一种电子控制单元测试方法、装置及系统与流程

1.本发明涉及硬件测试技术领域，尤其涉及一种电子控制单元测试方法、装置及系统。


背景技术：

2.电子控制单元(electronic control unit，ecu)由微控制器、存储器、输入/输出接口、模数转换器以及整形、驱动等大规模集成电路组成。在完成ecu的设计制造之后，需要对ecu的硬件功能进行测试。
3.在传统的ecu的硬件功能测试环节中，往往需要先给待测试的ecu的硬件电路板刷写一套专门用于测试的软件程序，待测试完毕后，再将ecu所需的正常工作的软件程序刷写进电路板中，这种测试流程在ecu的硬件电路板中重复刷写了软件程序，增加了ecu的测试时间和测试成本。


技术实现要素：

4.本发明提供一种电子控制单元测试方法、装置及系统，能够降低ecu的测试时间和测试成本。
5.为达到上述目的，本发明采用如下技术方案：
6.第一方面，本发明提供一种电子控制单元测试方法，包括：
7.接收上位机发送的测试请求，测试请求用于指示电子控制单元将软件程序的工作模式从正常工作模式切换为测试模式，且用于指示电子控制单元执行测试任务；
8.根据测试请求，将软件程序的工作模式从正常工作模式切换为测试模式；
9.根据测试请求和软件程序执行测试任务，生成测试数据；
10.向上位机发送测试数据。
11.在一种可能的实现方式中，电子控制单元测试方法还包括：解析测试请求得到第一数据，第一数据包括切换类型，切换类型为第一类型或第二类型，第一类型用于指示将软件程序的工作模式从正常工作模式切换为测试模式，第二类型用于指示将软件程序的工作模式从测试模式切换为正常工作模式；根据测试请求，将软件程序的工作模式从正常工作模式切换为测试模式，包括：当切换类型为第一类型时，将软件程序的工作模式从正常工作模式切换为测试模式。
12.在一种可能的实现方式中，电子控制单元测试方法还包括：解析测试请求的第二部分，得到第二数据，第二数据包括测试任务的测试模块以及测试模块的测试内容；根据测试请求和软件程序执行测试任务，生成测试数据，包括：根据测试内容和软件程序，对测试模块进行测试，生成测试数据。
13.在一种可能的实现方式中，测试请求为上位机根据预设的请求数据协议生成的，在向上位机发送测试数据之前，电子控制单元测试方法还包括：根据响应数据协议对测试数据进行封装，生成响应数据，响应数据协议与请求数据协议对应；向上位机发送测试数
据，包括：向上位机发送响应数据。
14.在一种可能的实现方式中，测试任务为输入任务或输出任务；当测试任务为输出任务时，测试数据用于指示测试任务是否已完成；当测试任务为输入任务时，测试数据包括检测数据，检测数据为执行测试任务时获取到的数据。
15.在一种可能的实现方式中，测试模块为数字输入输出(digital in and out，dio)模块、模数转换(analog to digital conversion，adc)模块、脉宽调制(pulse width modulation，pwm)输出模块、串行外设接口(serial peripheral interface，spi)通信模块、控制器域网(controller area network，can)通信模块中的任意一种。
16.在一种可能的实现方式中，电子控制单元测试方法还包括：接收上位机发送的测试关闭指令，测试关闭指令为上位机根据预设的请求数据协议生成的；解析测试关闭指令，得到测试关闭指令中的切换类型；当测试关闭指令中的切换类型为第二类型时，将软件程序的工作模式由测试模式切换为正常工作模式。
17.第二方面，本发明提供一种电子控制单元测试装置，其特征在于，包括：
18.接收模块，用于接收上位机发送的测试请求，测试请求用于指示电子控制单元将软件程序的工作模式从正常工作模式切换为测试模式，且用于指示电子控制单元执行测试任务；
19.切换模块，用于根据测试请求，将软件程序的工作模式从正常工作模式切换为测试模式；
20.执行模块，用于根据测试请求和软件程序执行测试任务，生成测试数据；
21.发送模块，用于向上位机发送测试数据。
22.在一种可能的实现方式中，电子控制单元测试装置还包括解析模块；解析模块，用于解析测试请求得到第一数据，第一数据包括切换类型，切换类型为第一类型或第二类型，第一类型用于指示将软件程序的工作模式从正常工作模式切换为测试模式，第二类型用于指示将软件程序的工作模式从测试模式切换为正常工作模式；切换模块，具体用于当切换类型为第一类型时，将软件程序的工作模式从正常工作模式切换为测试模式。
23.在一种可能的实现方式中，解析模块，还用于解析测试请求的第二部分，得到第二数据，第二数据包括测试任务的测试模块以及测试模块的测试内容；执行模块，具体用于根据测试内容和软件程序，对测试模块进行测试，生成测试数据。
24.在一种可能的实现方式中，测试请求为上位机根据预设的请求数据协议生成的，在向上位机发送测试数据之前，电子控制单元测试装置还包括封装模块；封装模块，用于根据响应数据协议对测试数据进行封装，生成响应数据，响应数据协议与请求数据协议对应；发送模块，具体用于向上位机发送响应数据。
25.在一种可能的实现方式中，测试任务为输入任务或输出任务；当测试任务为输出任务时，测试数据用于指示测试任务是否已完成；当测试任务为输入任务时，测试数据包括检测数据，检测数据为执行测试任务时获取到的数据。
26.在一种可能的实现方式中，测试模块为dio模块、adc模块、pwm输出模块、spi通信模块、can通信模块中的任意一种。
27.在一种可能的实现方式中，接收模块，还用于接收上位机发送的测试关闭指令，测试关闭指令为上位机根据预设的请求数据协议生成的；解析模块，还用于解析测试关闭指
令，得到测试关闭指令中的切换类型；切换模块，还用于当测试关闭指令中的切换类型为第二类型时，将软件程序的工作模式由测试模式切换为正常工作模式。
28.第三方面，本发明提供一种电子控制单元，包括：处理器和存储器；存储器用于存储计算机程序代码，计算机程序代码包括计算机指令；当处理器执行计算机指令时，电子控制单元执行如第一方面及其任一种可能的实现方式中的电子控制单元测试方法。
29.第四方面，本发明提供一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机指令，当计算机指令在电子控制单元上运行时，使得电子控制单元执行如第一方面及其任一种可能的实现方式中的电子控制单元测试方法。
30.第五方面，本发明提供一种电子控制单元测试系统，包括如第一方面及其任一种可能的实现方式中的电子控制单元，以及上位机。
31.本发明提供的电子控制单元测试方法，包括：接收上位机发送的测试请求，测试请求用于指示电子控制单元将软件程序的工作模式从正常工作模式切换为测试模式，且用于指示电子控制单元执行测试任务；根据测试请求，将软件程序的工作模式从正常工作模式切换为测试模式；根据测试请求和软件程序执行测试任务，生成测试数据；向上位机发送测试数据。本发明中ecu可以根据上位机发送的测试请求，将软件程序的工作模式从正常工作模式切换为测试模式，并完成测试任务，避免了测试流程中在ecu的硬件电路板中重复刷写软件程序，从而降低了测试时间和测试成本。
附图说明
32.图1为本发明实施例提供的一种电子控制单元测试方法的应用场景示意图；
33.图2为本发明实施例提供的一种电子控制单元测试方法的交互示意图之一；
34.图3为本发明实施例提供的一种电子控制单元测试方法的交互示意图之二；
35.图4为本发明实施例提供的一种电子控制单元测试方法的交互示意图之三；
36.图5为本发明实施例提供的一种电子控制单元测试方法的交互示意图之四；
37.图6为本发明实施例提供的一种电子控制单元测试装置的组成示意图之一；
38.图7为本发明实施例提供的一种电子控制单元测试装置的组成示意图之二；
39.图8为本发明实施例提供的一种电子控制单元测试装置的组成示意图之三。
具体实施方式
40.下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。
41.以下，术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括一个或者更多个该特征。在本公开实施例的描述中，除非另有说明，“多个”的含义是两个或两个以上。另外，“基于”或“根据”的使用意味着开放和包容性，因为“基于”或“根据”一个或多个所述条件或值的过程、步骤、计算或其他动作在实践中可以基于额外条件或超出所述的值。
42.为了解决ecu的测试时间较长，测试成本较高的问题，本发明实施例提供了一种电子控制单元测试方法、装置及系统，电子控制单元测试方法包括：接收上位机发送的测试请求，测试请求用于指示电子控制单元将软件程序的工作模式从正常工作模式切换为测试模式，且用于指示电子控制单元执行测试任务；根据测试请求，将软件程序的工作模式从正常工作模式切换为测试模式；根据测试请求和软件程序执行测试任务，生成测试数据；向上位机发送测试数据。本发明实施例中ecu可以根据上位机发送的测试请求，将软件程序的工作模式从正常工作模式切换为测试模式，并完成测试任务，避免了测试流程中在ecu的硬件电路板中重复刷写软件程序，从而降低了测试时间和测试成本。
43.图1为本发明实施例提供的一种电子控制单元测试方法的应用场景示意图。如图1所述，上位机01通过ecu02的can总线与ecu02通信连接。
44.上位机01即为测试所使用的工装设备，用于向ecu02下发测试请求，上位机01可以是终端设备，也可以是服务器，还可以是服务器集群，在此不做限定。
45.ecu02即为被测的电子控制单元，用于响应上位机01下发的测试请求，将软件程序的工作模式从正常工作模式切换为测试模式，并执行相应的测试任务。
46.可以理解的是，本发明中的ecu02的软件架构为autosar架构，autosar架构通过分层来实现ecu02的软硬件的隔离。ecu02中可以包括但不限于dio模块21、adc模块22、pwm输出模块23、spi通信模块24以及can通信模块25等硬件功能模块。在本发明实施例中，对ecu02的具体测试内容可以包括对上述各个硬件功能模块的测试。
47.基于图1，图2为本发明实施例提供的一种电子控制单元测试方法的交互示意图之一。如图2所示，该方法可以包括以下步骤s201-s204。
48.s201、上位机01向ecu02发送测试请求，测试请求用于指示ecu02将软件程序的工作模式从正常工作模式切换为测试模式，且用于指示ecu02执行测试任务。
49.可以理解的是，若要实现上位机01与ecu02之间的通信，需要首先制定出相应的通信数据协议。在本实施例中，上位机01向ecu02发送数据时，使用的通信数据协议可以是预设的请求数据协议，ecu02向上位机01发送数据时，使用的通信数据协议可以是预设的响应数据协议，响应数据协议与请求数据协议对应。
50.具体的，上位机01可以向ecu02发送测试请求，测试请求用于指示ecu02将软件程序的工作模式从正常工作模式切换为测试模式，且用于指示ecu02执行测试任务。
51.s202、ecu02根据测试请求，将软件程序的工作模式从正常工作模式切换为测试模式。
52.可以理解的是，本发明实施例中，刷写在ecu02的硬件电路板中的软件程序具有两种运行模式：正常工作模式和测试模式。
53.具体的，ecu02可以根据测试请求，将软件程序的工作模式从正常工作模式切换为测试模式。
54.在一种可能的实现方式中，工作模式的切换，可以采用汽车统一诊断服务(unified diagnostic services，uds)中的0x31例程控制服务来实现。
55.s203、ecu02根据测试请求和软件程序执行测试任务，生成测试数据。
56.可以理解的是，测试任务可以为输入任务，也可以为输出任务。输入任务即表示测试请求所指示的测试内容为获取检测数据，检测数据为执行测试任务时获取到的数据，例
如获取到的dio模块21的某一个引脚处检测到的电平，此种情形下的测试数据即包括了检测数据。输出任务即表示指示的测试内容为向外输出信息，此种情况下，测试数据用于指示测试任务是否已完成，例如测试数据用于指示dio模块21已经成功通过某一个引脚向外输出高电平。
57.具体的，ecu02可以根据测试请求和软件程序执行测试任务，生成测试数据。
58.s204、ecu02向上位机01发送测试数据。
59.具体的，ecu02可以向上位机01发送测试数据。
60.在一种可能的实现方式中，测试请求为可以上位机01根据预设的请求数据协议生成的，与之对应的，在向上位机01发送测试数据之前，ecu02可以根据响应数据协议对测试数据进行封装，生成响应数据，并向上位机发送响应数据。
61.本实施例中，上位机01向ecu02发送测试请求，ecu02根据测试请求，将软件程序的工作模式从正常工作模式切换为测试模式，并根据测试请求和软件程序执行测试任务，生成测试数据，且向上位机01发送测试数据。这样，避免了测试流程中在ecu02的硬件电路板中重复刷写软件程序，从而降低了测试时间和测试成本。
62.基于图2，图3为本发明实施例提供的一种电子控制单元测试方法的交互示意图之二。如图3所示，该方法还可以包括以下步骤s301。
63.s301、ecu02解析测试请求中的第一部分，得到第一数据，第一数据包括切换类型，切换类型为第一类型或第二类型，第一类型用于指示将软件程序的工作模式从正常工作模式切换为测试模式，第二类型用于指示将软件程序的工作模式从测试模式切换为正常工作模式。
64.在此基础上，上述步骤s202具体可以包括：当切换类型为第一类型时，ecu02将软件程序的工作模式从正常工作模式切换为测试模式。
65.其中，测试请求可以包括两部分：第一部分和第二部分。
66.具体的，ecu02可以解析测试请求中的第一部分，得到第一数据，第一数据包括切换类型，切换类型为第一类型或第二类型，第一类型用于指示将软件程序的工作模式从正常工作模式切换为测试模式，第二类型用于指示将软件程序的工作模式从测试模式切换为正常工作模式。
67.基于图3，图4为本发明实施例提供的一种电子控制单元测试方法的交互示意图之三。如图4所示，该方法还可以包括以下步骤s401。
68.s401、ecu02解析测试请求的第二部分，得到第二数据，第二数据包括测试任务的测试模块以及测试模块的测试内容。
69.上述步骤s203具体包括：ecu02根据测试内容和软件程序，对测试模块进行测试，生成测试数据。
70.可以理解的是，测试模块即为ecu02中被测的硬件功能模块。
71.具体的，ecu02可以解析测试请求中的第二部分，得到第二数据，从而确定测试任务的测试模块以及测试模块的具体测试内容，并根据测试内容和软件程序，在测试模块中测试相关的硬件功能，例如通信功能，并生成相关的测试数据。
72.在一种可能的实现方式中，当测试模块为dio模块21、adc模块22、pwm输出模块23、spi通信模块35、can通信模块25中的任意一种时，ecu02可以解析测试请求中的第二部分，
得到第二数据，从而确定测试任务的测试模块以及测试模块的具体测试内容。
73.基于图4，图5为本发明实施例提供的一种电子控制单元测试方法的交互示意图之四。如图5所示，上述方法还可以包括以下步骤s501-s503。
74.s501、上位机01向ecu02送测试关闭指令，测试关闭指令为上位机01根据预设的请求数据协议生成的。
75.s502、ecu02解析测试关闭指令，得到测试关闭指令中的切换类型。
76.s503、当测试关闭指令中的切换类型为第二类型时，ecu02将软件程序的工作模式由测试模式切换为正常工作模式。
77.可以理解的是，本实施例为完成测试后，上位机01控制ecu02关闭测试模式的过程，具体过程与上述实施例中上位机01控制ecu02进入测试模式进行测试的过程相同，在此不做赘述。
78.以上，值得一提的是，测试请求中还可以包括有第三部分，在对测试模块进行测试之前，ecu02还可以解析测试请求中的第三部分，得到第三数据，并根据第三数据对测试模块进行初始化处理。
79.为了便于理解本发明实施例的具体实现过程，以下以0x31例程控制服务为例，对dio模块21的具体测试实现过程做详细说明。
80.1、根据切换请求数据协议，解析测试请求中的第一部分，切换软件程序的工作模式。切换请求数据协议如下表1所示。
81.表1正常工作模式、测试模式切换请求数据协议
[0082][0083][0084]
基于表1，以下举例对工作模式的切换过程进行说明。
[0085]
以接收到上位机01下发的测试请求中的第一部分为“0x310x010x010x00”为例。
[0086]
参考表1中各个字节值的定义，可以确定本次测试请求为请求将工作模式由正常工作模式切换为测试模式。
[0087]
2、对dio模块21的各引脚进行初始化配置，配置属性如以下表2所示(dio、adc、pwm输出这三个模块初始化配置信息表模板一致)。
[0088]
表2 dio、adc、pwm输出模块初始化配置信息表
[0089][0090]
3、根据dio测试请求数据协议，解析测试请求中的第二部分，确定测试模块为dio模块21，并确定具体测试内容，执行测试任务，生成测试数据，并通过dio测试响应数据协议，封装测试数据生成响应数据，并发送至上位机01。dio测试请求数据协议如下表3所示，dio测试响应数据协议如下表4所示。
[0091]
表3 dio测试请求数据协议
[0092]
[0093][0094][0095]
表4 dio测试响应数据协议
[0096]
[0097][0098]
基于表3，以下对dio模块21测试请求的情求数据处理过程做出说明。
[0099]
测试任务为输出任务时，以接收到上位机01下发的测试请求中的第二部分为“0x310x010x010x010x010x020x02”为例。
[0100]
第一步：检测i/otest_enable是否为1，若i/otest_enable＝1，则执行第二步。
[0101]
第二步：解析测试请求时，首先解析测试请求中的前4个字节“0x310x010x010x01”，数据解析通过，开启i/o测试功能，i/o测试使能标志i/otest_enableflag＝1；否则i/otest_enableflag＝0。
[0102]
第三步：若i/otest_enableflag＝1，则继续解析测试请求中的第5～7字节为routinecontroloptionrecord数据，并提取相关数值。其中第5个字节表示引脚通信编码，提取该字节数值，按照表1中对应关系可索引到对应引脚，例子中第5个字节为“0x01”，对应的是g2引脚；第6个字节表示该引脚是输入引脚还是输出引脚，提取该字节数值，例子中第6个字节为“0x02”，表示该引脚为输出引脚；第7个字节表示输出置位标志，相当于上位机可通过该字节控制对应引脚是置高、置低或不操作，例子中第7个字节为“0x02”，表示该引脚在输出模式下置高，提取该字节数值。
[0103]
第四步：对第三步中提取的数值执行操作，当指定引脚完成相应的置位操作后，设置一个置位成功标志位seti/o_suc_flag将其置1。在例子中提取的routinecontroloptionrecord数据就需要执行将g2引脚置高的操作，在g2引脚执行置高操作完成后，令seti/o_suc_flag＝1。
[0104]
测试任务为输入任务时，以接收到上位机01下发的测试请求为“0x310x010x010x010x010x010x03”为例。
[0105]
第一步：检测i/otest_enable是否为1，若i/otest_enable＝1，则执行第二步。
[0106]
第二步：解析测试请求时，首先解析测试请求中的前4个字节“0x310x010x010x01”，数据解析通过，开启i/o测试功能，i/o测试使能标志i/otest_enableflag＝1；否则i/otest_enableflag＝0。
[0107]
第三步：若i/otest_enableflag＝1，则继续解析测试请求中的第5～7字节为routinecontroloptionrecord数据，并提取相关数值。其中第5个字节表示引脚通信编码，提取该字节数值，按照表1中对应关系可索引到对应引脚，例子中第5个字节为“0x01”，对应的是g2引脚；第6个字节表示该引脚是输入引脚还是输出引脚，提取该字节数值，例子中第6个字节为“0x01”，表示该引脚为输入引脚；第7个字节表示输出置位标志，相当于上位机可通过该字节控制对应引脚是置高、置低或不操作，例子中第7个字节为“0x03”，表示该引脚
为输入模式，不执行置位操作，提取该字节数值。
[0108]
第四步：对第三步中提取的数值执行操作，当指定引脚完成相应的读取输入电平操作后，设置一个读取成功标志位readi/o_suc_flag将其置1。在例子中提取的routinecontroloptionrecord数据执行的操作就是允许读取g2引脚输入的高低电平状态，对输入电平状态进行读取处理，并根据响应数据协议记录此时g2引脚电平状态标志(假设g2读取电平为高，则响应数据中的第8个字节为“0x02”)，在g2引脚电平读取操作完成后，令readi/o_suc_flag＝1。该状态将在请求响应中发送给上位机01。
[0109]
进一步的，以下对dio模块21完成测试后的请求关闭i/o测试功能的数据处理过程做出说明。
[0110]
接收到上位机01下发的测试请求中的第二部分为“0x310x020x010x010x000x000x00”为例。
[0111]
解析测试请求4个字节“0x310x020x010x01”，数据解析通过，i/o测试使能标志i/otest_enable＝0，请求关闭i/o测试功能，此时i/o测试功能关闭标志i/otest_close_flag＝1。
[0112]
进一步的，基于表4，以下对dio模块21测试请求的响应数据处理过程做出说明。
[0113]
测试任务为输出任务时，以上述输出任务下对g2引脚置高操作为例。
[0114]
第一步：检测seti/o_suc_flag是否为1，若seti/o_suc_flag＝1，则执行第二步。
[0115]
第二步：发送响应数据至上位机01。在上述例子中，发送“0x710x010x010x010xff 0x010x020x03”至上位机。
[0116]
第三步：发送完成后，将seti/o_suc_flag、i/otest_enableflag置0。
[0117]
测试任务为输入任务时，以上述输出任务下读取g2引脚电平为高的操作为例。
[0118]
第一步：检测readi/o_suc_flag是否为1，若seti/o_suc_flag＝1，则执行第二步。
[0119]
第二步：发送响应数据至上位机01。例子中，发送“0x710x010x010x010xff 0x010x010x02”至上位机。
[0120]
第三步：发送完成后，将readi/o_suc_flag、i/otest_enableflag置0。
[0121]
进一步的，以下对dio模块21完成测试后，响应关闭i/o测试功能的数据处理过程做出说明。
[0122]
以响应上位机01下发的测试请求为“0x310x020x000x010x000x000x00”为例。
[0123]
第一步：若检测到i/o测试功能关闭标志i/otest_close_flag＝1，执行第二步。
[0124]
第二步：发送响应数据至上位机01。在上述例子中，发送“0x710x020x010x010xff 0x000x000x00”至上位机01。
[0125]
第三步：发送完成后，将i/otest_enable、i/otest_enableflag和i/otest_close_flag置0。
[0126]
可以理解的是，对于adc模块22、pwm输出模块23、spi通信模块24以及can通信模块25来说，各模块的功能不同，因此各模块初始化的方式以及对应的数据协议中的各字节值的定义均会有所不同，但具体测试实现原理与上述dio模块21的测试的实现原理类似，只是spi通信模块24、can通信模块25的初始化配置信息对应关系与其他几个模块稍有不同，只需按如表5所示进行配置即可，在此不作过多赘述。
[0127]
表5 spi、can通信初始化配置信息表
[0128][0129]
上述主要从设备的角度对本发明实施例提供的方案进行了介绍。可以理解的是，设备为了实现上述功能，其包含了执行各个功能相应的硬件结构和/或软件模块。本领域技术人员应该很容易意识到，结合本文中所公开的实施例描述的各示例的算法步骤，本发明能够以硬件或硬件和计算机软件的结合形式来实现。某个功能究竟以硬件还是计算机软件驱动硬件的方式来执行，取决于技术方案的特定应用和设计约束条件。专业技术人员可以对每个特定的应用来使用不同方法来实现所描述的功能，但是这种实现不应认为超出本发明的范围。
[0130]
本发明实施例还提供一种电子控制单元测试装置，图6示出了一种电子控制单元测试装置的组成示意图之一，如图6所示，该电子控制单元测试装置可以包括：接收模块61、切换模块62、执行模块63以及发送模块64。
[0131]
接收模块61，用于接收上位机发送的测试请求，测试请求用于指示电子控制单元将软件程序的工作模式从正常工作模式切换为测试模式，且用于指示电子控制单元执行测试任务；
[0132]
切换模块62，用于根据测试请求，将软件程序的工作模式从正常工作模式切换为测试模式；
[0133]
执行模块63，用于根据测试请求和软件程序执行测试任务，生成测试数据；
[0134]
发送模块64，用于向上位机发送测试数据。
[0135]
可选的，测试请求包括第一部分和第二部分，基于图6，图7示出了一种电子控制单元测试装置的组成示意图之二，如图7所示，电子控制单元测试装置还包括解析模块65；解析模块65，用于解析测试请求中的第一部分，得到第一数据，第一数据包括切换类型，切换类型为第一类型或第二类型，第一类型用于指示将软件程序的工作模式从正常工作模式切换为测试模式，第二类型用于指示将软件程序的工作模式从测试模式切换为正常工作模式；切换模块62，具体用于当切换类型为第一类型时，将软件程序的工作模式从正常工作模式切换为测试模式。
[0136]
可选的，解析模块65，还用于当测试模块为电子控制单元中的硬件功能模块时，解析测试请求的第二部分，得到第二数据，第二数据包括测试任务的测试模块以及测试模块的测试内容；执行模块63，具体用于根据测试内容和软件程序，对测试模块进行测试，生成测试数据。
[0137]
可选的，测试请求为上位机根据预设的请求数据协议生成的，基于图7，图8示出了一种电子控制单元测试装置的组成示意图之三，如图8所示，电子控制单元测试装置还包括封装模块66；封装模块66，用于根据响应数据协议对测试数据进行封装，生成响应数据，响应数据协议与请求数据协议对应；发送模块64，具体用于向上位机发送响应数据。
[0138]
可选的，测试任务为输入任务或输出任务；当测试任务为输出任务时，测试数据用
于指示测试任务是否已完成；当测试任务为输入任务时，测试数据包括检测数据，检测数据为执行测试任务时获取到的数据。
[0139]
可选的，测试模块为dio模块、adc模块、pwm输出模块、spi通信模块、can通信模块中的任意一种。
[0140]
可选的，接收模块61，还用于接收上位机发送的测试关闭指令，测试关闭指令为上位机根据预设的请求数据协议生成的；解析模块65，还用于解析测试关闭指令，得到测试关闭指令中的切换类型；切换模块62，还用于当测试关闭指令中的切换类型为第二类型时，将软件程序的工作模式由测试模式切换为正常工作模式。
[0141]
当然，本发明实施例提供的电子控制单元测试装置包括但不限于上述模块。
[0142]
本发明实施例提供的电子控制单元测试装置，用于执行上述电子控制单元测试方法，因此可以达到与上述电子控制单元测试方法相同的效果。
[0143]
本发明另一实施例还提供一种电子控制单元，包括：处理器和存储器；存储器用于存储计算机程序代码，计算机程序代码包括计算机指令；当处理器执行计算机指令时，电子控制单元执行如上述任一实施例中的电子控制单元测试方法。
[0144]
本发明另一实施例还提供一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机指令，当计算机指令在电子控制单元上运行时，使得电子控制单元执行如上述任一实施例中的电子控制单元测试方法。
[0145]
本发明另一实施例还提供一种电子控制单元测试系统，包括如上述任一实施例中的电子控制单元01，以及上位机02。
[0146]
可选的，电子控制单元测试系统还可以包括数据显示设备，数据显示设备与ecu02连接，用于在测试任务为输出任务时，可视化地显示输出结果。
[0147]
示例性的，在pwm输出模块23的测试过程中，数据显示设备可以为示波器，用于显示pwm输出模块23输出的pwm波形。
[0148]
以上所述，仅为本发明的具体实施方式，但本发明的保护范围并不局限于此，任何在本发明揭露的技术范围内的变化或替换，都应涵盖在本发明的保护范围之内。因此，本发明的保护范围应以所述权利要求的保护范围为准。