现在人们的视野当中,同时随着科技时代的进步,手机、自动汽车等电子技术设备也逐一亮相,为了追求多频段小尺寸滤波器结构,以saw(声表面波)、baw (体声波)、ipd(集成产品开发)为基础,进行相关工艺结构设计。
3.ipd滤波器结构是通过电容电感的互连导通抑制带外波段、形成器件的一种器件设计,电容结构为金属-介质-金属组成,电感为螺旋电感结构。
4.baw滤波器可分为fbar(薄膜腔声谐振)和swr,fbar为金属电极-压电层材料-金属电极组成的空腔结构,swr通过布拉格反射层结构形成指定带宽的结构。
5.saw是通过金属交叉表面声波传递,形成带宽的结构。
6.但是,目前单一的saw、baw及ipd滤波器无法满足终端产品的性能需求,同时无法满足更高的与终端产品的高集成小尺寸的要求。
7.前面的叙述在于提供一般的背景信息,并不一定构成现有技术。


技术实现要素:

8.本实用新型的目的在于提供一种混合滤波器结构及mems芯片,该混合滤波器结构在满足终端产品的性能需求的同时,也可以与终端产品的高集成小尺寸的要求适配度更高。
9.本实用新型提供一种混合滤波器结构,包括si衬底、下电极金属钼、压电层、上电极金属钼、cu种籽层、cu走线、凸点、铜线、ipd电感、介质层及sio2支撑层;所述si衬底上设有区域开口,在所述si衬底的表面位于所述区域开口的上方覆盖有所述下电极金属钼,在所述下电极金属钼上覆盖有所述压电层,在所述压电层上覆盖有所述上电极金属钼,所述上电极金属钼的一端部和所述下电极金属钼表面连接;在所述si衬底的表面还覆盖有所述cu种籽层,在所述si衬底上还淀积一层所述sio2支撑层,所述 sio2支撑层上设有两个引线开孔,两个所述引线开孔中均设有所述cu走线,其中一所述cu走线一端和所述下电极金属钼连接、另一端设有所述凸点,其中另一所述cu走线一端和所述cu种籽层连接、另一端设有所述凸点;在所述si衬底上还设有两个通孔,所述铜线一端穿过其中一所述通孔和所述下电极金属钼连接、所述铜线另一端穿过其中另一所述通孔和所述cu种籽层连接;在所述铜线上设有所述ipd电感和所述介质层,在所述sio2支撑层上设有和空气导通的开窗。
10.进一步地,在所述si衬底远离所述区域开口的一面上覆盖有pa钝化层。
11.进一步地,所述上电极金属钼的端部设有连接部,所述连接部和所述下电极金属钼表面连接。
12.进一步地,所述sio2支撑层的厚度为2.5μm-3.5μm。
13.进一步地,所述开窗位于所述上电极金属钼处。
14.本实用新型还提供一种mems芯片,包括上述的混合滤波器结构。
15.进一步地,所述mems芯片还包括pcb基板,所述pcb基板贴合在所述sio2支撑层表面。
16.本实用新型提供的混合滤波器结构,将相对单一品种的saw滤波器、 baw滤波器、ipd滤波器组合结构能够支持更多的频段信号的多工器,同时能够集成baw滤波器的高q值的优势;制成的混合滤波器在满足终端产品的性能需求的同时,也可以与终端产品的高集成小尺寸的要求适配度更高。
附图说明
17.图1为本实用新型实施例提供的混合滤波器结构的截面结构示意图。
18.图2为图1中混合滤波器结构的si衬底的截面结构示意图。
19.图3为本实用新型实施例提供的mems芯片的截面结构示意图。
20.图4(a)-图4(h)为混合滤波器结构的工艺制造流程结构示意图。
21.附图中涉及的附图标记和组成部分如下所示:
22.1、si衬底
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2、下电极金属钼
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3、压电层
23.4、上电极金属钼
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5、pcb基板
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6、cu种籽层
24.7、cu走线
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8、凸点
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9、铜线
25.10、ipd电感
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11、介质层
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12、sio2支撑层
26.13、区域开口
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14、引线开孔
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15、通孔
27.16、开窗
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17、pa钝化层
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18、连接部
具体实施方式
28.下面结合附图和实施例,对本实用新型的具体实施方式作进一步详细描述。以下实施例用于说明本实用新型,但不用来限制本实用新型的范围。
29.本实用新型的说明书和权利要求书中的术语“第一”、“第二”、“第三”、“第四”等是用于区别类似的对象,而不必用于描述特定的顺序或先后次序。
30.实施例1
31.图1为本实用新型实施例提供的混合滤波器结构的截面结构示意图,图 2为图1中混合滤波器结构的si衬底的截面结构示意图。请参照图1、图2,本实用新型实施例提供的混合滤波器结构,包括si衬底1、下电极金属钼2、压电层3、上电极金属钼4、cu种籽层6、cu走线7、凸点8、铜线9、ipd 电感10、介质层11及sio2支撑层12;si衬底1上设有区域开口13,在si 衬底1的表面位于区域开口13的上方覆盖有下电极金属钼2,在下电极金属钼2上覆盖有压电层3,在压电层3上覆盖有上电极金属钼4,上电极金属钼4的一端部和下电极金属钼2表面连接;在si衬底1的表面还覆盖有cu 种籽层6,在si衬底1上还淀积一层sio2支撑层12,sio2支撑层12上设有两个引线开孔14,两个引线开孔14中均设有cu走线7,其中一cu走线 7一端和下电极金属钼2连接、另一端设有凸点8,其中另一cu走线7一端和cu种籽层6连接、另一端设有凸点8;在si衬底1上还设有两个通孔15,铜线9一端穿过其中一通孔15和下电极金属钼
2连接、铜线9另一端穿过其中另一通孔15和cu种籽层6连接;在铜线9上设有ipd电感10和介质层11,在sio2支撑层12上设有和空气导通的开窗16。
32.需要说明的是,在si衬底1远离区域开口13的一面上覆盖有pa钝化层17;上电极金属钼4的端部设有连接部18,连接部18和下电极金属钼2 表面连接;sio2支撑层12的厚度为2.5μm-3.5μm;开窗16位于上电极金属钼4处。
33.本实用新型的混合滤波器结构的形成过程:
34.图4(a)-图4(h)为混合滤波器结构的工艺制造流程结构示意图。请参阅图4的(a)、图4的(b),区域开口13通过光刻刻蚀工艺在si衬底 1上向下刻蚀形成,区域开口13用于作为baw滤波器的下空腔;需要说明的是,通过牺牲层工艺对区域开口13下空腔进行填充;
35.下电极金属钼2通过用pecvd(plasma enhanced chemical vapor deposition,是指等离子体增强化学的气相沉积法)工艺在si衬底1表面覆盖一层金属钼,再通过光刻刻蚀工艺形成,下电极金属钼2用于作为baw 滤波器的下电极;
36.压电层3通过pecvd工艺在wafer(晶圆)表面覆盖一层aln(氮化铝)或scaln(钪掺杂氮化铝的压电薄膜材料),再通过光刻刻蚀工艺形成,压电层3用于作为baw滤波器的压电层材料;
37.上电极金属钼4通过pecvd工艺在wafer表面覆盖一层金属钼,再通过光刻刻蚀工艺形成,上电极金属钼4用于作为baw滤波器的上电极。
38.进一步参阅图4的(c),通过pecvd工艺在cu表面覆盖一层cu种籽层6,通过带胶电镀工艺做5um以上的厚铜,用来做saw滤波器的工作区以及内部走线;通过hf酸漂洗将多余的cu种籽层6去除。
39.进一步参阅图4的(d)、图4的(e)、图4的(f),在wafer上方表面做pi胶膜,pi胶膜为聚酰亚胺;需要说明的是,在wafer上方表面做pi 胶膜为了对在wafer背面加工的过程中,保护wafer正面电路不会受到损伤;
40.对wafer背面进行减薄、抛光,减小si衬底1的厚度尺寸以及改善背面 si衬底的表面粗糙度;
41.通过tsv(through silicon via,硅通孔)工艺,深孔icp刻蚀技术对 wafer背面做通孔15,打穿wafer通过铜线9连通;
42.通过pecvd以及带胶电镀的方式,形成通孔走线以及ipd滤波器所需要的电容下金属电极和ipd电感10;
43.通过pecvd沉积sin(硬质掩蔽层),作为ipd滤波器电容的介质层 11,再通过干法刻蚀工艺呈现出电容工作区;
44.通过pecvd cu种籽层6以及带胶电镀工艺形成完整的ipd滤波器器件以及pa钝化层17保护电路;
45.进一步参阅图4的(g),通过湿法腐蚀去除掉wafer正面的pi(聚酰亚胺)层,以及通入hf(氢氟酸)气体,将区域开口13中牺牲层去除,形成baw滤波器的下空腔;
46.在wafer正面淀积一层3μm厚度的sio2,形成sio2支撑层12作为上空腔的支撑层;
47.运用via深孔刻蚀技术,进行引线开孔,形成两个引线开孔14,两个引线开孔14中均设有cu走线7;再通过带胶电镀加reflow高温回流工艺在 cu走线7上形成凸点8(bump pilar);
48.开窗16通过光刻刻蚀工艺对baw滤波器工作区进行开窗形成,开窗 16与空气导通,形成完整的混合滤波器结构。
49.需要说明的是,本实用新型提供的混合滤波器结构,将相对单一品种的 saw滤波器、baw滤波器、ipd滤波器组合结构能够支持更多的频段信号的多工器,同时能够集成baw滤波器的高q值的优势;制成的混合滤波器在满足终端产品的性能需求的同时,也可以与终端产品的高集成小尺寸的要求适配度更高。
50.图3为本实用新型实施例提供的mems芯片的截面结构示意图。请参照图3、图4的(h),本实用新型还提供一种mems芯片,包括上述的混合滤波器;mems芯片还包括pcb基板5,pcb基板5贴合在sio2支撑层 12表面。
51.需要说明的是,混合滤波器通过快速reflow工艺与pcb基板5进行贴合,形成完整的mems芯片。
52.基于上文的描述可知,本实用新型优点在于:
53.1、本实用新型提供的混合滤波器结构,将相对单一品种的saw滤波器、 baw滤波器、ipd滤波器组合结构能够支持更多的频段信号的多工器,同时能够集成baw滤波器的高q值的优势;制成的混合滤波器在满足终端产品的性能需求的同时,也可以与终端产品的高集成小尺寸的要求适配度更高。
54.以上所述,仅为本实用新型的具体实施方式,但本实用新型的保护范围并不局限于此,任何熟悉本技术领域的技术人员在本实用新型揭露的技术范围内,可轻易想到变化或替换,都应涵盖在本实用新型的保护范围之内。因此,本实用新型的保护范围应以所述权利要求的保护范围为准。
再多了解一些

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