识别膜中的缺陷的方法、生产膜的方法和装置与流程

技术特征：
1.识别湿膜中的缺陷的方法，包括：将呈湿态的所述湿膜(20)在输送器(10)上输送，向湿膜上提供激光投射(1511)，获取一系列图像，每一个图像都描绘湿膜的区域，其中激光投射的至少一部分是可视的，和使用所述图像中的至少一些来识别所述缺陷。2.如权利要求1所述的方法，其中激光投射跨越湿膜边缘延伸，并且其中所述图像还描绘暴露的输送器表面的一部分。3.如权利要求2所述的方法，其中湿膜厚度作为至在横向上在湿膜外部的输送器表面的测量的距离和至湿膜表面的测量的距离之间的差而测定。4.如权利要求2或3所述的方法，其中平均湿膜厚度作为至在横向上在湿膜外部的输送器表面的测量的距离和至湿膜宽度内的湿膜表面的多个测量的距离之间的差而测定。5.如前述权利要求中任一项所述的方法，其中湿膜(20)包含分布在基本上将被去除的介质中的膜形成组分，其中湿膜的介质的含量为至少75重量％，优选大于80重量％，大于85重量％，大于90重量％或大于95重量％。6.如前述权利要求中任一项所述的方法，其中湿膜(20)为基于纤维素的膜，特别地微原纤化纤维素膜。7.如前述权利要求中任一项所述的方法，其中将激光投射在流延装置(14)和第一干燥装置(13)之间施加，优选与干燥装置(13)相比更接近流延装置(14)。8.如前述权利要求中任一项所述的方法，其中将激光投射(1511)在沿输送器的前进方向(x)的位置处施加，在该位置处设置带支撑件(17)。9.如前述权利要求中任一项所述的方法，其中输送器(10)为金属带输送器，比如钢带输送器、聚合物输送器或纸输送器。10.如前述权利要求中任一项所述的方法，其中输送器(10)在横向上延伸超过在湿膜(20)的两个横向侧处的湿膜边缘。11.如前述权利要求中任一项所述的方法，其中将激光投射(1511)以固定图案施加，或其中激光以大于图像捕集频率的频率扫描以有效地呈现图案。12.如前述权利要求中任一项所述的方法，其中将激光投射(1511)从激光方向施加，所述激光方向以与输送器的行进方向(x)呈一定角度并且在含有所述行进方向的竖直面中延伸，所述角度为5-80度，优选10-60度或15-40度。13.如前述权利要求中任一项所述的方法，其中将激光投射(1511)从激光方向施加，所述激光方向以与输送器的行进方向(x)呈一定角度并且在含有所述行进方向的竖直面中延伸，所述角度为100-175度，优选100-150度或105-130度。14.如权利要求12或13所述的方法，其中捕集图像使得图像捕集装置的图像面垂直于在该竖直面中并且以与激光方向呈30-150度、优选40-90度的角度延伸的线。15.如权利要求12-14中任一项所述的方法，其中所述缺陷通过基于所述图像得到的通过激光投射(1511)提供的实际图案与预期图案比较而识别。16.生产膜的方法，包括：提供具有输送器宽度的连续输送器(10)，
使用流延装置(14)用于以包含分布在基本上将被去除的介质中的膜形成组分的膜(20)施加到输送器上，以溶剂流延所述膜，根据如前述权利要求中任一项所述的方法识别湿膜中的缺陷，和提供所述缺陷的指示。17.如权利要求16所述的方法，其进一步包括基于所述指示和/或基于所述图像调节至少一个流延参数。18.如权利要求17所述的方法，其中调节至少一个流延参数包括调节湿膜进料速率和/或进料分布。19.如权利要求17或18所述的方法，其中调节至少一个流延参数包括调节刮刀(142)，其被设置为用于控制湿膜厚度和/或湿膜厚度分布。20.如权利要求17-19中任一项所述的方法，其中调节至少一个流延参数包括调节狭缝模具型流延单元的缘部。21.如权利要求16所述的方法，其进一步包括以下中的至少一种：提供针对操作员的警报，记录对应于缺陷的位置，和停止流延装置和输送器中的至少一个。22.生产膜的装置，包括：具有输送器宽度的连续输送器(10)，流延装置(14)，用于将包含分布在基本上将被去除的介质中的膜形成组分的湿膜施加到输送器上，用于溶剂流延所述膜以提供小于输送器宽度的湿膜宽度，激光投射装置(151)，设置为向湿膜上提供激光投射，图像捕集装置(152)，设置为获取一系列图像，每一个图像都描绘湿膜的区域，其中激光投射的至少一部分是可视的，和处理装置(15)，设置为使用所述图像中的至少一些来识别湿膜中的缺陷。23.如权利要求22所述的装置，进一步包括能够调节的装置(141，142)，设置为基于所述识别的湿膜中的缺陷来调节流延装置。

技术总结
识别湿膜中的缺陷的方法包括：将呈湿态的所述湿膜(20)在输送器(10)上输送，向湿膜上提供激光投射(1511)，获取一系列图像，每一个图像都描绘湿膜的区域，其中激光投射的至少一部分是可视的，和使用所述图像中的至少一些来识别所述缺陷。还公开了生产膜的方法和装置。别所述缺陷。还公开了生产膜的方法和装置。别所述缺陷。还公开了生产膜的方法和装置。


技术研发人员：O.尼伦 K.巴克福克
受保护的技术使用者：斯道拉恩索公司
技术研发日：2020.12.18
技术公布日：2022/7/22