1.本实用新型涉及芯片生产设备领域，具体为一种用于智能表环的芯片缺陷检测装置。
背景技术：
2.芯片在生产过程中，需要使用检测装置对芯片进行检测，利用检测装置的相机对工件表面的斑点、凹坑、划痕、色差、缺损等缺陷进行检测。
3.现有的芯片检测装置过于复杂，不方便调节，且相机的焦距有一定限制，无法对不同大小和不同规格的芯片进行检测作业。
技术实现要素：
4.(一)解决的技术问题
5.针对现有技术的不足，本实用新型提供一种用于智能表环的芯片缺陷检测装置，以解决背景技术提出的问题。
6.(二)技术方案
7.为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：一种用于智能表环的芯片缺陷检测装置，包括安装架和固定在安装架上的检测相机，所述安装架的一侧固定连接有与检测相机匹配的灯光支架，灯光支架包括支架，支架上表面固定连接有环形灯光，所述安装架的一侧开设有贯穿的槽口，槽口内滑动连接有连接件，连接件的一侧转动连接有放置板，放置板内活动连接有焦距镜片。
8.优选地，所述槽口为l形设置，连接件的另一侧固定连接有穿设槽口并延伸至安装架外的螺纹杆，螺纹杆上设有螺母。
9.优选地，所述安装架的侧壁上固定连接有与放置板和槽口匹配的横向挡条和竖向挡条，所述放置板上开设有与竖向挡条匹配的限位槽。
10.优选地，放置板的内壁设有橡胶抵层，橡胶抵层与焦距镜片相抵。
11.优选地，所述灯光支架还包括聚光罩，聚光罩固定连接在支架的底面。
12.(三)有益效果
13.与现有技术对比，本实用新型具备以下有益效果：
14.1、该种新型用于智能表环的芯片缺陷检测装置，通过设置放置板与连接件转动连接，连接件与槽口滑动连接，放置板内活动连接有焦距镜片，使得在对不同大小和不同规格的芯片进行检测作业时，通过焦距镜片增加检测相机的焦距，使检测的结果更加清晰准确，同时增加了装置的灵活性。
15.2、该种新型用于智能表环的芯片缺陷检测装置，通过设置灯光支架包括聚光罩，对外界光线进行遮挡，使检测结果更加准确。
附图说明
16.图1为本实用新型整体结构示意图；
17.图2为本实用新型灯光支架和环形灯光的剖面结构示意图；
18.图3为图2中a处结构示意图；
19.图4为本实用新型安装架的背面结构示意图。
20.图中：1、安装架；2、检测相机；3、支架；4、聚光罩；5、环形灯光；6、槽口；7、连接件；8、放置板；9、焦距镜片；10、螺纹杆；11、横向挡条；12、限位槽；13、竖向挡条。
具体实施方式
21.下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。
22.实施例
23.请参阅图1-4，一种用于智能表环的芯片缺陷检测装置，包括安装架1和固定在安装架1上的检测相机2，安装架1的一侧固定连接有与检测相机2匹配的灯光支架，灯光支架包括支架3，支架3上表面固定连接有环形灯光5，安装架1的一侧开设有贯穿的槽口6，槽口6内滑动连接有连接件7，连接件7的一侧转动连接有放置板8，放置板8内活动连接有焦距镜片9，若检测相机2在检测芯片焦距无法清晰地看清芯片时，滑动放置板8，使连接件7在槽口6内滑动，放置板8与连接件7之间的摩擦力，使其不会产生转动，将放置板8内的焦距镜片9与检测相机2的镜头对准即可，通过焦距镜片9增加检测相机2的焦距，芯片可通过外界机械臂夹持至环形灯光5的上方，环形灯光5进行光照，检测相机2进行拍摄检测，使得在对不同大小和不同规格的芯片进行检测作业时，检测的结果更加清晰准确，同时增加了装置的灵活性；若不需要使用焦距镜片9时，滑动放置板8，使连接件7在槽口6内滑动，直至连接件7与槽口6的外端接触，转动放置板8，使放置板8和焦距镜片9侵袭，不遮挡检测相机2的镜头即可。
24.请参阅图1-3，槽口6为l形设置，连接件7的另一侧固定连接有穿设槽口6并延伸至安装架1外的螺纹杆10，螺纹杆10上设有螺母，可通过松动螺纹杆10上的螺母，并通过放置板8将螺纹杆10移动至槽口6的竖槽内，调整焦距镜片9和检测相机2之间的距离，调整不同的焦距，增加装置的实用性。
25.请参阅图1-4，安装架1的侧壁上固定连接有与放置板8和槽口6匹配的横向挡条11和竖向挡条13，放置板8上开设有与竖向挡条13匹配的限位槽12，使得放置板8与横向挡条11相抵，可快速使放置板8和焦距镜片9平行，放置板8上限位槽12与竖向挡条13滑动时，可对上下滑动的放置板8进行限制，使其保持平行。
26.请参阅图1-4，放置板8的内壁设有橡胶抵层，橡胶抵层与焦距镜片9相抵，橡胶抵层对焦距镜片9进行固定，既对焦距镜片9进行保护，也方便根据需要更换不同的焦距镜片9。
27.请参阅图1、2，灯光支架还包括聚光罩4，聚光罩4固定连接在支架3的底面，聚光罩4对外界光线进行遮挡，使检测结果更加准确。
28.工作原理：若检测相机2在检测芯片焦距无法清晰地看清芯片时，根据需要更换需要的焦距镜片9，滑动放置板8，使连接件7在槽口6内滑动，放置板8与连接件7之间的摩擦力，使其不会产生转动，放置板8与横向挡条11相抵，使焦距镜片9保持平行并与检测相机2对焦，若此时的焦距还达不到要求时，通过放置板8将螺纹杆10移动至槽口6的竖槽内，限位槽12与竖向挡条13滑动，使放置板8保持平行，调整焦距镜片9和检测相机2之间的距离，当调节至需要的焦距后，将螺母拧紧即可。
29.尽管已经示出和描述了本实用新型的实施例，对于本领域的普通技术人员而言，可以理解在不脱离本实用新型的原理和精神的情况下可以对这些实施例进行多种变化、修改、替换和变型，本实用新型的范围由所附权利要求及其等同物限定。
技术特征：
1.一种用于智能表环的芯片缺陷检测装置，包括安装架(1)和固定在安装架(1)上的检测相机(2)，其特征在于，所述安装架(1)的一侧固定连接有与检测相机(2)匹配的灯光支架，灯光支架包括支架(3)，支架(3)上表面固定连接有环形灯光(5)，所述安装架(1)的一侧开设有贯穿的槽口(6)，槽口(6)内滑动连接有连接件(7)，连接件(7)的一侧转动连接有放置板(8)，放置板(8)内活动连接有焦距镜片(9)。2.根据权利要求1所述的一种用于智能表环的芯片缺陷检测装置，其特征在于，所述槽口(6)为l形设置，连接件(7)的另一侧固定连接有穿设槽口(6)并延伸至安装架(1)外的螺纹杆(10)，螺纹杆(10)上设有螺母。3.根据权利要求1或2所述的一种用于智能表环的芯片缺陷检测装置，其特征在于，所述安装架(1)的侧壁上固定连接有与放置板(8)和槽口(6)匹配的横向挡条(11)和竖向挡条(13)，所述放置板(8)上开设有与竖向挡条(13)匹配的限位槽(12)。4.根据权利要求1或2所述的一种用于智能表环的芯片缺陷检测装置，其特征在于，放置板(8)的内壁设有橡胶抵层，橡胶抵层与焦距镜片(9)相抵。5.根据权利要求3所述的一种用于智能表环的芯片缺陷检测装置，其特征在于，放置板(8)的内壁设有橡胶抵层，橡胶抵层与焦距镜片(9)相抵。6.根据权利要求1、2或5所述的一种用于智能表环的芯片缺陷检测装置，其特征在于，所述灯光支架还包括聚光罩(4)，聚光罩(4)固定连接在支架(3)的底面。7.根据权利要求3所述的一种用于智能表环的芯片缺陷检测装置，其特征在于，所述灯光支架还包括聚光罩(4)，聚光罩(4)固定连接在支架(3)的底面。8.根据权利要求4所述的一种用于智能表环的芯片缺陷检测装置，其特征在于，所述灯光支架还包括聚光罩(4)，聚光罩(4)固定连接在支架(3)的底面。
技术总结
本实用新型涉及芯片生产设备领域，且公开了一种用于智能表环的芯片缺陷检测装置，包括安装架和固定在安装架上的检测相机，所述安装架的一侧固定连接有与检测相机匹配的灯光支架，灯光支架包括支架，支架上表面固定连接有环形灯光，所述安装架的一侧开设有贯穿的槽口，槽口内滑动连接有连接件，连接件的一侧转动连接有放置板，放置板内活动连接有焦距镜片，该种新型用于智能表环的芯片缺陷检测装置，通过设置放置板与连接件转动连接，连接件与槽口滑动连接，放置板内活动连接有焦距镜片，使得在对不同大小和不同规格的芯片进行检测作业时，通过焦距镜片增加检测相机的焦距，使检测的结果更加清晰准确，同时增加了装置的灵活性。灵活性。灵活性。
技术研发人员：钱伟 马飞奔 陈清
受保护的技术使用者：苏州益图电子科技有限公司
技术研发日：2022.01.21
技术公布日：2022/8/16
再多了解一些
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