背光测试装置、背光测试方法与流程

1.本技术涉及显示技术领域，具体而言，本技术涉及一种背光测试装置、背光测试方法。


背景技术：

2.直下式背光模组的光学效果与混光距离密切相关，若混光距离不合适会造成背光不均匀。不同的背光模组中光源和光学膜材均不相同，因此对于不同的背光模组，其所需要的最佳混光距离也不相同。
3.然而，在现有的产品的开发过程中，需要针对不同的背光模组进行测试以及验证，以确定针对不同背光模组的最佳混光距离，过程较为繁琐，测试效率较低，导致产品开发周期较长，成本较高。


技术实现要素：

4.本技术针对现有方式的缺点，提出一种背光测试装置、背光测试方法，用以解决相关技术中背光模组的测试效率较低导致的开发周期较长，成本较高的问题。
5.第一个方面，本技术实施例提供了一种背光测试装置，包括：
6.背光系统，包括光学膜材，用于存放待验证光源板，所述待验证光源板与所述光学膜材相对设置，以使得所述光学膜材形成出光面；
7.图像采集系统，与所述背光系统相对设置，用于获取所述出光面的图像；
8.控制系统，分别与所述背光系统以及所述图像采集系统电连接，被配置为接收所述图像采集系统获取的图像，并根据所述图像采集系统获取的图像确定是否需要调节所述待验证光源板与所述光学膜材之间的距离，若需要调节，则控制所述背光系统调节所述待验证光源板与所述光学膜材之间的距离。
9.可选的，所述背光系统包括固定装置、容纳装置以及调节装置；
10.所述固定装置用于固定所述光学膜材，所述容纳装置用于容纳所述待验证光源板，所述待验证光源板与所述调节装置连接；
11.所述控制系统被配置为当需要调节所述待验证光源板与所述光学膜材之间的距离时，控制调节装置移动所述光源板，以调节所述光源板与所述光学膜材的距离。
12.可选的，所述控制系统包括互相电连接的处理器和控制模块，所述处理器被配置为根据所述出光面的图像确定是否需要对所述光学膜材与所述光源板之间的距离进行调节，若需要进行调节，发送调节信号至所述控制模块，所述控制模块接收到所述调节信号后发送控制信号至所述调节装置，以控制所述调节装置向靠近或远离所述光学膜材的方向移动。
13.可选的，所述容纳装置具有腔体结构，所述待验证光源板放置在腔体中；
14.光源板包括多个灯板，所述容纳装置中至少设置四个灯板。
15.可选的，所述背光系统包括支撑结构，所述调节装置包括与所述控制系统电连接
的电机；所述电机分别与所述光源板以及所述支撑结构连接。
16.可选的，所述图像采集系统包括ccd图像传感器。
17.第二个方面，本技术实施例提供了一种背光测试方法，背光测试方法采用本技术实施例中的背光测试装置，包括：
18.控制光源板与光学膜材之间的距离为预设距离，获取所述光学膜材形成的出光面的图像；
19.判断所述出光面的图像是否满足预设条件；
20.若不满足所述预设条件，调节所述光学膜材以及所述光源板之间的距离，直至所述出光面的图像满足预设条件。
21.可选的，所述获取光学膜材形成的出光面的图像，包括：
22.采用ccd图像采集系统采集出光面的图像，所述出光面的图像包括各像素区域的亮度。
23.可选的，所述判断所述出光面的图像是否满足预设条件，包括：
24.确定多个所述像素区域的亮度中亮度的最大值和亮度的最小值；
25.计算亮度的最大值和亮度的最小值之间的亮度差，作为全局亮度差；
26.将所述全局亮度差与预设值进行对比，若全局亮度差小于或者等于所述预设值，则判断所述出光面的图像满足预设条件。
27.可选的，若全局亮度差大于预设值，判断所述出光面的图像是否满足预设条件，还包括：
28.计算多个所述像素区域中任一像素区域和与所述任一像素区域相邻的像素区域的亮度差，作为相邻区域亮度差；
29.将所述相邻区域亮度差与预设值进行对比，若所述相邻区域亮度差小于或者等于所述预设值，则判断所述出光面的图像满足预设条件，否则判断所述出光面的图像不满足预设条件。
30.可选的，所述若不满足所述预设条件，调节所述光学膜材以及所述光源板之间的距离，直至所述出光面的图像满足预设条件，包括：
31.基于当前混光距离，按照预设第一步长增大所述光学膜材与所述光源板之间的距离，直至所述出光面的图像满足预设条件；
32.基于当前混光距离，按照预设第二步长减小所述光学膜材与所述光源板之间的距离，直至所述出光面的图像不满足预设条件；
33.基于当前混光距离，按照预设第三步长增大所述光学膜材与所述光源板之间的距离，直至所述出光面的图像满足预设条件。
34.可选的，所述若不满足所述预设条件，调节所述光学膜材以及所述光源板之间的距离，直至所述出光面的图像满足预设条件，包括：
35.基于当前混光距离，按照预设第一步长调节所述光学膜材以及所述光源板之间的距离，直至所述出光面的图像满足全局亮度差小于或者等于所述预设值；
36.基于当前混光距离，按照预设第一步长减小所述光学膜材以及所述光源板之间的距离，直至所述出光面的图像满足全局亮度差大于所述预设值；
37.获取所述出光面的图像，判断当前的出光面的图像是否满足相邻区域亮度差小于
或者等于所述预设值；若不满足，基于当前混光距离，按照预设第一步长增大光学膜材以及所述光源板之间的距离，直至当前的出光面的图像满足相邻区域亮度差小于或者等于所述预设值；
38.基于当前混光距离，按照预设第二步长减小所述光学膜材以及所述光源板之间的距离；
39.获取所述出光面的图像，判断当前的出光面的图像是否满足相邻区域亮度差小于或者等于所述预设值，若不满足，基于当前混光距离，按照预设第三步长增大所述光学膜材以及所述光源板之间的距离，直至当前的出光面的图像满足相邻区域亮度差小于或者等于所述预设值。
40.本技术实施例提供的技术方案带来的有益技术效果包括：
41.本技术实施例中的背光测试装置包括背光系统、图像采集系统和控制系统；背光系统包括光学膜材，用于存放待验证的光源板，待验证的光源板与光学膜材相对设置，以使得光学膜材形成出光面；图像采集系统与背光系统相对设置，用于获取出光面的图像，控制系统分别与背光系统以及图像采集系统电连接，被配置为接收图像采集系统获取的图像，并根据图像采集系统获取的图像确定是否需要调节待验证光源板与光学膜材之间的距离，若需要调节，则控制背光系统调节待验证光源板与光学膜材之间的距离。利用本技术实施例中的背光测试装置，在背光测试的过程中可通过移动光源板然后进行图像采集的方式，快速地确定背光模组的最佳混光距离，有利于缩短背光模组的开发周期，降低开发成本。
42.本技术附加的方面和优点将在下面的描述中部分给出，这些将从下面的描述中变得明显，或通过本技术的实践了解到。
附图说明
43.本技术上述的和/或附加的方面和优点从下面结合附图对实施例的描述中将变得明显和容易理解，其中：
44.图1为混光距离的几何关系示意图；
45.图2为灯板的结构示意图；
46.图3为多个灯板拼接成光源板后产生显示不均的效果示意图；
47.图4为本技术实施例提供的背光测试装置的结构示意图；
48.图5为本技术实施例提供的背光测试装置中背光系统的结构示意图；
49.图6为本技术实施例提供的背光系统的正视图；
50.图7为包括多个像素区域的图像示意图；
51.图8为本技术实施例提供的背光测试方法的流程示意图。
52.图中：
53.10-背光测试装置；11-背光系统；12-图像采集系统；13-控制系统；
54.111-固定装置；112-容纳装置；113-调节装置；1130-电机；114-支撑结构；131-处理器；132-控制模块；
55.20-光学膜材；201-出光面；21-光源板；210-灯板；211-mini-led；30-像素区域。
具体实施方式
56.下面详细描述本技术，本技术的实施例的示例在附图中示出，其中自始至终相同或类似的标号表示相同或类似的部件或具有相同或类似功能的部件。此外，如果已知技术的详细描述对于示出的本技术的特征是不必要的，则将其省略。下面通过参考附图描述的实施例是示例性的，仅用于解释本技术，而不能解释为对本技术的限制。
57.本技术领域技术人员可以理解，除非特意声明，这里使用的单数形式“一”、“一个”、“所述”和“该”也可包括复数形式。应该进一步理解的是，本技术的说明书中使用的措辞“包括”是指存在所述特征、整数、步骤、操作、元件和/或组件，但是并不排除存在或添加一个或多个其他特征、整数、步骤、操作、元件、组件和/或它们的组。应该理解，当我们称元件被“连接”或“耦接”到另一元件时，它可以直接连接或耦接到其他元件，或者也可以存在中间元件。此外，这里使用的“连接”或“耦接”可以包括无线连接或无线耦接。这里使用的措辞“和/或”包括一个或更多个相关联的列出项的全部或任一单元和全部组合。
58.本技术的发明人考虑到，直下式背光模组的光学效果与混光距离密切相关，若混光距离不合适会造成背光不均匀。不同的背光模组中光源和光学膜材20均不相同，因此对于不同的背光模组，其所需要的最佳混光距离也不相同。如图1所示，混光距离的最佳理论值得计算公式为：
[0059][0060]
式(1)中d为mini-led211灯芯和光学膜材20之间的距离，d0为mini-led211的底面和mini-led211灯芯之间的距离，l为两个mini-led211之间的距离(两个间隔的miniled之间的距离)，θ的两倍为mini-led211的发光角，h0为理论混光距离。
[0061]
当背光模组中实际混光距离h小于理论混光距离h0时，宏观上背光中会出现亮斑。若实际产品中mini-led211的发光角与设计发光角不同，也会导致实际混光距离h与理论混光距离h0不同，会对背光的光学质量造成影响。
[0062]
另一方面，结合图2和图3所示，若光源板21中的光源采用mini-led211，由于单个mini-led211的尺寸较小，一般由多个mini-led211形成的灯板210的尺寸也相对较小，因此，大尺寸的背光模组中需要将多个包括mini-led211的灯板210拼接成一个大尺寸的光源板21。多个光源板21之间的间隙难以进行控制(多个光源板21之间的间隙可能会不相同)，因此会造成不同的mini-led211之间的距离l(两个间隔的led之间的距离)不同，进而导致背光模组的实际混光距离h与h0不同，宏观上表现为背光不均为，即背光中出现亮影或者暗影(暗影在两个光源板21的拼接处)。
[0063]
在现有的产品的开发过程中，需要针对不同的背光模组进行测试以及验证，以确定针对不同背光模组的最佳混光距离，过程较为繁琐。首先，专业的光学设计师需要通过计算得出目标产品背光模组混光距离的理论值，并制作出目标产品的样件；然后，需要将样件进行验证评估，以确定背光模组的混光距离的理论值是否与实际值相符。通常情况，受加工制造水平等因素的制约，背光模组中各个光学器件能够达到的光学性能与理论存在着一定的差异，从而需要设计师反复修改调整背光模组中相关的零件，以确定背光模组的最佳混光距离。由此导致了产品的开发周期较长，成本较高。
[0064]
本技术提供的背光测试装置、背光测试方法，旨在解决现有技术的如上技术问题。
[0065]
下面结合附图详细介绍一下本技术实施例提供的背光测试装置、以及背光测试方法。
[0066]
本技术实施例提供的背光测试装置10的结构如图4所示，包括：
[0067]
背光系统11，包括光学膜材(图中未示出)，用于存放待验证光源板(图中未示出)，待验证的光源板与光学膜材相对设置，以使得光学膜材形成出光面201；
[0068]
图像采集系统12，与背光系统11相对设置，用于获取出光面201的图像；
[0069]
控制系统13，分别与背光系统11以及图像采集系统12电连接，被配置为接收图像采集系统12获取的图像，并根据图像采集系统12获取的图像确定是否需要调节待验证光源板与光学膜材之间的距离，若需要调节，则控制背光系统调节待验证光源板与光学膜材之间的距离。
[0070]
具体的，结合图4和图5所示，背光系统11中设置有光学膜材20和待验证的光源板21，光学膜材20包括扩散板，光源板21包括设置有多个mini-led211的灯板210，光源板21与光学膜材20相对设置，以将光源板21上多个点光源所发出的光形成均匀的背光后由光学膜材20的出光面201射出。光源板21与光学膜材20之间的距离可进行调节，光源板21与光学膜材20之间的距离即为混光距离。图像采集系统12与背光系统11中光学膜材20的出光面201相对设置，以获取出光面201的图像(即背光的图像)。
[0071]
控制系统13分别与背光系统11以及图像采集系统12电连接，在测试背光的过程中，图像采集系统12对背光系统11进行拍摄以获取出光面201的图像，并将出光面201的图像发送至控制系统13。控制系统13对接收到的图像进行处理和判断，并根据判断的结果来控制调节光学膜材20和光源板21之间的距离，直至图像的质量满足要求，此时光学膜材20与光源板21之间的距离即为对于当前的背光系统11中光源板21以及光学膜材20的最佳混光距离。控制系统13根据判断的结果来控制调节光学膜材20和光源板21之间的距离的具体方法将在方法部分详细描述，这里不再赘述。
[0072]
采用该光源板21和光学膜材20制作背光模组时，可采用测试中得到的最佳混光距离作为背光模组的混光距离。利用本技术实施例中的背光测试装置10，在背光测试的过程中可通过移动光源板21然后进行图像采集的方式，快速地确定背光模组的最佳混光距离，有利于缩短背光模组的开发周期，降低开发成本。另一方面，即使是不具备光学知识的设计师也可以利用本技术实施例中的背光测试装置10，方便快捷的确定直下式背光模组的最佳混光距离。
[0073]
可选的，在本技术的实施例中，结合图4和图5所示，背光系统11包括固定装置111、容纳装置112以及调节装置113。固定装置111用于固定光学膜材20，容纳装置112用于容纳待验证光源板21，待验证光源板21与调节装置113连接。控制系统13被配置为当需要调节待验证光源板21与光学膜材20之间的距离时，控制调节装置113移动光源板21，以调节光源板21与光学膜材20的距离。
[0074]
具体的，如图5所示，固定装置111将多个光学膜材20固定在一起，固定装置111的具体结构可根据实际情况进行调整。容纳装置112与固定装置111连接，容纳装置112具有腔体结构，待验证光源板21放置在腔体中。调节装置113与光源板21连接，可以使光源板21沿图5中第一方向移动，以调节待验证光源板21与光学膜材20之间的距离。在背光测试的过程中，控制系统13控制图像采集系统12采集出光面201的图像，并对采集的图像进行处理和判
断。若图像不满足要求，控制系统13控制调节装置113移动光源板21，以改变光源板21与光学膜材20之间的距离(即混光距离)。
[0075]
可选的，背光系统11包括支撑结构114，调节装置113包括与控制系统13电连接的电机1130，电机1130分别与光源板21以及支撑结构114连接，支撑结构114用于支撑固定电机1130。通过设置电机1130来实现光源板21的移动，工艺上容易实现，且成本较低。
[0076]
需要说明的是，电机1130的数量可以根据实际情况进行调整，如图5所示，光源板21包括多个灯板210，电机1130直接和灯板210连接，因此电机1130的数量和灯板210的数量相同。多个灯板210也可以固定在一个较大的固定板(图5中未示出)上，然后将固定板与电机1130连接，通过移动固定板来实现多个灯板210的移动，由此可以减少电机1130的数量。
[0077]
需要说明的是，改变光源板21与光学膜材20之间的距离，可以通过将光学膜材20固定，移动光源板21实现，也可以通过将光源板21固定，移动光学膜材20实现；或者是同时移动光源板21和光学膜材20，以使光源板21与光学膜材20之间的距离改变，具体可根据实际情况进行确定。容纳装置112的尺寸可根据实际情况进行调整，可选的，结合图5和图6所示，光源板21包括多个灯板210，容纳装置112中至少设置四个灯板210，即容纳装置112中至少可以放置四个灯板210。背光模组中的光源通常由多个灯板210拼接而成，若在进行背光测试时待验证的灯板210数量太少，则无法准确地反映实际的背光。通过使容纳装置112的尺寸能够放置四个灯板210，四个灯板210构成了背光的最小单元，既能准确地反映背光的真实情况，又可以避免容纳装置112的尺寸过大，有利于降低背光测试装置10的制造成本。
[0078]
在本技术的实施例中，如图4所示，控制系统13包括互相电连接的处理器131以及控制模块132，处理器131用于将图像采集系统12发送至控制系统13的图像进行处理，并判断图像是否满足预设条件，若图像不满足预设条件，则处理器131确定需要调节光学膜材20和光源板21之间的距离。处理器131可以通过分析图像中各像素区域30的亮度来判断是否需要进行混光距离的调整。如图7所示，出光面201的图像包括多个像素区域30(m行、n列，m和n均为正整数)，像素区域30的亮度为y
mn
(表示位于第m行和第n列的像素的亮度)。可选的，图像采集系统12可以是电子耦合器件(charge-coupled device，ccd)图像传感器。ccd图像传感器中的光电转换器件是基于金属氧化物半导体技术制成，灵敏度较高，能够较好地对出光面201的图像进行采集，有利于后续处理器131对于图像的分析。
[0079]
处理器131对获取的图像中各像素区域30的亮度进行分析，确定各像素区域30中亮度的最大值y
max
和亮度的最小值y
min
，之后计算出亮度的最大值与亮度的最小值之间的亮度差，作为全局亮度差δy，δy的计算公式为：δy＝|y
max-y
min
|。控制系统13中预存有预设值，处理器131将全局亮度差δy与预设值进行比较，若全局亮度差δy小于或者等于预设值，则判断此时图像的亮度分布较为均匀，即出光面201的图像满足预设条件。若全局亮度差δy大于预设值，则处理器131需要进一步判断出光面201的图像是否满足预设条件。需要说明的是，预设值的具体数值可根据实际情况进行确定，可选的，预设值为10cd/m2(亮度差小于10cd/m2时，人眼难以分辨出亮度差异)。
[0080]
进一步地，当出光面201图像的全局亮度差δy大于预设值时，还可以对出光面201的图像做进一步的分析，以对于出光面201图像的质量(即背光均匀度)作出更精确的判断。具体地，计算多个像素区域30中任一像素区域30和与任一像素区域30相邻的像素区域30的亮度差，作为相邻区域亮度差；将相邻区域亮度差与预设值(10cd/m2)进行对比，若相邻区
域亮度差小于或者等于预设值，则判断出光面201的图像满足预设条件，否则判断出光面201的图像不满足预设条件。
[0081]
如图7所示，具体的，当出光面201图像的全局亮度差δy大于预设值时，确定多个像素区域30中某一个像素区域30的亮度为ymn(第m行第n列的像素的亮度)，将该像素的亮度和与其相邻的像素的亮度进行对比，如果|y
m，n-y
m-1,n-1
|、|y
m，n-y
m-1,n
|、|y
m，n-y
m-1,n 1
|、|y
m，n-y
m,n-1
|、|y
m，n-y
m-1,n 1
|、|y
m，n-y
m 1,n-1
|、|y
m，n-y
m 1,n
|、|y
m，n-y
m 1,n 1
|均小于或者等于预设值，即相邻区域亮度差的值均小于或者等于预设值，则处理器131判断出光面201的图像满足预设条件，否则判断出光面201的图像不满足预设条件。通过分析相邻亮度差来判断出光面201的图像是否满足预设条件，避免了仅通过分析全局亮度差来判断图像质量所造成的判断误差，对于图像的判断更加精确。需要说明的是，判断相邻区域亮度差时可以是任意选择多个像素区域30，并比较所选择的像素区域30和与其相邻区域的亮度差。为了进一步的提高背光的均匀度，判断相邻区域亮度差时可以将每一个像素区域30的亮度和与其相邻区域的亮度进行对比，具体的方式可以根据实际情况进行调整。
[0082]
当出光面201的图像不满足预设条件时，处理器131发送调节信号至控制模块132，控制模块132接收到调节信号后发送控制信号至调节装置113，使调节装置113按照设定的步长(即设定的距离)移动光源板21，以改变光源板21和光学膜材20之间的距离，光源板21和光学膜材20之间的距离改变之后，图像采集系统12再次对出光面201的图像进行采集，并将获取的出光面201的图像发送至控制系统13。控制系统13对当前获取的图像进行分析和处理，判断图像是否满足预设条件。重复上述过程，直至图像满足预设条件，此时光源板21和光学膜材20之间的距离即为最佳混光距离。
[0083]
基于同一种发明构思，本技术实施例还提供了一种背光测试方法，该背光测试方法采用本技术实施例中的背光测试装置10，如图8所示，光测试方法包括：
[0084]
s101、控制光源板与光学膜材之间的距离为预设距离，获取光学膜材形成的出光面的图像；
[0085]
s102、判断出光面的图像是否满足预设条件；
[0086]
s103、若不满足预设条件，调节光学膜材以及光源板之间的距离，直至出光面的图像满足预设条件。
[0087]
在本技术实施例提供的背光测试方法中，背光测试装置10中的控制系统13分别与背光系统11以及图像采集系统12电连接，被配置为接收图像采集系统12获取的图像，并根据图像采集系统12获取的图像确定是否需要调节待验证光源板21与光学膜材20之间的距离，若需要调节，则控制背光系统11调节待验证光源板21与光学膜材20之间的距离。利用本技术实施例中的背光测试装置10，在背光测试的过程中可通过移动光源板21然后进行图像采集的方式，快速地确定背光模组的最佳混光距离，有利于缩短背光模组的开发周期，降低开发成本。
[0088]
结合图1、图4、图5和图7所示，具体的，上述s101中，控制光源板与光学膜材之间的距离为预设距离，包括：在进行背光测试时，首先根据待验证的光源板21的参数(mini-led211的距离，发光角等)计算出理论混光距离h0。然后将光学膜材20固定在背光系统11中的固定装置111上，将光源板21放置在背光系统11的容纳装置112中，使光源板21与调节装置113连接，并使光源板21与光学膜材20之间的距离为理论混光距离h0。
[0089]
具体的，上述s101中，获取光学膜材形成的出光面的图像，包括：采用ccd图像采集系统采集出光面的图像，出光面的图像包括各像素区域的亮度；具体实施时，将图像采集系统12(可以是ccd图像传感器)放置在背光系统11的正前方，以使图像采集系统12获取光学膜材20上出光面201的图像，出光面201的图像包括各像素区域30的亮度。
[0090]
在一种可选的实施例中，上述s102判断出光面的图像是否满足预设条件，包括：确定多个像素区域的亮度中亮度的最大值和亮度的最小值；计算亮度的最大值和亮度的最小值之间的亮度差，作为全局亮度差；将全局亮度差与预设值进行对比，若全局亮度差小于或者等于预设值，则判断出光面的图像满足预设条件。
[0091]
具体地，结合图4、图5和图7所示，图像采集系统12获取了出光面201的图像之后，将图像信息发送至控制系统13中的处理器131，处理器131对获取的图像中各像素区域30的亮度进行分析，确定各像素区域30中亮度的最大值y
max
和亮度的最小值y
min
，之后计算出亮度的最大值与亮度的最小值之间的亮度差，作为全局亮度差δy，δy的计算公式为：δy＝|y
max-y
min
|。控制系统13中预存有预设值，处理器131将全局亮度差δy与预设值进行比较，若全局亮度差δy小于或者等于预设值，则判断此时图像的亮度分布较为均匀，即出光面201的图像满足预设条件。需要说明的是，预设值的具体数值可根据实际情况进行确定，可选的，预设值为10cd/m2(亮度差小于10cd/m2时，人眼难以分辨出亮度差异)。
[0092]
在另一种可选的实施例中，若全局亮度差δy大于预设值，判断出光面的图像是否满足预设条件，还包括：计算多个像素区域中任一像素区域和与任一像素区域相邻的像素区域的亮度差，作为相邻区域亮度差；将相邻区域亮度差与预设值进行对比，若相邻区域亮度差小于或者等于预设值，则判断出光面的图像满足预设条件，否则判断出光面的图像不满足预设条件。
[0093]
具体地，当出光面201图像的全局亮度差δy大于预设值时，还可以对出光面201的图像做进一步的分析，以对于出光面201图像的质量(即背光均匀度)作出更精确的判断。如图7所示，当出光面201图像的全局亮度差δy大于预设值时，确定多个像素区域30中某一个像素区域30的亮度为ymn(第m行第n列的像素的亮度)，将该像素的亮度和与其相邻的像素的亮度进行对比，如果|y
m，n-y
m-1,n-1
|、|y
m，n-y
m-1,n
|、|y
m，n-y
m-1,n 1
|、|y
m，n-y
m,n-1
|、|y
m，n-y
m-1,n 1
|、|y
m，n-y
m 1,n-1
|、|y
m，n-y
m 1,n
|、|y
m，n-y
m 1,n 1
|均小于或者等于预设值，即相邻区域亮度差的值均小于或者等于预设值，则处理器131判断出光面201的图像满足预设条件，否则判断出光面201的图像不满足预设条件。通过分析相邻亮度差来判断出光面201的图像是否满足预设条件，避免了仅通过分析全局亮度差来判断图像质量所造成的判断误差，对于图像的判断更加精确。
[0094]
在一种可选的实施例中，上述s103包括：基于当前混光距离，按照预设第一步长增大光学膜材与光源板之间的距离，直至出光面的图像满足预设条件；基于当前混光距离，按照预设第二步长减小光学膜材与光源板之间的距离，直至出光面的图像不满足预设条件；基于当前混光距离，按照预设第三步长增大光学膜材与光源板之间的距离，直至出光面的图像满足预设条件。
[0095]
结合图5和图7所示，在每一次移动光源板21以调节光源板21和光学膜材20之间的距离时，光源板21移动的距离可根据实际情况进行调整。每调整一次光源板21与光学膜材20之间的距离后，图像采集系统12会对当前的出光面201图像进行一次采集，处理器131对
当前的图像进行分析和判断(判断全局亮度差和相邻区域亮度差是否小于或者等于预设值)。当出光面201的图像不满足预设条件时(全局亮度差和相邻区域亮度差均大于预设值)，基于当前的混光距离，即当前光源板21和光学膜材20之间的距离，按照预设第一步长增大光源板21与光学膜材20之间的距离，第一步长可以为10％h(混光距离)，具体地，设当前的h为hn(n＝0、1、2
……
n)，第一步长为δhn(n＝0、1、2
……
n)，δhn＝10％hn。例如，图像采集系统12第一次采集出光面201的图像后，处理器131判断此时的图像不满足预设条件，当前光源板21与光学膜材20之间的距离为h0(即计算得出的理论混光距离)，按照δh0增大光源板21和光学膜材20之间的距离，调整之后光源板21与光学膜材20之间的距离为h0 δh0，δh0可以是10％h0。若第一次调整后图像仍不满足预设条件，则需要继续按照预设第一步长增大光源板21与光学膜材20之间的距离，当前光源板21与光学膜材20之间的距离h1＝h0 δh0，按照δh1增大光源板21和光学膜材20之间的距离，整之后光源板21与光学膜材20之间的距离为h1 δh1，δh1可以是10％h1。重复上述调整过程，直至图像满足预设条件。
[0096]
当出光面201的图像满足预设条件时，考虑到调整偏差等原因，此时光源板21与光学膜材20之间的距离可能并不是最佳的混光距离。因此需要对混光距离进行回调，即减小光源板21与光学膜材20之间的距离，回调的数值δha＝1/2(δhn)，这里δha为本技术实施例中的预设第二步长。例如，第一次调整之后出光面201的图像就满足了预设条件，此时光源板21与光学膜材20之间的距离为h0 δh0，之后，按照δha减小光源板21与光学膜材20之间的距离，δha＝1/2(δh0)。若回调后出现异常显示，即出光面201的图像不满足预设条件，则再按照δhb增大光源板21与光学膜材20之间的距离,δhb＝1/4(δh0)，这里δhb为本技术实施例中的预设第三步长。当出光面201的图像再次满足预设条件时，可以认为此时的混光距离为最佳的混光距离；本技术实施例通过上述增大、减小、再增大的调整方式，可以减小调整偏差造成的影响，使最终得到的最佳混光距离的数值更加精确。
[0097]
在一种可选的实施例中，上述s103包括：
[0098]
基于当前混光距离，按照预设第一步长调节所述光学膜材以及所述光源板之间的距离，直至所述出光面的图像满足全局亮度差小于或者等于所述预设值；
[0099]
基于当前混光距离，按照预设第一步长减小所述光学膜材以及所述光源板之间的距离，直至所述出光面的图像满足全局亮度差大于所述预设值；
[0100]
获取所述出光面的图像，判断当前的出光面的图像是否满足相邻区域亮度差小于或者等于所述预设值；若不满足，基于当前混光距离，按照预设第一步长增大光学膜材以及所述光源板之间的距离，直至当前的出光面的图像满足相邻区域亮度差小于或者等于所述预设值；
[0101]
基于当前混光距离，按照预设第二步长减小所述光学膜材以及所述光源板之间的距离；
[0102]
获取所述出光面的图像，判断当前的出光面的图像是否满足相邻区域亮度差小于或者等于所述预设值，若不满足，基于当前混光距离，按照预设第三步长增大所述光学膜材以及所述光源板之间的距离，直至当前的出光面的图像满足相邻区域亮度差小于或者等于所述预设值。
[0103]
结合图5和图7所示，具体的，在背光测试的过程中，若出光面201的全局亮度差大于预设值，先按照第一步长(当前混光距离的10％)增大调节光学膜材20和光源板21之间的
距离。当出光面201的图像的全局亮度差小于或者等于预设值后，考虑到调整偏差等原因，此时光源板21与光学膜材20之间的距离可能并不是最佳的混光距离。因此需要对混光距离进行回调，即按照第一步长(当前混光距离的10％)逐渐减小光学膜材20与光源板21之间的距离。每调整一次光源板21与光学膜材20之间的距离后，图像采集系统12会对当前的出光面201图像进行一次采集，处理器131对当前的图像进行分析和判断，直到出光面201的图像的全局亮度差大于或者等于预设值。
[0104]
之后，采集出光面201的图像并判断图像的相邻区域亮度差是否满足小于或者等于预设值，若满足，则当前光源板21和光学膜材20之间的距离为最佳混光距离，若不满足，则按照第一步长(当前混光距离的10％)逐渐增大光源板21和光学膜材20之间的距离调整光源板21与光学膜材20之间的距离，直至出光面201的图像满足相邻区域亮度差小于或者等于预设值。
[0105]
之后，按照第二步长(5％hn)减小光源板21和光学膜材20之间的距离，若图像仍满足相邻区域亮度差小于或者等于预设值，则当前光源板21和光学膜材20之间的距离为最佳混光距离。若不满足，按照第三步长(当前混光距离的2.5％)增大光源板21和光学膜材20之间的距离，直到图像满足相邻区域亮度差小于或者等于预设值，此时光源板21和光学膜材20之间的距离为最佳混光距离。
[0106]
应用本技术实施例，至少能够实现如下有益效果：
[0107]
1.本技术实施例中的背光测试装置10包括背光系统11、图像采集系统12和控制系统13；背光系统11包括光学膜材20，用于存放待验证的光源板21，待验证的光源板21与光学膜材20相对设置，以使得光学膜材20形成出光面201；图像采集系统12与背光系统11相对设置，用于获取出光面201的图像，控制系统13分别与背光系统11以及图像采集系统12电连接，被配置为接收图像采集系统12获取的图像，并根据图像采集系统12获取的图像确定是否需要调节待验证光源板21与光学膜材20之间的距离。利用本技术实施例中的背光测试装置10，在背光测试的过程中可通过移动光源板21然后进行图像采集的方式，快速地确定背光模组的最佳混光距离，有利于缩短背光模组的开发周期，降低开发成本。
[0108]
2.在本技术的实施例中，通过使容纳装置112的尺寸能够放置四个灯板210，四个灯板210构成了背光的最小单元，既能准确地反映背光的真实情况，又可以避免容纳装置112的尺寸过大，有利于降低背光测试装置10的制造成本。
[0109]
3.在本技术的实施例中，图像采集系统12包括ccd图像传感器，灵敏度较高，能够较好地对出光面201的图像进行采集，有利于后续处理器131对于图像的分析。
[0110]
4.在本技术的实施例中，在分析全局亮度差的基础上，通过分析相邻亮度差来判断出光面201的图像是否满足预设条件，避免了仅通过分析全局亮度差来判断图像质量所造成的判断误差，对于图像的判断更加精确。
[0111]
5.在背光验证的过程中，当出光面201的图像满足预设条件时，先根据当前的混光距离减小光源板21和光学膜材20之间的距离，然后再根据调整过后的混光距离(当前混光距离)增大光源板21和光学膜材20之间的距离，可以减小调整偏差造成的影响，使最终的得到的最佳混光距离的数值更加精确。
[0112]
在本技术的描述中，需要理解的是，术语“中心”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的
方位或位置关系，仅是为了便于描述本技术和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本技术的限制。
[0113]
术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括一个或者更多个该特征。在本技术的描述中，除非另有说明，“多个”的含义是两个或两个以上。
[0114]
在本说明书的描述中，具体特征、结构、材料或者特点可以在任何的一个或多个实施例或示例中以合适的方式结合。
[0115]
以上所述仅是本技术的部分实施方式，应当指出，对于本技术领域的普通技术人员来说，在不脱离本技术原理的前提下，还可以作出若干改进和润饰，这些改进和润饰也应视为本技术的保护范围。