一种荧光计的制作方法

1.本技术涉及医疗检测技术领域，具体而言，涉及一种荧光计。


背景技术：

2.目前，常采用荧光计对试管的荧光分析物进行检测，现有的荧光计能够对单排或者单个的试管内分析物进行检测，检测效率较低。


技术实现要素：

3.本技术实施例提供一种荧光计，以改善现有的荧光计检测效率较低的问题。
4.本技术实施例提供一种荧光计，所述荧光计包括基座、试管座、光路检测机构和驱动机构，所述试管座安装于所述基座，所述试管座设置有沿第一方向和第二方向阵列排布的多个容纳孔，所述容纳孔用于容纳试管；所述光路检测机构用于检测所述试管内的荧光分析物；所述驱动机构连接于所述基座和所述光路检测机构，所述驱动机构用于驱动所述光路检测机构沿所述第一方向和所述第二方向移动。
5.在上述技术方案中，驱动机构能够驱动光路检测机构沿相互垂直的第一方向和第二方向移动，对容纳于试管座设置的沿第一方向和第二方向阵列排布的容纳孔的试管内的荧光分析物进行分析检测，以对容纳于容纳孔内的多排试管的荧光分析物进行检测分析，从而提高了检测效率。
6.在一些实施例中，所述光路检测机构包括光源、检测单元和光路转换组件，所述光源用于提供激发光，所述检测单元用于检测所述试管内的荧光分析物，所述光路转换组件用于使所述激发光沿第一光路入射至所述试管的侧壁，并用于使荧光分析物被所述激发光激发产生的荧光沿第二光路入射至所述检测单元，其中，所述第一光路与所述容纳孔的轴线呈非零夹角设置。
7.在上述技术方案中，由于第一光路与容纳孔的轴线呈非零夹角设置，光源产生的激发光通过光路转换组件沿第一光路入射至试管的侧壁，而试管内荧光分析物受到激发光激发产生的荧光沿第二光路入射至检测单元，试管的侧壁较薄能够降低试管壁对检测单元检测结果的影响，从而使检测单元对试管内的荧光分析物做出较为准确的检测。
8.在一些实施例中，所述试管座上设有多个导光孔，所述导光孔与所述容纳孔一一对应，所述容纳孔的一端贯穿所述试管座的上表面，所述导光孔的一端贯穿所述容纳孔的孔壁，所述导光孔的另一端贯穿所述试管座的下表面，所述导光孔供所述激发光穿过，以使所述激发光入射至所述试管的侧壁。
9.在上述技术方案中，试管座的容纳孔能够用来安装试管，试管座的导光孔一端贯穿容纳孔的孔壁，导光孔的另一端贯穿试管座的下表面，能够使激发光穿过导光孔入射至试管的侧壁，而试管的侧壁较薄，能够降低试管壁厚度对检测单元的检测结果准确性的影响。
10.在一些实施例中，所述导光孔的轴线与所述容纳孔的轴线所呈夹角α，α满足：30
°
≤α≤45
°
。
11.在上述技术方案中，导光孔的轴线与容纳孔的轴线呈夹角α，α满足：30
°
≤α≤45
°
，从而使试管座内相邻两排的一排的容纳孔的导光孔靠近试管座下表面的一端避开另一排的容纳孔。
12.在一些实施例中，所述容纳孔为盲孔。
13.在上述技术方案中，容纳孔为盲孔，避免光源发出的激发光由容纳孔的底部入射至试管的底壁，影响检测单元对试管内荧光分析物的检测结果。
14.在一些实施例中，所述光路转换组件包括二相色镜、第一透镜、第二透镜、第一发射滤光片、第三透镜和第二发射滤光片，其中，光源、第一透镜、第一发射滤光片、二相色镜、第二透镜依次沿所述第一光路排布，第二透镜、二相色镜、第三透镜、第二发射滤光片依次沿所述第二光路排布。
15.在上述技术方案中，在第一光路中，光源发出的激发光通过第一透镜聚集，再经由第一发射滤光片过滤激发光中部分波长的光，再依次经由二相色镜和第二透镜入射一定波长的光(激发光)至试管内荧光分析物，试管内荧光分析物受到激发光激发出荧光，在第二光路中，荧光通过第二透镜聚集，再经由二相色镜(反射一定波长的光)反射至第三透镜，荧光经过第二发射滤光片过滤荧光中部分波长的光，从而使检测单元提高对荧光分析物的检测准确性。
16.在一些实施例中，所述第一发射滤光片的光轴和所述第二发射滤光片光轴垂直。
17.在上述技术方案中，第一发射滤光片的光轴和第二发射滤光片的光轴垂直，能够使光源产生的激发光能够入射至所述试管的侧壁，从而提高检测单元提高对荧光分析物的检测准确性。
18.在一些实施例中，基座内部形成有容纳空间，所述光路检测机构和所述驱动机构均位于所述容纳空间内。
19.在上述技术方案中，光路检测机构和驱动机构位于基座内部的容纳空间内能够降低外界环境对检测单元检测荧光分析物的检测准确性的影响。
20.在一些实施例中，所述基座包括外壳和安装平台，所述外壳内部形成有所述容纳空间，所述安装平台可拆卸地安装于所述外壳内，所述驱动机构安装于所述安装平台。
21.在上述技术方案中，安装平台可拆卸地安装于基座的外壳内，驱动机构安装于安装平台，结构简单，便于检修。
22.在一些实施例中，所述驱动机构包括第一移动座、第二移动座、第一驱动件和第二驱动件，所述第一移动座可移动地设置于所述基座，所述第二移动座可移动地设置于所述第一移动座，所述第一驱动件用于驱动所述第一移动座相对所述基座沿第一方向移动，所述第二驱动件用于驱动所述第二移动座相对所述基座沿第二方向移动，所述光路检测机构连接于所述第二移动座。
23.在上述技术方案中，第一移动座可移动地设置于基座，第二移动座可移动地设置于第一移动座，第一驱动件用于驱动第一移动座相对基座沿第一方向移动，第二驱动件用于驱动第二移动座相对基座沿第二方向移动，光路检测机构连接于第二移动座，从而使光路检测机构能够对多排试管内的荧光分析物进行检测，提高检测效率。
附图说明
24.为了更清楚地说明本技术实施例的技术方案，下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，应当理解，以下附图仅示出了本技术的某些实施例，因此不应被看作是对范围的限定，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他相关的附图。
25.图1为本技术一些实施例提供的荧光计的结构示意图；
26.图2为图1所示的光路检测机构的结构示意图；
27.图3为图1所示的荧光计的a处的局部放大示意图；
28.图4为本技术另一些实施例提供的荧光计的局部放大示意图。
29.图标：100-荧光计；10-试管座；11-容纳孔；12-导光孔；20-光路检测机构；21-光源；22-检测单元；23-光路转换组件；231-二相色镜；232-第一透镜；233-第二透镜；234-第一发射滤光片；235-第三透镜；236-第二发射滤光片；24-检测筒；241-第一筒部；2411-头部；2412-筒部；242-第二筒部；30-驱动机构；31-第一移动座；32
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第二移动座；33-第一驱动件；331-第一直线电机；332-第一限位块；333-第一导轨；34-第二驱动件；341-第二直线电机；342-第二限位块；343-第二导轨；40-基座；41-外壳；411-容纳空间；42-安装平台；200-试管；210-底壁；220-侧壁。
具体实施方式
30.为使本技术实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本技术一部分实施例，而不是全部的实施例。通常在此处附图中描述和示出的本技术实施例的组件可以以各种不同的配置来布置和设计。
31.因此，以下对在附图中提供的本技术的实施例的详细描述并非旨在限制要求保护的本技术的范围，而是仅仅表示本技术的选定实施例。基于本技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本技术保护的范围。
32.需要说明的是，在不冲突的情况下，本技术中的实施例及实施例中的特征可以相互组合。
33.应注意到：相似的标号和字母在下面的附图中表示类似项，因此，一旦某一项在一个附图中被定义，则在随后的附图中不需要对其进行进一步定义和解释。
34.在本技术实施例的描述中，需要说明的是，指示方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，或者是该申请产品使用时惯常摆放的方位或位置关系，或者是本领域技术人员惯常理解的方位或位置关系，仅是为了便于描述本技术和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本技术的限制。此外，术语“第一”、“第二”、“第三”等仅用于区分描述，而不能理解为指示或暗示相对重要性。
35.在本技术实施例的描述中，还需要说明的是，除非另有明确的规定和限定，术语“设置”、“安装”、“连接”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是直接连接，也可以通过中间媒介间接连接。对于本领域的普通技术人员而
言，可以具体情况理解上述术语在本技术中的具体含义。
36.请参照图1，图1为本技术实施例提供的一种荧光计100，本技术实施例提供的一种荧光计100包括基座40、试管座10、光路检测机构20和驱动机构30。荧光计100包括基座40、试管座10、光路检测机构20和驱动机构30，试管座10安装于基座40，试管座10 设置有沿第一方向和第二方向阵列排布的多个容纳孔11，容纳孔11 用于容纳试管200，光路检测机构20用于检测试管200内的荧光分析物，驱动机构30连接于基座40和光路检测机构20，驱动机构30 用于驱动光路检测机构20沿第一方向和第二方向移动。
37.第一方向和第二方向为水平面内相互垂直的方向，以试管座10 为矩形为例，第一方向和第二方向可以分别是试管座10的长度方向和宽度方向。
38.在本技术实施例中，驱动机构30能够驱动光路检测机构20沿第一方向和第二方向移动，对容纳于试管座10设置的沿第一方向和第二方向阵列排布的容纳孔11的试管200内的荧光分析物进行分析检测，以对容纳于容纳孔11内的多排试管200的荧光分析物进行检测分析，从而提高了检测效率。
39.在一些实施例中，请继续参照图1，基座40内部形成有容纳空间411，光路检测机构20和驱动机构30均位于容纳空间411内。
40.光路检测机构20和驱动机构30位于基座40内部的容纳空间 411内能够降低外界环境对检测单元22检测荧光分析物的检测准确性的影响。
41.在一些实施例中，基座40包括外壳41和安装平台42，外壳41 内部形成有容纳空间411，安装平台42可拆卸地安装于外壳41 内，驱动机构30安装于安装平台42。
42.安装平台42可拆卸地安装于基座40的外壳41内，驱动机构 30安装于安装平台42，结构简单，便于检修。
43.在一些实施例中，请参照图1和图2，图2为图1所示的光路检测机构20结构示意图，光路检测机构20包括光源21、检测单元 22和光路转换组件23，光源21用于提供激发光，检测单元22用于检测试管200内的荧光分析物，光路转换组件23用于使激发光沿第一光路入射至试管200的侧壁220，并用于使荧光分析物被激发光激发产生的荧光沿第二光路入射至检测单元22，其中，第一光路与容纳孔11的轴线呈非零夹角设置。
44.第一光路与容纳孔11的轴线呈非零夹角设置，即第一光路与容纳孔11的轴线所呈夹角α，满足：0＜α≤90
°
，示例性的，30
°
≤α≤45
°
，当0＜α＜90
°
时，第一光路处于倾斜状态。
45.光源21可以是激光光源21，示例性的，光源21可以是氙气灯或卤素灯等，检测单元22可以是光电倍增管。
46.在本实施例中，由于第一光路与容纳孔11的轴线呈非零夹角设置，光源21产生的激发光通过光路转换组件23沿第一光路入射至试管200的侧壁220，而试管200内荧光分析物受到激发光激发产生的荧光沿第二光路入射至检测单元22，试管200的侧壁220较薄能够降低试管200壁对检测单元22检测结果的影响，从而使检测单元22对试管200内的荧光分析物做出较为准确的检测。
47.在一些实施例中，请继续参照图2，光路转换组件23包括二相色镜231、第一透镜232、第二透镜233、第一发射滤光片234、第三透镜235和第二发射滤光片236，其中，光源21、第一透镜 232、第一发射滤光片234、二相色镜231、第二透镜233依次沿第一光路排布，第二透镜233、二相色镜231、第三透镜235、第二发射滤光片236依次沿第二光路排布。
48.二相色镜231又称双色镜，常用于激光技术领域，其特点是对一定波长的光几乎完全透过，而对另一些波长的光几乎完全反射。
49.透镜，透明物质制成的表面为球面的光学元件，其特点是能够集聚或者分散光。
50.发射滤光片是用来选取所需辐射波段的光学元件。
51.示例性的，第一发射滤光片234的光轴和第二发射滤光片236 光轴垂直，第一发射滤光片234的光轴和第二发射滤光片236的光轴垂直，能够使光源21产生的激发光能够入射至所述试管200的侧壁220，从而提高检测单元22提高对荧光分析物的检测准确性。
52.在第一光路中，一个光源21发出的激发光通过第一透镜232聚集，再经由第一发射滤光片234过滤激发光中部分波长的光，再依次经由二相色镜231和第二透镜233入射一定波长的光(激发光) 至试管200内荧光分析物，试管200内荧光分析物受到激发光激发出荧光，在第二光路中，荧光通过第二透镜233聚集，再经由二相色镜231(反射一定波长的光)反射至第三透镜235，荧光经过第二发射滤光片236过滤荧光中部分波长的光，从而使检测单元22提高对荧光分析物的检测准确性。
53.在一些实施例中，请继续参照图1和图2，光路检测机构20还可以包括检测筒24，检测筒24包括相互垂直的第一筒部241和第二筒部242，第二透镜233、二向分镜、第一发射滤光片234、第一透镜232和光源21沿第一光路依次安装于第一筒部241(第一光路与第一筒部241的轴向方向重合)，第三透镜235、第二发射滤光片236和检测单元22沿第二光路依次安装于第二筒部242，检测单元 22安装于第二筒部242远离第一筒部241的一端，检测单元22连接于驱动机构30。
54.第一筒部241可以是一体式结构，检测筒24还可以是分体式结构，示例性的，请继续参照图1和图2，检测筒24为分体式结构，第一筒部241包括头部2411和筒部2412，头部2411可拆卸地连接于筒部2412的一端，头部2411远离筒部2412的一端形成有斜面。
55.在一些实施例中，请参照图3，图3为图1所示的荧光计100 的a处的局部放大示意图，试管座10上设有多个导光孔12，导光孔12与容纳孔11一一对应，容纳孔11的一端贯穿试管座10的上表面，导光孔12的一端贯穿容纳孔11的孔壁，导光孔12的另一端贯穿试管座10的下表面，导光孔12供激发光穿过，以使激发光入射至试管200的侧壁220。
56.导光孔12的轴线与容纳孔11的轴线所呈夹角与第一光路与容纳孔的轴线所呈夹角相等。可理解的，导光孔12的轴线与容纳孔 11的轴线所呈夹角β，满足：0
°
＜β≤90
°
，0
°
＜β＜90
°
时，导光孔12为斜孔。
57.示例性的，导光孔12的轴线与容纳孔11的轴线所呈夹角α，α满足：30
°
≤α≤45
°
，从而使试管座10内相邻两排的一排的容纳孔11的导光孔12靠近试管座10下表面的一端避开另一排的容纳孔11。
58.示例性的，容纳孔11为盲孔，容纳孔11的一端贯穿试管座10 的上表面，容纳孔11的另一端延伸至试管座10内，能够避免光源 21发出的激发光由容纳孔11的底部入射至试管200的底壁210，影响检测单元22对试管200内荧光分析物的检测结果。
59.试管座10的容纳孔11能够用来安装试管200，试管座10的导光孔12一端贯穿容纳孔11的孔壁，导光孔12的另一端贯穿试管座 10的下表面，能够使激发光穿过导光孔12入射至试管200的侧壁 220，而试管200的侧壁220较薄，能够降低试管200壁厚度对检测单元22的检测结果准确性的影响。
60.需要说明的是，检测筒24倾斜地安装于驱动机构30，以使检测筒24的延伸方向与导光孔12的轴线方向重合，以使光源21产生的激发光由导光孔12入射至试管200的侧壁220。
61.在一些实施例中，请继续参照图1，所述驱动机构30包括第一移动座31、第二移动座32、第一驱动件33和第二驱动件34，所述第一移动座31可移动地设置于所述基座40，所述第二移动座32可移动地设置于所述第一移动座31，所述第一驱动件33用于驱动所述第一移动座31相对所述基座40沿第一方向移动，所述第二驱动件34用于驱动所述第二移动座32相对所述基座40沿第二方向移动，所述光路检测机构20连接于所述第二移动座32。
62.示例性的，第一驱动件33为第一直线电机331，驱动机构30 还包括第一限位块332和第一导轨333，第一导轨333设置于基座 40，第一移动座31可移动地设置于第一导轨333，第一直线电机 331驱动第一移动座31沿第一方向移动，第一限位块332用于限制第一移动座31在第一方向上的移动。
63.示例性的，第二驱动件34为第二直线电机341，驱动机构30 还包括第二限位块342和第二导轨343，第二导轨343设置于第一移动座31，第二移动座32可移动地设置于第二导轨343，第二直线电机341驱动第二移动座32沿第二方向移动，第二限位块342用于限制第二移动座32在第二方向上的移动，光路检测机构20的检测单元22连接于第二移动座32。
64.第一移动座31可移动地设置于基座40，第二移动座32可移动地设置于第一移动座31，第一驱动件33用于驱动第一移动座31相对基座40沿第一方向移动，第二驱动件34用于驱动第二移动座32 相对基座40沿第二方向移动，从而使检测单元22能够对多排试管 200内的荧光分析物进行检测，提高检测效率。
65.在另一些实施例中，第一光路与容纳孔11的轴线重合，请参照图4，图4为图1所示的荧光计100的a处的再一些实施例的局部放大示意图，容纳孔11为通孔，容纳孔11的一端贯穿试管座10上表面，容纳孔11的另一端贯穿试管座10的下表面，试管200设置于容纳孔11内，光路检测机构20发出的光源21由容纳孔11入射至试管200的底壁210。
66.以上仅为本技术的优选实施例而已，并不用于限制本技术，对于本领域的技术人员来说，本技术可以有各种更改和变化。凡在本技术的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本技术的保护范围之内。